專利名稱：用于動態試驗臺的測力軸承機構的制作方法
技術領域：
本實用新型是一種軸承機構，特別涉及一種用于聯軸器動態試驗臺的測力軸承機構。
背景技術：
現有技術中的沒有專門用于聯軸器動態試驗臺，導致試驗數據不準確，產品質量
無法掌握。
發明內容本實用新型主要是解決現有技術中存在的不足，提供一種結構簡單的用于動態試驗臺的測力軸承機構。本實用新型的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的一種用于動態試驗臺的測力軸承機構，包括支架臺，所述的支架臺的上端中設有測力軸，所述的測力軸上套有測力軸承機構，所述的測力軸承機構包括軸承座、一對圓錐滾柱軸承和襯圈，所述的軸承座設在支架臺中，所述的軸承座中設有一對圓錐滾柱軸承，所述的測力軸與一對圓錐滾柱軸承相套接，所述的一對圓錐滾柱軸承間設有襯圈。因此，本實用新型提供的用于動態試驗臺的測力軸承機構，結構簡單，穩定性高， 操作方便。
圖1是本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
下面通過實施例，并結合附圖，對本實用新型的技術方案作進一步具體的說明。實施例如圖1所示，一種用于動態試驗臺的測力軸承機構，包括支架臺1，所述的支架臺1的上端中設有測力軸2，所述的測力軸2上套有測力軸承機構，所述的測力軸承機構包括軸承座3、一對圓錐滾柱軸承4和襯圈5，所述的軸承座3設在支架臺1中，所述的軸承座3中設有一對圓錐滾柱軸承4，所述的測力軸2與一對圓錐滾柱軸承4相套接，所述的一對圓錐滾柱軸承4間設有襯圈5。
權利要求1. 一種用于動態試驗臺的測力軸承機構，其特征在于包括支架臺(1)，所述的支架臺 (1)的上端中設有測力軸O)，所述的測力軸( 上套有測力軸承機構，所述的測力軸承機構包括軸承座(3)、一對圓錐滾柱軸承(4)和襯圈(5)，所述的軸承座C3)設在支架臺(1) 中，所述的軸承座(3)中設有一對圓錐滾柱軸承G)，所述的測力軸O)與一對圓錐滾柱軸承(4)相套接，所述的一對圓錐滾柱軸承間設有襯圈(5)。
專利摘要本實用新型是一種軸承機構，特別涉及一種用于聯軸器動態試驗臺的測力軸承機構。包括支架臺，所述的支架臺的上端中設有測力軸，所述的測力軸上套有測力軸承機構，所述的測力軸承機構包括軸承座、一對圓錐滾柱軸承和襯圈，所述的軸承座設在支架臺中，所述的軸承座中設有一對圓錐滾柱軸承，所述的測力軸與一對圓錐滾柱軸承相套接，所述的一對圓錐滾柱軸承間設有襯圈。用于動態試驗臺的測力軸承機構結構簡單，穩定性高，操作方便。
文檔編號F16C35/12GK202144838SQ20112027179
公開日2012年2月15日 申請日期2011年7月25日 優先權日2011年7月25日
發明者陳玉珍 申請人:沈艷艷