專利名稱：等靜壓石墨外觀參數快速檢測系統的制作方法
技術領域：
等靜壓石墨外觀參數快速檢測系統技術領域[0001]本實用新型涉及一種石墨外觀參數檢測系統，特別涉及一種等靜壓石墨外觀參數 快速檢測系統。
背景技術：
[0002]等靜壓石墨是上世紀40年代發展起來的一種新型石墨材料，具有一系列優異的 性能。等靜壓石墨的耐熱性好，在惰性氣氛下，隨著溫度的升高，其機械強度反而升高，在 2500°C左右時達到最高值；與普通石墨相比，結構精細致密，而且均勻性好；熱膨脹系數很 低，具有優異的抗熱震性能；各向同性、耐化學腐蝕性強、導熱性能和導電性能良好；具有 優異的機械加工性能。正是由于具有這一系列的優異性能，等靜壓石墨在化工、半導體、電 氣、冶金、機械、核能及宇航等領域得到廣泛應用，而且，隨著科學技術的發展，應用領域還 在不斷擴大。[0003]由于高密度各向同性碳材料的性能優良、用途廣泛、附加值高，各發達國家都投入 較多的人力物力開發該材料。等靜壓石墨的性能受原料的影響極大，對原料的精選是能否 生產出所需要的最終產品的關鍵環節，在等靜壓石墨生產過程中，有一項重要工藝過程，就 是生產過程中坯料的外觀檢測，它包括外觀形狀、外觀完整度(有無碰損、裂紋等)、外觀尺 寸等項目。在現在的石墨生產過程中，通常采用人工檢測方式，靠人工手動翻動和目檢方 式。這種檢測方式檢測速度慢，工人操作強度大，同時還存在一定的不可靠性質檢員的經 驗是質檢是否通過的關鍵因素，所以質檢員的能力水平直接影響到產品的檢測結果，對于 質檢員缺少經驗或是疏忽大意，容易出現失誤。實用新型內容[0004]本實用新型的目的在于克服現有技術的不足，提供一種檢測時間短、檢測數據精 確、無粉塵污染、操作人員少且無需專業技能操作，使用簡單、可靠性高的等靜壓石墨外觀 參數快速檢測系統。[0005]本實用新型的目的是通過以下技術方案來實現的等靜壓石墨外觀參數快速檢測 系統，所述的外觀參數包括外觀尺寸、外觀形狀及完整度，它包括外觀尺寸檢測子系統和外 觀形狀及完整度檢測子系統，所述的外觀尺寸檢測子系統包括采集單元和處理單元，所述 的采集單元由光發射組件和光接收組件構成，被測等靜壓石墨置于光發射組件和光接收組 件之間，所述的光發射組件包括發射組件可調節端、發射端距離調節機構和發射組件固定 端，所述的光接收組件包括接收組件可調節端、接收端調節機構和接收組件固定端，所述的 發射組件可調節端和發射組件固定端內側安裝有光電發射器，接收組件可調節端和接收組 件固定端內側安裝有光電接收器，光電接收器與處理單元相連；[0006]所述的外觀形狀及完整度檢測子系統包括旋轉機構、CXD移動導軌、CXD探頭和圖 像處理單元，被測等靜壓石墨放置于旋轉機構上，CCD移動導軌安裝在旋轉機構上方，CCD 探頭安裝在CCD移動導軌上，CCD探頭與圖像處理單元連接，所述的旋轉機構包括承載輪和伺服機構，伺服機構分別與CCD移動導軌和承載輪連接。本實用新型的優點在于1.檢測時間短，外觀尺寸檢測采用A-GAGE光幕系統，該系統的最小響應時間為lms，單件檢測時間為30秒，實現在線快速檢測，本系統可與生產線上的其他工藝設備組成連續生產線。2.測量數據精確采用科學的檢測方法，較之原有的人工檢測，結果精確可靠。3.操作人員少，且無需專業技能操作，減少了人工操作強度，使用簡便。 4.無粉塵污染，采用機械化操作，減少了檢測過程中出現的粉塵。
圖1為本實用新型外觀尺寸檢測子系統結構示意圖；圖2為本實用新型外觀形狀及完整度檢測子系統結構示意圖；圖3為本實用新型外觀形狀及完整度檢測子系統側面結構示意圖；圖中，1-發射組件可調階段，2-發射端距離調節機構，3-發射組件固定端，4-接收組件可調節端，5-接收端調節機構，6-接收組件固定端，7-被測等靜壓石墨，8-光電發射器，9-光電接收器，10-CXD探頭，Il-CXD移動導軌，12-承載輪，13-圖像處理單元。
具體實施方式
以下結合附圖進一步說明本實用新型的技術方案，但本實用新型所保護的內容不局限于以下所述。等靜壓石墨外觀參數快速檢測系統，所述的外觀參數包括外觀尺寸、外觀形狀及完整度，它包括外觀尺寸檢測子系統和外觀形狀及完整度檢測子系統；如圖1所示，外觀尺寸檢測子系統包括采集單元和處理單元，所述的采集單元由光發射組件和光接收組件構成，被測等靜壓石墨7置于光發射組件和光接收組件之間，所述的光發射組件包括發射組件可調節端1、發射端距離調節機構2和發射組件固定端3，所述的光接收組件包括接收組件可調節端4、接收端調節機構5和接收組件固定端6，所述的發射組件可調節端I和發射組件固定端3內側安裝有光電發射器8，接收組件可調節端4和接收組件固定端6內側安裝有光電接收器9，光電接收器9與處理單元相連；如圖2、圖3所示，外觀形狀及完整度檢測子系統包括旋轉機構、CXD移動導軌11、CXD探頭10和圖像處理單元13，被測等靜壓石墨7放置于旋轉機構上，CXD移動導軌11安裝在旋轉機構上方，C⑶探頭10安裝在CXD移動導軌11上，CXD探頭10與圖像處理單元13連接，所述的旋轉機構包括承載輪12和伺服機構，伺服機構分別與CXD移動導軌11和承載輪12連接。本實用新型的外觀尺寸檢測工作原理為A、調節發射端距離調節機構2和接收組件可調節端4，使檢測通道大小與被測產品適應，將測等靜壓石墨7放入檢測通道中；B、打開電源，讓光電發射器8發出的光線照到被測產品7上，光電接收器9接收通過測等靜壓石墨7后剩余的光線，并將接收到的信息傳送到處理單元；C、處理單元對接收到的信息進行處理，并顯示處理結果；[0024]本實用新型的外觀形狀及完整度檢測工作原理為[0025]A、將被測等靜壓石墨7放在承載輪12上，承載輪12為可旋轉的動輪；[0026]B、打開電源開關，承載輪12在伺服機構的帶動下讓被測等靜壓石墨7沿固定方向 恒速旋轉，CCD探頭10沿CCD移動導軌11從被測等靜壓石墨7的一端軸向恒速向另一端移 動，CXD探頭10在移動過程中以每秒100幀的頻率快速拍攝被測等靜壓石墨7表面圖像， 并將拍攝的圖像傳送到圖像處理單元13 ；[0027]C、圖像處理單元13對接收到的圖像進行拼接、放大和分析，即可快速找出被測等 靜壓石墨7的瑕疵，所述的瑕疵包括外表裂紋和損傷。
權利要求1.等靜壓石墨外觀參數快速檢測系統，所述的外觀參數包括外觀尺寸、外觀形狀及完整度，其特征在于它包括外觀尺寸檢測子系統和外觀形狀及完整度檢測子系統，所述的外觀尺寸檢測子系統包括采集單元和處理單元，所述的采集單元由光發射組件和光接收組件構成，被測等靜壓石墨(7 )置于光發射組件和光接收組件之間，所述的光發射組件包括發射組件可調節端(I)、發射端距離調節機構(2)和發射組件固定端(3)，所述的光接收組件包括接收組件可調節端(4)、接收端調節機構(5)和接收組件固定端(6)，所述的發射組件可調節端(I)和發射組件固定端(3)內側安裝有光電發射器(8)，接收組件可調節端(4)和接收組件固定端(6)內側安裝有光電接收器(9)，光電接收器(9)與處理單元相連；所述的外觀形狀及完整度檢測子系統包括旋轉機構、CXD移動導軌(11)、(XD探頭(10) 和圖像處理單元(13)，被測等靜壓石墨(7)放置于旋轉機構上，C⑶移動導軌(11)安裝在旋轉機構上方，C⑶探頭(10)安裝在C⑶移動導軌(11)上，C⑶探頭(10)與圖像處理單元(13)連接，所述的旋轉機構包括承載輪(12)和伺服機構，伺服機構分別與CCD移動導軌 (11)和承載輪(12)連接。
專利摘要本實用新型公開了一種等靜壓石墨外觀參數快速檢測系統，檢測系統包括外觀尺寸檢測子系統和外觀形狀及完整度檢測子系統，外觀尺寸檢測子系統包括采集單元和處理單元，光電發射器(8)發出的光線照射到被測等靜壓石墨(7)上，光電接收器(9)接收通過被測等靜壓石墨(7)后的光線，通過處理單元處理后得出產品的外觀尺寸；外觀形狀及完整度檢測子系統包括旋轉機構、CCD移動導軌(11)、CCD探頭(10)和圖像處理單元(13)，CCD探頭(10)在被測等靜壓石墨(7)上以一定頻率攝制圖像，傳送到圖像處理單元(13)處理后找出被測等靜壓石墨(7)的瑕疵。本實用新型具有檢測時間短、數據精準，無粉塵污染，使用簡單等優點。
文檔編號G01N21/88GK202886292SQ20122061588
公開日2013年4月17日 申請日期2012年11月20日 優先權日2012年11月20日
發明者張慶, 楊洪, 尹學軍, 陳壘, 陳銳 申請人:雅安恒圣高純石墨科技有限責任公司