一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法及測試系統與流程

本發明涉及電子零組件測試技術領域，特別是涉及高加速沖擊下電子零組件的測試方法及測試系統。

背景技術：

電子零組件在完成封裝后，通常會對電子零組件成品進行測試，例如老化測試、電性測試、拉力測試等，以確保電子零組件成品的生產質量以及合格率。

然而，某些可攜帶的電子產品(例如手機、ipad等)，容易發生碰撞或掉落；并在碰撞或掉落時產生沖擊波，使得電子產品內部的電子零組件遭受破壞，進而對電子產品造成不可修復的破壞性后果。因此，掉落測試成為檢測電子零組件成品的生產質量以及合格率的標準之一。

目前，現有技術中掉落測試系統僅能實現2900G以內的加速沖擊測試(國際標準)，無法實現大于2900G的高加速沖擊測試。當利用現有技術中掉落測試系統進行大于2900G的高加速沖擊測試時，存在以下缺陷：(一)測試治具容易發生衰減和變形。(二)測試效率低、測試結果誤差大，各個電子零組件樣品受到的高加速沖擊力的差異無法滿足國際規范要求的容差值。

技術實現要素：

本發明提供的技術方案如下：

本發明提供的一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法，包括以下步驟：S10、將偶數個電子零組件樣品緊鎖在正立方體測試治具上的樣品放置槽內，偶數個電子零組件樣品關于所述測試治具的中心呈中心對稱設置；S20、將所述測試治具的下表面緊貼于沖擊臺的上表面，并將所述測試治具鎖緊在所述沖擊臺上，所述測試治具的中心軸重合于所述沖擊臺的中心軸；S30、使所述沖擊臺、緊鎖在所述沖擊臺上的測試治具、以及緊鎖在所述測試治具上的電子零組件樣品，同時從預設的掉落高度處沿升降軌道由靜止向下掉落，并撞擊于所述測試平臺上的測試底座；通過所述測試治具向所述電子零組件樣品傳遞掉落撞擊時產生的高加速沖擊；S50、檢測完成高加速沖擊后的每個電子零組件樣品是否出現故障或損壞。

進一步，在所述步驟10之前還包括：S01、將未緊鎖有電子零組件樣品的測試治具的下表面緊貼于所述沖擊臺的上表面，并將所述測試治具鎖緊在所述沖擊臺上，所述測試治具的中心軸重合于所述沖擊臺的中心軸；S02、根據加速度傳感器獲取到的沖擊加速度值，調節所述沖擊臺的掉落高度，以及所述沖擊臺掉落到所述測試平臺上的墊片；使得所述沖擊臺沿所述升降軌道由靜止向下掉落時，與所述測試底座發生撞擊所產生的調機沖擊加速度值位于高加速沖擊范圍內。

進一步，在所述步驟50之前還包括：S40、根據加速度傳感器獲取到的沖擊加速度值，判斷所述沖擊加速度值是否在預設測試范圍內，所述預設測試范圍是指調機沖擊加速度值在偏差范圍內產生的數值；當所述沖擊加速度值位于所述預設測試范圍內時，執行下一步驟S41；S41、旋轉所述測試治具，使其另一個表面作為下表面；

重復步驟S20～S41，所述電子零組件樣品完成六個方向的高加速沖擊。

進一步，所述測試治具的中心對稱度小于0.5mm。

進一步，所述測試治具的平整度為小于0.2mm的六面完全對稱設計。

進一步，所述步驟S01/S20中所述測試治具鎖緊在所述沖擊臺上的鎖固扭力為30N～50N。

進一步，所述步驟S10進一步包括：S11、將偶數個電子零組件樣品放置在所述測試治具上的樣品放置槽內，所述測試治具每個表面上的樣品放置槽可放置有1～4個電子零組件樣品。

進一步，所述步驟S10進一步包括：S12、將所述電子零組件樣品上向外凸出的元器件放置在避讓孔內，所述避讓孔設置在所述樣品放置槽的槽底。

進一步，所述步驟S10進一步包括：S13、將所述電子零組件樣品至少通過8顆螺絲緊鎖在所述測試治具上的樣品放置槽內，8顆螺絲均勻分布在每個電子零組件樣品的周側。

進一步，當進行高加速沖擊測試時，將預設強度的金屬制作成正立方體測試治具；并對該測試治具的表面進行具有加強硬度、防靜電功效的陽極處理。

本發明還提供一種高加速沖擊下電子零組件的測試系統，包括：正立方體測試治具，所述測試治具的每個表面上至少設置有一個樣品放置槽，偶數個電子零組件樣品放置并緊鎖在所述樣品放置槽內，偶數個電子零組件關于所述測試治具的中心呈中心對稱設置；關于中心軸對稱的沖擊臺，所述測試治具的下表面緊貼于所述沖擊臺的上表面，且所述測試治具鎖緊在所述沖擊臺上，所述測試治具的中心軸重合于所述沖擊臺的中心軸；測試平臺，所述測試平臺上設置有用于貫穿設在沖擊臺上的升降軌道，以及測試底座；所述沖擊臺、緊鎖在所述沖擊臺上的測試治具、以及緊鎖在所述測試治具上的電子零組件樣品可沿所述升降軌道由靜止向下掉落，并撞擊于所述測試底座。

進一步，在所述沖擊臺沿所述升降軌道由靜止向下掉落進行調機時，所述測試平臺上設置有用于承接所述沖擊臺的墊片。

進一步，所述測試治具的側壁上開設有穿線孔，所述穿線孔供加速度傳感器的連接線穿過；所述加速度傳感器用于獲取所述沖擊臺沿所述升降軌道由靜止向下掉落時，與所述測試底座發生撞擊所產生的沖擊加速度值。

進一步，所述測試治具的中心對稱度小于0.5mm。

進一步，所述測試治具的平整度為小于0.2mm的六面完全對稱設計。

進一步，所述測試治具鎖緊在所述沖擊臺上的鎖固扭力為30N～50N。

進一步，所述樣品放置槽的槽底上設置有向所述測試治具內側凹陷的避讓孔，所述電子零組件樣品上向外凸出的元器件位于所述避讓孔內。

進一步，所述測試治具每個表面上的樣品放置槽可放置有1～4個電子零組件樣品。

進一步，所述樣品放置槽內電子零組件樣品所處槽底的周側至少均勻設置有八個供螺絲插入的螺絲孔，所述電子零組件樣品通過所述螺絲緊鎖在所述樣品放置槽內。

進一步，當進行高加速沖擊測試時，正立方體測試治具是由預設強度的金屬制作成；并對該測試治具的表面進行具有加強硬度、防靜電功效的陽極處理。

與現有技術相比，本發明提供的一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法及測試系統具有以下有益效果：

1)本發明中電子零組件緊貼于立方體測試治具，可將測試治具受到的高加速沖擊力均勻傳遞到電子零組件上，減少測試治具的衰減和變形。偶數個電子零組件中心對稱設置，使得各個電子零組件樣品受到的高加速沖擊力的差異能夠滿足國際規范要求的容差值，還提高了測試效率。

2)本發明中在測試六個方向的高加速沖擊時，對于正立方體測試治具，只需要進行一次調機，也即調節掉落高度、墊片；而傳統地，在測試每個方向的高加速沖擊時，分別需要調機一次。因而，本發明減少了在測試過程中的調機次數，不僅簡化了提高了測試效率，還提升設備稼動率及使用壽命，進而節約了維修成本。

3)本發明中在測試六個方向的高加速沖擊時，六個方向上的電子零組件樣品受到的高加速沖擊力的差異在10％以內，滿足國際規范要求的容差值；提升了測試結果數據的準確性。

4)本發明中測試治具的中心對稱度的設置，可以保證六個方向上的電子零組件樣品受到的高加速沖擊的差異在10％以內，滿足國際規范要求的容差值。

5)本發明中平整度的設置，可以防止測試治具因受力不均而產生衰減和變形，縮短測試治具的使用壽命。

6)本發明中鎖固扭力的設置，不僅可以防止電子零組件從測試治具上脫落，還可以將測試治具受到的高加速沖擊力均勻傳遞給每個電子零組件，從而保證六個方向上的電子零組件樣品受到的高加速沖擊的差異在10％以內。

7)本發明中同時可以測試1～24片電子零組件，不僅節約了測試成本，還大大提高了測試效率；另外，還延長了測試系統的使用壽命。

附圖說明

下面將以明確易懂的方式，結合附圖說明優選實施方式，對一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法及測試系統的上述特性、技術特征、優點及其實現方式予以進一步說明。

圖1是本發明一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法的流程示意圖；

圖2是本發明高加速沖擊下電子零組件的測試方法的部分流程示意圖；

圖3是本發明另一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法的流程示意圖；

圖4是本發明中步驟S10的流程示意圖；

圖5是本發明一種高加速沖擊下電子零組件的測試系統的結構示意圖；

圖6是本發明一種高加速沖擊下電子零組件的測試系統中測試治具緊鎖在沖擊臺上的結構示意圖。

附圖標號說明：

10、電子零組件樣品，20、測試治具，21、螺絲，22、加速度傳感器，30、沖擊臺，40、升降軌道，50、測試底座，60、墊片。

具體實施方式

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對照附圖說明本發明的具體實施方式。顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖，并獲得其他的實施方式。

為使圖面簡潔，各圖中只示意性地表示出了與本發明相關的部分，它們并不代表其作為產品的實際結構。另外，以使圖面簡潔便于理解，在有些圖中具有相同結構或功能的部件，僅示意性地繪示了其中的一個，或僅標出了其中的一個。在本文中，“一個”不僅表示“僅此一個”，也可以表示“多于一個”的情形。

如圖1所示，根據本發明的一個實施例，一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法，包括以下步驟：S10、將偶數個電子零組件樣品10緊鎖在正立方體測試治具20上的樣品放置槽內，偶數個電子零組件樣品10關于所述測試治具20的中心呈中心對稱設置；電子零組件樣品10包括SiP，零件，PCBA等樣品；所述電子零組件樣品10可以是兩個、四個、六個等。所述測試治具20的中間厚度為10公分，所述測試治具20的規格為122*122*122mm。測試治具20與掉落平臺間的固定螺絲孔中心距是5cm的倍數，因為掉落平臺上螺孔中心間距5cm。測試治具20與掉落平臺間的固定螺絲孔的直徑是9.2mm，因為要使用M8的固定螺桿。

S20、將所述測試治具20的下表面緊貼于沖擊臺30的上表面，并將所述測試治具20鎖緊在所述沖擊臺30上，所述測試治具20的中心軸重合于所述沖擊臺30的中心軸。

S30、使所述沖擊臺30、緊鎖在所述沖擊臺30上的測試治具20、以及緊鎖在所述測試治具20上的電子零組件樣品10，同時從預設的掉落高度處沿升降軌道40由靜止向下掉落，所述升降軌道40設置為兩根，并撞擊于所述測試平臺上的測試底座50，當測試平臺上沒有設置測試底座50時，則沖擊臺30撞擊于所述測試平臺的上表面；通過所述測試治具20向所述電子零組件樣品10傳遞掉落撞擊時產生的高加速沖擊。

S50、檢測完成高加速沖擊后的每個電子零組件樣品10是否出現故障或損壞；故障或損壞檢測包括檢測電子零組件樣品10上的元器件是否發生脫落，和/或利用檢測儀器或通電，檢測電子零組件樣品10是否能夠實現自身的功能，和/或檢測電子零組件樣品10上阻抗值的通斷。當否能夠實現自身功能時，是在測試完六個方向的高加速沖擊后，將電子零組件從測試治具20上拆卸下后進行功能檢測；當檢測是否發生脫落或阻抗值的通斷，是在測試完每個方向的高加速沖擊后，進行脫落或阻抗值的通斷檢測。

如圖2、圖3所示，根據本發明的一個實施例，一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法，包括以下步驟：優選的，還包括S01、將未緊鎖有電子零組件樣品10的測試治具20的下表面緊貼于所述沖擊臺30的上表面，并將所述測試治具20鎖緊在所述沖擊臺30上，所述測試治具20的中心軸重合于所述沖擊臺30的中心軸；

優選的，還包括S02、根據加速度傳感器22獲取到的沖擊加速度值，調節所述沖擊臺30的掉落高度，以及所述沖擊臺30掉落到所述測試平臺上的墊片60，調節所述墊片60是指調節墊片60的種類、數量、厚度；使得所述沖擊臺30沿所述升降軌道40由靜止向下掉落時，與所述測試底座50發生撞擊所產生的調機沖擊加速度值位于高加速沖擊范圍內。在調節機臺時，先從較低的高度開始試調，再逐步增加高度到達目標值。比如目標3000G時，一般先試機臺高度70cm，收集到G值2000G左右；再每次增加5到10cm，最終達到目標高度和G值。

S10、將偶數個電子零組件樣品10緊鎖在正立方體測試治具20上的樣品放置槽內，偶數個電子零組件樣品10關于所述測試治具20的中心呈中心對稱設置；電子零組件樣品10包括SiP，零件，PCBA等樣品；所述電子零組件樣品10可以是兩個、四個、六個等。所述測試治具20的中間厚度為10公分，所述測試治具20的規格為122*122*122mm。測試治具20與掉落平臺間的固定螺絲孔中心距是5cm的倍數，因為掉落平臺上螺孔中心間距5cm。測試治具20與掉落平臺間的固定螺絲孔的直徑是9.2mm，因為要使用M8的固定螺桿。

S20、將所述測試治具20的下表面緊貼于沖擊臺30的上表面，并將所述測試治具20鎖緊在所述沖擊臺30上，所述測試治具20的中心軸重合于所述沖擊臺30的中心軸。

S30、使所述沖擊臺30、緊鎖在所述沖擊臺30上的測試治具20、以及緊鎖在所述測試治具20上的電子零組件樣品10，同時從預設的掉落高度處沿升降軌道40由靜止向下掉落，所述升降軌道40設置為兩根，并撞擊于所述測試平臺上的測試底座50，當測試平臺上沒有設置測試底座50時，則沖擊臺30撞擊于所述測試平臺的上表面；通過所述測試治具20向所述電子零組件樣品10傳遞掉落撞擊時產生的高加速沖擊。

S40、根據加速度傳感器22獲取到的沖擊加速度值，判斷所述沖擊加速度值是否在預設測試范圍內，所述預設測試范圍是指調機沖擊加速度值在偏差范圍內產生的數值；允許沖擊加速度值在調機沖擊加速度值的誤差范圍10％內；當所述沖擊加速度值位于預設測試范圍內時，執行下一步驟；

S41、旋轉所述測試治具20，使其另一個表面作為下表面；重復步驟S20～S41，電子零組件樣品10完成六個方向的高加速沖擊。

S50、檢測完成高加速沖擊后的每個電子零組件樣品10是否出現故障或損壞；故障或損壞檢測包括檢測電子零組件樣品10上的元器件是否發生脫落，和/或利用檢測儀器或通電，檢測電子零組件樣品10是否能夠實現自身的功能，和/或檢測電子零組件樣品10上阻抗值的通斷。當否能夠實現自身功能時，是在測試完六個方向的高加速沖擊后，將電子零組件從測試治具20上拆卸下后進行功能檢測；當檢測是否發生脫落或阻抗值的通斷，是在測試完每個方向的高加速沖擊后，進行脫落或阻抗值的通斷檢測。

如圖2～圖4所示，根據本發明的一個實施例，一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法，包括以下步驟：

優選的，還包括S01、將未緊鎖有電子零組件樣品10的測試治具20的下表面緊貼于所述沖擊臺30的上表面，并將所述測試治具20鎖緊在所述沖擊臺30上，所述測試治具20的中心軸重合于所述沖擊臺30的中心軸；

優選的，還包括S02、根據加速度傳感器22獲取到的沖擊加速度值，調節所述沖擊臺30的掉落高度，以及所述沖擊臺30掉落到所述測試平臺上的墊片60，調節所述墊片60是指調節墊片60的種類、數量、厚度；使得所述沖擊臺30沿所述升降軌道40由靜止向下掉落時，與所述測試底座50發生撞擊所產生的調機沖擊加速度值位于高加速沖擊范圍內。

S10、將偶數個電子零組件樣品10緊鎖在正立方體測試治具20上的樣品放置槽內，偶數個電子零組件樣品10關于所述測試治具20的中心呈中心對稱設置；電子零組件樣品10包括SiP，零件，PCBA等樣品；所述電子零組件樣品10可以是兩個、四個、六個等。所述測試治具20的中間厚度為10公分，所述測試治具20的規格為122*122*122mm。測試治具20與掉落平臺間的固定螺絲孔中心距是5cm的倍數，因為掉落平臺上螺孔中心間距5cm。測試治具20與掉落平臺間的固定螺絲孔的直徑是9.2mm，因為要使用M8的固定螺桿。

優選的，步驟S10進一步包括：S11、將偶數個電子零組件樣品10放置在所述測試治具20上的樣品放置槽內，所述測試治具20每個表面上的樣品放置槽可放置有1～4個電子零組件樣品10，可以同時測試1～24個電子零組件樣品10；當每個表面上放置有4個電子零組件樣品10時，可以同時測試24個電子零組件樣品10；當每個表面上放置有1個電子零組件樣品10時，可以同時測試6個電子零組件樣品10；提高了測試效率。或者，所述測試治具20的每個表面上設置有1～4個樣品放置槽，每個樣品放置槽內可放置1個樣品放置槽。

S12、將所述電子零組件樣品10上向外凸出的元器件放置在避讓孔內，所述避讓孔設置在所述樣品放置槽的槽底。

S13、將所述電子零組件樣品10至少通過8顆螺絲21緊鎖在所述測試治具20上的樣品放置槽內，8顆螺絲21均勻分布在每個電子零組件樣品10的周側；所述螺絲21還可以為12顆等。

S20、將所述測試治具20的下表面緊貼于沖擊臺30的上表面，并將所述測試治具20鎖緊在所述沖擊臺30上，所述測試治具20的中心軸重合于所述沖擊臺30的中心軸。

S30、使所述沖擊臺30、緊鎖在所述沖擊臺30上的測試治具20、以及緊鎖在所述測試治具20上的電子零組件樣品10，同時從預設的掉落高度處沿升降軌道40由靜止向下掉落，所述升降軌道40設置為兩根，并撞擊于所述測試平臺上的測試底座50，當測試平臺上沒有設置測試底座50時，則沖擊臺30撞擊于所述測試平臺的上表面；通過所述測試治具20向所述電子零組件樣品10傳遞掉落撞擊時產生的高加速沖擊。

S40、根據加速度傳感器22獲取到的沖擊加速度值，判斷所述沖擊加速度值是否在預設測試范圍內，所述預設測試范圍是指調機沖擊加速度值在偏差范圍內產生的數值；當所述沖擊加速度值位于預設測試范圍內時，執行下一步驟；

S41、旋轉所述測試治具20，使其另一個表面作為下表面；重復步驟S20～S41，電子零組件樣品10完成六個方向的高加速沖擊。

S50、檢測完成高加速沖擊后的每個電子零組件樣品10是否出現故障或損壞；故障或損壞檢測包括檢測電子零組件樣品10上的元器件是否發生脫落，和/或利用檢測儀器或通電，檢測電子零組件樣品10是否能夠實現自身的功能，和/或檢測電子零組件樣品10上阻抗值的通斷。當否能夠實現自身功能時，是在測試完六個方向的高加速沖擊后，將電子零組件從測試治具20上拆卸下后進行功能檢測；當檢測是否發生脫落或阻抗值的通斷，是在測試完每個方向的高加速沖擊后，進行脫落或阻抗值的通斷檢測。

所述測試治具20的中心對稱度小于0.5mm，所述測試治具20的中心對稱度可以是0.5mm，所述測試治具20的中心對稱度可以是0.3mm，所述測試治具20的中心對稱度還可以是0.1mm，所述測試治具20的中心對稱度還可以是0.05mm。若治具不是對稱設計容易對測試曲線產生影響，造成不達標；因而，對稱度的值越小越好。

所述測試治具20的平整度為小于0.2mm的六面完全對稱設計，所述測試治具20的平整度可以是0.2mm，所述測試治具20的平整度可以是0.15mm，所述測試治具20的平整度可以是0.1mm，所述測試治具20的平整度還可以是0.06mm。

所述步驟S01/S20中所述測試治具20鎖緊在所述沖擊臺30上的鎖固扭力為30N～50N，所述鎖骨扭力可以取30N，所述鎖骨扭力可以取50N，所述鎖骨扭力可以取40N，所述鎖骨扭力可以取35N，所述鎖骨扭力可以取45N。

優選的，當進行高加速沖擊(大于2900G)測試時，將預設強度的金屬制作成正立方體測試治具20；并對所述測試治具20的表面進行具有加強硬度、防靜電功效的陽極處理；當進行低加速沖擊(2900G以下)測試時，正立方體測試治具20可以是由預設強度的金屬制作成，例如鋁合金或者不銹鋼；正立方體測試治具20也可以是由預設強度的木材制作而成，例如墊木。

如圖5、圖6所示，根據本發明的一個實施例，一種高加速沖擊下電子零組件的測試系統，包括：正立方體測試治具20，所述測試治具20的每個表面上至少設置有一個樣品放置槽，偶數個電子零組件樣品10放置并緊鎖在所述樣品放置槽內，偶數個電子零組件關于所述測試治具20的中心呈中心對稱設置；

關于中心軸對稱的沖擊臺30，所述測試治具20的下表面緊貼于所述沖擊臺30的上表面，且所述測試治具20鎖緊在所述沖擊臺30上，所述測試治具20的中心軸重合于所述沖擊臺30的中心軸；

測試平臺，所述測試平臺上設置有用于貫穿設在沖擊臺30上的升降軌道40，以及測試底座50；所述沖擊臺30、緊鎖在所述沖擊臺30上的測試治具20、以及緊鎖在所述測試治具20上的電子零組件樣品10可沿所述升降軌道40由靜止向下掉落，并撞擊于所述測試底座50。

作為一種實施例方式，在所述沖擊臺30沿所述升降軌道40掉落進行調機時，所述測試平臺上設置有用于承接所述沖擊臺30的墊片60。

作為一種實施例方式，所述測試治具20的側壁上開設有穿線孔，所述穿線孔供加速度傳感器22的連接線穿過；所述加速度傳感器22用于獲取所述沖擊臺30沿所述升降軌道40掉落時，與所述測試平臺發生撞擊所產生的沖擊加速度值。

作為一種實施例方式，所述測試治具20的中心對稱度小于0.5mm，所述測試治具20的中心對稱度可以是0.5mm，所述測試治具20的中心對稱度可以是0.4mm，所述測試治具20的中心對稱度還可以是0.2mm，所述測試治具20的中心對稱度還可以是0.15mm。

作為一種實施例方式，所述測試治具20的平整度為小于0.2mm的六面完全對稱設計，所述測試治具20的平整度可以是0.2mm，所述測試治具20的平整度可以是0.16mm，所述測試治具20的平整度可以是0.12mm，所述測試治具20的平整度還可以是0.08mm。

作為一種實施例方式，所述測試治具20鎖緊在所述沖擊臺30上的鎖固扭力為30N～50N，所述鎖骨扭力可以取30N，所述鎖骨扭力可以取50N，所述鎖骨扭力可以取40N，所述鎖骨扭力可以取38N，所述鎖骨扭力可以取48N。

作為一種實施例方式，所述樣品放置槽的槽底上設置有向所述測試治具20內側凹陷的避讓孔，所述電子零組件樣品10上向外凸出的元器件位于所述避讓孔內。

作為一種實施例方式，所述測試治具20每個表面上的樣品放置槽可放置有1～4個電子零組件樣品10，可以同時測試1～24個電子零組件樣品10；當每個表面上放置有4個電子零組件樣品10時，可以同時測試24個電子零組件樣品10；當每個表面上放置有1個電子零組件樣品10時，可以同時測試6個電子零組件樣品10；提高了測試效率。或者，所述測試治具20的每個表面上設置有1～4個樣品放置槽，每個樣品放置槽內可放置1個樣品放置槽。

作為一種實施例方式，所述樣品放置槽內電子零組件樣品10所處槽底的周側至少均勻設置有八個供螺絲21插入的螺絲孔，所述電子零組件樣品10通過所述螺絲21緊鎖在的樣品放置槽內；所述螺絲孔還可以設置為12個等。

作為一種實施例方式，當進行高加速沖擊(大于2900G)測試時，正立方體測試治具20是由預設強度的金屬制作成；并對該測試治具的表面進行具有加強硬度、防靜電功效的陽極處理。當進行低加速沖擊(2900G以下)測試時，正立方體測試治具20可以是由預設強度的金屬制作成，例如鋁合金或者不銹鋼；正立方體測試治具20也可以是由預設強度的木材制作而成，例如墊木。

應當說明的是，上述實施例均可根據需要自由組合。以上所述僅是本發明的優選實施方式，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發明的保護范圍。