一種平整度測試裝置制造方法
【專利摘要】本發明公開了一種平整度測試裝置，包括本體、水平平行設置本體下部的兩個固定架、設置于兩個固定架上的多對通孔對；所述每對通孔對內均設置活動柱體，所述活動柱體的一端設置導電體，另一端伸出位于本體底部；所述本體的上部設置托盤，所述托盤的底部外側設置金屬導體觸點對；所述托盤內設置電源、LED燈，所述LED燈的正極與金屬導體觸點對的一個觸點連接，所述LED燈的負極與電源的負極連接，所述金屬導體觸點對的另一個觸點與電源的正極連接，當活動柱體向上運動時，設置于活動柱體一端的導電體分別與金屬導體觸點對的兩個觸點連接，LED燈的電源接通，LED燈點亮。該裝置結構簡單，精確度高，而且成本低。
【專利說明】一種平整度測試裝置
【技術領域】
[0001]本發明公開了一種平整度測試裝置，尤其涉及一種硬盤片研磨機的研磨盤平整度測試裝置，屬于電子設備領域。
【背景技術】
[0002]平面研磨機廣泛用于LED藍寶石襯底、光學玻璃晶片、石英晶片、硅片、諸片、模具、導光板、光扦接頭等各種材料的單面研磨、拋光。平面研磨機為精密研磨拋光設備，被磨、拋材料放于平整的研磨盤上，研磨盤逆時鐘轉動，修正輪帶動工件自轉，重力加壓或其它方式對工件施壓，工件與研磨盤作相對運轉磨擦，來達到研磨拋光目的。研磨盤平面度是研磨的基準，是得到精密工件平面的保證。在研磨的過程中，研磨盤的平面度會下降，主要原因研磨盤的內外線速度不同，磨損不一致造成。
[0003]目前，用于這個領域的平面度測試儀種類很多，但是價格昂貴，因此許多廠家采用手動測試平面度的辦法，用一塊平整的鐵塊將一盒很薄的鐵片壓在研磨盤上，一只手固定鐵塊，另一只手抽出薄鐵片，觀察是否能很容易的抽出鐵片，如果很容易的抽出鐵片，說明研磨盤該位置不平整，如果用很大力才能抽出或者不能抽出，說明該位置平整度很高，這種方法這能依靠人的經驗來判斷，精確性并不是很高。
【發明內容】
[0004]本發明所要解決的技術問題是:提供一種平整度測試裝置，解決了現有技術中平整度測試裝置價錢高，采用人工判斷平整度的精確度低的問題。
[0005]為解決上述技術問題，本發明的技術方案是:
一種平整度測試裝置，包括本體，所屬本體包括下部、上部，所述本體的下部包括水平平行設置的兩個固定架，其中一個固定架位于本體底部，所述兩個固定架上設置多對通孔對，且每對通孔的圓心連線垂直于水平面；所述每對通孔對內均設置活動柱體，所述活動柱體的一端設置導電體，另一端伸出位于本體底部；所述本體的上部設置托盤，所述托盤的底部與兩個固定架水平平行設置，所述托盤的底部外側設置與活動柱體一一對應的金屬導體觸點對，所述金屬導體觸點對中的兩個觸點之間的間距大于O ;所述托盤內設置電源、LED燈，所述LED燈與金屬導體觸點對一一對應，所述LED燈的正極與金屬導體觸點對的一個觸點連接，所述LED燈的負極與電源的負極連接，所述金屬導體觸點對的另一個觸點與電源的正極連接，當活動柱體向上運動時，設置于活動柱體一端的導電體分別與金屬導體觸點對的兩個觸點連接，LED燈的電源接通，LED燈點亮。
[0006]所述活動柱體上設置限位裝置，所述限位裝置位于固定架的上部，用于防止活動柱體脫落。
[0007]所述活動柱體為圓柱體，所述圓柱體上設置凹槽，所述限位裝置為圓環體，所述套接于圓柱體上的凹槽內。
[0008]還包括蓋體，所述蓋體設置于本體頂部，所述蓋體上開設與LED燈一一對應的通孔，所述LED燈頂部部分伸出通孔。
[0009]還包括透明蓋體，所述透明蓋體設置于本體頂部。
[0010]所述活動柱體伸出本體底部的距離等于活動柱體一端導電體到金屬導電觸點對的距離。
[0011]與現有技術相比，本發明的有益效果為:
(I)該裝置結構簡單，精確度高，而且成本低。
[0012](2)通過LED燈是否點亮來觀察研磨盤平面是否平整，以及不平整的位置，方便了工藝管理人員，不需要靠手工測試平整度。
[0013](3)設置了蓋體，使得上部電路部分不需裸露在外，增加了安全性，通過透明蓋體，可方便操作人員觀察。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0014]圖1為本發明的結構示意圖。
[0015]圖2為圖1中沿A-A剖面圖部分結構示意圖。
[0016]其中，圖中的標識為:1-蓋體；2-托盤；3-第一固定架；4-第二固定架；5-活動柱體；6-LED燈；7-LED燈負極；8_LED燈正極；9_第一導電觸點；10_第二導電觸點；11_導電體；12-限位裝置。
【具體實施方式】
[0017]下面結合附圖和實施例對本發明的技術方案進行詳細說明:
如圖1、圖2所示，一種平整度測試裝置，包括本體，所屬本體包括下部、上部，所述本體的下部包括水平平行設置的兩個固定架，分別為第一固定架3、第二固定架4，其中第一固定架3位于本體中部，第二固定架位于本體底部，所述兩個固定架上設置多對通孔對，且每對通孔的圓心連線垂直于水平面；所述每對通孔對內均設置活動柱體5，所述活動柱體5的一端設置導電體11，另一端伸出位于本體底部；所述本體的上部設置托盤2，所述托盤2的底部與兩個固定架水平平行設置，所述托盤2的底部外側設置與活動柱體5 —一對應的金屬導體觸點對，分別為第一導電觸點9、第二導電觸點10，所述金屬導體觸點對中的兩個觸點之間的間距大于O ;所述托盤2內設置電源、LED燈6，所述LED燈6與金屬導體觸點對一一對應，所述LED燈6的正極與金屬導體觸點對的第一導電觸點9連接，所述LED燈6的負極與電源的負極連接，所述金屬導體觸點對的第二導電觸點10與電源的正極連接，當活動柱體5向上運動時，設置于活動柱體5 —端的導電體11分別與金屬導體觸點對的兩個觸點連接，LED燈6的電源接通，LED燈6點亮。1-上蓋；2_托盤；3_第一固定架；4_第二固定架；5_活動柱體；6-LED燈；7-LED燈負極；8_LED燈正極；9_第一導電觸點；10-第二導電觸點；11_導電體；12-限位裝置。
[0018]該實施例的導電體為導電板，
所述活動柱體上設置限位裝置12，所述限位裝置12位于固定架的上部，用于防止活動柱體5脫落。
[0019]所述活動柱體5為圓柱體，所述圓柱體上設置凹槽，所述限位裝置12為圓環體，所述套接于圓柱體上的凹槽內。[0020]還包括蓋體I，所述蓋體I設置于本體頂部，所述蓋體I上開設與LED燈6 對應的通孔，所述LED燈6頂部部分伸出通孔。
[0021]所述蓋體I可以為透明蓋體，所述透明蓋體設置于本體頂部。
[0022]所述活動柱體5伸出本體底部的距離等于活動柱體5 —端導電體到金屬導電觸點對的距離。
【權利要求】
1.一種平整度測試裝置，包括本體，所屬本體包括下部、上部，其特征在于:所述本體的下部包括水平平行設置的兩個固定架，其中一個固定架位于本體底部，所述兩個固定架上設置多對通孔對，且每對通孔的圓心連線垂直于水平面；所述每對通孔對內均設置活動柱體，所述活動柱體的一端設置導電體，另一端伸出位于本體底部；所述本體的上部設置托盤，所述托盤的底部與兩個固定架水平平行設置，所述托盤的底部外側設置與活動柱體—對應的金屬導體觸點對，所述金屬導體觸點對中的兩個觸點之間的間距大于O ;所述托盤內設置電源、LED燈，所述LED燈與金屬導體觸點對一一對應，所述LED燈的正極與金屬導體觸點對的一個觸點連接，所述LED燈的負極與電源的負極連接，所述金屬導體觸點對的另一個觸點與電源的正極連接，當活動柱體向上運動時，設置于活動柱體一端的導電體分別與金屬導體觸點對的兩個觸點連接，LED燈的電源接通，LED燈點亮。
2.根據權利要求1所述的平整度測試裝置，其特征在于:所述活動柱體上設置限位裝置，所述限位裝置位于固定架的上部，用于防止活動柱體脫落。
3.根據權利要求2所述的平整度測試裝置，其特征在于:所述活動柱體為圓柱體，所述圓柱體上設置凹槽，所述限位裝置為圓環體，所述套接于圓柱體上的凹槽內。
4.根據權利要求1所述的平整度測試裝置，其特征在于:還包括蓋體，所述蓋體設置于本體頂部，所述蓋體上開設與LED燈一一對應的通孔，所述LED燈頂部部分伸出通孔。
5.根據權利要求1所述的平整度測試裝置，其特征在于:還包括透明蓋體，所述透明蓋體設置于本體頂部。
6.根據權利要求廣5中任一項所述的平整度測試裝置，其特征在于:所述活動柱體伸出本體底部的距離等于活動柱體一端導電體到金屬導電觸點對的距離。
【文檔編號】G01B21/30GK103644885SQ201310573032
【公開日】2014年3月19日 申請日期:2013年11月18日 優先權日:2013年11月18日
【發明者】周桃英, 王香兵, 唐豪 申請人:無錫俊達測試技術服務有限公司