液晶屏測試板及電視機的測試裝置的制作方法

本發明涉及電視機領域，尤其涉及一種液晶屏測試板及電視機的測試裝置。

背景技術：

電視機在模組生產環節中，需要對電視機的TFT液晶屏進行老化測試，以提前發現其TFT液晶屏的顯示缺陷以及檢測TFT液晶屏的可靠性。現有技術中，對電視機的TFT液晶屏的老化測試方法是通過電視機的機芯板去點亮TFT液晶屏以對其進行老化測試，電視機的機芯板自帶TFT液晶屏的W/R/G/B老化畫面。現有技術中的該TFT液晶屏的老化測試方法，測試成本較高，占用了機芯板的資源，影響了機芯板的其它功能。并且，不同廠商(如華星光電、三星、LG、群創及友達等)生產的TFT液晶屏的老化測試觸發方式及老化測試接口都不盡相同，因此，當需要對不同廠商生產的TFT液晶屏進行老化測試時，則需要很多種線材去搭配相應的老化測試接口，線材種類多且不好管理，測試過程也較復雜。例如，當需要分別對三星、LG、群創、友達及華星光電廠商生產的UD屏(分辨率為3840*2160)進行老化測試時，則需要五種線材去搭配各被測UD屏的老化測試接口。

技術實現要素：

本發明的主要目的在于提供一種液晶屏測試板，旨在降低TFT液晶屏的老化測試成本以及簡化TFT液晶屏的老化測試過程。

為了實現上述目的，本發明提供一種液晶屏測試板，所述液晶屏測試板包括電源輸入端、電壓轉換電路、插針電路、背光控制電路、控制信號輸出端及老化測試連接器；其中：

所述電壓轉換電路，用于將所述電源輸入端的電源電壓轉換為被測TFT液晶屏老化測試用的測試觸發電壓和被測TFT液晶屏的供電電壓；

所述插針電路，用于將所述測試觸發電壓輸出至所述老化測試連接器中的相應引腳；

所述背光控制電路，用于輸出控制被測TFT液晶屏亮度的亮度控制信號至所述控制信號輸出端，以控制被測TFT液晶屏在老化測試過程中一直處于最亮的狀態；

所述老化測試連接器，用于連接被測TFT液晶屏的老化測試接口，將所述供電電壓輸出至被測TFT液晶屏的老化測試接口中的供電引腳，以及將所述測試觸發電壓輸出至被測TFT液晶屏的老化測試接口中的相應觸發引腳，以觸發被測TFT液晶屏的老化測試功能，對被測TFT液晶屏進行老化測試。

優選地，所述電壓轉換電路的輸入端與所述電源輸入端連接，所述電壓轉換電路的第一輸出端與所述插針電路的輸入端連接，所述電壓轉換電路的第二輸出端與所述老化測試連接器連接；所述老化測試連接器還與所述插針電路的輸出端連接；所述背光控制電路的輸入端與所述電壓轉換電路的第一輸出端連接，所述背光控制電路的輸出端與所述控制信號輸出端連接。

優選地，所述電源輸入端包括第一電壓輸入端和第二電壓輸入端，所述第一電壓輸入端和所述第二電壓輸入端均與所述電壓轉換電路連接。

優選地，所述第一電壓輸入端的電壓為24V，所述第二電壓輸入端的電壓為12V。

優選地，所述電壓轉換電路包括第一DC-DC電路、第二DC-DC電路及第三DC-DC電路；其中：

所述第一DC-DC電路，用于將所述第一電壓輸入端輸入的24V電壓轉換為12V電壓；

所述第二DC-DC電路，用于將所述第一DC-DC電路輸出的所述12V電壓轉換為3.3V電壓，所述3.3V電壓用于提供給被測TFT液晶屏的老化測試接口中的相應觸發引腳，以觸發被測TFT液晶屏的老化測試功能；

所述第三DC-DC電路，用于將所述第一電壓輸入端輸入的24V電壓和所述第二電壓輸入端輸入的12V電壓均轉換為5V電壓。

優選地，所述液晶屏測試板還包括被測屏供電選擇電路，所述被測屏供電選擇電路用于對被測TFT液晶屏的供電電壓進行選擇。

優選地，所述第一DC-DC電路的輸入端與所述第一電壓輸入端連接，所述第一DC-DC電路的輸出端與所述第二DC-DC電路的輸入端連接；所述第二DC-DC電路的輸出端與所述插針電路的輸入端連接；所述第三DC-DC電路的第一輸入端與所述第一電壓輸入端連接，所述第三DC-DC電路的第二輸入端與所述第二電壓輸入端連接，所述第三DC-DC電路的輸出端與所述被測屏供電選擇電路的第一輸入端連接；所述被測屏供電選擇電路的第二輸入端分別與所述第二電壓輸入端及所述第一DC-DC電路的輸出端連接；所述被測屏供電選擇電路的輸出端與所述老化測試連接器的相應引腳連接。

優選地，所述老化測試連接器包括第一老化測試連接器和第二老化測試連接器，所述第一老化測試連接器及所述第二老化測試連接器均與所述插針電路的輸出端連接。

優選地，所述第一老化測試連接器包括一個30引腳的端子，所述第二老化測試連接器包括一個51引腳的端子。

此外，為了實現上述目的，本發明還提供一種電視機的測試裝置，所述電視機的測試裝置包括如上所述的液晶屏測試板。

本發明提供一種液晶屏測試板，該液晶屏測試板包括電源輸入端、電壓轉換電路、插針電路、背光控制電路、控制信號輸出端及老化測試連接器；所述電壓轉換電路，用于將所述電源輸入端的電源電壓轉換為被測TFT液晶屏老化測試用的測試觸發電壓和被測TFT液晶屏的供電電壓；所述插針電路，用于將所述測試觸發電壓輸出至所述老化測試連接器中的相應引腳；所述背光控制電路，用于輸出控制被測TFT液晶屏亮度的亮度控制信號至所述控制信號輸出端，以控制被測TFT液晶屏在老化測試過程中一直處于最亮的狀態；所述老化測試連接器，用于連接被測TFT液晶屏的老化測試接口，將所述供電電壓輸出至被測TFT液晶屏的老化測試接口中的供電引腳，以及將所述測試觸發電壓輸出至被測TFT液晶屏的老化測試接口中的相應觸發引腳，以觸發被測TFT液晶屏的老化測試功能，對被測TFT液晶屏進行老化測試。本發明液晶屏測試板降低了TFT液晶屏的老化測試成本，極大地簡化了TFT液晶屏的老化測試過程；并且，本發明還能夠對不同廠商生產的不同類型的TFT液晶屏進行老化測試。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖示出的結構獲得其他的附圖。

圖1為本發明液晶屏測試板第一實施例的電路模塊結構示意圖；

圖2為本發明液晶屏測試板第二實施例的電路模塊結構示意圖。

本發明目的的實現、功能特點及優點將結合實施例，參照附圖做進一步說明。

具體實施方式

應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。

本發明提供一種液晶屏測試板，參照圖1，圖1為本發明液晶屏測試板第一實施例的電路結構示意圖，本實施例中，該液晶屏測試板包括電源輸入端101、電壓轉換電路102、插針電路103、老化測試連接器104、背光控制電路105及控制信號輸出端106。

具體地，本實施例中，所述電源輸入端101，用于為該液晶屏測試板輸入測試用的電源電壓；

所述電壓轉換電路102，用于將所述電源輸入端101所輸入的電源電壓轉換為被測TFT液晶屏(圖未示)老化測試用的測試觸發電壓和被測TFT液晶屏的供電電壓；

所述插針電路103，用于將所述電壓轉換電路102輸出的所述測試觸發電壓輸出至所述老化測試連接器104中的相應引腳；

所述老化測試連接器104，用于連接被測TFT液晶屏的老化測試接口，將所述電壓轉換電路102輸出的所述供電電壓輸出至被測TFT液晶屏的老化測試接口中的供電引腳，以及將所述電壓轉換電路102輸出的所述測試觸發電壓輸出至被測TFT液晶屏的老化測試接口中的相應觸發引腳，以觸發被測TFT液晶屏的老化測試功能，對被測TFT液晶屏進行老化測試；

所述背光控制電路105，用于輸出控制被測TFT液晶屏亮度的亮度控制信號至所述控制信號輸出端106，以控制被測TFT液晶屏在老化測試過程中一直處于最亮的狀態。

本實施例中，所述電壓轉換電路102的輸入端與所述電源輸入端101連接，所述電壓轉換電路102的第一輸出端E與所述插針電路103的輸入端連接，所述電壓轉換電路102的第二輸出端F與所述老化測試連接器104連接；所述老化測試連接器104還與所述插針電路103的輸出端連接；所述背光控制電路105的輸入端與所述電壓轉換電路102的第一輸出端連接，所述背光控制電路105的輸出端與所述控制信號輸出端106連接。本實施例中，所述電壓轉換電路102的第一輸出端E輸出被測TFT液晶屏老化測試用的測試觸發電壓，所述電壓轉換電路102的第二輸出端F輸出被測TFT液晶屏的供電電壓。

進一步地，參照圖2，基于本發明液晶屏測試板的第一實施例，在本發明液晶屏測試板的第二實施例中，所述電源輸入端101包括第一電壓輸入端A和第二電壓輸入端B，所述第一電壓輸入端A的電壓為24V，所述第二電壓輸入端B的電壓為12V。當被測TFT液晶屏的供電電壓為12V時，可以將所述電源輸入端101的所述第二電壓輸入端B的12V電壓可以提供給被測TFT液晶屏(圖未示)的老化測試接口中的供電引腳，對被測TFT液晶屏進行供電。

本實施例中，所述電壓轉換電路102包括第一DC-DC電路1021、第二DC-DC電路1022及第三DC-DC電路1023。

具體地，所述第一DC-DC電路1021，用于將所述第一電壓輸入端A輸入的24V電壓轉換為12V電壓。當被測TFT液晶屏的供電電壓為12V時，可以將所述第一DC-DC電路1021輸出的該12V電壓提供給被測TFT液晶屏的老化測試接口中的供電引腳，對被測TFT液晶屏進行供電。

所述第二DC-DC電路1022，用于將所述第一DC-DC電路1021輸出的所述12V電壓轉換為3.3V電壓，所述3.3V電壓用于提供給被測TFT液晶屏的老化測試接口的相應觸發引腳，以觸發被測TFT液晶屏的老化測試功能，對被測TFT液晶屏進行老化測試。即本實施例中，3.3V是被測TFT液晶屏老化測試用的測試觸發電壓。

所述第三DC-DC電路1023，用于將所述電源輸入端101中的所述第一電壓輸入端A輸入的24V電壓和所述第二電壓輸入端B輸入的12V電壓均轉換為5V電壓。當被測TFT液晶屏的供電電壓為5V時，可以將所述第三DC-DC電路1023輸出的該5V電壓提供給被測TFT液晶屏的老化測試接口中的供電引腳，對被測TFT液晶屏進行供電。

進一步地，本實施例液晶屏測試板還包括被測屏供電選擇電路107，所述被測屏供電選擇電路107用于對被測TFT液晶屏的供電電壓進行選擇，本實施例液晶屏測試板通過所述被測屏供電選擇電路107來選擇被測TFT液晶屏的供電電壓，被測TFT液晶屏的供電電壓為12V或5V。具體地，本實施例液晶屏測試板在實際的測試應用中，所述被測屏供電選擇電路107為一跳線帽，即通過跳線帽來選來擇被測TFT液晶屏的供電電壓。

具體地，本實施例中，所述第一DC-DC電路1021的輸入端與所述電源輸入端101的所述第一電壓輸入端A連接，所述第一DC-DC電路1021的輸出端與所述第二DC-DC電路1022的輸入端連接；所述第二DC-DC電路1022的輸出端與所述插針電路103的輸入端連接；所述第三DC-DC電路1023的第一輸入端與所述電源輸入端101的所述第一電壓輸入端A連接，所述第三DC-DC電路1023的第二輸入端與所述電源輸入端101的所述第二電壓輸入端B連接，所述第三DC-DC電路1023的輸出端與所述被測屏供電選擇電路107的第一輸入端連接；所述被測屏供電選擇電路107的第二輸入端分別與所述電源輸入端101的所述第二電壓輸入端B及所述第一DC-DC電路1021的輸出端連接；所述被測屏供電選擇電路107的輸出端與所述老化測試連接器104的相應引腳連接。本實施例中，所述背光控制電路105的輸入端與所述第二DC-DC電路1022的輸出端連接，即所述背光控制電路105的供電電壓為3.3V。

本實施例中，所述老化測試連接器104包括第一老化測試連接器(圖未示)和第二老化測試連接器(圖未示)，所述第一老化測試連接器及所述第二老化測試連接器均與所述插針電路的輸出端連接。本實施例中，所述第一老化測試連接器包括一個30引腳的端子，所述第二老化測試連接器包括一個51引腳的端子。

本實施例液晶屏測試板上的所述老化測試連接器104與被測TFT液晶屏的老化測試接口連接，利用被測TFT液晶屏自身的老化測試功能，本實施例通過觸發每款被測TFT液晶屏的老化測試功能，讓被測TFT液晶屏自身進行老化測試。參照表1，表1是TFT液晶屏老化測試功能的觸發方式統計表，每個廠商生產的TFT液晶屏均包括UD屏(分辨率為3840*2160)、FHD屏(分辨率為1920*1080)和HD屏(分辨率為1366*768)，不同廠商生產的同一款TFT液晶屏，其老化測試功能的觸發方式都是不同的。

表1TFT液晶屏老化測試功能的觸發方式統計表

如表1所示，華星光電的TFT液晶屏的老化測試觸發方式為：HD屏和FHD屏均只需將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓；UD屏除了將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓外，還需要將其老化測試接口的第23引腳拉高到3.3v。

三星的TFT液晶屏的老化測試觸發方式為：HD屏、FHD屏和UD屏均只需將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓。

LG的TFT液晶屏的老化測試觸發方式為：HD屏需將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓，且需要將其老化測試接口的第30引腳拉高到3.3v；FHD屏需將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓，且需要將其老化測試接口的第44引腳拉高到3.3v；UD屏需將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓，且需要將其老化測試接口的第23引腳拉高到3.3v。

群創的TFT液晶屏的老化測試觸發方式為：HD屏將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓，且需要將其老化測試接口的第10引腳拉高到3.3v，同時，還需要給其老化測試接口的第10引腳提供LVDS CLOCK信號；FHD屏需將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓，且需要將其老化測試接口的第1引腳拉高到3.3v，同時，還需要給其老化測試接口的第1引腳提供LVDS CLOCK信號；UD屏需將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓，且需要將其老化測試接口的第23引腳拉高到3.3v，同時，若將其老化測試接口的第22引腳拉高到3.3v，則該UD屏的老化畫面將暫停。

友達TFT液晶屏的老化測試觸發方式為：HD屏需將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓，且需要將其老化測試接口的第27引腳拉高到3.3v；FHD屏需將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓，且需要將其第4引腳拉高到3.3v；UD屏將其老化測試接口接GND和接入12V的供電電壓，且需要將其老化測試接口的第23引腳拉高到3.3v。

當本實施例液晶屏測試板需要對表1中的相應TFT液晶屏進行老化測試時，需要將本實施例液晶屏測試板上的所述老化測試連接器104與被測TFT液晶屏的老化測試接口進行連接，根據被測TFT液晶屏的不同，在所述第一老化測試連接器和所述第二老化測試連接器中選擇其中一個老化測試連接器與被測TFT液晶屏的老化測試接口進行連接，然后根據表1所示的不同廠商生產的HD屏、FHD屏及UD屏的老化測試功能的觸發方式，通過所述插針電路103對不同被測TFT液晶屏的老化測試功能的觸發方式進行調試選擇。具體地，由于某些被測TFT液晶屏在老化測試時需要用到3.3V的測試觸發電壓，因此，本實施例通過所述插針電路103將所述第二DC-DC電路1022所輸出的3.3V的測試觸發電壓輸出至所述老化測試連接器104的相應引腳，然后通過所述老化測試連接器104將該3.3V的測試觸發電壓輸出至被測TFT液晶屏的老化測試接口中的相應觸發引腳，以觸發被測TFT液晶屏的老化測試功能，對被測TFT液晶屏進行老化測試。

本實施例液晶屏測試板在實際的測試應用中，根據表1所示的不同廠商生產的HD屏、FHD屏及UD屏的老化測試功能的觸發方式，在所述插針電路104上通過跳線帽的方式將所述老化測試連接器104的相應引腳拉高到3.3V，同時，通過跳線帽的方式將所述老化測試連接器104的相應引腳連接到12V或5V(根據被測TFT液晶屏的供電電壓進行選擇)，進而將被測TFT液晶屏的老化測試接口中的相應觸發引腳拉高到3.3V以及將被測TFT液晶屏的老化測試接口中的供電引腳連接到12V或5V，從而觸發被測TFT液晶屏的老化測試功能，實現對被測TFT液晶屏的老化測試。另外，由于被測TFT液晶屏在老化測試過程中，需要控制被測TFT液晶屏的亮度為最亮狀態，本實施例液晶屏測試板通過所述背光控制電路105輸出控制被測TFT液晶屏亮度的亮度控制信號至所述控制信號輸出端106，在實際應用中，所述亮度控制信號從所述控制信號輸出端106輸出后，經電視機的電源板輸出至電視機的背光模組，以控制被測TFT液晶屏在老化測試過程中一直處于最亮的狀態。

本實施例液晶屏測試板是根據表1所示的不同廠商生產的HD屏、FHD屏及UD屏的老化測試功能的觸發方式，針對每款TFT液晶屏的老化測試功能的觸發方式，在所述插針電路104上通過跳線帽的方式將所述老化測試連接器104的相應引腳拉高到3.3V，同時，通過跳線帽的方式將所述老化測試連接器104的相應引腳連接到12V或5V(根據被測TFT液晶屏的供電電壓進行選擇)，進而將被測TFT液晶屏的老化測試接口中的相應觸發引腳拉高到3.3V以及將被測TFT液晶屏的老化測試接口中的供電引腳連接到12V或5V，從而觸發被測TFT液晶屏的老化測試功能，實現對被測TFT液晶屏的老化測試。本實施例能夠對不同廠商生產的不同類型的TFT液晶屏進行老化測試，例如，能對華星光電、三星、LG、群創及友達公司生產的UD屏、FHD屏及HD屏進行老化測試；并且，本實施例還節省了電視機的生產資源，降低了TFT液晶屏的老化測試成本；同時，本實施例還極大地簡化了TFT液晶屏的老化測試過程。

本發明還提供一種電視機的測試裝置，該電視機的測試裝置包括液晶屏測試板，該液晶屏測試板的結構可參照上述實施例，在此不再贅述。理所應當地，由于本實施例的電視機的測試裝置采用了上述液晶屏測試板的技術方案，因此該電視機的測試裝置具有上述液晶屏測試板所有的有益效果。

以上僅為本發明的優選實施例，并非因此限制本發明的專利范圍，凡是利用本發明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發明的專利保護范圍內。