專利名稱：圖像處理裝置、圖像處理方法和程序的制作方法
技術領域：
本公開涉及圖像處理裝置、圖像處理方法和程序，更具體地，涉及校正從在固態成像器件中包括的缺陷像素輸出的信號以抑制由缺陷像素引起的圖像質量變差的圖像處理裝置、圖像處理方法和程序。
背景技術：
通常，在諸如CXD (電荷耦合器件)和CMOS (互補金屬氧化物半導體)傳感器的固態成像元件中，可能包括缺陷像素。具體而言，在這樣的固態成像元件中，缺陷像素可能由半導體的局部晶體缺陷弓I 起，并輸出異常成像信號，由此引起圖像質量變差。例如，存在黑點圖像缺陷像素或白點缺陷像素。已經提出了用于校正從缺陷像素輸出的信號的各種信號處理方法和電路配置。在公開用于校正從缺陷像素輸出的信號的技術的現有技術中，例如有日本未審查專利申請公布No. 2009-290653、日本專利No. 4343988和日本專利No. 4307318。
發明內容
然而，在如上所述的現有技術中，當缺陷像素連續出現時、或者當在由多個像素共用的電路部分(例如，晶體管)處出現缺陷并且缺陷出現在多個像素中時，難以精確地獲取紋理方向，因此難以充分地校正缺陷像素。當應用現有技術中公開的校正處理時，僅要在用于缺陷校正的相鄰區域中校正中心像素。例如，當使用用于缺陷校正的相鄰區域在后來階段執行信號處理并且在除了中心像素之外的像素中包括缺陷時，還沒有被校正的缺陷像素可以影響后來階段的信號處理， 并且難以獲得校正效果。因此，在現有技術的方法中，必須在對所有像素執行一次缺陷校正后執行以后階段的信號處理，這引起電路規模增大或處理速度延遲的問題。期望提供一種圖像處理裝置、圖像處理方法和程序，它們執行確定處理，在所述確定處理中，當確定紋理方向時缺陷的影響減小，以便即使當在相鄰區域中存在多個缺陷像素時，也能有效地執行缺陷的檢測和校正。根據本公開的第一實施例，提供了一種圖像處理裝置，包括紋理方向確定單元， 其確定圖像的紋理方向；缺陷像素檢測單元，其計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及校正單元，其校正作為校正目標的、在基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。在根據本公開的實施例的圖像處理裝置中，所述缺陷像素檢測單元可以計算包括共用像素值讀取電路的所述多個像素的每一個像素組的所述像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測所述缺陷像素位置。在根據本公開的實施例的圖像處理裝置中，所述缺陷像素檢測單元可以根據與參考值(safe_mW)的差值確定像素是否是缺陷像素，所述參考值是在平坦區域中的多個像素組的平均值，在所述平坦區域中，在像素組的在相同布置方向上的多個相鄰布置中，所述多個像素組單元的平均值的差較小。在根據本公開的實施例的圖像處理裝置中，所述紋理方向確定單元可以執行用于將水平、垂直、右上和右下這四個方向之一確定為所述紋理方向的處理，并且，所述缺陷像素檢測單元在水平、垂直、右上和右下這四個方向中，基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測所述缺陷像素位置。在根據本公開的實施例的圖像處理裝置中，所述紋理確定單元可以基于在以所關注的像素為中心的相鄰區域中包括的布置在預定方向上的像素的像素值來計算多個微分值，將所述多個微分值排序，僅選擇具有小值的數據，計算統計值，并基于所述統計值的比較來確定所述紋理方向。在根據本公開的實施例的圖像處理裝置中，所述校正單元執行以在所述紋理方向上的相鄰像素為參考像素、基于所述參考像素的像素值來確定在所述缺陷像素位置處的像素值的處理。在根據本公開的實施例的圖像處理裝置中，作為處理目標，所述缺陷像素檢測單元可以計算在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測所述缺陷像素位置。根據本公開的第二實施例，提供了一種在圖像處理裝置中執行的圖像處理方法， 所述方法包括使得紋理方向確定單元確定圖像的紋理方向；使得缺陷像素檢測單元計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及，使得校正單元校正作為校正目標的、 基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。根據本公開的第三實施例，提供了一種程序，用于使得圖像處理裝置執行圖像處理，所述圖像處理包括使得紋理方向確定單元確定圖像的紋理方向；使得缺陷像素檢測單元計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及，使得校正單元校正作為校正目標的、基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。根據本公開的實施例的程序例如是可以利用計算機可讀存儲介質或通信介質提供的程序，所述計算機可讀存儲介質或通信介質能夠在可以執行各種程序代碼的通用系統中使用。提供這樣的計算機可讀程序以在計算機系統上執行根據所述程序的處理。通過基于本公開的示例和附圖的詳細說明，將闡明本公開的其他特性和優點。在說明書中，系統指的是多個裝置的邏輯組配置，并且所述裝置不必然被設置在同一外殼中。根據本公開的實施例，實現了對所捕獲的圖像執行缺陷像素的檢測和影響校正的配置。具體地說，確定圖像的紋理方向，針對包括多個像素的每一個像素組計算像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置。在與所述紋理方向相同的像素組布置方向上檢測到的缺陷像素位置處的像素值作為校正目標被校正。例如，在紋理方向上的位置上對共用讀取電路的每一個像素組執行缺陷像素檢測，以有效地檢測缺陷像素位置。
圖I是圖示根據本公開的實施例的圖像處理裝置的配置示例的圖。圖2是圖示根據本公開的實施例的圖像處理裝置的圖像處理單元的配置示例的圖。圖3是圖示由根據本公開的實施例的圖像處理裝置執行的處理序列的流程圖。圖4是圖示根據本公開的實施例的圖像處理裝置的缺陷像素校正處理的配置示例的圖。圖5是圖示在根據本公開的實施例的圖像處理裝置的缺陷像素校正處理中執行的紋理方向確定處理的圖。圖6是圖示在由根據本公開的實施例的圖像處理裝置執行的紋理方向確定處理中執行的水平方向微分值計算處理的圖。圖7是圖示在由根據本公開的實施例的圖像處理裝置執行的紋理方向確定處理中執行的垂直方向微分值計算處理的圖。圖8是圖示在由根據本公開的實施例的圖像處理裝置執行的紋理方向確定處理中執行的右上方向微分值計算處理的圖。圖9是圖示在由根據本公開的實施例的圖像處理裝置執行的紋理方向確定處理中執行的右下方向微分值計算處理的圖。圖10是具體地圖示由根據本公開的實施例的圖像處理裝置的缺陷校正單元中的缺陷像素檢測單元執行的處理的圖。圖11是圖示由根據本公開的實施例的圖像處理裝置的缺陷校正單元中的缺陷像素檢測單元執行的處理示例的圖。圖12是圖示由根據本公開的實施例的圖像處理裝置的缺陷校正單元中的缺陷像素檢測單元的修改示例的圖。
具體實施例方式本公開的一個實施例提供了一種圖像處理裝置，包括紋理方向確定單元，其確定圖像的紋理方向；缺陷像素檢測單元，其計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及校正單元，其校正作為校正目標的、在基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。本公開的另一個實施例提供了一種在圖像處理裝置中執行的圖像處理方法，所述方法包括使得紋理方向確定單元確定圖像的紋理方向；使得缺陷像素檢測單元計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及使得校正單元校正作為校正目標的、基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。本公開的另一個實施例提供了一種程序，用于使得圖像處理裝置執行圖像處理， 所述圖像處理包括使得紋理方向確定單元確定圖像的紋理方向；使得缺陷像素檢測單元計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及使得校正單元校正作為校正目標的、基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。以下，將參考附圖詳細描述根據本公開的實施例的圖像處理裝置、圖像處理方法和程序。通過成像裝置系統來實施在此所述的實施例。首先，將描述整個系統的配置和操作，并且，將詳細描述根據本公開的實施例的處理。按以下來提供所述描述。I.圖像處理裝置的配置示例
2.根據本公開的實施例的圖像處理的細節
3.缺陷校正單元的配置和處理的細節
4.由缺陷校正單元中的相鄰區域提取單元執行的處理的細節
5.由缺陷校正單元中的紋理方向確定單元執行的處理的細節
6.由缺陷校正單元中的缺陷像素檢測單元執行的處理的細節
7.缺陷像素校正單元的處理
I.圖像處理裝置的配置示例
圖I是作為根據本公開的實施例的圖像處理裝置的示例的成像裝置(數字攝像
機)的整體示圖。成像裝置主要包括光學系統、信號處理系統、記錄系統、顯示系統和控制系統。通過包括透鏡等的光學系統的入射光到達諸如CMOS的成像元件101。光首先到達 CMOS成像表面的光接收元件，并在光接收元件中通過光電轉換被轉換為電信號。通過相關雙采樣電路(CDS) 102去除噪聲，所述信號通過模數(A/D)轉換器103的數字化處理被轉換為數字數據，然后，所述數字數據被暫時存儲在DSP 104的圖像存儲器中，并且，在DSP 104 中執行各種信號處理。在成像狀態中，定時產生器(TG) 114將信號處理系統控制為保持以固定幀速率的圖像讀取。A/D轉換器103以固定的速率向DSP 104輸出像素流，在DSP 104執行各種圖像處理，然后，圖像數據被發送到IXD驅動器112、編解碼器(CODEC) 105或這兩者。IXD驅動器112將從DSP 104發送的圖像數據轉換為模擬信號，該模擬信號被輸出到IXD 113并顯示在IXD 113上。例如，IXD 113用作相機的取景器。編解碼器105執行從DSP 104發送的圖像數據的編碼，經編碼的圖像數據被記錄在存儲器106中。存儲器106可以是使用半導體、磁記錄介質、光磁記錄介質、光學記錄介質等的記
錄裝置。例如，CPU 115根據預先存儲在存儲單元中的程序來執行成像處理和圖像處理的整體處理控制。輸入單元116是由用戶操作的操作單元。上面的說明是所述實施例的數字攝像機的整體系統的說明。在圖I中所示的成像裝置中，例如，DSP 104主要執行根據本公開的實施例的處理。以下，將詳細描述根據本公開的實施例的圖像處理。在下面的實施例中，DSP 104執行根據本公開的實施例的圖像處理，但是可以使用除了 DSP 104之外的其他硬件或軟件來執行根據本公開的實施例的處理。其他構成元件例如CMOS 101也可以執行圖像處理。2.根據本公開的實施例的圖像處理的細節如上所述，例如，可以由DSP 104執行根據本公開的實施例的圖像處理。因此，在以下描述的實施例的配置中，將描述DSP 104中的操作單元根據預定程序代碼對向DSP 104輸入的圖像信號流順序地執行所述圖像處理中的操作的示例。在以下描述的實施例中，將程序中的每一個處理單元描述為功能塊，并且將使用流程圖來描述執行每一個處理的序列。然而，除了通過在所述實施例中描述的以程序的形式來實現之外，本公開的實施例還可以由硬件例如通過安裝用于實現與由以下描述的功能塊所執行的處理等同的處理的硬件電路來實現。圖2是圖示用于執行根據本公開的實施例的圖像處理的圖像處理單元的配置示例的框圖。如上所述，例如通過圖I中所示的DSP 104來配置圖像處理單元。在圖2中，由兩條平行水平線表示的馬賽克圖像117、Y圖像124和C圖像125指示數據或用于存儲數據的存儲器，而包括缺陷校正單元118至YC轉換單元123在內的其他配置表示在圖像處理單元或處理單元中執行的處理。如圖2中所示，圖像處理單元包括缺陷校正單元118、白平衡單元119、去馬賽克單元120、矩陣單元121、伽馬校正單元122和YC轉換單元123。馬賽克圖像單元117表示到圖像處理單元的輸入圖像，即，由圖I中所示的A/D轉換器103數字化的、向DSP 104輸入的圖像信號。通過存儲在如圖I中所示的成像元件101的對應像素中的顏色R、G和B中任何一個的強度信號(像素值)來提供馬賽克圖像117，并且彩色布置例如是原色系統貝爾布置。Y圖像124和C圖像125是從圖像處理單元輸出的圖像。這些圖像對應于從DSP 104輸出的YCbCr圖像信號，并被輸入到圖I中所示的編解碼器105。將描述由在圖2中所示的圖像處理單元中的單元執行的處理。缺陷校正單元118將缺陷像素位置的像素值校正為從圖I中所示的A/D轉換器 103輸入的馬賽克圖像117中的精確值。白平衡單元119響應于每一個像素強度的色彩來設置適當的系數，使得非彩色拍攝對象區域的色彩平衡是相對于經缺陷校正的馬賽克圖像的非彩色。去馬賽克單元120執行內插處理，以便在經過白平衡調整的馬賽克圖像的像素位置處具有相同強度的R、G和B。去馬賽克單元120的輸出是三個圖像，在所述三個圖像中， 在像素位置上獨立地設置R、G和B三色的像素值。矩陣單元121向去馬賽克單元120的輸出的像素[R、G和B]應用被預先設置系數的3行和3列線性矩陣，并將它們轉換為三原色的像素值(像素值R_m、G_m和B_m)。線性矩陣的系數是用于呈現最佳顏色表現的重要設計項目，但是本公開的實施例涉及缺陷校正處理。在缺陷校正處理后應用矩陣處理，因此，可以與本公開的實施例無關地設計線性矩陣系數的具體值。矩陣單元121的輸出是與經顏色校正的R_m、G_m和B_m三色對應的三個圖像。在矩陣處理后，伽馬校正單元122對經顏色校正的3通道圖像執行伽馬校正。
YC轉換單元123對經伽馬校正的3通道圖像執行YC矩陣處理和色度分量的帶寬限制，以產生Y圖像124和C圖像125。接下來，將參考圖3中示出的流程圖來描述由圖2中所示的圖像處理單元執行的處理的序列。首先，在步驟SlOl中，圖像處理單元獲取基于圖像處理元件101的輸出信號的馬賽克圖像。該圖像是在圖2中所示的馬賽克圖像117。然后，在步驟S102中，缺陷校正單元118對馬賽克圖像執行缺陷校正處理。然后，在步驟S103中，白平衡單元119對經缺陷校正的馬賽克圖像執行白平衡處理。然后，在步驟S104中，去馬賽克單元120執行去馬賽克處理，所述去馬賽克處理用于設置在經過白平衡處理的馬賽克圖像中的像素位置處的R、G和B的所有強度(像素值)。然后，在步驟S105中，矩陣單元121向3通道圖像中的像素應用線性矩陣，并獲得 RGB 3通道圖像。然后，在步驟S106中，伽馬校正單元122對通過矩陣處理進行了顏色校正的3通道圖像的像素執行伽馬校正。然后，在步驟S107中，YC轉換單元123對經伽馬校正的3通道圖像執行YC轉換， 以產生Y圖像124和C圖像125。最后，在步驟S108中，輸出所產生的Y圖像124和C圖像125。如上所述，完成圖像處理單元的操作。3.缺陷校正單元的配置和處理的細節接下來，將詳細描述圖像校正處理，圖像校正處理是本公開的實施例的主要部分， 并在缺陷校正單元118中被執行。圖4示出圖示缺陷校正單元118的內部配置的框圖。如圖4中所示，缺陷校正單元118主要包括相鄰區域提取單元201、紋理方向確定單元202、缺陷像素檢測單元203和缺陷像素校正單元204。相鄰區域提取單元201從向缺陷校正單元118輸入的馬賽克圖像117 (即基于圖I 中所示的成像元件101的輸出信號的馬賽克圖像117)切出包括關注像素的位置及其相鄰區域的特定大小的相鄰區域211。在該實施例中，相鄰區域211是以所關注的像素的位置為中心的7X7像素的矩形區域。紋理方向確定單元202在被設置為7X7像素的矩形區域的中心位置的關注像素的位置處的多個方向中確定執行檢測缺陷像素的處理的方向。在該實施例中，紋理方向確定單元202的多個確定方向是下述四個方向水平方向(H方向)，垂直方向(V方向)，右上方向(A方向)，以及右下方向(D方向)。缺陷像素檢測單元203根據由紋理方向確定單元202確定的執行檢測缺陷像素的處理的方向來執行缺陷像素的檢測。缺陷像素校正單元204使用相鄰區域211的像素來校正由缺陷像素檢測單元203檢測到的缺陷像素位置的像素值。缺陷校正單元118通過這樣的一系列處理來執行缺陷像素的校正。以下，將依序描述構成缺陷校正單元118的處理單元的具體處理的示例。4.由缺陷校正單元中的相鄰區域提取單元執行的處理的細節首先，將描述缺陷校正單元118中的相鄰區域提取單元201所執行的處理的細節。相鄰區域提取單元201執行保證對在關注像素的位置附近的7X7矩形區域中的像素信息的訪問的操作。作為其具體方法，可以應用各種方法。例如，當將本公開的實施例實現為軟件時，在存儲器中以像素值與例如坐標位置相關聯的布置形式來保證在以關注像素的位置為中心的相鄰7X7矩形區域中的像素值。當將本公開的實施例實現為硬件時，一般成像裝置的信號處理系統經常被實現為使得來自傳感器的信號以水平線的方式依序流動，作為像素強度的一階系列形式的數據。 在該情況下，通常，使用能夠存儲一個水平行的像素強度(像素值)的延遲行來保證對在垂直方向上相鄰的水平行的像素的訪問。至少準備6個延遲行來保證對7 X 7矩形區域的訪問。5.由缺陷校正校正單元中的紋理方向確定單元執行的處理的細節接下來，將描述缺陷校正單元118中的紋理方向確定單元202執行的處理的細節。圖5是圖示紋理方向確定單元202的詳細配置和操作的圖。紋理方向確定單元202具有下面的用于執行所關注的像素的相鄰區域(在該示例中為7X7像素區域)的像素值分析的微分值計算單元。(I)水平方向微分值計算單元311，用于計算在水平方向上的微分值，(2)垂直方向微分值計算單元312，用于計算在垂直方向上的微分值，(3)右上方向微分值計算單元313，用于計算在右上方向上的微分值，以及(4)右下方向微分值計算單元314，用于計算在右下方向上的微分值。在該實施例中，相鄰區域是以關注像素為中心的7X7像素的區域，并且對該相鄰區域執行分析。紋理方向確定單元202進一步包括統計值計算單元321a至321d，用于根據關于四個方向計算的微分值計算統計值；以及，統計值比較單元331，用于通過比較所述方向的統計值來確定相鄰區域211中的紋理的方向。將參考附圖描述水平方向微分值計算單元311計算在水平方向上的微分值的處理。圖6是圖示水平方向微分值計算單元311的處理的圖。圖6示出以關注像素為中心的7X7像素的相鄰區域。由X坐標來表示水平方向，并且由y坐標來表示垂直方向。7X7像素的相鄰區域的中心，即(x，y) = (4，4)，對應于關注像素的位置。在紋理方向確定過程中使用的像素被表示為W。在像素位置(x，y)，通過下面的公式來獲取水平方向微分值gradH(x，y)gradH(x, y) = abs (w (χ-1, y) -w (χ+1, y))其中，abs O是獲取絕對值的函數，W(x-1, y)是在坐標位置(x_l, y)處的W的像素值(強度)，w(x+l，y)是在坐標位置(x+1，y)處的W的像素值(強度)。
水平方向微分值計算單元311獲取在由圖6中的符號O指示的像素位置處的微分值 gradH。例如，在位置(x，y) = (2,1)的符號O的位置處，基于在水平方向上的兩個相鄰W 的像素值(強度)來獲取微分值gradH。也就是說，使用(x，y) = (1,1)和(x，y) = (3,1)這兩個W像素的像素值來計算微分值 gradH (2，I)。在由圖6中的符號O指示的18個像素位置處獲取微分值gradH。接下來，將描述垂直方向微分值計算單元312計算在垂直方向上的微分值的處理。圖7是圖示垂直方向微分值計算單元312的處理的圖。圖7示出以關注像素為中心的7X7像素的相鄰區域。水平方向由X坐標表示，并且垂直方向由y坐標表示。7 X 7像素的相鄰區域的中心，即(x，y) = (4，4)，對應于關注像素的位置。在紋理方向確定過程中使用的像素由W表示。在像素位置(X，y)，通過下面的公式來獲取垂直方向微分值gradV (X, y)gradV (x, y) = abs(w(x, y-l)-w(x, y+1))其中，abs ()是獲取絕對值的函數，w(x, y_l)是在坐標位置(x, y_l)處的W的像素值(強度)，w(x，y+1)是在坐標位置(X，y+1)處的W的像素值(強度)。垂直方向微分值計算單元312獲取在由圖7中的符號O指示的像素位置處的微分值 gradV。例如，在位置(x，y) = (1,2)的符號O的位置處，基于在垂直方向上的兩個相鄰W 的像素值(強度)來獲取微分值gradV。也就是說，使用(x，y) = (1,1)和(x，y) = (1,3)這兩個W像素的像素值來計算微分值 gradH (I，2)。在由圖7中的符號O指示的18個像素位置處獲取微分值gradV。接下來，將描述右上方向微分值計算單元313計算在右上方向上的微分值的處理。圖8是圖示右上方向微分值計算單元313的處理的圖。圖8示出以關注像素為中心的7X7像素的相鄰區域。水平方向由X坐標表示，并且垂直方向由y坐標表示。7X7像素的相鄰區域的中心，即(x，y) = (4，4)，對應于關注像素的位置。在紋理方向確定過程中使用的像素由W表示。在像素位置(X，y)，通過下面的公式來獲取右上方向微分值gradA(x, y)gradA (x, y) = abs (w (x, y) -w (x+1, y-1))其中，abs()是獲取絕對值的函數，w(x, y)是在坐標位置(x，y)處的W的像素值 (強度)，w(x+l，y-1)是在坐標位置(x+1，y-Ι)處的W的像素值(強度)。右上方向微分值計算單元313獲取在圖8中的虛線內的W像素位置處的微分值 gradAο例如，在位置(x，y) = (1,3)的符號W的位置處，基于像素本身和右上相鄰W的像
11素值(強度)來獲取微分值gradA。也就是說，使用(x，y) = (1,3)和(x，y) = (2,2)這兩個W像素的像素值來計算微分值 gradA (I, 3)。在由圖8中所示的虛線內的18個W像素位置處獲取微分值gradA。接下來，將描述右下方向微分值計算單元314計算在右下方向上的微分值的處理。圖9是圖示右下方向微分值計算單元314的處理的圖。圖9示出以關注像素為中心的7X7像素的相鄰區域。水平方向由X坐標表示，并且垂直方向由y坐標表示。7X7像素的相鄰區域的中心，即(x，y) = (4，4)，對應于關注像素的位置。在紋理方向確定過程中使用的像素由W表示。在像素位置(X，y)，通過下面的公式來獲取右下方向微分值gradD(x, y)gradD (x, y) = abs (w (x, y) -w (x+1, y+1))其中，abs()是獲取絕對值的函數，w(x，y)是在坐標位置(x，y)處的W的像素值 (強度)，w(x+l，y+1)是在坐標位置(x+1，y+1)處的W的像素值(強度)。 右下方向微分值計算單元314獲取在由圖9中的虛線內的W像素位置處的微分值 gradDο例如，在位置(x，y) = (1,1)的符號W的位置處，基于像素本身和右下相鄰W的像素值(強度)來獲取微分值gradD。也就是說，使用(x，y) = (1,1)和(x，y) = (2,2)這兩個W像素的像素值來計算微分值 gradD (I, I)。在由圖9中所示的虛線內的18個W像素位置處獲取微分值gradD。接下來，將描述統計值計算單元321a至321d的處理。統計值計算單元321a至321d基于微分值的幅值來對分別由下述微分值計算單元計算的微分值gradH、gradV> gradA和gradD執行排序(I)水平方向微分值計算單元311，(2)垂直方向微分值計算單元312，(3)右上方向微分值計算單元313，以及(4)右下方向微分值計算單元314。使用升序的到第η個微分值的微分值來計算平均值mHgrad、mVgrad、mAgrad和 mDgrado如參考圖6至圖9所述，通過以一個關注像素為中心的7X7相鄰區域的像素分析來計算下面的微分值(I)水平方向微分值計算單元311的18個水平方向微分值gradH，(2)垂直方向微分值計算單元312的18個垂直方向微分值gradV，(3)右上方向微分值計算單元313的18個右上方向微分值gradA，以及(4)右下方向微分值計算單元314的18個右下方向微分值gradD。統計值計算單元321a至321d執行基于微分值的幅值的排序，作為基于所述多個微分值的統計值，并使用升序的至第η個值的微分值來計算平均微分值mHgrad、mVgrad、mAgrad和 mDgrad。在此，η是等于或小于被排序的微分值的長度N的值。在該示例中，N是18。根據假定包括在相鄰區域211中的連續缺陷的幅值來確定η的值。例如，當在相鄰區域像素中包括的連續缺陷像素是2X2像素時，由于缺陷的影響而未精確地獲取的微分值是最大4個像素，因此，η = Ν-4。接下來，將描述統計值比較單元331的處理。統計值比較單元331比較如上所述由統計值計算單元321a至321d在水平、垂直、 右上和右下方向上計算的統計值mHgrad、mVgrad、mAgrad和mDgrad,并且將具有最小統計值的方向確定為紋理方向。例如，當mHgrad是最小值時，相鄰區域211的紋理方向被確定為水平方向。缺陷校正單元118中的紋理方向確定單元202如上所述地確定紋理方向，并向缺陷像素檢測單元203輸出紋理方向信息(dir)作為確定信息。紋理方向信息(dir)對應于具有最小亮度改變或像素值改變的方向。6.由缺陷校正單元中的缺陷像素檢測單元執行的處理的細節接下來，將參考圖10來描述由缺陷校正單元118中的缺陷像素檢測單元203執行的處理的細節。圖10是示出由缺陷像素檢測單元203執行的處理及其配置的圖。缺陷像素檢測單元203針對每個共用像素組對構成相鄰區域211 (在該示例中，以關注像素為中心的7X7像素的區域)的像素執行處理，每個共用像素組由共用像素輸出讀取電路(共用FD)的多個像素形成。共用像素組是共用讀取電路的一組像素。共用像素統計值計算單元411計算每個共用像素組的統計值，每個共用像素組由共用像素輸出讀取電路(共用FD)的多個像素形成。另外，缺陷像素檢測單元203包括以下單元，所述以下單元使用由共用像素統計值計算單元411計算的統計值，并在相鄰區域211中在相應方向上檢測被估計為有缺陷的像素。也就是說，提供與四個方向對應的以下缺陷檢測單元(I)水平方向缺陷檢測單元421，用于在水平方向上執行缺陷檢測，(2)垂直方向缺陷檢測單元422，用于在垂直方向上執行缺陷檢測，(3)右上方向缺陷檢測單元423，用于在右上方向上執行缺陷檢測，以及(4)右下方向缺陷檢測單元424，用于在右下方向上執行缺陷檢測。另外，缺陷像素檢測單元203包括缺陷像素位置選擇單元431，缺陷像素位置選擇單元431輸入由如上所述的紋理方向確定單元202確定的紋理方向信息(dir)，并且從由缺陷檢測單元421至424在前一個階段估計為缺陷像素的像素中選擇作為校正目標的校正目標缺陷像素位置。例如，作為固態成像裝置的共用像素配置，存在以8個像素為單位的像素配置。圖11示出由實線連接的8個像素指示共用像素的配置示例。也就是說，圖11中所示的示例描述了包括8個像素并且使用一個像素輸出讀取電路的共用像素組(共用FD)的配置。在圖11中所示的共用像素圖案的情況下，由包括關注像素的共用像素(8個像素) 組成的像素組是FDOI。
由FD00、FD10、FD11、FD12和FD22來依序指示在由包括關注像素的共用像素組成的像素組FDOl的相鄰的左、左下、下、右下和右方向上的由共用像素組成的像素組。也就是說，在以關注像素為中心的7X7像素區域中，設置由共用像素(8個像素) 組成的像素組，諸如從左上側起的FD00、FD01和FD02和從右下側起的FD10、FD11和FD12。當共用像素組共用像素輸出讀取電路時，存在該組的一個像素有缺陷的情況或因為讀取電路的缺陷導致輸出值被設置為偏離正常值的值的情況。例如，在圖11中所示的像素組FDOO的所有構成像素都可能是缺陷像素。以下，將描述當像素組FDOl和FDll之一有缺陷時的處理的示例。首先，共用像素統計值計算單元411計算在相鄰區域211中的每個共用像素組的W 像素的像素值平均值。在該示例中，相鄰區域211是以關注像素為中心的7X7像素區域。例如，mffOl是共用像素組(FDOl)中包括的W像素的平均值，所述共用像素組 (FDOl)包括在圖11中所示的由7X7像素形成的像素區域中的被虛線圍繞的中心像素。共用像素組是如上所述的共用讀取電路的一組像素。類似地，mffOO是在像素共用組(FDOO)中包括的W像素的平均值；mffOl是在像素共用組(FDOl)中包括的W像素的平均值mff02是在像素共用組(FD02)中包括的W像素的平均值mfflO是在像素共用組(FDlO)中包括的W像素的平均值mffll是在像素共用組(FDll)中包括的W像素的平均值；以及mffl2是在像素共用組(FD12)中包括的W像素的平均值。由相應的共用像素組的6個平均值(mWOO至mW12)形成的平均值組是平均值組I。也就是說，平均值組I由以下總共2X3個像素共用組的平均值形成包括關注像素(在圖11中所示的7X7像素區域中以虛線圍繞的中心像素)的像素共用組(FDOl)以及在像素共用組(FDOl)的左(FDOO)、左下(FDlO)、下(FDll)、右下(FD12)和右(FD02)方向的相鄰共用像素組。與在圖11中所示的6個共用像素組FDOO至FD12對應地計算平均值組I。替代地，可以通過使用由以下總共2X3個像素共用組的平均值來形成使用平均值組2的配置 包括關注像素的像素共用組(FDOl)以及左(FDOO)、左上(未示出，在FDOO之上)、上(未示出，在FDOl之上)、右上(未示出，在FD02之上)和右(FD02)的相鄰共用像素組。根據關注像素的相位和共用像素的圖案來確定是否使用平均值組I或平均值組 2。也就是說，由mWOO表示共用FDOO的W像素的平均值，并且，以相同的方式來表示共用另一個FD的W像素的平均值。將描述水平方向缺陷檢測單元421的處理。首先，水平方向缺陷檢測單元421 基于由前一個階段的共用像素統計值計算單元411計算的2X3個平均值(mWOO至 mffl2)來計算下面的共用像素組的水平方向差值(梯度gH00至gHll)。也就是說，計算 gH00 = abs (mffOO-mffOl) > gHOl = abs (mff01-mff02) > gHIO = abs (mfflO-mffll)和 gHll = abs(mffll-mffl2)。差值(梯度)對應于一階差分值。水平方向缺陷檢測單元421基于相應的共用像素組的水平方向差值(梯度gH00 至gHll)來計算下面的差平均值
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上水平方向差值(梯度gH00和gHOl)的平均值gHO = (gH00+gH01)/2下水平方向差值(梯度gH10和gHll)的平均值gHl = (gH10+gHll)/2水平方向缺陷檢測單元421比較以下部分差平均值(gHO = (gH00+gH01)/2)，它是上水平方向差值(梯度)的平均值，和差平均值(gHl = (gH10+gHll)/2)，它是下水平方向差值(梯度)的平均值。水平方向缺陷檢測單元421根據比較結果來計算水平方向缺陷檢測平均值 (safe_mff)如下。(a)如果 gHO < gHl，safe_mff = (mW00+mW01+mW02)/3,并且(b)如果 gHO > gHl，safe_mff = (mfflO+mffll+mW12)/30根據上面的(a)和(b)中的任何一個，獲取水平方向缺陷檢測平均值safe_mW。該處理是下述處理從上和下像素區域中選擇在像素值上有較小改變的平坦區域，并計算平均值作為水平方向缺陷檢測平均值(safe_mW)。然后，當包括缺陷確定目標的共用像素組(FD01)在內的上共用像素組的上水平方向差值(梯度)的差平均值(gHO)等于或大于預定閾值、并且滿足下面的條件公式時，水平方向缺陷檢測單元421確定共用像素組FDOl具有缺陷abs(mff01-safe_mff) > abs(mff00-safe_mff)該確定處理是下述處理當包括缺陷確定目標的共用像素組(FD01)在內的上共用像素組的上水平方向差值(梯度)的差平均值(gHO)等于或大于預定閾值，并且缺陷確定目標的共用像素組(FD01)的像素值平均值(mWOl)和水平方向缺陷檢測平均值(safe_ mff)之間的差大于在水平方向上與共用像素組(FD01)相鄰的左共用像素組(FD00)的像素值平均值(mWOO)和水平方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差時，確定缺陷確定目標的共用像素組(FD01)具有缺陷。當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDll)在內的下共用像素組的下水平方向差值(梯度)的差平均值(gHl)等于或大于預定閾值、并且滿足下面的條件公式時，確定共用像素組(FDll)具有缺陷。abs(mffll-safe_mff) > abs(mffl0-safe_mff)該確定處理是下述處理當下水平方向差值(梯度)的差平均值(gHl)等于或大于預定閾值，并且缺陷確定目標的共用像素組(FDll)的像素值平均值(mWll)和水平方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差大于與共用像素組(FDll)相鄰的左共用像素組 (FD10)的像素值平均值(mW10)和水平方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差時，確定缺陷確定目標的共用像素組(FDll)具有缺陷。接下來，將描述垂直方向缺陷檢測單元422的處理。垂直方向缺陷檢測單元422基于由前一個階段的共用像素統計值計算單元411計算的2X3個平均值(mWOO至mW12)來計算下面的共用像素組的垂直方向差值(梯度gV0 和gVl)。也就是說，垂直方向缺陷檢測單元422計算左列的共用像素組(FD00和FD10)的垂直方向差值(梯度)gVO，gVO = abs (mffOO-mfflO)；以及右列的共用像素組(FD01和FDlI) 的垂直方向差值(梯度)gVl, gVl = abs (mffOl-mffll)。此外，垂直方向缺陷檢測單元422比較相應的共用像素組的兩個垂直方向差值 (梯度gV0和gVl)，并且基于比較結果來計算下面的垂直方向缺陷檢測平均值(safe_mW)。(a)如果 gVO < gVl,safe_mff = (mW00+mW10)/2,并且(b)如果 gVO > gVl，safe_mff = (mWOl+mWll)/2。根據上面的(a)和(b)中的任何一個，獲取垂直方向缺陷檢測平均值safe_mW。該處理是下述處理從在彼此相鄰的兩個垂直列中的共用像素組的列的像素區域中選擇在像素值上有較小改變的平坦區域，所述兩個垂直列即包括共用像素組(FD00和 FD10)的左列以及包括共用像素組FDOl和FDll的的右列；以及，計算平均值作為垂直方向缺陷檢測平均值(safe_mW)。然后，當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDOl)在內的列的垂直方向差值(梯度)gVl等于或大于預定閾值、并且滿足下面的條件公式時，垂直方向缺陷檢測單元422確定共用像素組(FDOl)具有缺陷abs(mff01-safe_mff) > abs(mffll-safe_mff)該確定處理是下述處理當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDOl)在內的垂直方向列的垂直方向差值(梯度)(gVl)等于或大于預定閾值，并且缺陷確定目標的共用像素組(FDOl)的像素值平均值(mWOl)和垂直方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差大于在垂直方向上與共用像素組(FDOl)相鄰的下共用像素組(FDll)的像素值平均值(mWll) 和垂直方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差的時候，確定缺陷確定目標的共用像素組 (FDOl)具有缺陷。然后，當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDll)在內的列的垂直方向差值(梯度)gVl等于或大于預定閾值、并且滿足下面的條件公式時，垂直方向缺陷檢測單元422確定共用像素組(FDll)具有缺陷abs(mffll-safe_mff) > abs(mff01-safe_mff)該確定處理是下述處理當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDll)在內的垂直方向列的垂直方向差值(梯度)(gVl)等于或大于預定閾值，并且缺陷確定目標的共用像素組(FDll)的像素值平均值(mWll)和垂直方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差大于在垂直方向上與共用像素組(FDll)相鄰的上共用像素組(FDOl)的像素值平均值(mWOl) 和垂直方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差的時候，確定缺陷確定目標的共用像素組 (FDll)具有缺陷。接下來，將描述右上方向缺陷檢測單元423的處理。右上方向缺陷檢測單元423基于由前一個階段的共用像素統計值計算單元411計算的2X3個平均值(mWOO至mW12)來計算以下共用像素組的右上方向差值(梯度gA0和 gAl)。也就是說，右上方向缺陷檢測單元423計算在右上方向上相鄰的共用像素組(FD10 和FD01)的右上方向差值(梯度)gA0，gA0 = abs(mWlO-mWOl);以及，在右上方向上相鄰的共用像素組(FD11和FD02)的右上方向差值(梯度)gAl，gAl = abs (mffl l-mff02)。
右上方向缺陷檢測單元423比較相應的共用像素組的兩個右上方向差值(梯度 gAO和gAl)，并且基于比較結果來計算下面的右上方向缺陷檢測平均值(safe_mW)。(a)如果 gAO < gAl，safe_mff = (mW10+mW01)/2,并且(b)如果 gAO > gAl，safe_mff = (mWll+mW02)/2。根據上面的(a)和(b)中的任何一個，獲取右上方向缺陷檢測平均值safe_mW。該處理是下述處理從在彼此相鄰的兩個右上方向行中的共用像素組的相鄰數據中選擇在像素值上有較小改變的平坦區域，所述兩個右上方向行中的共用像素組即共用像素組(FD10和FD01)和共用像素組(FD11和FD02);以及，計算平均值作為右上方向缺陷檢測平均值(safe_mW)。然后，當包括缺陷確定目標的共用像素組(FD01)在內的共用像素組的右上方向差值(梯度)gA0等于或大于預定閾值、并且滿足下面的條件公式時，右上方向缺陷檢測單元423確定共用像素組FDOl具有缺陷abs(mff01-safe_mff) > abs(mffl0-safe_mff)該確定處理是下述處理當包括缺陷確定目標的共用像素組(FD01)在內的在右上方向上右上方向差值(梯度)(gAl)等于或大于預定閾值，并且缺陷確定目標的共用像素組(FD01)的像素值平均值(mWOl)和右上方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差大于在右上方向上與共用像素組(FD01)相鄰的左下共用像素組(FD10)的像素值平均值(mW10) 和右上方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差的時候，確定缺陷確定目標的共用像素組 (FDOl)具有缺陷。然后，當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDll)在內的在右上方向上的共用像素組的右上方向差值(梯度)gAl等于或大于預定閾值、并且滿足下面的條件公式時，右上方向缺陷檢測單元423確定共用像素組FDll具有缺陷abs(mffll-safe_mff) > abs(mff02-safe_mff)該確定處理是下述處理當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDll)在內的在右上方向上的右上方向差值(梯度)(gAl)等于或大于預定閾值，并且缺陷確定目標的共用像素組(FDll)的像素值平均值(mWll)和右上方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差大于在右上方向上與共用像素組(FDll)相鄰的左下共用像素組(FD02)的像素值平均值(mW02) 和右上方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差的時候，確定缺陷確定目標的共用像素組 (FDll)具有缺陷。接下來，將描述右下方向缺陷檢測單元424的處理。右下方向缺陷檢測單元424基于由前一個階段的共用像素統計值計算單元411 計算的2X3個平均值(mWOO至mW12)來計算下面的共用像素組的右下方向差值(梯度 gDO和gDl)。也就是說，右下方向缺陷檢測單元424計算在右下方向上相鄰的共用像素組 (FD00和FD11)的右下方向差值(梯度)gD0，gDO = abs(mWOO-mWll);以及，在右下方向上相鄰的共用像素組(FDOI和FD12)的右下方向差值(梯度)gDl，gDl = abs (mff01-mffl2)。右下方向缺陷檢測單元424比較相應的共用像素組的兩個右下方向差值(梯度 gDO和gDl)，并且基于比較結果來計算下面的右下方向缺陷檢測平均值(safe_mW)。
(a)如果 gDO < gDl，safe_mff = (mWOO+mWll)/2,并且(b)如果 gDO > gDl,safe_mff = (mW01+mW12)/2。根據上面的(a)和(b)中的任何一個，獲取右下方向缺陷檢測平均值safe_mW。該處理是下述處理從在彼此相鄰的兩個右下方向行中的共用像素組的相鄰數據中選擇在像素值上有較小改變的平坦區域，所述兩個右下方向行中的共用像素組即共用像素組(FD00和FD11)和共用像素組(FD01和FD12);并且，計算平均值作為右下方向缺陷檢測平均值(safe_mW)。然后，當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDOl)在內的在右下方向上的共用像素組的右下方向差值(梯度)gDl等于或大于預定閾值、并且滿足下面的條件公式時，右下方向缺陷檢測單元424確定共用像素組FDOl具有缺陷abs(mff01-safe_mff) > abs(mffl2-safe_mff)該確定處理是下述處理當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDOl)在內的在右下方向上的共用像素組的右下方向差值(梯度)(gDl)等于或大于預定閾值，并且缺陷確定目標的共用像素組(FDOl)的像素值平均值(mWOl)和右下方向缺陷檢測平均值(safe_mW) 之間的差大于在右下方向上與共用像素組(FDOl)相鄰的右下共用像素組(FD12)的像素值平均值(mW12)和右下方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差的時候,確定缺陷確定目標的共用像素組(FD01)具有缺陷。然后，當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDll)在內的共用像素組的右下方向差值(梯度)gD0等于或大于預定閾值、并且滿足下面的條件公式時，右下方向缺陷檢測單元424確定共用像素組FDll具有缺陷abs(mffll-safe_mff) > abs(mffOO-safe_mff)該確定處理是下述處理當包括缺陷確定目標的共用像素組(FDll)在內的在右下方向上的共用像素組的右下方向差值(梯度)(gDO)等于或大于預定閾值，并且缺陷確定目標的共用像素組(FDll)的像素值平均值(mWll)和右下方向缺陷檢測平均值(safe_mW) 之間的差大于在右下方向上與共用像素組(FDll)相鄰的左上共用像素組(FD00)的像素值平均值(mWOO)和右下方向缺陷檢測平均值(safe_mW)之間的差的時候,確定缺陷確定目標的共用像素組(FDll)具有缺陷。接下來，將說明缺陷像素位置選擇單元431的處理。缺陷像素位置選擇單元431從由如上所述的相應方向的缺陷檢測單元421至424 檢測到的像素位置中選擇由如上所述的紋理方向確定單元202確定的紋理方向(dir)的檢測結果。也就是說，當紋理方向確定單元202確定的紋理方向(dir)是水平方向(H)時，選擇水平方向缺陷檢測單元421的檢測結果。具體而言，當水平方向缺陷檢測單元421確定共用像素組FDxy (例如，FD01)具有缺陷像素時,選擇共用像素組FDxy作為具有校正目標的缺陷像素的共用像素組。當由紋理方向確定單元202確定的紋理方向(dir)是垂直方向(V)時，選擇垂直方向缺陷檢測單元422的檢測結果。具體而言，當垂直方向缺陷檢測單元422確定共用像素組FDxy (例如，FD01)具有缺陷像素時,選擇共用像素組FDxy作為具有校正目標的缺陷像素的共用像素組。當紋理方向確定單元202確定的紋理方向(dir)是右上方向(A)時，選擇右上方向缺陷檢測單元423的檢測結果。具體而言，當右上方向缺陷檢測單元423確定共用像素組FDxy (例如，FDOI)具有缺陷像素時，選擇共用像素組FDxy作為具有校正目標的缺陷像素的共用像素組。當紋理方向確定單元202確定的紋理方向(dir)是右下方向(D)時，選擇右下方向缺陷檢測單元424的檢測結果。具體而言，當右下方向缺陷檢測單元424確定共用像素組FDxy (例如，FDOI)具有缺陷像素時，選擇共用像素組FDxy作為具有校正目標的缺陷像素的共用像素組。由缺陷像素位置選擇單元431執行的校正目標缺陷像素的選擇處理是下述處理 從由確定檢測單元421至424估計為具有缺陷的像素的像素中，確定僅在與由紋理方向確定單元202確定的紋理方向(dir)對應的方向上的位置處的像素具有作為實際上缺陷像素的高概率，并且選擇該像素作為校正目標。將描述選擇處理。在缺陷檢測單元421至424中，將在對應方向上在像素值上有大改變的共用像素組設置為可能具有缺陷像素的共用像素組，并確定所述像素組作為包括缺陷像素的組。然而，由缺陷檢測單元421至424確定的缺陷像素可能不是要校正的缺陷像素，并且可能輸出真值。缺陷像素位置選擇單元431從包括被缺陷檢測單元421至423確定為缺陷像素的共用像素組中選擇包括要校正的缺陷像素的共用像素組。對于選擇處理，應用紋理方向信息(dir)ο紋理方向最初是在像素值上具有小改變的方向。在缺陷檢測單元421至424中，將在對應方向上在像素值上具有大改變的共用像素組估計為可能具有缺陷像素的組，并且將這些確定為缺陷像素。缺陷像素位置選擇單元431從缺陷檢測單元421至424的輸出中僅選擇與紋理方向對應的共用像素組作為具有要校正的實際缺陷像素的共用像素組。其他組被確定為高度可能輸出實際像素值，并且從校正目標排除所述其他組。在參考圖10所述的缺陷像素檢測單元203的配置中，在包括水平方向缺陷檢測單元421、垂直方向缺陷檢測單元422、右上方向缺陷檢測單元423和右下方向缺陷檢測單元 424的檢測單元中確定被估計為具有缺陷像素的像素組，然后，在缺陷像素位置選擇單元 431中使用紋理方向信息將缺陷檢測單元421至424的輸出之一選擇并設置為校正目標。或者，例如，根據紋理方向信息，可以從缺陷檢測單元421至424中選擇性地操作在與紋理方向相同方向上執行缺陷檢測的缺陷檢測單元。例如，如圖12中所示，在缺陷像素位置選擇單元431中使用根據紋理方向信息控制的開關432來確定是否操作缺陷檢測單元421至424中的任何一個，以便操作缺陷檢測單元421至424中的任何一個。在該實施例中，雖然描述了使用在檢測方向上的一階微分值(梯度)的示例，但是例如，除了一階微分值(梯度)之外，還可以使用二階微分值(拉普拉斯算子)。
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7.缺陷像素校正單元的處理將描述在圖4中所示的缺陷像素校正單元204的處理。缺陷像素校正單元204對如上所述由缺陷像素檢測單元203檢測到的缺陷像素執行校正。校正單元204相對于所檢測到的缺陷像素，基于由紋理方向確定單元202確定的紋理方向，使用相鄰像素來確定校正像素值。作為確定校正像素值的方法，可以應用不同方法，例如，可以應用參考相鄰像素的像素值的校正處理。例如，在紋理方向上執行校正處理，諸如用于將缺陷像素的像素值替換為最接近缺陷像素位置的像素的像素值的方法。另外，可以在紋理方向上應用從由共用像素統計值計算單元411計算的2X3個平均值中進行選擇的處理。已經參考具體實施例詳細說明了本公開。然而顯然本領域內的技術人員可以在不偏離本公開的主要構思的范圍內校正和修改實施例。也就是說，本公開的實施例被公開作為示例，因此不應當被解釋為限制。為了確定本公開的主要構思，優選的是參考權利要求。可以通過硬件、軟件或者兩者的組合來執行在此所述的系列處理。當通過軟件來執行處理時，可以在安裝于專用硬件中的計算機的存儲器中安裝和執行用于記錄處理序列的程序，或者，可以在能夠執行各種處理的通用計算機中安裝和執行所述程序。例如，所述程序可以被預先記錄在記錄介質中。除了從記錄介質向計算機的安裝之外，也可以經由諸如局域網(LAN)和因特網的網絡接收所述程序，并且所述程序可以安裝在諸如內置硬盤的記錄介質中。在說明書中描述的各種處理可以不僅以根據說明書的時間順序被執行，而且可以根據執行處理的裝置的性能或根據需要被并行或獨立地執行。在說明書中的系統是多個裝置的邏輯組配置，并且構成裝置不限于被設置在同一外殼中。本公開包含與在2011年I月14日在日本專利局提交的日本優先權專利申請JP 2011-006464中公開的主題相關的主題，所述日本優先權專利申請的整體內容通過引用被包含在此。本領域內的技術人員應當明白，可以根據設計要求和其他因素進行各種修改、組合、子組合和改變，只要所述修改、組合、子組合和改變在所附的權利要求或者其等同內容的范圍內。
權利要求
1.一種圖像處理裝置，包括紋理方向確定單元，其確定圖像的紋理方向；缺陷像素檢測單元，其計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及校正單元，其校正作為校正目標的、在基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。
2.根據權利要求I所述的圖像處理裝置，其中，所述缺陷像素檢測單元計算包括共用像素值讀取電路的所述多個像素的每一個像素組的所述像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測所述缺陷像素位置。
3.根據權利要求I所述的圖像處理裝置，其中，所述缺陷像素檢測單元根據與參考值(safe_mW)的差值確定像素是否是缺陷像素，所述參考值是在平坦區域中的多個像素組的平均值，在所述平坦區域中，在像素組的在相同布置方向上的多個相鄰布置中，所述多個像素組的平均值的差較小。
4.根據權利要求I所述的圖像處理裝置，其中，所述紋理方向確定單元執行用于將水平、垂直、右上和右下這四個方向之一確定為所述紋理方向的處理，并且，其中，所述缺陷像素檢測單元在水平、垂直、右上和右下這四個方向中，基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測所述缺陷像素位置。
5.根據權利要求I所述的圖像處理裝置，其中，所述紋理確定單元基于在以所關注的像素為中心的相鄰區域中包括的布置在預定方向上的像素的像素值來計算多個微分值，將所述多個微分值排序，僅選擇具有小值的數據， 計算統計值，并基于所述統計值的比較來確定所述紋理方向。
6.根據權利要求I所述的圖像處理裝置，其中，所述校正單元執行以在所述紋理方向上的相鄰像素為參考像素、基于所述參考像素的像素值來確定在所述缺陷像素位置處的像素值的處理。
7.根據權利要求I所述的圖像處理裝置，其中，作為處理目標，所述缺陷像素檢測單元計算在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測所述缺陷像素位置。
8.一種在圖像處理裝置中執行的圖像處理方法，所述方法包括使得紋理方向確定單元確定圖像的紋理方向；使得缺陷像素檢測單元計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及使得校正單元校正作為校正目標的、基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。
9.一種程序，用于使得圖像處理裝置執行圖像處理，所述圖像處理包括使得紋理方向確定單元確定圖像的紋理方向；使得缺陷像素檢測單元計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及使得校正單元校正作為校正目標的、基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。
全文摘要
本申請公開了一種圖像處理裝置、圖像處理方法和程序。所述圖像處理裝置包括紋理方向確定單元，其確定圖像的紋理方向；缺陷像素檢測單元，其計算包括多個像素的每一個像素組的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的與所述像素組的布置方向對應的差信息來檢測缺陷像素位置；以及，校正單元，其校正作為校正目標的、在基于在與由所述紋理方向確定單元確定的所述紋理方向相同的像素組布置方向上的所述差信息檢測到的所述缺陷像素位置處的像素值。
文檔編號H04N5/367GK102595061SQ20121000350
公開日2012年7月18日 申請日期2012年1月6日 優先權日2011年1月14日
發明者安間文仁 申請人:索尼公司