專利名稱：塢接式測試系統的制作方法
技術領域：
本發明是關于一種測試系統，尤其指一種適用于半導體組件、可輕易變換不同測試規格的塢接式測試系統。
背景技術：
近幾年來，隨著微機電系統的日新月異，各種小型化、高性能且成本低廉的傳感器紛紛問世，使得傳感器由關鍵組件進一步提升成為產生創新價值的主要組件，例如:蘋果公司的iPhone、新世代iPod、任天堂的Wii所使用的三軸加速度傳感器,大部分采用微機電系統技術運用在傳感器上，加速度傳感器的運作原理為感應出加速度方向的XYZ三軸成分，從而得出物體在三度空間中的運動向量。現有微機電產品測試上，已由最初單點(single site)旋轉測試發展到多點(multi sites)旋轉測試。但測試完成后如需進行其它如掃腳(lead scan)、卷帶包裝(tape& reel)等動作，要通過相應裝置來處理，耗費時間與成本。
發明內容
本發明的目的在于提供一種塢接式測試系統，以改進公知技術中存在的不足。為實現上述目的，本發明提供的塢接式測試系統，包括:一第一機臺，包括有一第一本體以及設于該第一本體上的一轉塔以及圍繞該轉塔而設置的一進料槽、一檢視裝置、一料盤及一移行機構，該第一本體包括有一第一塢接面板，該轉塔包括呈角度相間隔排列的復數吸取頭，該移行機構包括有一取放器，該進料槽、該檢視裝置及該料盤分別對應設置于該復數吸取頭下方；以及一第二機臺，包括有一第二本體以及設于該第二本體上的一測試裝置，該第二本體包括有一第二塢接面板，該第二塢接面板選擇式接合于該第一塢接面板，該測試裝置包括有一承載座；其中，該移行機構的該取放器移行于一第一位置與一第二位置，當該取放器位于該第一位置時對應于該料盤，當該取放器位于該第二位置時對應于該承載座。所述的系統，其中，該第一塢接面板與該第二塢接面板由復數銷而定位，并通過復數螺鎖件相互固定。所述的系統，其中，該第二機臺包括一保護罩，罩蓋住該測試裝置。所述的系統，其中，該保護罩包括有一對平行延伸段搭接在該第一本體，由一側面視角觀察，該保護罩呈倒L形。所述的系統，其中，該檢視裝置為一電荷耦合組件。所述的系統，其中，包括另一第一機臺接合于該第二機臺。所述的系統，其中，該第一機臺包括另一移行機構與該移行機構相隔設置。所述的系統，其中，該第一機臺包括一卷帶式包裝機構對應設置于該復數吸取頭下方。
所述的系統，其中，該第一機臺包括一橫移機構與另一料盤，該二料盤皆設置于該橫移機構，該橫移機構移動使該二料盤其中之一正對于該復數吸取頭下方。本發明提供的塢接式測試系統，能整合更多功能以達到工藝高效率的目的。本發明提供的塢接式測試系統，能因應不同待測組件類型，快速且方便更換對應的測試裝置，減少設備成本，或者快速轉換于不同組件數量的測試模式。
圖1是本發明第一較佳實施例的塢接式測試系統塢接前示意圖。圖2是本發明第一較佳實施例的塢接式測試系統塢接后示意圖。圖3是圖1的第一機臺局部放大圖。圖4是圖1的第二機臺局部放大圖。圖5是本發明第二較佳實施例的塢接式測試系統的測試裝置示意圖。圖6是本發明第三較佳實施例的塢接式測試系統第一運作狀態的示意圖。圖7是本發明第三較佳實施例的塢接式測試系統第二運作狀態的示意圖。圖8是本發明第四較佳實施例的塢接式測試系統的平面示意圖。圖9是本發明第五較佳實施例的塢接式測試系統的第一機臺部分示意圖。附圖中主要組件符號說明:第一機臺10、40、41、50、60 ；第一本體11，第一塢接面板111;轉塔12、62，吸取頭 121、621 ;進料槽13 ；檢視裝置14 ；料盤15、43、44、52、53、63a、63b ；移行機構16、401、411、501、502、601，取放器 161,661 ；震動盤17 ；包裝裝置18 ；第二機臺20、42、51 ；第二本體21，第二塢接面板211 ;測試裝置22、421、511 ;承載座23;保護罩24，延伸段241 ；銷30 ；鎖附件31;公轉兼自轉平臺33;橫移機構66 ；位置A、B、C。
具體實施例方式本發明的塢接式測試系統包括一第一機臺與一第二機臺。上述第一機臺包括有一第一本體以及設于第一本體上的一轉塔以及圍繞轉塔而設置的一進料槽、一檢視裝置、一料盤及一移行機構。上述第一本體包括有一第一塢接面板，轉塔包括呈角度相間隔排列的復數吸取頭，移行機構包括有一取放器，進料槽、檢視裝置及料盤系分別對應設置于復數吸取頭下方。上述第二機臺包括有一第二本體以及設于第二本體上的一測試裝置。上述第二本體包括有一第二塢接面板，第二塢接面板選擇式接合于第一塢接面板，測試裝置包括有一承載座。上述移行機構的取放器移行于一第一位置與一第二位置。當取放器位于第一位置時是對應于料盤，當取放器位于第二位置時是對應于承載座。由上述系統設計，不僅整合了入料、檢視、測試多項功能，而且在欲變換不同測試組件時，只要由將第一機臺自初始第二機臺從塢接狀態分離、再將具有對應的測試裝置的第二機臺再塢接至第一機臺即可。上述第一塢接面板與第二塢接面板可由復數銷而定位，并通過復數螺鎖件相互固定。上述第二機臺可還包括一保護罩，罩蓋住測試裝置。此外，保護罩可包括有一對平行延伸段搭接在第一本體，由一側面視角觀察，保護罩呈倒L形。上述檢視裝置為一電荷耦合組件。本發明的測試系統可還包括另一第一機臺系接合于第二機臺，由復數第一機臺與第二機臺的配合運作可以減少因等待入料導致時間浪費的情形。第一機臺可還包括另一移行機構，且二移行機構相隔設置，可讓二移行機構分別負責入料與收料的步驟。第一機臺可還包括一卷帶式包裝機構對應設置于吸取頭下方。第一機臺可還包括一橫移機構與另一料盤，二料盤皆設置于橫移機構，橫移機構移動使二料盤其中之一正對于復數吸取頭下方。以下結構附圖對本發明作詳細描述。請參閱圖1至圖4，分別為第一實施例的塢接式測試系統塢接前、后示意圖以及二不同機臺的局部放大圖。圖中示出一塢接式測試系統，主要包括一第一機臺10與一第二機臺20。第一機臺10包括有一第一本體11、一轉塔12、一進料槽13、一檢視裝置14、一料盤15及一移行機構16，其中轉塔12、進料槽13、檢視裝置14、料盤15及移行機構16皆設于第一本體11上，且進料槽13、檢視裝置14、料盤15及移行機構16是圍繞轉塔12設置。轉塔12包括有呈角度相間隔排列的復數吸取頭121，轉塔12可進行自轉運動使每一吸取頭121產生角度位移；第二機臺20上則包括有一第二本體21與一測試裝置22，測試裝置22安裝在第二本體21上。特別地，上述第一機臺10包括有一第一塢接面板111，第二機臺20包括有一第二塢接面板211，第二塢接面板211用于選擇式與第一塢接面板111相接合。本例中，上述面板111、211呈四邊形，特別是矩形。本實施例中兩塢接面板111、211還通過復數銷30構件來加強定位準確度，以及通過復數鎖附件31如螺栓使兩機臺10、20的接合更為穩固。第二機臺20還包括一保護罩24，用于罩蓋住測試裝置22。保護罩24于左右兩側各延伸出一延伸段241，可搭接在第一機臺10的本體11。由一側面視角觀察，保護罩24呈倒L形。
前述進料槽13、檢視裝置14、料盤15是圍繞著轉塔12而設置，且皆對應于轉塔12的吸取頭121。本例的進料槽13 —端延伸至吸取頭121下方，另一端連接于一震動盤17，震動盤17受一震動機構(圖未示)的力量而產生震動。震動盤17為一個中央突出的盤狀結構，故待測組件從進料區震動掉落后，隨即落到震動盤17的環周。震動盤17由震動機構的震動，使待測組件隨著環周側壁的螺旋導軌順勢上爬。期間會歷經一光感測步驟，由此判斷待測組件的正反方位，此為公知技術，故不再贅述。一經判斷待測組件處于正確的方位時，則將組件繼續往前送入進料槽13中。在進料槽13內的待測組件順勢被推送，而吸取頭121在進料槽13尾端吸取待測組件后，由轉塔12的轉動而位移至外觀檢驗區的平臺上，亦即前述的檢視裝置14。檢視裝置14承接待測組件的部位同樣位于吸取頭121下方，其主要利用攝影模塊如電荷耦合組件(CXD)來檢驗待測組件外觀上的正確性，例如外表印刷文字是否正確或有無瑕疵。一旦判斷為錯誤或瑕疵，吸取頭121可將待測組件送至一回收區。經檢視裝置14檢驗無誤的待測組件便再被吸取頭121移送至一料盤15。移行機構16具有一取放器161用以取放、載送待測組件于第一機臺10與第二機臺20之間，亦即取放器161可進行空間上的移動。詳細而言，取放器161可移動至位于吸取頭121下方的料盤15處以拿取料盤15，其中料盤15是負責儲存多個從吸取頭121放下的待測組件，此時稱取放器161位于第一位置；之后，取放器161可再將料盤15連同其上的待測組件一起運送至第二機臺20上的測試裝置22的承載座23以進行組件測試，此時稱取放器161位于第二位置。本實施例中，第二機臺20上的測試裝置22是特別用于測試重力傳感器，可進行待測組件相對于X軸方向呈前后轉動的傾斜角度測試、以及相對于Y軸方向呈左右轉動的傾斜角度測試。此外，本實施例還示范了在第一機臺10上可還包括一包裝裝置18:如卷帶式(tape and reel)包裝機構，以方便進行測試完組件的后續包裝步驟。請參閱圖5，為第二實施例的測試系統的測試裝置示意圖。本發明的一特色在于在沿用第一機臺的情形下，任意變換第二機臺上測試裝置的類型，如圖中顯示另一測試裝置的態樣，其測試裝置具有一公轉兼自轉平臺33。請參閱圖6與圖7，為第三實施例的塢接式測試系統不同運作狀態下示意圖。本實施例的自動化系統主要包括兩組第一機臺40、41以及一第二機臺42，且每一組第一機臺40、41及其上設置的進料槽、檢視裝置及移行機構等細節都與第一例相同，故在此不另行贅述。第二機臺42以不同側同時與兩組第一機臺40、41塢接。圖中左側第一機臺40的移行機構與右側第一機臺41的移行機構401、411同樣都能進行移動而使各自的取放器位移于第一機臺40、41與第二機臺42之間。以下將說明本例的運作。首先當圖中左側第一機臺40已進行到將料盤43通過移行機構40移送到第二機臺42上的測試裝置421進行測試時，圖中右側第一機臺41便開始進行料盤44入料的作業，如圖7所示。直到料盤43上組件已測試完畢并由左側的移行機構401取回，右側的移行機構411恰可將盛滿待測組件的另一料盤44運送至測試裝置421以進行測試，如圖8所示。如此可避免單一第一機臺場合中等待再入料的時間。因此本實施例更具有加速整體測試作業的功效，尤其針對大量組件測試的場合中，更見其優勢。請參閱圖8，第四實施例的塢接式測試系統示意圖。本實施例的自動化系統大致與第一例相似，唯其差異處在于第一機臺上50是設置兩組移行機構501、502，一組用于將料盤從第一機臺50移送到第二機臺51，另一組則相反運作。因此，當承載第一批待測組件的料盤52在測試裝置511進行測試期間，另一料盤53持續收集待測組件。一旦第一批待測組件測試完畢并由第一移行機構501取走，第二移行機構502便可接續將已載滿待測組件的另一料盤53再運送到測試裝置511進行測試。如此反復動作，同樣具有加速整體測試作業的功效。請參閱圖9，為第五實施例的塢接式測試系統第一機臺的部分示意圖。本實施例的自動化系統大致與第一實施例相似，其差異處在于本實施例中第一機臺60具有兩組料盤63a、63b，皆設置在橫移機構66上，圖中所示的料盤63a位于位置A接收待測組件，空的料盤63b則位于位置B等待。當料盤63a盛滿從吸取頭621放下的待測組件時，由一移行機構601的取放器661取走料盤63a以進行測試，然后橫移機構66會將料盤63b從位置B移動至位置A，使料盤63b自吸取頭621接收待測組件。一旦料盤63b盛滿待測組件，再由橫移機構66將其移動回到位置B處。當料盤63a測試完畢而回到位置A，再次啟動橫移機構66使料盤63a往圖中位置C移動，而料盤63b則前進至位置A進而由第一移行機構601的取放器661取走，以進行測試。一旦料盤63b被取走，橫移機構66再度移動使料盤63a回至位置A處，并通過轉塔62將測試完成的待測組件送入卷帶式包裝機構(請結合圖3)，以方便進行測試完組件的后續包裝步驟。如此反復動作可避免單一第一機臺場合中等待再入料的時間，同樣具有加速整體測試作業的功效、快速地更換不同的測試裝置，使整體系統的使用更具彈性。上述實施例僅為了方便說明而舉例而已，本發明所主張的權利范圍自應以申請的權利要求范圍所述為準，而非僅限于上述實施例。
權利要求
1.一種塢接式測試系統，包括: 一第一機臺，包括有一第一本體以及設于該第一本體上的一轉塔以及圍繞該轉塔而設置的一進料槽、一檢視裝置、一料盤及一移行機構，該第一本體包括有一第一瑪接面板，該轉塔包括呈角度相間隔排列的復數吸取頭，該移行機構包括有一取放器，該進料槽、該檢視裝置及該料盤分別對應設置于該復數吸取頭下方；以及 一第二機臺，包括有一第二本體以及設于該第二本體上的一測試裝置，該第二本體包括有一第二塢接面板，該第二塢接面板選擇式接合于該第一塢接面板，該測試裝置包括有一承載座； 其中，該移行機構的該取放器移行于一第一位置與一第二位置，當該取放器位于該第一位置時對應于該料盤，當該取放器位于該第二位置時對應于該承載座。
2.如權利要求1所述的系統，其中，該第一塢接面板與該第二塢接面板由復數銷而定位，并通過復數螺鎖件相互固定。
3.如權利要求1所述的系統，其中，該第二機臺包括一保護罩，罩蓋住該測試裝置。
4.如權利要求3所述的系統，其中，該保護罩包括有一對平行延伸段搭接在該第一本體，由一側面視角觀察，該保護罩呈倒L形。
5.如權利要求1所述的系統，其中，該檢視裝置為一電荷耦合組件。
6.如權利要求1所述的系統，其中，包括另一第一機臺接合于該第二機臺。
7.如權利要求1所述的系統，其中，該第一機臺包括另一移行機構與該移行機構相隔設置。
8.如權利要求1所述的系統，其中，該第一機臺包括一卷帶式包裝機構對應設置于該復數吸取頭下方。
9.如權利要求1所述的系統，其中，該第一機臺包括一橫移機構與另一料盤，該二料盤皆設置于該橫移機構，該橫移機構移動使該二料盤其中之一正對于該復數吸取頭下方。
全文摘要
本發明是有關于一種塢接式測試系統，包括一第一機臺與一第二機臺。第一機臺包括有一第一本體以及設于第一本體上的一轉塔以及圍繞轉塔而設置的一進料槽、一檢視裝置、一料盤及一移行機構，其中進料槽、檢視裝置及料盤分別對應設置于轉塔的吸取頭下方。第二機臺包括有一第二本體以及設于第二本體上的一測試裝置，第二本體包括有一第二塢接面板，第二塢接面板選擇式接合于第一塢接面板，測試裝置包括有一承載座。移行機構可將料盤移載于第一機臺與一第二機臺之間。由此，可方便、快速地更換不同的測試裝置，使整體系統的使用更具彈性。
文檔編號G01N21/89GK103196924SQ201210004319
公開日2013年7月10日 申請日期2012年1月9日 優先權日2012年1月9日
發明者劉光祥, 賴啟祥 申請人:京元電子股份有限公司