技術編號:41262833
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及農藥殘留檢測,特別涉及一種原位檢測作物葉面農殘的方法。背景技術、在現代農業中,農藥在防治病蟲害、雜草和提高作物產量方面起著重要作用。然而,在農藥的實際施藥中,%以上的農藥對目標作物無效,會通過揮發、噴霧漂移、光解、葉滑、雨水淋溶等方式損失。同時,這些農藥的過量和不合理使用將嚴重影響食品安全和目標生物產生抗藥性。所有這些問題都會逐漸導致生態系統破壞和環境污染,最終威脅人類健康,因此,如何實現對環境中的農殘快速、靈敏、原位檢測是一個重要且急迫的科學問題。、xps是一種表面分析方法,...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發人員的辛勤研發付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業用途。
該專利適合技術人員進行技術研發參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。