專利名稱：確定光盤裝置中的最佳擦除功率的方法
技術領域：
本發明的方面涉及一種光盤裝置中的功率控制方法，更具體來說，涉及一種確定光盤裝置中的最佳擦除功率的方法，其能夠當將光盤插入光盤裝置中時，通過在光盤裝置執行用于檢測最佳記錄功率的最佳功率校準(OPC)之前、使記錄在光盤的一定部分(certain part)的數據被擦除，來確定最佳擦除功率。
背景技術：
通常，光盤設備用來使用激光將各種信息記錄在光盤中/從光盤播放(playback)各種信息。光盤設備廣泛用于在諸如壓縮盤(CD)、多功能數碼光盤(DVD)、藍光盤(blu-ray disc)、HD-DVD等光盤上記錄/讀取各種大量的信息。
這樣的光盤分為不可記錄(non-recordable)光盤，例如CD-ROM、DVD-ROM等；一次性記錄(once-recordable)光盤，其只能夠讓數據在其中記錄一次，例如CD-R、DVD-R等；以及可重復記錄(re-recordable)光盤，其能夠使數據在其中記錄多次，例如CD-RW、DVD-RW、DVD-RAM等。
可記錄光盤分為一次性記錄光盤，其記錄層涂有(coated with)有機染料，例如CD-R、DVD-R等；以及可重復記錄光盤，其記錄層涂有相變材料(phasechange material)，例如CD-RW、DVD-RW、DVD-RAM等。諸如CD-R之類的一次性記錄光盤通過使其記錄層中的有機染料被激光束化學地改變而在預定區域上形成標記(mark)來在其中記錄數據。因此，由于數據被記錄為標記，標記過的區域(marked area)不能再記錄數據。諸如CD-RW的可重復記錄光盤通過使激光束入射在記錄層中的相變材料的一定部分上來在其中記錄數據。這種激光束使所述部分的溫度增加到該相變材料的熔點(一般約為500～700℃)，從而將所述部分的狀態改變為不穩定的液態。之后，所述部分的溫度降低，從而將所述部分的不穩定的液態改變為非晶固態(amorphoussolid state)。通常，非晶固態的折射率小于晶態(crystal state)的折射率，這導致光盤的折射率上的差別。因此，利用該差別，可以將數據記錄在光盤中。而且，當相變材料的溫度升到接近大約200℃并且在相對長的時間內保持在該溫度時，相變材料變回晶態。因此，作為一般規則，施加到激光二極管用以執行數據擦除的功率小于施加到該激光二極管用以執行數據記錄的功率。
盡管許多人可能認為諸如藍光盤、HD-DVD等之類的各種類型的可記錄光盤在相同類型的情況下是等同的，但是各種類型的可記錄光盤的記錄層中的相變材料根據它們的制造商而不同。而且，可施加到可記錄光盤的各種因素，例如記錄速度、記錄設備等，影響記錄功率和擦除功率。因此，當將可記錄光盤插入光盤設備中時，在用戶的記錄命令使數據記錄在可記錄光盤之前，執行用于檢測對于所插入的可記錄光盤的最佳記錄功率的最佳功率校準(OPC)。在功率校準區域(PCA)執行OPC，該功率校準區域是分配在光盤上用以檢測最佳記錄功率的測試區域。
為了執行OPC，首先，將光拾取器移動到用作光盤測試區域的PCA。然后，以其量值(magnitude)按照根據適合于該光盤的一定功率的一定量而改變的記錄功率將測試數據記錄在PCA中。對于每單個OPC操作15幀來說，一般通過15階(steps)的記錄功率將測試數據記錄在PCA中。在完成測試數據的記錄之后，播放所記錄的測試數據并且從該測試數據的播放特征中檢測最佳記錄功率。
在韓國專利公布第2005-22830號中已經公開了用于光盤的傳統的最佳功率檢測方法。根據該公布，通過以下方式來檢測最佳記錄功率使用根據每個光盤制造商定義的信息，利用該信息來將測試數據記錄在相應的光盤中，相對于所獲得的最佳記錄功率信息按照一定量值改變該記錄功率，然后重新檢測最佳記錄功率。
如此，當已經多次執行記錄時，沒有記錄數據的部分以及記錄了任意數據的部分等在PCA中共存。在這樣的PCA中執行的OPC導致相對較大的偏差。因此，傳統的最佳功率檢測方法存在問題并且在執行OPC之后檢測的記錄功率不可能是最佳的。
而且，即使在執行OPC之前擦除了執行OPC的區域，但是由于該區域必須由通過將每個制造商提供的最大功率乘以一定比率而確定的擦除功率來擦除，所以對于特定的光盤設備和光盤組合來說，傳統的方法不是最佳的。因此，OPC的結果不可能是最佳的。
發明內容
因此，本發明的一個方面在于提供一種在光盤裝置中確定最佳擦除功率的方法，其能夠在對應的光盤中確定最佳擦除功率，使得在執行OPC之前能夠最佳地擦除執行最佳功率校準(OPC)的區域，以便增強OPC性能結果的可靠性。
根據本發明的一個方面，可以通過提供一種在執行用于檢測光盤的最佳記錄功率的最佳功率校準(OPC)之前在處于擦除操作中的光盤裝置中確定最佳擦除功率的方法來實現以上和/或其它方面，該方法包括獲取功率對調制度曲線，其中改變施加的功率以便調整入射到光盤上的光量；根據功率對調制度曲線中功率的變化計算調制度的變化量；以及使用所計算的調制度的變化量來設置最佳擦除功率。
優選地，該獲取操作還包括在光盤的一定部分中記錄測試數據。這里，當播放所記錄的測試數據時獲取功率對調制度曲線。
優選地，在施加的功率按照一定量順序地改變時，將測試數據記錄在所述光盤的一定部分中。
優選地，所述光盤的一定部分是形成在光盤上的功率校準區域(PCA)。
優選地，設置操作將最佳擦除功率設置為在功率對調制度曲線中緊接在調制度變化量最大的部分之前的部分的功率。
優選地，其中調制度的變化量最大的部分是在功率對調制度曲線中調制度的變化量具有最大增加量(largest increase)的部分。這里，最佳擦除功率被設置在緊接在調制度的變化量最大的部分之前的功率與通過將該部分之前的功率乘以預定系數而獲得的功率之間的功率范圍內。
根據本發明的另一個方面，提供一種在執行用于檢測光盤的最佳記錄功率的最佳功率校準(OPC)之前在處于擦除操作中的光盤裝置中確定最佳擦除功率的方法，該方法包括將測試數據記錄在光盤的一定部分上；在測試數據開始被記錄在所述光盤的一定部分上時檢測施加到激光二極管的功率；將包括所檢測到的功率的一定范圍設置為最佳擦除功率。
優選地，當改變激光二極管的施加功率時，記錄測試數據。
優選地，使用功率對調制度曲線來檢測在測試數據開始被記錄在所述光盤的一定部分時的功率。
優選地，所述光盤的一定部分是形成在光盤上的功率校準區域(PCA)。
優選地，在測試數據開始被記錄在所述光盤的一定部分時的功率是在緊接在功率對調制度曲線中斜率急劇變化的部分之前的部分的功率。
優選地，包括所檢測到的功率的一定范圍在所檢測到的功率與通過將所檢測到的功率乘以預定系數而獲得的功率之間。
根據本發明另一個方面，提供一種在光盤裝置中確定最佳擦除功率的方法，該方法包括通過改變所施加的功率并檢測結果的調制度來獲得功率對調制度的關系；以及基于所獲得的功率對調制度的關系設置最佳擦除功率。
根據本發明的另一個方面，提供一種使用光盤裝置確定光盤的最佳擦除功率的方法，該方法包括基于所獲得的功率對調制度的關系來設置最佳擦除功率；以及在執行最佳功率校準(OPC)之前，使用所設置的最佳擦除功率來擦除光盤中要執行最佳功率校準(OPC)的部分，以便增加OPC結果的可靠性。
本發明的附加方面和/或優點將在后面的描述中部分地說明，并且，部分地，根據該描述將很明顯，或者可以通過本發明的實踐而習得。
從下面結合附圖的實施例的描述中，本發明的這些和/或其它方面和優點將變得清楚并且更加易于理解，其中圖1是圖示一般的光盤裝置的框圖；圖2是描述根據本發明的一個方面的當在光盤裝置中設置最佳擦除功率時用于執行OPC的方法的流程圖；圖3A是根據本發明的一個方面的用于設置光盤裝置的最佳擦除功率的第一調制度曲線的圖形；圖3B是根據圖3A的擦除功率的第一OPC偏差曲線的圖形；圖4A是根據本發明的一個方面的用于設置光盤裝置的最佳擦除功率的第二調制度曲線的圖形；圖4B是根據圖4A的擦除功率的第二OPC偏差曲線的圖形；圖5A是根據本發明的一個方面的用于設置光盤裝置的最佳擦除功率的第三調制度曲線的圖形；圖5B是根據圖5A的擦除功率的第三OPC偏差曲線的圖形。
具體實施例方式
現在將詳細介紹本發明的方面，其示例在附圖中圖示，其中相同的附圖標記始終表示相同的元素。以下描述所述方面以便通過參照附圖描述本發明的方面。
圖1是圖示一般的光盤裝置1的框圖。光盤裝置1包括數字信號處理器(DSP)22、信道比特編碼器18、光驅動單元16、光拾取器12和RF信號處理器20。而且，光盤裝置1還包括驅動器26，其用于驅動光拾取器12和主軸馬達14；伺服機構24，其用于控制驅動器26的操作；存儲單元32，其用于存儲各種數據；和控制器30，其用于控制光盤裝置1的全部操作以及包括OPC操作的記錄操作。
數字信號處理器(DSP)22包括數字記錄信號處理器(DSP記錄)，其將糾錯碼(ECC)等添加到輸入數字數據，以便將輸入數字數據轉換成記錄格式的數據；和數字播放信號處理器(DSP播放)，其基于相位與RF信號處理器20的二進制信號同步的時鐘信號，從所接收的二進制信號中恢復原始數據。
信道比特編碼器18將從數字信號處理器22輸出的記錄格式的數據再轉換(reconvert)成比特流，以便將該數據輸出到光驅動單元16。
光驅動單元16將基于輸入信號的光量信號輸出到光拾取器12的激光二極管。
光拾取器12根據輸入光量信號將數據記錄到光盤10，并且檢測從光盤10的記錄表面反射的激光，以便將相應的數據信號輸出至RF信號處理器20。
RF信號處理器20對在光拾取器12中檢測到的信號進行整流以便輸出二進制信號。伺服機構24基于光拾取器12的跟蹤錯誤信號(tracking error signal，TE)、聚焦錯誤信號(focusing error signal，FE)以及光盤10的轉動速度來控制驅動器26的操作。
控制器30控制包括光驅動單元16和伺服機構24的光盤裝置1的全部操作。更具體來說，例如，當將新光盤10插入光盤裝置時，控制器30將與所插入的光盤10相關的信息存儲在存儲單元32中。在被存儲之前，在控制器30讀取光盤10的導入區(lead-in area)中的數據時獲取該信息。而且，當輸入將數據記錄到所插入的光盤10的命令時，控制器30控制OPC操作以便獲得諸如10的相應光盤的最佳記錄功率。如上所述，控制器30控制光盤裝置1以便進行如下操作將光拾取器12移動至對應于PCA的位置以便執行OPC；當記錄測試數據時按照一定量順序地增加記錄功率；當完成測試數據的記錄時播放所記錄的數據；基于播放特征設置最佳記錄功率；以及然后將數據記錄在光盤10中。
當所插入的光盤10是在其上已經執行了許多記錄的諸如藍光盤等的可重復記錄光盤時，PCA可能沒有未被記錄的部分或PCA可能具有部分地記錄任意數據等的混合部分。當在這樣的光盤中的PCA上執行OPC時，所檢測到的記錄功率的可靠性被降低。因此，最好在執行OPC之前擦除光盤中要執行OPC的區域以便增加OPC結果的可靠性。而且，雖然可能存在沒有記錄數據的PCA，但是最好執行PCA的擦除，因為這樣將使在其上執行OPC的記錄層的部分協調一致(harmonize)。換句話說，使記錄層的所述部分統一(uniform)。因此，可以檢測光盤的最佳記錄功率。
此外，可能存在這樣的情況，其中，雖然光盤的光盤信息(disc information)包括由光盤制造商提供的關于擦除功率等的信息，但是該信息是一般性的，而沒有考慮各種不同光盤裝置和光盤的組合。因此，可能不可以用該光盤的最佳擦除功率來操作每個光盤裝置。
因此，以下是根據本發明的一個方面確定光盤裝置中的最佳擦除功率的方法的描述。在該方面中，可以通過使用功率對調制度曲線(power tomodulation curve)確定最佳擦除功率來獲取最佳OPC性能結果。
圖2是描述根據本發明的一個方面的用于執行由光盤裝置的最佳擦除功率的設置產生(resulting from)的OPC操作的方法的流程圖。將詳細參照圖3A和3B、圖4A和4B以及圖5A和5B來描述根據本發明的一個方面的確定光盤裝置中的最佳擦除功率的方法。在圖3A、4A和5A的每個中，x軸表示施加到光拾取器12的激光二極管(LD)用來調整入射到光盤上的光量的功率，而y軸表示相對于施加到LD的功率而獲得的調制度。此外，在圖3B、4B和5B的每個中，x軸表示用作擦除功率的功率，而y軸表示當在使用該擦除功率擦除執行OPC的區域之后執行OPC時產生的OPC性能的偏差。圖3A、4A和5A一般分別對應于圖3B、4B和5B。
當插入諸如10的光盤并且然后在操作S210中將指示要將數據記錄在所插入的光盤上的命令輸入到控制器30中時，在操作S220中，控制器30控制光拾取器12等以搜索或定位功率校準區域(PCA)。如上所述，當所有PCA充滿測試數據以至沒有可記錄的區域時，或者即使PCA部分地充滿測試數據，都最好要擦除PCA，以便產生高度可靠的OPC結果。因此，執行用于計算最佳擦除功率的處理。
首先，在操作S230中，在一定記錄功率被改變或變化時，將測試數據記錄在光盤的一定部分中，其被稱為PCA。當記錄功率被改變或變化時，記錄在光盤中的測試數據的調制度(modulation)m被改變或變化。該調制度m由下面等式表示。
m＝(Imax-Imin)/Imax，其中Imax表示光信號中島(land)部分的RF信號的幅度(amplitude)，而(Imax-Imin)表示播放RF信號的幅度。
更具體來說，當記錄功率降低時，播放RF信號的幅度也減小，從而減小調制度m。另一方面，當記錄功率增加時，調制度m也增加。
將在記錄功率被改變或變化時獲得的調制度m存儲在存儲單元32中。在操作S240中，所獲得的調制度m被用來計算對于變化的功率的功率對調制度曲線。然后，在操作S250中，當控制器30搜索調制度m發生急劇變化(steeply changed)(例如功率對調制度曲線的斜率開始變陡)的調制度曲線(也被稱為功率對調制度曲線)部分時，控制器30參照所存儲的調制度m。可以通過將調制度m與一個或多個參考值進行比較來確定調制度m發生急劇變化的部分。例如，可以作為當記錄功率增加特定量時產生的對應于每個記錄功率的調制度差并且將該調制度差與參考值進行比較，來搜索或檢測調制度m發生急劇變化的調制度曲線部分。可以基于實驗來設置適當的參考值。在另一示例中，由于當記錄功率相對較小時調制度幾乎為0，所以可以將適當的參考值設置在剛剛高過調制度的低值(low value ofmodulation)的值。之后，當對應于記錄功率的調制度超過該參考值時，可以將這樣的調制點確定為調制度急劇變化的部分。
存在許多找出上述調制度的方法。
如在圖3A、4A和5A中所示，調制度曲線保持在幾乎為0，直到在功率對調制度曲線在一定功率處開始急劇增加。調制度的突然增加可以被解釋為坑(pit)開始形成在光盤中。即，這樣的狀態可以被確定為數據開始被記錄在該光盤上的時刻(point)。功率對調制度曲線在較高記錄功率處開始變平(leveloff)。在本發明的各個方面中，所施加的用來開始獲得功率對調制度曲線的初始記錄功率可以是任何功率值，或由光盤或光盤裝置制造商提供的功率值。而且，初始記錄功率可以是低于或高于所提供的功率值的任何數值。換句話說，初始記錄功率的應用不需要在0處開始。
圖3B、4B和5B示出相對于分別在圖3A、4A和5A中使用的功率的各個OPC偏差。圖3B、4B和5B能夠讓人大概地(generally)確認最佳擦除功率應當被設置在對應于在功率對調制度曲線中調制度m發生急劇變化的位置的功率處。在圖3B、4B和5B中，可以理解在功率(被指定為擦除功率)相對較小(例如，在圖3B中低于約1.5mW的功率)的部分中OPC偏差相對較小，其中對應于OPC偏差的調制度急劇增加(例如，在圖3B中在約3和3.75mW之間的功率)，并且其中擦除功率相對很大(例如，在圖3B中約4mW的功率)。然而，在三種可能的選擇中，對應于其中擦除功率相對很小的部分的功率不能被用作最佳擦除功率，原因在于擦除功率相對很小的部分中的PCA的數據沒有被擦除。而且，對應于OPC偏差的調制度很大的部分的功率的部分不能被用作最佳擦除功率，這是因為較大的施加的電壓使包括諸如LD等的光拾取器12的光盤裝置不穩定。
因此，如圖3A至5B所示，用來確定最佳擦除功率的功率對調制度曲線的適當部分是對應于得到(found)急劇的調制度增加的部分的功率。這樣的部分表示光盤的記錄層對于施加到該部分的功率敏感處。因此，使用該部分的功率作為光盤的擦除功率可以有效地使光盤的記錄層協調一致，并避免所獲得的擦除功率太弱或太強。
而且，在功率對調制度曲線中調制度開始急劇變化的部分之外(beyond)的部分展示出相對于光盤較小的功率變化的較大的調制度變化。因此，當對應于這樣的部分的功率被用作擦除功率時，OPC偏差很大并且很成問題。因此，最好使用在功率對調制度曲線中調制度急劇或突然變化的部分與當將所述突然變化點乘以小于1的一定系數時獲得的該曲線的部分之間得到的擦除功率。這使得在操作S260中獲得最佳擦除功率，從而獲得優選的OPC結果。
之后，在使用通過上述處理獲得的擦除功率擦除PCA之后，在操作270中執行OPC。例如，OPC操作記錄測試數據，然后再現所記錄的數據以便通過重復執行OPC來檢測最佳記錄功率。一旦檢測到最佳記錄功率，那么在操作S280中將所檢測到最佳記錄功率用來基于所檢測到的最佳記錄功率設置各種參數。當檢測到最佳記錄功率時，在操作S290中使用所檢測到的功率開始數據記錄。
盡管不是在所有方面都有必要，但是本發明的要素可以被實現為軟件和/或固件，以用于一個或多個處理器和/或計算機。而且，處理器和/或計算機可讀介質可以編碼有(encoded with)用于執行該方法的計算機和/或處理器可執行指令。
如上所述，根據本發明的方面的確定最佳擦除功率的方法可以有效地確定最佳擦除功率，以便在最佳狀態下執行最佳功率校準(OPC)。
而且，由于有效地擦除功率校準區域(PCA)，所以可以減小OPC性能結果之間的偏差，使得能夠增強光盤的記錄質量。
此外，由于用適合的擦除功率執行擦除擦作，所以能夠最小化對光盤的損傷。
盡管已經示出和描述了本發明的幾個實施例，但是本領域的技術人員將理解，在不背離發明的原理和精神的情況下，可以對這些實施例做出改變，而本發明的范圍定義在權利要求書及其等同物中。
權利要求
1.一種在執行用于檢測光盤的最佳記錄功率的最佳功率校準(OPC)之前的擦除操作中確定光盤裝置中的最佳擦除功率的方法，該方法包括獲取功率對調制度曲線，其中改變施加的功率以便調整入射到光盤上的光量；根據功率對調制度曲線中的功率的變化計算調制度的變化量；以及使用所計算的調制度的變化量設置最佳擦除功率。
2.如權利要求1所述的方法，其中所述獲取操作還包括在光盤的一定部分中記錄測試數據，其中，當播放所記錄的測試數據時獲取所述功率對調制度曲線。
3.如權利要求2所述的方法，其中在施加的功率按照一定量順序地改變時，將所述測試數據記錄在光盤的一定部分。
4.如權利要求2所述的方法，其中所述光盤的一定部分是形成在光盤上的功率校準區域(PCA)。
5.如權利要求1所述的方法，其中所述設置操作包括將最佳擦除功率設置為在功率對調制度曲線中緊接在調制度變化量最大的部分之前的部分的功率。
6.如權利要求5所述的方法，其中所述調制度的變化量最大的部分是在功率對調制度曲線中調制度的變化量具有最大增加量的部分，其中最佳擦除功率被設置在緊接在調制度變化量最大的部分之前的功率與通過將該部分之前的功率乘以預定系數而獲得的功率之間的功率范圍內。
7.一種在執行用于檢測光盤的最佳記錄功率的最佳功率校準(OPC)之前的擦除操作中確定光盤裝置中的最佳擦除功率的方法，該方法包括將測試數據記錄在所述光盤的一定部分；在所述測試數據開始被記錄在所述光盤的一定部分上時檢測施加到激光二極管的功率；以及將包括所檢測的功率的一定范圍設置為所述最佳擦除功率。
8.如權利要求7所述的方法，其中當激光二極管的施加功率改變時，記錄所述測試數據。
9.如權利要求7所述的方法，其中使用功率對調制度曲線來檢測在測試數不清據開始被記錄在所述光盤的一定部分時的功率。
10.如權利要求7所述的方法，其中所述光盤的一定部分是形成在所述光盤上的功率校準區域(PCA)。
11.如權利要求9所述的方法，其中在所述測試數據開始被記錄在所述光盤的一定部分時的功率是在緊接在功率對調制度曲線的斜率急劇變化的部分之前的部分的功率。
12.如權利要求7所述的方法，其中包括所檢測的功率的所述一定范圍在所檢測的功率與通過將所檢測到的功率乘以預定系數而獲得的功率之間。
13.如權利要求1所述的方法，其中所述調制度m表示為m＝(Imax-Imin)/Imax，其中Imax是光信號中島部分的RF信號的幅度，而(Imax-Imin)是播放RF信號的幅度。
14.如權利要求9所述的方法，其中所述調制度m表示為m＝(Imax-Imin)/Imax，其中Imax是光信號中島部分的RF信號的幅度，而(Imax-Imin)是播放RF信號的幅度。
15.一種執行如權利要求1所述的方法的光盤裝置。
16.一種執行如權利要求7所述的方法的光盤裝置。
17.一種確定光盤裝置中的最佳擦除功率的方法，包括通過改變所施加的功率并檢測結果的調制度來獲得功率對調制度的關系；以及基于所獲得的功率對調制度的關系設置最佳擦除功率。
18.如權利要求17所述的方法，其中所述結果的調制度表示為m＝(Imax-Imin)/Imax，其中Imax是光信號中島部分的RF信號的幅度，而(Imax-Imin)是播放RF信號的幅度。
19.如權利要求17所述的方法，還包括使用所述最佳擦除功率來擦除光盤表面上的數據。
20.如權利要求17所述的方法，還包括在設置所述最佳擦除功率之后執行最佳功率校準(OPC)以便確定最佳記錄功率。
21.一種使用光盤裝置確定光盤的最佳擦除功率的方法，該方法包括基于所獲得的功率對調制度的關系來設置最佳擦除功率；以及在執行最佳功率校準(OPC)之前，使用所設置的最佳擦除功率來擦除光盤中要執行最佳功率校準(OPC)的部分，以便增加OPC結果的可靠性。
22.如權利要求21所述的方法，其中執行擦除所述光盤的所述部分以便使所述光盤的所述部分協調一致。
23.如權利要求21所述的方法，其中將所述最佳擦除功率設置在所獲得的功率對調制度的關系的斜率大于預定值的功率處。
24.如權利要求21所述的方法，其中將所述最佳擦除功率設置在對應于功率的調制度超過預定值的功率處。
全文摘要
一種在光盤裝置中確定最佳擦除功率的方法，在執行用于檢測光盤的最佳記錄功率的最佳功率校準(OPC)之前檢測擦除操作中的最佳擦除功率，該方法包括獲取功率對調制度曲線，其中改變施加的功率以便調整入射到光盤上的光量；根據在功率對調制度曲線中的功率的變化計算調制度的變化量；以及使用所計算的調制度的變化量設置最佳擦除功率。因此，用最佳擦除功率擦除執行了OPC的部分，然后執行OPC，使得可以獲得具有相對較高的可靠性的OPC性能結果。
文檔編號G11B7/125GK101025954SQ200710002560
公開日2007年8月29日 申請日期2007年1月26日 優先權日2006年2月21日
發明者高鐘珍, 白智善, 劉真雨 申請人:三星電子株式會社