一種電芯自動掃碼測試裝置的制作方法

本發明涉及電芯分選領域，特別涉及一種電芯自動掃碼測試裝置。

背景技術：

鋰電芯是目前國內主要使用的一種電芯，它被廣泛運用在筆記本電腦、移動電源、電動自行車、電動摩托車、電動汽車、太陽能儲能電源、風能儲能電源、基站儲能電源等領域中。在將電芯組裝成模組的過程中，都需要對電芯進行掃碼和測試，但現有技術在對電芯進行掃碼和測試的過程中，都需要進行停頓，而無法實現不間斷的連續進行掃碼和測試，整體效率極低。

技術實現要素：

本發明要解決的技術問題，在于提供一種電芯自動掃碼測試裝置，通過該裝置來實現對電芯的連續不間斷掃碼和測試，可極大的提高掃碼和測試效率。

本發明是這樣實現的：一種電芯自動掃碼測試裝置，包括一電芯進料機構、一電芯掃描槍機構、一掃碼轉盤機構、一行星輪驅動機構、一銜接機構、一固定座以及一電芯測試機構；

所述電芯進料機構設置在所述固定座的一端，所述掃碼轉盤機構設置在所述電芯進料機構的前端，且通過所述電芯進料機構將電芯輸送給所述掃碼轉盤機構，并由所述掃碼轉盤機構帶動各個電芯進行公轉；所述行星輪驅動機構設置在所述掃碼轉盤機構的旁側，且通過所述行星輪驅動機構驅動各個電芯進行自轉；所述電芯掃描槍機構設置在所述掃碼轉盤機構的上方，且通過所述電芯掃描槍機構掃描所述掃碼轉盤機構上的電芯；

所述銜接機構設置在所述掃碼轉盤機構的前端，所述電芯測試機構設置在所述銜接機構的前端，且通過所述銜接機構將掃描后的電芯從所述掃碼轉盤機構輸送到所述電芯測試機構中進行測試。

進一步地，所述固定座包括一底座以及一豎直立板，所述豎直立板立設于所述底座上，所述電芯進料機構、掃碼轉盤機構、銜接機構以及電芯測試機構均設置在所述豎直立板上，并通過所述掃碼轉盤機構聯動所述電芯進料機構、銜接機構以及電芯測試機構運作；所述電芯掃描槍機構和行星輪驅動機構均固定在所述底座上。

進一步地，所述掃碼轉盤機構包括一主驅動齒輪盤、一驅動電機、一電芯掃碼轉動盤、一掃碼轉盤驅動軸以及一第一電芯保護殼體；所述掃碼轉盤驅動軸的中部通過一第一軸承座固定在所述豎直立板上，所述主驅動齒輪盤固定在所述掃碼轉盤驅動軸的一端，所述電芯掃碼轉動盤固定在所述掃碼轉盤驅動軸的另一端；所述驅動電機固定在所述底座上，且所述驅動電機通過一第一皮帶驅動所述掃碼轉盤驅動軸旋轉，并進而通過所述掃碼轉盤驅動軸帶動所述主驅動齒輪盤和電芯掃碼轉動盤旋轉；

所述電芯掃碼轉動盤的兩側端面上各設置有一第一電芯擋板，且在兩所述第一電芯擋板之間形成一第一電芯輸送凹槽，所述第一電芯輸送凹槽內軸向環設有復數個第一電芯放置槽；所述第一電芯保護殼體套設在所述第一電芯輸送凹槽上，該第一電芯保護殼體的外表面通過若干塊第一固定塊固定在所述豎直立板上；所述第一電芯保護殼體的頂部設置有一掃碼開孔，所述第一電芯保護殼體的前端設置有一與所述銜接機構銜接的電芯出口，后端設置有一與所述電芯進料機構銜接的電芯掃碼進口；

設在所述電芯掃碼轉動盤外側的所述第一電芯擋板在對應每所述第一電芯放置槽的位置處均設置有一行星齒輪機構，且每所述行星齒輪機構均驅動一個電芯進行旋轉。

進一步地，每所述行星齒輪機構均包括一行星齒輪、一磁鐵塊以及一驅動軸；所述驅動軸的中部通過一滾珠軸承固定在外側的所述第一電芯擋板上；所述磁鐵塊固定在所述驅動軸的一端，所述行星齒輪固定在所述驅動軸的另一端，且使所述磁鐵塊位于靠近所述第一電芯放置槽的一端，使所述行星齒輪位于遠離所述第一電芯放置槽的一端。

進一步地，所述電芯進料機構包括一支撐架、一電芯進料滾道、一電芯緩沖轉盤、一進料驅動軸以及一進料齒輪盤；所述支撐架固定在所述底座上，所述電芯進料滾道傾斜設置在所述支撐架的頂部；所述電芯緩沖轉盤設置在所述電芯進料滾道的前端，該電芯緩沖轉盤上軸向環設有復數個第二電芯放置槽；所述電芯進料滾道在靠近所述電芯緩沖轉盤一端的底部設置有一電芯讓位機構；

所述進料驅動軸通過一第二軸承座固定在所述豎直立板上，所述進料齒輪盤固定在所述進料驅動軸的一端，且使所述進料齒輪盤與所述主驅動齒輪盤相嚙合，以通過所述主驅動齒輪盤聯動所述進料齒輪盤旋轉，所述電芯緩沖轉盤固定在所述進料驅動軸的另一端，且通過所述進料驅動軸帶動所述電芯緩沖轉盤進行旋轉輸送電芯；

所述電芯讓位機構包括一讓位彈片以及一伸縮桿；所述讓位彈片可向下按壓的設于所述電芯進料滾道的底部，所述支撐架上設置有一讓位通孔；所述伸縮桿的一端與所述讓位彈片相連接，另一端穿過所述讓位通孔并鎖付在所述支撐架上。

進一步地，所述電芯掃描槍機構包括一掃描槍、一立桿、一第一調節桿、一第一調節連接塊、一第二調節桿以及一第二調節連接塊；所述第一調節連接塊的垂直紙面向內端設置有一內抱箍，垂直紙面向外端設置有一外抱箍；所述第二調節連接塊的上端設置有一上抱箍，下端設置有一下抱箍；所述立桿豎直立設于所述底座上，且該立桿的頂部通過所述內抱箍抱緊；所述掃描槍固定在所述第二調節桿的一端，且使所述掃描槍處于所述掃碼開孔的正上方，所述第二調節桿的另一端通過所述上抱箍抱緊；所述第一調節桿的一端通過所述下抱箍抱緊，另一端通過所述外抱箍抱緊。

進一步地，所述行星輪驅動機構包括一行星齒輪驅動電機、一行星齒輪驅動圓盤、一行星輪固定座以及一行星齒輪驅動軸；所述行星輪固定座固設于所述底座上，所述行星齒輪驅動軸的中部通過一第三軸承座固定在所述行星輪固定座上；所述行星齒輪驅動電機固設于所述底座上，且該行星齒輪驅動電機通過一第二皮帶驅動所述行星齒輪驅動軸旋轉；所述行星齒輪驅動圓盤固定在所述行星齒輪驅動軸的端部，且使所述行星齒輪驅動圓盤與所述行星齒輪機構相嚙合，以通過所述行星齒輪驅動圓盤聯動所述行星齒輪機構旋轉。

進一步地，所述銜接機構包括一銜接轉盤、一轉盤保護殼體、一銜接轉盤驅動軸以及一銜接轉盤驅動齒輪；所述銜接轉盤上軸向環設有復數個第三電芯放置槽；所述銜接轉盤驅動軸的中部通過一第四軸承座固定在所述豎直立板上；所述銜接轉盤驅動齒輪固定在所述銜接轉盤驅動軸的一端，且使所述銜接轉盤驅動齒輪與所述主驅動齒輪盤相嚙合，以通過所述主驅動齒輪盤聯動所述銜接轉盤驅動齒輪旋轉；所述轉盤保護殼體的底部固定在所述底座上，所述銜接轉盤置于所述轉盤保護殼體內，且該銜接轉盤與所述銜接轉盤驅動軸的另一端固定連接。

進一步地，所述電芯測試機構包括一電芯測試轉盤、一測試驅動齒輪盤、一測試盤驅動軸、一探針伸縮機構、一第二電芯保護殼體、一凸輪座、一凸輪塊以及一出線滑環；所述測試盤驅動軸的中部通過一第五軸承座固定在所述豎直立板上；所述測試驅動齒輪盤固定在所述測試盤驅動軸的一端，且使所述測試驅動齒輪盤與所述銜接轉盤驅動齒輪相嚙合，以通過所述銜接轉盤驅動齒輪帶動所述測試驅動齒輪盤旋轉，所述電芯測試轉盤固定在所述測試盤驅動軸的另一端；

所述電芯測試轉盤在內側的端面上設置有一第一測試電路板，在外側的端面上設置有第二電芯擋板，且在所述第一測試電路板與所述第二電芯擋板之間形成一第二電芯輸送凹槽，所述第二電芯輸送凹槽內軸向環設有復數個第四電芯放置槽，所述第二電芯保護殼體套設在所述第二電芯輸送凹槽上，該第二電芯保護殼體的外表面通過若干塊第二固定塊固定在所述豎直立板上；所述第二電芯保護殼體的前端設置有一電芯出料滾道，后端設置有一與所述銜接機構銜接的電芯測試進口；

所述第二電芯擋板在對應每所述第四電芯放置槽的位置處均設置有一測試通孔，所述第二電芯擋板的外側設置有一第二測試電路板；所述第二測試電路板上在對應每所述測試通孔的位置處均設置有一探針伸縮機構；所述凸輪座固定在所述底座上，所述凸輪塊設置在所述凸輪座上，且通過所述凸輪塊按壓所述探針伸縮機構以實現電芯的測試；

所述第二測試電路板在對應每所述探針伸縮機構的位置處均設置有一接線端子；所述出線滑環的固定端固定在所述凸輪座上，旋轉端與所述接線端子相連接。

進一步地，所述探針伸縮機構包括一萬向滾球、一壓縮彈簧、一導柱、一直線導軌以及一探針固定塊以及一測試探針；所述直線導軌固定在所述第二測試電路板上；所述導柱的一端與所述萬向滾球相連接，另一端穿過所述直線導軌與所述探針固定塊相連接；所述壓縮彈簧的一端與所述萬向滾球相連接，另一端與所述直線導軌相連接；所述測試探針固定在所述探針固定塊上，且使所述測試探針與所述測試通孔對準。

本發明具有如下優點：1、在對電芯進行掃碼時，可在掃描槍的視野范圍內，通過自轉以及公轉的的不停頓狀態來實現對電芯的快速掃碼操作，并且可通過調整公轉和自轉的速度來實現將掃碼效率提升到最佳狀態；2、在完成電芯的掃碼操作后，可通過銜接機構將電芯順暢、不間斷的輸送給電芯測試機構進行測試，可節省以往需要停頓的時間，以提升掃碼和測試效率；3、在對電芯進行測試時，可通過凸輪塊自動觸發探針伸縮機構對電芯進行測試，可真正實現全自動化測試，有助于大大提高測試的效率。

附圖說明

下面參照附圖結合實施例對本發明作進一步的說明。

圖1是本發明一種電芯自動掃碼測試裝置的正面的立體圖。

圖2是本發明一種電芯自動掃碼測試裝置的背面的立體圖。

圖3是本發明中電芯進料機構的結構示意圖。

圖4是本發明中電芯讓位機構的結構示意圖。

圖5是本發明中電芯掃描槍機構的結構示意圖。

圖6是本發明中掃碼轉盤機構的整體結構示意圖。

圖7是本發明中掃碼轉盤機構(除去第一電芯保護殼體)的側面結構示意圖。

圖8是本發明中行星齒輪機構的結構示意圖。

圖9是本發明中行星輪驅動機構的結構示意圖。

圖10是本發明中銜接機構的結構示意圖。

圖11是本發明中電芯測試機構的整體結構示意圖。

圖12是本發明中電芯測試機構(除去第二電芯保護殼體)的側面結構示意圖。

圖13是本發明中電芯測試機構(除去第二電芯保護殼體)的正面結構示意圖。

圖14是本發明中探針伸縮機構的機構示意圖。

附圖標記說明：

100-掃碼測試裝置，1-電芯進料機構，2-電芯掃描槍機構，3-掃碼轉盤機構，4-行星輪驅動機構，5-銜接機構，6-固定座，7-電芯測試機構，11-支撐架，111-讓位通孔，12-電芯進料滾道，13-電芯緩沖轉盤，131-第二電芯放置槽，14-進料驅動軸，15-進料齒輪盤，16-電芯讓位機構，161-讓位彈片，162-伸縮桿，17-第二軸承座，21-掃描槍，22-立桿，23-第一調節桿，24-第一調節連接塊，241-內抱箍，242-外抱箍，25-第二調節桿，26-第二調節連接塊，261-上抱箍，262-下抱箍，31-主驅動齒輪盤，32-驅動電機，33-電芯掃碼轉動盤，331-第一電芯擋板，332-第一電芯輸送凹槽，333-第一電芯放置槽，34-掃碼轉盤驅動軸，35-第一電芯保護殼體，351-第一固定塊，352-掃碼開孔，353-電芯出口，354-電芯掃碼進口，36-第一軸承座，37-第一皮帶，38-行星齒輪機構，381-行星齒輪，382-磁鐵塊，383-驅動軸，384-滾珠軸承，41-行星齒輪驅動電機，42-行星齒輪驅動圓盤，43-行星輪固定座，44-行星齒輪驅動軸，45-第三軸承座，46-第二皮帶，51-銜接轉盤，511-第三電芯放置槽，52-轉盤保護殼體，53-銜接轉盤驅動軸，54-銜接轉盤驅動齒輪，55-第四軸承座，61-底座，62-豎直立板，71-電芯測試轉盤，711-第一測試電路板，712-第二電芯擋板，713-第二電芯輸送凹槽，714-第四電芯放置槽，715-測試通孔，716-第二測試電路板，717-接線端子，72-測試驅動齒輪盤，73-測試盤驅動軸，74-探針伸縮機構，741-萬向滾球，742-壓縮彈簧，743-導柱，744-直線導軌，745-探針固定塊，746-測試探針，75-第二電芯保護殼體，751-第二固定塊，752-電芯出料滾道，76-凸輪座，77-凸輪塊，78-出線滑環，79-第五軸承座。

具體實施方式

請參照圖1至圖14所示，本發明一種電芯自動掃碼測試裝置100的較佳實施例，所述掃碼測試裝置100包括一電芯進料機構1、一電芯掃描槍機構2、一掃碼轉盤機構3、一行星輪驅動機構4、一銜接機構5、一固定座6以及一電芯測試機構7；

所述電芯進料機構1設置在所述固定座6的一端，所述掃碼轉盤機構3設置在所述電芯進料機構1的前端，且通過所述電芯進料機構1將電芯輸送給所述掃碼轉盤機構3，并由所述掃碼轉盤機構3帶動各個電芯進行公轉，以帶動各個電芯經過掃碼區域；所述行星輪驅動機構4設置在所述掃碼轉盤機構3的旁側，且通過所述行星輪驅動機構4驅動各個電芯進行自轉，以方便完成對各個電芯的掃碼工作；所述電芯掃描槍機構2設置在所述掃碼轉盤機構3的上方，且通過所述電芯掃描槍機構2掃描所述掃碼轉盤機構3上的電芯；

所述銜接機構5設置在所述掃碼轉盤機構3的前端，所述電芯測試機構7設置在所述銜接機構5的前端，且通過所述銜接機構5將掃描后的電芯從所述掃碼轉盤機構3輸送到所述電芯測試機構7中進行測試。

由上可知，本發明掃碼測試裝置100在對電芯進行掃碼時，可在電芯掃描槍機構2的視野范圍內，通過自轉以及公轉的的不停頓狀態來實現對電芯的快速掃碼(具體可通過調整自轉和公轉的速度來實現將掃碼效率調節到最佳狀態)；同時，可通過銜接機構5來實現將掃碼后的電芯不間斷的輸送給電芯測試機構7進行測試；在對電芯進行測試時，電芯測試機構7可觸發自動對電芯進行測試，因此，本發明掃碼測試裝置100可真正實現電芯的全自動化掃碼測試，可極大的提高電芯的掃碼測試效率。

其中，

請重點參照圖1和圖2所示，所述固定座6包括一底座61以及一豎直立板62，所述豎直立板62立設于所述底座61上，所述電芯進料機構1、掃碼轉盤機構3、銜接機構5以及電芯測試機構7均設置在所述豎直立板62上，并通過所述掃碼轉盤機構3聯動所述電芯進料機構1、銜接機構5以及電芯測試機構7運作，即使掃碼轉盤機構3、電芯進料機構1、銜接機構5以及電芯測試機構7同步運作起來；所述電芯掃描槍機構2和行星輪驅動機構4均固定在所述底座61上。

請重點參照圖6和圖7所示，所述掃碼轉盤機構3包括一主驅動齒輪盤31、一驅動電機32、一電芯掃碼轉動盤33、一掃碼轉盤驅動軸34以及一第一電芯保護殼體35；所述掃碼轉盤驅動軸34的中部通過一第一軸承座36(包含座和軸承)固定在所述豎直立板62上，所述主驅動齒輪盤31固定在所述掃碼轉盤驅動軸34的一端，所述電芯掃碼轉動盤33固定在所述掃碼轉盤驅動軸34的另一端；所述驅動電機32固定在所述底座61上，且所述驅動電機32通過一第一皮帶37驅動所述掃碼轉盤驅動軸34旋轉，并進而通過所述掃碼轉盤驅動軸34帶動所述主驅動齒輪盤31和電芯掃碼轉動盤33旋轉，此時電芯掃碼轉動盤33會帶動各個電芯進行公轉；

所述電芯掃碼轉動盤33的兩側端面上各設置有一第一電芯擋板331，且在兩所述第一電芯擋板331之間形成一第一電芯輸送凹槽332，所述第一電芯輸送凹槽332內軸向環設有復數個第一電芯放置槽333，在具體實施時，相鄰兩個第一電芯放置槽333之間的間距都是相等；所述第一電芯保護殼體35套設在所述第一電芯輸送凹槽332上，該第一電芯保護殼體35可以保證在電芯掃碼轉動盤33帶動電芯旋轉時，電芯不會從第一電芯放置槽333掉落，該第一電芯保護殼體35的外表面通過若干塊第一固定塊351固定在所述豎直立板62上，這樣就可以確保不會影響到電芯掃碼轉動盤33的正常旋轉；所述第一電芯保護殼體35的頂部設置有一掃碼開孔352，該掃碼開孔352用于電芯掃描槍機構2對電芯的掃碼，所述第一電芯保護殼體35的前端設置有一與所述銜接機構5銜接的電芯出口353，該電芯出口353用于將掃碼后的電芯從電芯掃碼轉動盤33輸送出去，后端設置有一與所述電芯進料機構1銜接的電芯掃碼進口354，該電芯掃碼進口354用于將電芯輸入到電芯掃碼轉動盤33中；

設在所述電芯掃碼轉動盤33外側的所述第一電芯擋板331在對應每所述第一電芯放置槽333的位置處均設置有一行星齒輪機構38，且每所述行星齒輪機構38均驅動一個電芯進行旋轉，即通過行星齒輪機構38驅動各個電芯進行自轉。

請重點參照圖8所示，每所述行星齒輪機構38均包括一行星齒輪381、一磁鐵塊382以及一驅動軸383；所述驅動軸383的中部通過一滾珠軸承384固定在外側的所述第一電芯擋板331上；所述磁鐵塊382固定在所述驅動軸383的一端，所述行星齒輪381固定在所述驅動軸383的另一端，且使所述磁鐵塊382位于靠近所述第一電芯放置槽333的一端，使所述行星齒輪381位于遠離所述第一電芯放置槽333的一端，這樣在工作時，可以利用磁鐵塊382將電芯吸住，并通過行星齒輪381的轉動來帶動電芯進行自轉。

請重點參照圖3所示，所述電芯進料機構1包括一支撐架11、一電芯進料滾道12、一電芯緩沖轉盤13、一進料驅動軸14以及一進料齒輪盤15；所述支撐架11固定在所述底座61上，所述電芯進料滾道12傾斜設置在所述支撐架11的頂部，通過將電芯進料滾道12傾斜設置在支撐架11上，可確保電芯可以自動滾下來；所述電芯緩沖轉盤13設置在所述電芯進料滾道12的前端，該電芯緩沖轉盤13上軸向環設有復數個第二電芯放置槽131，在具體設置時，相鄰兩個第二電芯放置槽131之間的間距都是相等的；所述電芯進料滾道12在靠近所述電芯緩沖轉盤13一端的底部設置有一電芯讓位機構16，該電芯讓位機構16可以確保各個電芯都可以準確落入到第二電芯放置槽131中；

所述進料驅動軸14通過一第二軸承座17(包括座和軸承)固定在所述豎直立板62上，所述進料齒輪盤15固定在所述進料驅動軸14的一端，且使所述進料齒輪盤15與所述主驅動齒輪盤31相嚙合，以通過所述主驅動齒輪盤31聯動所述進料齒輪盤15旋轉，所述電芯緩沖轉盤13固定在所述進料驅動軸14的另一端，且通過所述進料驅動軸14帶動所述電芯緩沖轉盤13進行旋轉輸送電芯；

請重點參照圖4所示，所述電芯讓位機構16包括一讓位彈片161以及一伸縮桿162；所述讓位彈片161可向下按壓的設于所述電芯進料滾道12的底部，所述支撐架11上設置有一讓位通孔111；所述伸縮桿162的一端與所述讓位彈片161相連接，另一端穿過所述讓位通孔111并鎖付在所述支撐架11上。在工作過程中，當電芯滾下來沒有進入到第二電芯放置槽131時，即電芯落到了電芯進料滾道12與電芯緩沖轉盤13之間的位置時，電芯緩沖轉盤13在旋轉的過程中就會將讓位彈片161往下壓，從而使電芯可以落入到第二電芯放置槽131中。

請重點參照圖5所示，所述電芯掃描槍機構2包括一掃描槍21、一立桿22、一第一調節桿23、一第一調節連接塊24、一第二調節桿25以及一第二調節連接塊26；所述第一調節連接塊24的垂直紙面向內端設置有一內抱箍241，垂直紙面向外端設置有一外抱箍242；所述第二調節連接塊26的上端設置有一上抱箍261，下端設置有一下抱箍262；所述立桿22豎直立設于所述底座61上，且該立桿22的頂部通過所述內抱箍241抱緊；所述掃描槍21固定在所述第二調節桿25的一端，且使所述掃描槍21處于所述掃碼開孔352的正上方，所述第二調節桿25的另一端通過所述上抱箍261抱緊；所述第一調節桿23的一端通過所述下抱箍262抱緊，另一端通過所述外抱箍242抱緊。在具體工作時，可以通過設置的上抱箍261、下抱箍262、內抱箍241或外抱箍242來調節掃描槍的位置，以確保可以對電芯進行精確的掃碼。

請重點參照圖9所示，所述行星輪驅動機構4包括一行星齒輪驅動電機41、一行星齒輪驅動圓盤42、一行星輪固定座43以及一行星齒輪驅動軸44；所述行星輪固定座43固設于所述底座61上，所述行星齒輪驅動軸44的中部通過一第三軸承座45(包括座和軸承)固定在所述行星輪固定座43上；所述行星齒輪驅動電機41固設于所述底座61上，且該行星齒輪驅動電機41通過一第二皮帶46驅動所述行星齒輪驅動軸44旋轉；所述行星齒輪驅動圓盤42固定在所述行星齒輪驅動軸44的端部，且使所述行星齒輪驅動圓盤42與所述行星齒輪機構38相嚙合(即與行星齒輪機構38上的各個行星齒輪381相嚙合)，以通過所述行星齒輪驅動圓盤42聯動所述行星齒輪機構38旋轉，進而實現驅動電芯的自轉。

請重點參照圖10所示，所述銜接機構5包括一銜接轉盤51、一轉盤保護殼體52、一銜接轉盤驅動軸53以及一銜接轉盤驅動齒輪54；所述銜接轉盤51上軸向環設有復數個第三電芯放置槽511；所述銜接轉盤驅動軸53的中部通過一第四軸承座55(包括座和軸承)固定在所述豎直立板62上；所述銜接轉盤驅動齒輪54固定在所述銜接轉盤驅動軸53的一端，且使所述銜接轉盤驅動齒輪54與所述主驅動齒輪盤31相嚙合，以通過所述主驅動齒輪盤31聯動所述銜接轉盤驅動齒輪54旋轉，從而實現電芯的不間斷輸送；所述轉盤保護殼體52的底部固定在所述底座61上，所述銜接轉盤51置于所述轉盤保護殼體52內，且該銜接轉盤51與所述銜接轉盤驅動軸53的另一端固定連接。

請重點參照圖11、12、13所示，所述電芯測試機構7包括一電芯測試轉盤71、一測試驅動齒輪盤72、一測試盤驅動軸73、一探針伸縮機構74、一第二電芯保護殼體75、一凸輪座76、一凸輪塊77以及一出線滑環78；所述測試盤驅動軸73的中部通過一第五軸承座79(包括座和軸承)固定在所述豎直立板62上；所述測試驅動齒輪盤72固定在所述測試盤驅動軸73的一端，且使所述測試驅動齒輪盤72與所述銜接轉盤驅動齒輪54相嚙合，以通過所述銜接轉盤驅動齒輪54帶動所述測試驅動齒輪盤72旋轉，所述電芯測試轉盤71固定在所述測試盤驅動軸73的另一端；

所述電芯測試轉盤71在內側的端面上設置有一第一測試電路板711，在外側的端面上設置有第二電芯擋板712，且在所述第一測試電路板711與所述第二電芯擋板712之間形成一第二電芯輸送凹槽713，所述第二電芯輸送凹槽713內軸向環設有復數個第四電芯放置槽714，所述第二電芯保護殼體75套設在所述第二電芯輸送凹槽713上，該第二電芯保護殼體75可以保證在電芯測試轉盤71帶動電芯旋轉時，電芯不會從第四電芯放置槽714掉落，該第二電芯保護殼體75的外表面通過若干塊第二固定塊751固定在所述豎直立板62上，這樣就可以確保不會影響到電芯測試轉盤71的正常旋轉；所述第二電芯保護殼體75的前端設置有一電芯出料滾道752，該電芯出料滾道752用于將測試完成的電芯輸送出來，后端設置有一與所述銜接機構5銜接的電芯測試進口(未圖示)，該電芯測試進口用于將電芯送入電芯測試轉盤71中；

所述第二電芯擋板712在對應每所述第四電芯放置槽714的位置處均設置有一測試通孔715，所述第二電芯擋板712的外側設置有一第二測試電路板716；所述第二測試電路板716上在對應每所述測試通孔715的位置處均設置有一探針伸縮機構74；所述凸輪座76固定在所述底座61上，所述凸輪塊77設置在所述凸輪座76上，且通過所述凸輪塊77按壓所述探針伸縮機構74以實現電芯的測試；

所述第二測試電路板716在對應每所述探針伸縮機構74的位置處均設置有一接線端子717；所述出線滑環78的固定端固定在所述凸輪座76上，旋轉端與所述接線端子717相連接，在具體實施時，可以先將各個接線端子717的同一電極的端子先串聯起來，然后再與出線滑環78相連接。所述出線滑環78的實質相當于是水銀滑環，其具體工作原理也與水銀滑環相同，它就相當于是一個轉接器，其中，出線滑環78的固定端固定在凸輪座76上，可以方便與外部線的連接，出線滑環78的旋轉端與接線端子717實現旋轉連接。

請重點參照圖14所示，所述探針伸縮機構74包括一萬向滾球741、一壓縮彈簧742、一導柱743、一直線導軌744以及一探針固定塊745以及一測試探針746；所述直線導軌744固定在所述第二測試電路板716上；所述導柱743的一端與所述萬向滾球741相連接，另一端穿過所述直線導軌744與所述探針固定塊745相連接；所述壓縮彈簧742的一端與所述萬向滾球741相連接，另一端與所述直線導軌744相連接；所述測試探針746固定在所述探針固定塊745上，且使所述測試探針746與所述測試通孔715對準。在工作時，當電芯測試轉盤71帶動探針伸縮機構74經過凸輪塊77的位置時，凸輪塊77會將萬向滾球741往內頂，并進而帶動導柱743沿直線導軌744向內伸，此時測試探針746就會穿過測試通孔715與待測試的電芯接觸，從而完成對電芯的測試；當探針伸縮機構74離開凸輪塊77的位置時，導柱743在壓縮彈簧742彈力的作用下會往外回位，并進而帶動測試探針746往外縮回到測試通孔715的外部。

本發明的工作原理如下：

來料電芯通過傾斜設置的電芯進料滾道12向下滾入到電芯緩沖轉盤13上的第二電芯放置槽131中；同時，啟動驅動電機32開始工作，并通過第一皮帶37驅動掃碼轉盤驅動軸34進行旋轉，掃碼轉盤驅動軸34在轉動的過程中，會帶動主驅動齒輪盤31和電芯掃碼轉動盤33一起旋轉起來，此時，主驅動齒輪盤31會帶動與其相嚙合的進料齒輪盤15旋轉起來，進料齒輪盤15的旋轉，又會帶動進料驅動軸14和電芯緩沖轉盤13旋轉起來，從而實現將進入到第二電芯放置槽131中的電芯輸送到電芯掃碼轉動盤33的第一電芯放置槽333中；

當電芯進入到第一電芯放置槽333后，就會跟隨電芯掃碼轉動盤33一起公轉起來，電芯公轉的速度可通過調節驅動電機32的轉速來進行控制；在電芯剛進入公轉后，啟動行星齒輪驅動電機41開始工作，并通過第二皮帶46驅動行星齒輪驅動軸44進行旋轉，行星齒輪驅動軸44在旋轉的過程中，會帶動行星齒輪驅動圓盤42聯動各個行星齒輪機構38進行旋轉，各個行星齒輪機構38在旋轉的過程中，又會通過磁鐵塊382吸附住電芯且帶動電芯進行自轉，電芯自轉的速度可通過調節行星齒輪驅動電機41的轉速來進行控制，這樣，當電芯經過頂部的掃碼開孔352時，掃描槍21就可以對各個電芯進行準確的掃碼；

掃碼后的電芯會從電芯出口353出來并進入到銜接轉盤51的第三電芯放置槽511中，由于主驅動齒輪盤31在旋轉的過程中，會帶動與其相嚙合的銜接轉盤驅動齒輪54一同旋轉起來，而銜接轉盤驅動齒輪54的旋轉，又會帶動銜接轉盤驅動軸53和銜接轉盤51一起旋轉起來，從而實現將電芯不間斷的輸送到電芯測試轉盤71的第四電芯放置槽714中；

電芯在進入第四電芯放置槽714后，由于測試驅動齒輪盤72與銜接轉盤驅動齒輪54相嚙合，因此，銜接轉盤驅動齒輪54會帶動測試驅動齒輪盤72進行旋轉，并進而通過測試驅動齒輪盤72帶動電芯進行公轉；在測試驅動齒輪盤72旋轉的過程中，當電芯測試轉盤71上的探針伸縮機構74經過凸輪塊77的位置時，凸輪塊77會將萬向滾球741往內頂，并進而帶動導柱743沿直線導軌744向內伸，此時測試探針746就會穿過測試通孔715與待測試的電芯進行接觸，以實現對電芯的測試；當探針伸縮機構74離開凸輪塊77的位置時，導柱743在壓縮彈簧742彈力的作用下會往外回位，并進而帶動測試探針746往外縮回到測試通孔715的外部；測試完成的電芯則通過電芯出料滾道752輸送出來。

總之，本發明具有如下優點：1、在對電芯進行掃碼時，可在掃描槍的視野范圍內，通過自轉以及公轉的的不停頓狀態來實現對電芯的快速掃碼操作，并且可通過調整公轉和自轉的速度來實現將掃碼效率提升到最佳狀態；2、在完成電芯的掃碼操作后，可通過銜接機構將電芯順暢、不間斷的輸送給電芯測試機構進行測試，可節省以往需要停頓的時間，以提升掃碼和測試效率；3、在對電芯進行測試時，可通過凸輪塊自動觸發探針伸縮機構對電芯進行測試，可真正實現全自動化測試，有助于大大提高測試的效率。

雖然以上描述了本發明的具體實施方式，但是熟悉本技術領域的技術人員應當理解，我們所描述的具體的實施例只是說明性的，而不是用于對本發明的范圍的限定，熟悉本領域的技術人員在依照本發明的精神所作的等效的修飾以及變化，都應當涵蓋在本發明的權利要求所保護的范圍內。