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一種用于電子智能存取柜的RFID標簽盤點方法及裝置與流程

文檔序號:40816578發布日期:2025-01-29 02:34閱讀:198來源:國知局

本發明涉及rfid標簽信息處理,尤其涉及一種用于電子智能存取柜的rfid標簽盤點方法及裝置。


背景技術:

1、rfid(rad?i?o?frequency?ident?ificat?ion無線射頻識別)技術,是一種通過無線電信號識別特定目標并讀寫相關數據的技術。它利用射頻信號及其空間耦合、傳輸特性,實現對靜止或移動物品的自動識別。rfid技術具有非接觸式、快速、準確、高效等特點,被廣泛應用于物流、倉儲、零售、醫療等多個領域。電子智能存取柜是一種集成了電子信息技術和自動化技術的存儲設備,廣泛應用于圖書館、檔案館、超市、醫院、企業等場所。它能夠實現物品的自動存取、盤點、監控等功能,提高物品管理的效率和安全性。在電子智能存取柜中,每一件物品都會被貼上rfid標簽。這些標簽包含了物品的唯一標識信息,如編號、名稱、規格、存放位置等。通過rfid讀寫器,可以快速地讀取和識別這些標簽信息,實現物品的快速定位和查找。

2、現有的方法在電子智能存取柜的適當位置安裝rfid讀寫器。當需要對柜內物品進行盤點時,rfid讀寫器會發出射頻信號,激活并讀取柜內所有rfid標簽的信息。

3、例如公告號為:cn110033062b的發明專利公告的一種自動取物柜及智能儲物系統,包括:自動取物柜包括柜子主體,柜子主體上設有若干抽屜槽,抽屜槽內設有儲物抽屜,柜子主體外側設有取物裝置,取物裝置相對所述柜子主體可上下左右位移,儲物抽屜相對抽屜槽內可滑移具有位于抽屜槽內的第一位置以及位于取物裝置上相對所述柜子主體可上下左右位移的第二位置。

4、例如公告號為:cn112215318b的發明專利公告的智能柜的離線存取件方法及裝置,包括:響應于智能柜的存件指令,通過建立的短距離通信連接向智能柜發送存件請求,以使得智能柜分配可用柜格;接收可用柜格的柜格標識;根據柜格標識和存件時間戳,生成取件碼;取件碼用于離線取件時的合法性校驗,具體包括:基于取件時間戳,按照不同的精度范圍標準,確定至少一參考時間戳;對至少一參考時間戳分別使用智能柜對應的加密密鑰進行加密處理,得到至少一第一加密碼數據;若至少一第一加密碼數據中存在與第二加密碼數據一致的第一加密碼數據,則確定取件碼合法,其中,第二加密碼數據為基于存件時間戳使用加密密鑰加密處理得到的。

5、但本技術在實現本技術實施例中發明技術方案的過程中,發現上述技術至少存在如下技術問題:

6、現有技術中,由于電子智能存取柜的rfid盤點方法高度依賴于rfid技術的穩定性和可靠性,高識別率意味著存取柜系統能夠更快速、準確地完成物品的盤點和識別工作,實際情況下在金屬柜體內部或存在電磁干擾的場合,rfid標簽的識別率可能會受到影響,rfid標簽的識別率可能會下降,導致電子智能存取柜中rfid盤點識別率低的問題。


技術實現思路

1、本技術實施例通過提供一種用于電子智能存取柜的rfid標簽盤點方法及裝置,解決了現有技術中電子智能存取柜中rfid盤點識別率低的問題,實現了電子智能存取柜中rfid盤點識別率的提高。

2、本技術實施例提供了一種用于電子智能存取柜的rfid標簽盤點方法,包括以下步驟:s1,獲取rfid標簽初始信息并結合從預設數據庫中獲取參考rfid標簽信息得到校驗異常指數,基于校驗異常指數和預設校驗指數閾值判斷是否獲取不合格rfid標簽信息,所述rfid標簽初始信息包括物品位置信息和物品特征信息,所述校驗異常指數用于評估標簽信息的異常情況;s2,在獲取不合格rfid標簽信息后,對獲取的不合格rfid標簽信息進行標簽調整獲取合格rfid標簽信息;s3,根據合格rfid標簽信息獲取物品庫存數據,根據物品庫存數據和預設庫存數據獲取庫存狀態指數,基于庫存狀態指數與預設庫存指數范圍判斷是否獲取不合格庫存信息,所述庫存狀態指數用于評估物品的庫存狀態;s4,若獲取不合格庫存信息,則對獲取的不合格庫存信息進行狀態調整獲取合格庫存信息;s5,根據合格庫存信息、合格rfid標簽信息和預設參考狀態信息獲取綜合狀態評估指數,根據獲取的綜合狀態評估指數進行性能調整,所述綜合狀態評估指數用于評估rfid標簽盤點的整體性能狀況。

3、進一步的,所述校驗異常指數的具體獲取過程如下:在預設時間段內的第一預設時間點通過異常監測設備獲取預設監測區域內電子智能存取柜的異常監測相關數據,所述異常監測設備包括功率計、信號發生器、介質損耗測試儀、頻譜分析儀和波長計,所述異常監測相關數據包括標準發射功率、標準路徑損耗、標準發射增益、標準接收增益和標準波長;從預設數據庫中獲取預設接收功率閾值和預設讀取距離閾值,并結合異常監測相關數據獲取接收信號功率偏差和讀取距離偏差;從預設數據庫中獲取預設第一校驗異常權重和預設第二校驗異常權重并結合接收信號功率偏差、讀取距離偏差、預設接收功率閾值和預設讀取距離閾值獲取校驗異常指數。

4、進一步的,所述校驗異常指數采用以下公式進行計算:

5、

6、δa0t=pt-f-a0;

7、

8、式中,表示電子智能存取柜在第t個第一預設時間點的校驗異常指數,t=1,2,...,n,t表示第一預設時間點的編號,n表示第一預設時間點的總數量,δa0t表示在第t個第一預設時間點的接收信號功率偏差,δa1t表示在第t個第一預設時間點的讀取距離偏差,pt表示在第t個第一預設時間點的標準發射功率,f表示標準路徑損耗,g1t表示在第t個第一預設時間點的標準發射增益,g2t表示在第t個第一預設時間點的標準接收增益,τt表示在第t個第一預設時間點的標準波長,a0表示預設接收功率閾值,a1表示預設讀取距離閾值,α1表示預設第一校驗異常權重,α2表示預設第二校驗異常權重,e表示自然常數。

9、進一步的,所述標簽調整的具體過程如下:a1,將校驗異常指數和預設校驗指數閾值進行對比,當校驗異常指數不小于預設校驗指數閾值時,獲取不合格rfid標簽信息;a2,對不合格rfid標簽信息進行缺失處理,所述缺失處理用于填補缺少的庫存編號和標簽編號;a3,對不合格rfid標簽信息進行重復處理,所述重復處理用于刪除相同的標簽信息;a4,對不合格rfid標簽信息進行錯誤檢查處理,同時監測校驗異常指數直至校驗異常指數小于預設校驗指數閾值,反之重新進行標簽調整直至校驗異常指數小于預設校驗指數閾值。

10、進一步的,所述庫存狀態指數的具體獲取過程如下:在預設時間段內通過庫存測量設備獲取在預設監測區域內電子智能存取柜的庫存狀態相關數據,所述庫存測量設備包括三維掃描儀、光學傳感器和激光測距儀,所述庫存狀態相關數據包括標準物品體積、標準存取柜體積和標準重量;從預設數據庫中獲取預設空間利用率閾值和預設密度閾值,并結合庫存狀態相關數據獲取空間利用率偏差和密度偏差;從預設數據庫中獲取預設第一狀態權重和預設第二狀態權重,并結合空間利用率偏差和密度偏差獲取庫存狀態指數。

11、進一步的,所述庫存狀態指數采用以下公式進行計算:

12、

13、

14、

15、式中,表示第i個電子智能存取柜的庫存狀態指數,i=1,2,...,m,i表示電子智能存取柜的編號,m表示電子智能存取柜的總數量,δb0i表示第i個電子智能存取柜的空間利用率偏差,δb1表示第i個電子智能存取柜的密度偏差,v0i表示第i個電子智能存取柜中物品的標準物品體積,v1i表示第i個電子智能存取柜的標準存取柜體積,wi表示第i個電子智能存取柜中物品的標準重量,b0表示預設空間利用率閾值,b1表示預設密度閾值,θ1表示預設第一狀態權重,θ2表示預設第二狀態權重。

16、進一步的,所述狀態調整的具體過程如下:b1,根據不合格庫存信息進行位置更改處理,同時監測庫存狀態指數,當庫存狀態指數在預設庫存指數范圍時停止執行,否則執行b2,所述位置更改處理表示調換電子智能存取柜中放置錯誤的物品;b2,根據不合格庫存信息進行物品過剩處理,同時監測庫存狀態指數,當庫存狀態指數在預設庫存指數范圍時停止執行,否則重新執行b1,所述物品過剩處理表示清理電子智能存取柜中超過預設時間放置的物品。

17、進一步的,所述綜合狀態評估指數的具體獲取過程如下:在預設時間段內通過綜合狀態測量設備獲取預設監測區域內電子智能存取柜的綜合狀態相關數據,所述綜合狀態測量設備包括rfid讀寫器和rfid掃描器,所述綜合狀態相關數據包括標準庫存數、標準總庫存數、第一識別數、第二識別數和第三識別數;從預設數據庫中獲取預設庫存準確率閾值和預設標簽識別率閾值,并結合綜合狀態相關數據獲取庫存準確率偏差和標簽識別率偏差;從預設數據庫中獲取預設第一狀態評估權重和預設第二狀態評估權重,并結合庫存準確率偏差和標簽識別率偏差獲取綜合狀態評估指數;所述綜合狀態評估指數采用以下公式進行計算:

18、

19、

20、

21、式中,表示第p個預設時間段的綜合狀態評估指數,p=1,2,...,f,p表示預設時間段的編號,f表示預設時間段的總數量,δcp表示第p個預設時間段的庫存準確率偏差,δdp表示第p個預設時間段的標簽識別率偏差,n1p表示第p個預設時間段的標準庫存數,n0p表示第p個預設時間段的標準總庫存數,m1p表示第p個預設時間段的第一識別數,m2p表示第p個預設時間段的第二識別數,m3p表示第p個預設時間段的第三識別數,c0表示預設庫存準確率閾值,d0表示預設標簽識別率閾值,ρ1表示預設第一狀態評估權重,ρ2表示預設第二狀態評估權重,e表示自然常數。

22、進一步的,所述性能調整的具體過程如下:c1,通過預設信號測試設備對電子智能存取柜區域外的信號進行信號測試獲取布局區域,所述布局區域表示被干擾源干擾的信號區域;c2,在布局區域對rfid標簽進行重新布局,所述重新布局用于反饋給預設人員調整rfid標簽的放置位置以避免干擾;c3,對重新布局后的rfid標簽進行信號測試后獲取綜合狀態評估指數,對綜合狀態評估指數進行比較,判斷綜合狀態評估指數是否在預設綜合評估指數范圍內,當綜合狀態評估指數在預設綜合評估指數范圍內時停止執行,否則重新執行c1直至綜合狀態評估指數在預設綜合評估指數范圍內。

23、本技術實施例提供了一種用于電子智能存取柜的rfid標簽盤點裝置,包括校驗異常指數獲取模塊、合格rfid標簽信息獲取模塊、庫存狀態指數獲取模塊、合格庫存信息獲取模塊和綜合狀態評估指數獲取模塊:其中,所述校驗異常指數獲取模塊用于獲取rfid標簽初始信息并結合從預設數據庫中獲取參考rfid標簽信息得到校驗異常指數,基于校驗異常指數和預設校驗指數閾值判斷是否獲取不合格rfid標簽信息,所述rfid標簽初始信息包括物品位置信息和物品特征信息,所述校驗異常指數用于評估標簽信息的異常情況;所述合格rfid標簽信息獲取模塊用于在獲取不合格rfid標簽信息后,對獲取的不合格rfid標簽信息進行標簽調整獲取合格rfid標簽信息;所述庫存狀態指數獲取模塊用于根據合格rfid標簽信息獲取物品庫存數據,根據物品庫存數據和預設庫存數據獲取庫存狀態指數,基于庫存狀態指數與預設庫存指數范圍判斷是否獲取不合格庫存信息,所述庫存狀態指數用于評估物品的庫存狀態;所述合格庫存信息獲取模塊用于若獲取不合格庫存信息,則對獲取的不合格庫存信息進行狀態調整獲取合格庫存信息;所述綜合狀態評估指數獲取模塊用于根據合格庫存信息、合格rfid標簽信息和預設參考狀態信息獲取綜合狀態評估指數,根據獲取的綜合狀態評估指數進行性能調整,所述綜合狀態評估指數用于評估rfid標簽盤點的整體性能狀況。

24、本技術實施例中提供的一個或多個技術方案,至少具有如下技術效果或優點:

25、1、通過獲取rfid標簽初始信息并結合從預設數據庫中獲取的參考rfid標簽信息得到校驗異常指數并判斷是否存在不合格rfid標簽信息,然后根據合格rfid標簽信息獲取物品庫存數據,再根據物品庫存數據和預設庫存數據獲取庫存狀態指數并判斷是否存在不合格庫存信息,進而獲取綜合狀態評估指數,最后根據綜合狀態評估指數進行性能調整,從而實現了電子智能存取柜中rfid盤點可靠性的提升,進而實現了電子智能存取柜中rfid盤點識別率的提高,有效解決了現有技術中電子智能存取柜中rfid盤點識別率低的問題。

26、2、通過異常監測設備獲取預設監測區域內電子智能存取柜的異常監測相關數據,然后通過庫存測量設備獲取在預設監測區域內電子智能存取柜的庫存狀態相關數據,最后通過綜合狀態測量設備獲取預設監測區域內電子智能存取柜的綜合狀態相關數據,從而實現了物品存儲數據獲取的準確性的提升,進而實現了獲取物品存儲數據質量的提升。

27、3、通過對獲取的不合格rfid標簽信息進行標簽調整獲取合格rfid標簽信息,然后對獲取的不合格庫存信息進行狀態調整獲取合格庫存信息,最后根據獲取的綜合狀態評估指數進行性能調整,從而保證了物品存儲數據的實時性和可利用性,進而實現了物品存儲數據調整全面性的提升。

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