專利名稱：一種影像測量裝置的制作方法
技術領域：
一種影像測量裝置[0001]技術領域[0002]本實用新型涉及測量儀器技術領域，尤其涉及一種影像測量裝置。[0003]背景技術[0004]影像測量儀器功能的實現是被測工件通過多光源照射后達到清晰狀態，CXD光學 測頭攝取工件的影像，圖元信息經數據采集系統傳輸至計算機，采用專業測量軟件對工件 的規格尺寸進行快速和精確的計算方便，實現二維測量和二維掃描，影像測量儀器被廣泛 應用于電子、汽車、模具、航天航空等各種行業中的塑料、電子及半導體、緊密件、緊固件、接 插件、標準件、開關零件、電路板、電子線路、連接器、磁性材料、小五金沖壓業等品檢部的機 械加工、精細加工中進行精密零件測量、工程開發、品質檢測、數據處理和圖像處理。[0005]影像測量儀一般用以檢測二維的尺寸和形位公差，例如角度、距離、直線度、圓 度、垂直度、平行度等，現有的影像測量儀結構太過復雜，體積大，不方便攜帶，測量效率低， 無法實現局部待測位置的快速尋找和準確定位，適用范圍不夠廣泛。[0006]實用新型內容[0007]本實用新型的目的是提供一種影像測量裝置，它結構簡單，使用方便，體積小，方 便攜帶，可以實現局部待測位置的快速尋找和準確定位，適用范圍廣泛。[0008]為了解決背景技術所存在的問題，本實用新型是采用以下技術方案它是由機臺 底座1、升降旋鈕2、測量平臺3、待測物體放置處4、機臺5、攝像頭6組成；機臺底座I上設 置有升降旋鈕2，機臺底座I的上端設置有測量平臺3，測量平臺3上設置有待測物體放置 處4，機臺5固定在機臺底座I上，機臺5上設置有攝像頭6。[0009]所述的升降旋鈕2上設置有夜光保護層2-1，方便人們隨時進行調節。[0010]所述的測量平臺3內設置有兩條光柵尺，用于精確測量該測量平臺3在其水平方 向上沿左右及前后方向的移動位置信息。[0011]本實用新型適合的檢測工件主要是塑膠件、彈性橡膠、硅橡膠、薄壁件，或者工件 上有測針無法觸碰的微孔、不明顯的邊界尺寸、相隔很近的不同截面尺寸、不易觸碰到的倒 角和臺階等情況。[0012]本實用新型結構簡單，使用方便，體積小，方便攜帶，可以實現局部待測位置的快 速尋找和準確定位，適用范圍廣泛。[0013]
[0014]圖1是本實用新型的結構示意圖；[0015]圖2是圖1的A部放大圖。[0016]具體實施方式
[0017]參照圖1，圖2，本具體實施方式
采用以下技術方案它是由機臺底座1、升降旋鈕2、測量平臺3、待測物體放置處4、機臺5、攝像頭6組成；機臺底座I上設置有升降旋鈕2， 機臺底座I的上端設置有測量平臺3，測量平臺3上設置有待測物體放置處4，機臺5固定 在機臺底座I上，機臺5上設置有攝像頭6。[0018]所述的升降旋鈕2上設置有夜光保護層，方便人們隨時進行調節。[0019]所述的測量平臺3內設置有兩條光柵尺，用于精確測量該測量平臺3在其水平方向上沿左右及前后方向的移動位置信息。本具體實施方式
適合的檢測工件主要是塑膠件、彈性橡膠、硅橡膠、薄壁件，或者工件上有測針無法觸碰的微孔、不明顯的邊界尺寸、相隔很近的不同截面尺寸、不易觸碰到的倒角和臺階等情況。本具體實施方式
結構簡單，使用方便，體積小，方便攜帶，可以實現局部待測位置的快速尋找和準確定位，適用范圍廣泛。
權利要求1.一種影像測量裝置，其特征在于它是由機臺底座(I)、升降旋鈕(2)、測量平臺(3)、 待測物體放置處(4)、機臺(5)、攝像頭(6)組成；機臺底座⑴上設置有升降旋鈕(2)，機臺底座(I)的上端設置有測量平臺(3)，測量平臺(3)上設置有待測物體放置處(4)，機臺(5)固定在機臺底座⑴上，機臺(5)上設置有攝像頭(6)。
2.根據權利要求1所述的一種影像測量裝置，其特征在于所述的升降旋鈕(2)上設置有夜光保護層(2-1)。
3.根據權利要求1所述的一種影像測量裝置，其特征在于所述的測量平臺(3)內設置有兩條光柵尺。
專利摘要一種影像測量裝置，它涉及測量儀器技術領域。它是由機臺底座(1)、升降旋鈕(2)、測量平臺(3)、待測物體放置處(4)、機臺(5)、攝像頭(6)組成；機臺底座(1)上設置有升降旋鈕(2)，機臺底座(1)的上端設置有測量平臺(3)，測量平臺(3)上設置有待測物體放置處(4)，機臺(5)固定在機臺底座(1)上，機臺(5)上設置有攝像頭(6)。它結構簡單，使用方便，體積小，方便攜帶，可以實現局部待測位置的快速尋找和準確定位，適用范圍廣泛。
文檔編號G01B11/00GK202836510SQ20122049040
公開日2013年3月27日 申請日期2012年9月25日 優先權日2012年9月25日
發明者張榮磊 申請人:昆山尚達智機械有限公司