本公開涉及但不限于半導體，尤其涉及一種存儲器的處理方法及處理裝置、存儲器。
背景技術：
1、在對存儲器進行封裝之前，通常會通過封裝前測試對存儲器中存在故障的存儲單元(即失效的存儲單元)進行修復。然而，封裝后的存儲器中仍然可能存在失效的存儲單元。相關技術中，可以通過封裝后測試對封裝后的存儲器中的存儲單元進行測試，并通過封裝后修復對封裝后的存儲器中失效的存儲單元進行修復。但是，相關技術中的封裝后修復方案會對測試的每一存儲器均執行修復操作，操作不靈活，且可能導致時間成本的浪費，使得修復成本較高。
技術實現思路
1、本公開提供了一種存儲器的處理方法及處理裝置、存儲器，該存儲器的處理方法可以提高對存儲器進行修復的靈活性，并且可以減少不必要的修復操作，減少時間的浪費，降低修復成本。
2、本公開的技術方案是這樣實現的：
3、本公開實施例提供了一種存儲器的處理方法，包括：
4、對待測試的存儲器中的存儲單元進行測試；
5、獲取所述存儲器中設定的寄存器的使用狀態信息；其中，所述寄存器用于存儲在所述測試的過程中檢測到的失效的存儲單元對應的失效地址；
6、基于所述使用狀態信息，對所述存儲器中失效的存儲單元進行修復。
7、本公開實施例提供了一種存儲器，包括：至少一個存儲單元、第一測試模塊、寄存器、第一獲取模塊和第一修復模塊；其中，
8、所述第一測試模塊，用于：響應于接收到的測試指令，對所述至少一個存儲單元進行測試，并在所述測試的過程中將檢測到的失效的存儲單元對應的失效地址存儲至所述寄存器中；
9、所述第一獲取模塊，用于獲取并輸出所述寄存器的使用狀態信息；
10、所述第一修復模塊，用于響應于接收到的修復指令，對所述失效的存儲單元進行修復，所述修復指令是基于所述使用狀態信息確定的。
11、本公開實施例提供了一種存儲器的處理裝置，包括：
12、第二測試模塊，用于對待測試的存儲器中的存儲單元進行測試；
13、第二獲取模塊，用于獲取所述存儲器中設定的寄存器的使用狀態信息；其中，所述寄存器用于存儲在所述測試的過程中檢測到的失效的存儲單元對應的失效地址；
14、第二修復模塊，用于基于所述使用狀態信息，對所述存儲器中失效的存儲單元進行修復。
15、本公開實施例中，對待測試的存儲器中的存儲單元進行測試；獲取存儲器中設定的寄存器的使用狀態信息；其中，該寄存器用于存儲在測試的過程中檢測到的失效的存儲單元對應的失效地址；基于該使用狀態信息，對存儲器中失效的存儲單元進行修復。這樣，可以提高對存儲器進行修復的靈活性，并且，由于無需對測試的所有存儲器均進行修復，從而可以減少不必要的修復操作，減少時間的浪費，降低修復成本。
1.一種存儲器的處理方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用狀態信息表征所述寄存器的當前使用狀態，所述當前使用狀態包括以下之一：表征所述寄存器中未存儲失效地址的第一狀態；表征所述寄存器中已存儲至少一個失效地址且所述寄存器未溢出的第二狀態；表征所述寄存器溢出的第三狀態。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述使用狀態信息，對所述存儲器中失效的存儲單元進行修復，包括以下之一：
4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述獲取所述存儲器中設定的寄存器的使用狀態信息，包括：
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述使用狀態信息包括第一狀態碼和第二狀態碼，所述第一狀態碼用于表征所述寄存器中是否已存儲失效地址，所述第二狀態碼用于表征所述寄存器是否溢出；所述寄存器的存儲容量為k，所述數量包括n個二進制的計數位，k為正整數，n為k+1對應的二進制編碼的位數，n個所述計數位分別與k+1對應的二進制編碼中的每一編碼位一一對應；
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一狀態碼為0的情況下表征寄存器中未存儲失效地址，所述第一狀態碼為1的情況下表征寄存器中已存儲至少一個失效地址；
7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二狀態碼為0的情況下表征寄存器溢出，所述第二狀態碼為1的情況下表征寄存器未溢出；
8.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
9.根據權利要求2至8中任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，所述基于所述使用狀態信息，確定所述存儲器的測試結果，包括以下之一：
11.一種存儲器，其特征在于，包括：至少一個存儲單元、第一測試模塊、寄存器、第一獲取模塊和第一修復模塊；其中，
12.根據權利要求11所述的存儲器，其特征在于，所述使用狀態信息表征所述寄存器的當前使用狀態，所述當前使用狀態包括以下之一：表征所述寄存器中未存儲失效地址的第一狀態；表征所述寄存器中已存儲至少一個失效地址且所述寄存器未溢出的第二狀態；表征所述寄存器溢出的第三狀態。
13.根據權利要求12所述的存儲器，其特征在于，所述第一獲取模塊包括：
14.根據權利要求13所述的存儲器，其特征在于，所述使用狀態信息包括第一狀態碼和第二狀態碼，所述第一狀態碼用于表征所述寄存器中是否已存儲失效地址，所述第二狀態碼用于表征所述寄存器是否溢出；所述寄存器的存儲容量為k，所述數量包括n個二進制的計數位，k為正整數，n為k+1對應的二進制編碼的位數，所述n個所述計數位分別與k+1對應的二進制編碼中的每一編碼位一一對應；
15.根據權利要求14所述的存儲器，其特征在于，所述第一狀態碼為0的情況下表征寄存器中未存儲失效地址，所述第一狀態碼為1的情況下表征寄存器中已存儲至少一個失效地址；
16.根據權利要求14所述的存儲器，其特征在于，所述第二狀態碼為0的情況下表征寄存器溢出，所述第二狀態碼為1的情況下表征寄存器未溢出；所述第二確定子模塊包括至少一個反相器、以及與所述至少一個反相器連接的與非門；其中：
17.根據權利要求13至16中任一項所述的存儲器，其特征在于，所述計數模塊還用于：
18.一種存儲器的處理裝置，其特征在于，包括：