<listing id="vjp15"></listing><menuitem id="vjp15"></menuitem><var id="vjp15"></var><cite id="vjp15"></cite>
<var id="vjp15"></var><cite id="vjp15"><video id="vjp15"><menuitem id="vjp15"></menuitem></video></cite>
<cite id="vjp15"></cite>
<var id="vjp15"><strike id="vjp15"><listing id="vjp15"></listing></strike></var>
<var id="vjp15"><strike id="vjp15"><listing id="vjp15"></listing></strike></var>
<menuitem id="vjp15"><strike id="vjp15"></strike></menuitem>
<cite id="vjp15"></cite>
<var id="vjp15"><strike id="vjp15"></strike></var>
<var id="vjp15"></var>
<var id="vjp15"></var>
<var id="vjp15"><video id="vjp15"><thead id="vjp15"></thead></video></var>
<menuitem id="vjp15"></menuitem><cite id="vjp15"><video id="vjp15"></video></cite>
<var id="vjp15"></var><cite id="vjp15"><video id="vjp15"><thead id="vjp15"></thead></video></cite>
<var id="vjp15"></var>
<var id="vjp15"></var>
<menuitem id="vjp15"><span id="vjp15"><thead id="vjp15"></thead></span></menuitem>
<cite id="vjp15"><video id="vjp15"></video></cite>
<menuitem id="vjp15"></menuitem>

通過式探測器的線圈結構及通過式探測器的制作方法

文檔序號:12065699閱讀:532來源:國知局
通過式探測器的線圈結構及通過式探測器的制作方法與工藝

技術領域

本發明涉及一種通過式探測器的線圈結構及通過式探測器,屬于探測器技術領域。



背景技術:

在原材料冶煉廠、金屬加工廠等企業中,為防止工作人員違規將廠內銅或不銹鋼這些高價值的金屬面板或板材帶出,通常情況下都會安裝通過式探測器。然而,現有技術中的通過式探測器測試可靠性有待提高,在使用過程中經常會出現漏判的情況。

在通過式探測器內,如果磁力線分布基本沿水平方向。在這種情況下,如果被測人員持有一銅或不銹鋼金屬面板,藏匿于腹部皮帶扣位置,通過通過式探測器。在通過通過式探測器過程中保持金屬面板截面基本與磁力線方向平行,這時候,金屬面板產生的渦流效應較小,檢測到渦流信號較弱。這時候就有可能造成漏判。另一方面,在通過式探測器的頂部,由于磁感線分布比較少,產生的渦流信號也會比較弱,也會產生造成漏判。在用于檢測手機的場合,手機也常常被隱匿于皮帶扣下,這使通過式探測器出現該漏判情況。



技術實現要素:

本發明為了克服現有技術存在的不足,提供一種通過式探測器的線圈結構及通過式探測器。

本發明可以通過采取以下技術方案予以實現:

一種通過式探測器的線圈結構,包括第一發射線圈組、第二發射線圈組和接收線圈,第一發射線圈組和第二發射線圈組分別與接收線圈以電磁耦合方式連接,其中,第一發射線圈組的兩個發射線圈的電流的法線方向在同一時刻相反,第二發射線圈組的兩個發射線圈的電流的法線方向在同一時刻相同。

優選的是,所述第一發射線圈組的電流的頻率與所述第二發射線圈組的電流的頻率不同。

優選的是,所述第一發射線圈組和所述第二發射線圈組平行設置。

優選的是,所述第一發射線圈組的兩個發射線圈平行設置。

優選的是,所述第二發射線圈組的兩個發射線圈平行設置。

優選的是,所述接收線圈包括正向線圈和反向線圈,正向線圈與反向線圈反向連接。

優選的是,所述正向線圈與反向線圈不相交。

優選的是,所述正向線圈與反向線圈對稱設置。

優選的是,所述接收線圈至少設有兩個,同一個接收線圈的正向線圈與反向線圈之間設有另一個接收線圈的正向線圈或者反向線圈。

一種通過式探測器,包括探測器殼體以及安裝在控制器殼體上的第一發射線圈組、第二發射線圈組、接收線圈和主機,探測器殼體的中部設有安檢通道,第一發射線圈組的兩個發射線圈分別設置在安檢通道的兩側,第二發射線圈組的兩個發射線圈分別設置在安檢通道的兩側,第一發射線圈組和第二發射線圈組分別與接收線圈以電磁耦合方式連接,第一發射線圈組、第二發射線圈組和接收線圈均與主機電連接,其中,第一發射線圈組的兩個發射線圈的電流的法線方向在同一時刻相反,第二發射線圈組的兩個發射線圈的電流的法線方向在同一時刻相同。

優選的是,所述第一發射線圈組的電流的頻率與所述第二發射線圈組的電流的頻率不同。

優選的是,所述第一發射線圈組和所述第二發射線圈組平行設置。

優選的是,所述第一發射線圈組的兩個發射線圈平行設置。

優選的是,所述第二發射線圈組的兩個發射線圈平行設置。

優選的是,所述接收線圈包括正向線圈和反向線圈,正向線圈與反向線圈反向連接。

優選的是,所述正向線圈與反向線圈不相交。

優選的是,所述正向線圈與反向線圈對稱設置。

優選的是,所述接收線圈至少設有兩個,同一個接收線圈的正向線圈與反向線圈之間設有另一個接收線圈的正向線圈或者反向線圈。

與現有技術相比較,本發明的有益效果是:本發明在探測器殼體的中部設有安檢通道,第一發射線圈組的兩個發射線圈分別設置在安檢通道的兩側,第二發射線圈組的兩個發射線圈分別設置在安檢通道的兩側,第一發射線圈組和第二發射線圈組分別與接收線圈以電磁耦合方式連接,第一發射線圈組、第二發射線圈組和接收線圈均與主機電連接,其中,第一發射線圈組的兩個發射線圈的法線方向在同一時刻相反,第二發射線圈組的兩個發射線圈的法線方向在同一時刻相同,利用第一發射線圈組產生發散磁場和第二發射線圈組產生的同向磁場依次對以不同擺放姿態通過安檢通道的金屬面板進行檢測,同時,利用同向磁場條件,解決在發散磁場條件下金屬面板平行于第一發射線圈從安檢通道的中間位置通過時難檢測的問題,利用發散磁場條件,解決在同向磁場條件下金屬面板藏匿于腹部皮帶扣位置難檢測的問題,兩者互補,大大提高了金屬檢測的可靠性,有效地避免了通過式探測器漏判錯判現象,保證安檢工作的順利進行。

附圖說明

圖1是本發明的通過式探測器的結構示意圖;

圖2是本發明的通過式探測器的接收線圈的結構示意圖;

圖3是本發明的通過式探測器的接收線圈的正線圈和反線圈的連接結構圖;

圖4是本發明的通過式探測器的接收線圈的正線圈和反線圈的另一連接結構圖;

圖5是本發明的通過式探測器的接收線圈的正線圈和反線圈的另一連接結構圖。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的具體實施方式作詳細描述。

如圖1所示,一種通過式探測器的線圈結構,包括第一發射線圈組1、第二發射線圈組2和接收線圈501,第一發射線圈組1和第二發射線圈組2分別與接收線圈3以電磁耦合方式連接,其中,第一發射線圈組1的兩個發射線圈11、12的電流的法線方向在同一時刻相反,第二發射線圈2組的兩個發射線圈21、22的電流的法線方向在同一時刻相同。其中,所述第一發射線圈組1和所述第二發射線圈組2平行設置;所述第一發射線圈組1的兩個發射線圈11、12平行設置;所述第二發射線圈組2的兩個發射線圈21、22平行設置,所述第一發射線圈組1的電流的頻率與所述第二發射線圈組2的電流的頻率不同。

第一發射線圈組1的兩個發射線圈11、12、第二發射線圈組2的兩個發射線圈21、22與接收線圈501以耦合方式連接。由于發射線圈11、12、21、22與接收線圈配合設置方式是一樣的,在此僅描述發射線圈11與接收線圈501的結構。

如圖2所示,第一發射線圈11與接收線圈501以耦合方式連接。接收線圈501包括正向線圈502和反向線圈503,正向線圈502與反向線圈503反向連接。第一發射線圈11與接收線圈501與主機連接。圖4中示出四個接收線圈501,需要說明的是,接收線圈501的個數根據需要來進行設置。

在繞線規則上,第一發射線圈11的繞線方向可以采用順時針或者逆時針方向。接收線圈501中的正向線圈502與反向線圈503的繞線方向相反,即正向線圈502與反向線圈503反向連接。若正向線圈502采用順時針繞線方向,那么反向線圈503采用逆時針繞線方向,若正向線圈502采用逆時針繞線方向,那么反向線圈503采用順時針繞線方向。

根據上述繞線規則,在第一發射線圈11通過變化的電流時,通過調節正向線圈502或者反向線圈503的面積大小,正向線圈502產生的磁感應效應與反向線圈503產生的磁感應效應正好抵消。完成生產過程中的調零步驟。在另一方面,將接收線圈501設置成上述不相交,對稱形式,更有利于增強通過式探測器抗干擾的能力。

為了使通過式探測器設計上有更方便,接收線圈501的布局可以有多種設計形式。

如圖3所示,第一發射線圈11與接收線圈501以耦合方式連接。接收線圈501包括正向線圈502和反向線圈503,正向線圈502與反向線圈503反向連接。第一發射線圈11與接收線圈501與主機連接。圖3中示出兩個接收線圈501,需要說明的是,接收線圈501的個數根據需要來進行設置。

在繞線規則上,跟上述實施例方式相同,在這就不再贅述。

如圖4所示,第一發射線圈11與接收線圈501以耦合方式連接。接收線圈501包括正向線圈502和反向線圈503,正向線圈502與反向線圈503反向連接。第一發射線圈11與接收線圈501與主機連接。圖4中示出兩個接收線圈501,需要說明的是,接收線圈501的個數根據需要來進行設置。

在繞線規則上,跟上述相同,在這就不再贅述。

同一個接收線圈501的正向線圈502與反向線圈503之間設有另一個接收線圈501的正向線圈502或者反向線圈503。

圖5所示,第一發射線圈11與接收線圈501以耦合方式連接。接收線圈501包括正向線圈502和反向線圈503,正向線圈502與反向線圈503反向連接。第一發射線圈11與接收線圈501與主機連接。圖5中示出兩個接收線圈501,需要說明的是,接收線圈501的個數根據需要來進行設置。

在繞線規則上,跟上述相同,在這就不再贅述。

如圖1、圖2所示,一種通過式探測器,采用了上述的線圈結構,其具體結構包括探測器殼體3以及安裝在控制器殼體上的第一發射線圈組1、第二發射線圈組2、接收線圈501和主機(圖中未標示),探測器殼體3的中部設有安檢通道,第一發射線圈組1的兩個發射線圈11、12分別設置在安檢通道的兩側,第二發射線圈組2的兩個發射線圈21、22分別設置在安檢通道的兩側,第一發射線圈組1和第二發射線圈組2分別與接收線圈501以電磁耦合方式連接,第一發射線圈組1、第二發射線圈組2和接收線圈501均與主機電連接,其中,第一發射線圈組1的兩個發射線圈11、12的電流的法線方向在同一時刻相反,第二發射線圈組2的兩個發射線圈21、22的電流的法線方向在同一時刻相同。其中,第一發射線圈組1和第二發射線圈組2的設置也可以如下:第一發射線圈組1的兩個發射線圈11、12的法線方向在同一時刻相同,第二發射線圈組2的兩個發射線圈21、22的法線方向在同一時刻相反。

主機用于控制,發射激勵信號給第一發射線圈組1的發射線圈11、12并測量接收線圈501的電壓信號。發射線圈11的電流的法線方向和發射線圈12的電流的法線方向相反,此時,發射線圈11產生的磁場的方向與發射線圈12產生的磁場的方向相反,磁場線分布較為發散。考慮安檢通道的中間位置的檢測情況,因為該位置為檢測的薄弱點。此時,若金屬面板垂直于發射線圈11從安檢通道的中間位置通過通過式探測器時,金屬面板的最大截面是垂直于磁場方向,金屬面板的渦流效應較強,檢測效果較好;若金屬面板平行于發射線圈11從安檢通道的中間位置通過通過式探測器時,金屬面板的最大截面是平行于磁場方向,金屬面板的渦流效應較弱,檢測效果較差。金屬面板通過通過式探測器,通過式探測器檢測到一組發散磁場下的渦流效應數據并保存到主機中。

發射線圈21的電流方向與發射線圈22的電流方向相同,兩者產生的磁場方向相同,磁場線分布基本沿水平方向。考慮安檢通道的中間位置的檢測情況,因為該位置為檢測的薄弱點。此時,若金屬面板垂直于第一發射線圈21從安檢通道的中間位置通過通過式探測器時,金屬面板的最大截面是平行于磁場方向,金屬面板的渦流效應較弱,檢測效果較差,此時通過式探測器有可能會產生漏判;若金屬面板平行于第一發射線圈21從安檢通道的中間位置通過通過式探測器時,金屬面板的最大截面是垂直于磁場方向,金屬面板的渦流效應較強,檢測效果較好。金屬面板通過通過式探測器,通過式探測器檢測到一組同向磁場下的渦流效應數據并保存到主機中。

金屬面板在短時間內先后通過第一發射線圈組1和第二發射線圈組2,主機將上述檢測到的兩組渦流效應數據進行比較,判斷兩組數據中的最佳值是否在標準范圍內。無論金屬面板以怎樣的擺放方式通過安檢通道,通過式探測器都能從兩組數據中得到渦流效應較強的數據,提高金屬面板的檢出率。

以上結合較佳實施例對本發明進行了描述,但本發明并不局限于以上揭示的實施例,而應當涵蓋各種根據本發明的本質進行的修改、等效組合。

當前第1頁1 2 3 
網友詢問留言 已有0條留言
  • 還沒有人留言評論。精彩留言會獲得點贊!
1
韩国伦理电影