一種磁粉靈敏度測試裝置及其制作方法與流程

本發明涉及一種磁粉探傷用的磁粉靈敏度測試裝置及其制作方法。

背景技術：

常規傳統磁粉探傷用磁粉靈敏度測試，均采用A型試片、三孔E型試塊等進行檢驗。無論試片，還是E型試塊，其缺陷均為人工模擬缺陷（刻槽或孔洞），與實際需檢測缺陷不一致，不能準確、真實反映所測磁粉的靈敏度。而磁粉靈敏度又是影響磁粉檢測質量的關鍵因素之一，一直沒有更好的方法來替代，也一直是困擾行業的一大技術難題。

技術實現要素：

本發明的第一目的在于提供了一種能夠準確、真實反映磁粉靈敏度的磁粉靈敏度測試裝置。

本發明的第二目的在于提供了一種磁粉靈敏度測試裝置的制作方法。

為了達到上述第一目的，本發明的磁粉靈敏度測試裝置，包括圓柱體，所述圓柱體具有兩個平面，至少一個所述平面上具有若干條淬火裂紋和若干條磨削裂紋，所述圓柱體還具有圓形中孔，所述圓柱體高度為5mm±0.05mm～10mm±0.05mm，直徑為50mm～60mm，所述圓形中孔直徑為10mm～20mm。

為了達到上述第二目的，本發明的一種上述磁粉靈敏度測試裝置的制作方法，包括以下步驟：

步驟一、材料選取：選用合金工具鋼棒材或板材；

步驟二、粗加工：將所選材料采用機加工制成厚5mm～10.5mm，直徑50mm～100mm的圓柱體，在圓柱體中心加工一個10mm～20mm的圓形中孔；

步驟三、磨削：將圓柱體兩個平面磨平，使兩個平面之間尺寸至5mm±0.05mm～10mm±0.05mm；

步驟四、表面硬化：在800℃～900℃下硬化2h；

步驟五、淬火：進行淬火，使表面硬度為60HRC～75HRC，產生淬火裂紋；

步驟六、高速磨削：在磨床上，采用砂粒尺寸為46J7的砂輪，以30m/s～35m/s的速度進行磨削，表面的遞進量為0.05mm，移位2.0mm，產生磨削裂紋；

步驟七、黑化處理：在140℃～150℃溫度下黑化1.5h以上；

步驟八、永久磁化：采用直流電中心導體法進行永久磁化，制成磁粉靈敏度測試裝置，以照相照片方式保存首次磁化結果。

在步驟一中，選用90MnCrV8或9Mn2V牌號合金工具鋼。

在步驟二中，采用線切割方式加工所選材料。

在步驟四中，在800℃～860℃下硬化。

在步驟五中，淬火是油淬。

在步驟七中，在145℃±1℃溫度下黑化2h。

在步驟八中，對制成磁粉靈敏度測試裝置還進行刻錄編號。

采用上述結構的磁粉靈敏度測試裝置，由于帶有若干條淬火裂紋和若干條磨削裂紋，實現了磁粉靈敏度準確的測量，能夠真實地反映磁粉靈敏度，保證探傷質量，而且該裝置現場使用方便，能夠長期循環重復使用，不易損壞，可大幅降低測試成本；經本發明的制作方法制作的磁粉靈敏度測試用裝置與A型試片、三孔E型試塊功能相同，由于淬火裂紋和磨削裂紋均為自然缺陷，完全與實際探傷應發現的缺陷相同，使靈敏度測試結果更真實，更能反映實際情況。

附圖說明

以下結合附圖給出的實施例對本發明作進一步詳細的說明。

圖1為本發明的磁粉靈敏度測試裝置的結構示意圖。

圖2為圖1的A-A剖視圖。

具體實施方式

如圖1、2所示，本發明的磁粉靈敏度測試裝置，包括圓柱體3，所述圓柱體3具有兩個平面3-1，至少一個所述平面3-1上具有若干條淬火裂紋1和若干條磨削裂紋2，所述圓柱體3還具有圓形中孔3-2，所述圓柱體3高度為5mm±0.05mm～10mm±0.05mm，直徑為50mm～60mm，所述圓形中孔3-2直徑為10mm～20mm。

本發明的一種上述所述的磁粉靈敏度測試裝置的制作方法，包括以下步驟：

步驟一、材料選取：選用合金工具鋼棒材或板材；

步驟二、粗加工：將所選材料采用機加工制成厚5mm～10.5mm，直徑50mm～100mm的圓柱體，在圓柱體中心加工一個10mm～20mm的圓形中孔；

步驟三、磨削：將圓柱體兩個平面磨平，使兩個平面之間尺寸至5mm±0.05mm～10mm±0.05mm；

步驟四、表面硬化：在800℃～900℃下硬化2h；

步驟五、淬火：進行淬火，使表面硬度為60HRC～75HRC，產生淬火裂紋；

步驟六、高速磨削：在磨床上，采用砂粒尺寸為46J7的砂輪，以30m/s～35m/s的速度進行磨削，表面的遞進量為0.05mm，移位2.0mm，；

步驟七、黑化處理：在140℃～150℃溫度下黑化1.5h以上；

步驟八、永久磁化：采用直流電中心導體法進行永久磁化，制成磁粉靈敏度測試裝置，以照相照片方式保存首次磁化結果。

在步驟一中，選用90MnCrV8或9Mn2V牌號合金工具鋼。

在步驟二中，采用線切割方式加工所選材料。

在步驟四中，在800℃～860℃下硬化。

在步驟五中，淬火是油淬。

在步驟七中，在145℃±1℃溫度下黑化2h。

在步驟八中，對制成磁粉靈敏度測試裝置還進行刻錄編號。