一種液晶面板厚度測量裝置的制作方法

本實用新型涉及一種液晶面板的厚度測量裝置，屬于液晶面板質量檢測技術領域。

背景技術：

液晶面板蝕刻減薄后的厚度是減薄行業一項重要的控制指標，減薄完成后的液晶面板需要測量其厚度來管控是否達到客戶要求的目標厚度，液晶面板的厚度超出管控范圍后的部分主要有兩種：1、薄化后的厚度大于目標厚度，處理的辦法是再次裝入治具進行重新減薄，直到厚度達到目標厚度；2、薄化后的厚度小于目標厚度，這部分液晶面板只能做制程報廢處理，會帶來一定的經濟損失。

目前減薄后的液晶面板主要通過數顯千分尺對面板四側邊緣分別至少測量一個點來檢測液晶面板厚度的均一性，以控制蝕刻后的產品厚度。但是千分尺的測量與液晶面板的接觸為點接觸，很容易造成液晶面板玻璃的損壞，從而加大了液晶面板的報廢率，降低了減薄工廠的產能。

技術實現要素：

有鑒于此，本實用新型提供一種液晶面板厚度測量裝置，降低了測量時液晶面板玻璃破損的風險，提高了蝕刻減薄后的厚度測量效率，提升了蝕刻減薄工廠的產能。

為解決以上技術問題，本實用新型的技術方案為采用一種液晶面板厚度測量裝置，它包括上下固定連接的上壓塊和下壓塊，所述上、下壓塊等長等寬，所述上壓塊包括依次連接的固定塊和測試塊，固定塊和測試塊的上平面位于同一水平面上；固定塊上開設有固定螺栓通孔，下壓塊上對應固定塊上固定螺栓通孔的位置開設有固定螺栓半通孔，固定螺栓通孔與固定螺栓半通孔之間通過固定螺栓連接在一起；所述固定塊的厚度與下壓塊的厚度相等，測試塊的厚度比下壓塊的厚度小0.4或0.5cm。

進一步的，所述上壓塊還包括緩沖塊，緩沖塊與測試塊連接，其上平面與測試塊上平面位于同一水平面上，其下平面為傾斜平面，緩沖塊的最大厚度與測試塊的厚度相等。

進一步的，所述固定螺栓通孔在固定塊上開設有兩個以上，加強上下壓塊的固定連接。

進一步的，所述固定塊與測試塊的連接處底部設置有凹槽。

優選的是，所述下壓塊的長為30～50cm，寬為30～50cm，厚為6～9cm。

優選的是，所述上壓塊和下壓塊的制作材料為金屬鋁。

本實用新型提供的厚度測量裝置，通過測試塊與下壓塊之間形成的間隙對液晶面板厚度進行檢測，根據液晶面板蝕刻薄化的現有規格，其間隙多為0.4或0.5cm之間，因此本實用新型將測試塊與下壓塊之間的間隙精密加工為固定值，通過間隙插入液晶面板對其厚度進行檢測，其接觸面積大，不易對液晶面板造成損失。

與現有技術相比，本實用新型將液晶面板厚度檢測的點接觸改為面接觸，降低了測量時液晶面板玻璃破損的風險；固定間隙厚度的檢測，在保證蝕刻減薄品質的同時，大大提高了檢測效率，從而提升了蝕刻減薄工廠的產能。

附圖說明

圖1為本實用新型的立體結構示意圖；

圖2為本實用新型的正面透視結構示意圖；

圖3為本實用新型的俯視圖。

圖例說明：

1、上壓塊；2、下壓塊；3、固定螺栓通孔；4、固定螺栓半通孔；5、固定螺栓；6、凹槽；11、固定塊；12、測試塊；13、緩沖塊。

具體實施方式

為了使本領域的技術人員更好地理解本實用新型的技術方案，下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型作進一步的詳細說明。

參見圖1至圖3，本實用新型提供了一種液晶面板厚度測量裝置，它包括上下固定連接的上壓塊1和下壓塊2，所述上、下壓塊等長等寬，所述上壓塊1包括依次連接的固定塊11、測試塊12和緩沖塊13，固定塊11、測試塊12和緩沖塊13的上平面位于同一水平面上，緩沖塊13的下平面為傾斜平面，緩沖塊的最大厚度與測試塊的厚度相等；固定塊11上開設有固定螺栓通孔3，下壓塊上對應固定塊上固定螺栓通孔的位置開設有固定螺栓半通孔4，固定螺栓通孔3與固定螺栓半通孔4之間通過固定螺栓5連接在一起；所述固定塊11的厚度與下壓塊2的厚度相等，測試塊12的厚度比下壓塊2的厚度小0.4或0.5cm。進一步的，所述固定塊11與測試塊12的連接處底部設置有凹槽6。

進一步的，所述固定螺栓通孔3在固定塊上開設有兩個以上，加強上下壓塊的固定連接。

本實用新型提供的測量裝置的優選尺寸為：長為30～50cm，寬為30～50cm，厚為6～9cm。其制作材料優選為金屬鋁。

本實用新型提供的厚度測量裝置，通過測試塊與下壓塊之間形成的間隙對液晶面板厚度進行檢測，根據液晶面板蝕刻薄化的現有規格，其間隙多為0.4cm或0.5cm，因此本實用新型將測試塊與下壓塊之間的間隙精密加工為固定值，通過間隙插入液晶面板對其厚度進行檢測，其接觸面積大，不易對液晶面板造成損失。

以上僅是本實用新型的優選實施方式，應當指出的是，上述優選實施方式不應視為對本實用新型的限制，本實用新型的保護范圍應當以權利要求所限定的范圍為準。對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型的精神和范圍內，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本實用新型的保護范圍。