專利名稱：探針式測試治具的制作方法
技術領域：
本發明涉及測試工裝治具領域，特別地，是一種用于測試主板的測試治具。
背景技術：
在社會高速發展的現代，越來越多的電子產品進入千家萬戶，這些設備一般都含有一塊甚至多塊或大或小的電路板，這些電路板上焊接了各種各樣的接口，特別是微機使
用的主板接口更多，這些電子產品在出廠時都需要進行一系列的檢測。一般檢測都是通過在電路板的接口插接相應的插頭，然后進行相關測試，但是這樣的測試會將電路板接口的金屬觸片產生磨損，這種磨損會給挑剔的客戶借口使用過而產生退貨，更重要的是這種磨損的存在，會加速接口的氧化。
發明內容
為了解決上述問題，本發明的目的在于提供一種探針式測試治具，該探針式測試治具能通過電路板接口的焊點，與電路板電氣連接進行測試。本發明解決其技術問題所采用的技術方案是
該探針式測試治具包括測試臺和測試器，所述測試臺上設置有固定電路板的銅柱，所述測試臺上方設置有與其平行的滑桿，所述滑桿兩端通過連桿固定在所述測試臺上，所述滑桿上套接有至少二根套環，所述套環能在所述滑桿上滑動，所述套環上設置有鎖定螺桿，所述套環上固定一垂直于所述滑桿的伸縮桿，所述伸縮桿的另一端設置有測試探針，所述測試探針與所述測試器電氣連接。作為優選，所述伸縮桿為氣動伸縮桿且分別通過通氣管與同一氣泵連通。作為優選，所述測試器和所述氣泵集成在同一殼體中，所述測試器與測試探針之間的導線分別設置在對應的通氣管內。作為優選，所述測試臺上設置有旋轉平臺，所述銅柱設置在所述旋轉平臺上。作為優選，所述連桿為含有鎖定環的伸縮柱。作為優選，所述測試探針的頂部為導電膠或者導電硅膠。本發明的優點在于
1.通過測試探針接觸電路板的接口，進行測試，防止了接口的磨損，使接口不產生老化
2.結構簡單，成本低廉。
圖I是本探針式測試治具一實施例立體結構示意圖。圖2是本探針式測試治具圖I實施例測試主板的立體結構示意圖。圖3是本探針式測試治具圖I實施例測試探針的結構示意圖。
具體實施例方式下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明
參閱圖I、圖2，在本實施例中，該探針式測試治具包括測試臺100和測試器，所述測試臺100上設置有固定電路板500的銅柱120，所述測試臺100上方設置有與其平行的滑桿600，所述滑桿600兩端通過連桿200固定在所述測試臺100上，所述滑桿600上套接有四
根套環320，所述套環320能在所述滑桿600上滑動，所述套環320上設置有鎖定螺桿330，所述套環320上固定一垂直于所述滑桿600的伸縮桿300，所述伸縮桿300的另一端設置有測試探針310，所述測試探針310與所述測試器電氣連接。上述的探針式測試治具，所述伸縮桿300為氣動伸縮桿且分別通過一通氣管410
與同一氣泵連通。上述的探針式測試治具，所述測試器和所述氣泵集成在同一殼體400中，所述測試器與測試探針310之間的導線分別設置在對應的通氣管410內，簡化整個裝置的結構。上述的探針式測試治具，所述測試臺100上設置有旋轉平臺110，所述銅柱120設置在所述旋轉平臺110上，旋轉平臺能夠使測試探針310減少因為電路板500本身的元件阻擋而產生死角。上述的探針式測試治具，所述連桿200為含有鎖定環210的伸縮柱，通過調整連桿200的高低，可以調整測試探針310的最佳接觸角度。參閱圖3，上述的探針式測試治具，所述測試探針310的頂部為導電膠或者導電硅膠，導電膠或者導電硅膠能夠使測試探針310不劃傷電路板500的焊點。上述的探針式測試治具的使用方式
將電路板500固定在所述旋轉平臺110的銅柱120上，然后調整旋轉平臺110和連桿200，使所述測試探針310避免所述電路板500上元器件的阻擋，將測試探針310調整至對應接口的焊點上，鎖定所述鎖定螺桿330固定所述伸縮桿300，驅動所述氣泵，所述伸縮桿300將所述測試探針310送至對應接口的焊點上，所述測試器對所述電路板500進行測試。以上所述僅為本發明的較佳實施例，并不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。
權利要求
1.一種探針式測試治具，包括測試臺(100)和測試器，其特征在于所述測試臺(100)上設置有固定電路板(500)的銅柱(120)，所述測試臺(100)上方設置有與其平行的滑桿(600),所述滑桿(600)兩端通過連桿(200)固定在所述測試臺(100)上，所述滑桿(600)上套接有至少ニ根套環(320 )，所述套環(320 )能在所述滑桿(600 )上滑動，所述套環(320 )上設置有鎖定螺桿(330)，所述套環(320)上固定一垂直于所述滑桿(600)的伸縮桿(300)，所述伸縮桿(300)的另一端設置有測試探針(310)，所述測試探針(310)與所述測試器電氣連接。
2.根據權利要求1所述的探針式測試治具，其特征在于所述伸縮桿(300)為氣動伸縮桿且分別通過一通氣管(410)與同一氣泵連通。
3.根據權利要求I或權利要求2所述的探針式測試治具，其特征在于所述測試器和所述氣泵集成在同一殼體(400)中，所述測試器與測試探針(310)之間的導線分別設置在對應的通氣管(410)內。
4.根據權利要求I所述的探針式測試治具，其特征在于所述測試臺(100)上設置有旋轉平臺(110 )，所述銅柱(120 )設置在所述旋轉平臺(110 )上。
5.根據權利要求I所述的探針式測試治具，其特征在于所述連桿(200)為含有鎖定環(210)的伸縮柱。
6.根據權利要求I所述的探針式測試治具，其特征在于所述測試探針(310)的頂部為導電膠或者導電硅膠。
全文摘要
本發明提供一種探針式測試治具，包括測試臺和測試器，所述測試臺上設置有固定電路板的銅柱，所述測試臺上方設置有與其平行的滑桿，所述滑桿兩端通過連桿固定在所述測試臺上，所述滑桿上套接有至少二根套環，所述套環能在所述滑桿上滑動，所述套環上設置有鎖定螺桿，所述套環上固定一垂直于所述滑桿的伸縮桿，所述伸縮桿的另一端設置有測試探針，所述測試探針與所述測試器電氣連接，本發明通過所述測試探針接觸電路板的接口，進行測試，防止了接口的磨損，使接口不產生老化。
文檔編號G01R31/28GK102854453SQ20121029296
公開日2013年1月2日 申請日期2012年8月17日 優先權日2012年8月17日
發明者金湖濱 申請人:蘇州啟智機電技術有限公司