成盒測試電路以及液晶顯示基板的制作方法
【專利摘要】本發明揭露一種成盒測試電路以及液晶顯示基板，在現有成盒測試電路的基礎上，增加奇數數據測試焊盤和偶數數據測試焊盤與集成電路的連線；在成盒測試電路工作狀態，使能信號測試焊盤通過成盒測試使能信號線輸出恒壓高電平信號，奇數、偶數數據測試焊盤分別通過奇數、偶數數據測試信號線輸出數據信號；在集成電路工作狀態，使能信號測試焊盤接收柔性印刷電路提供的恒壓低電平信號，奇數、偶數數據測試焊盤分別接收集成電路提供的測試信號。本發明降低了奇數、偶數數據測試信號線為浮置狀態所引起的成盒測試電路測試晶體管漏電流，改善面板的顯示不均及因測試晶體管漏電引起的串擾及閃爍問題，并且能改善面板的顯示效果，提高產品的競爭力。
【專利說明】
成盒測試電路以及液晶顯示基板
技術領域
[0001]本發明涉及液晶顯示技術領域，尤其是涉及一種改善因成盒測試電路引起的面板顯示不均、串擾及閃爍問題的成盒測試電路以及液晶顯示基板。
【背景技術】
[0002]液晶面板向輕薄化和低功耗等方向發展是目前市場中的顯示裝置的發展趨勢，隨著高PPKPixels Per Inch，像素密度)及低功耗等方面的需求，相應的產品良率會有影響。為提升成盒(Cell)后良率，一般會在面板上設計成盒測試(Cell Test)電路。
[0003]參考圖1，液晶顯示面板組成示意圖。液晶顯示面板的組成包括:陣列測試(ArrayTest)區11、像素顯示區12、G0A(Gate On Array，集成在陣列基板上的行掃描)區13、扇出(Fanout)區 14、成盒測試(CelI Test)區 15、W0A(Wire On Array，陣列外布線)區 16、IC(Integrated Circuit，集成電路)區 17以及FPC(Flexible Printed Circuit，柔性印刷電路)區18。其中，陣列測試區11用于在陣列(Array)基板完成之后，對陣列基板的電性進行測試;像素顯示區12用于像素的顯示;GOA區13用于產生面內薄膜晶體管(TFT)的柵極驅動信號；扇出區14用于IC區17與像素顯示區12數據線(Dataline)的走線連接;成盒測試區15用于面板成盒之后對面板顯示效果進行測試，過程管理是在IC綁定(Bonding)之前;WOA區16用于面板周圍走線的連接；IC區17用于IC的綁定，通過IC驅動面內電路和TFT;FPC區18用于FPC的綁定，通過FPC連接電子設備主板。
[0004]參考圖2，現有小尺寸面板的成盒測試電路連接示意圖。在成盒測試電路工作狀態，IC無信號，此時成盒測試區15內的使能信號測試焊盤CTl外灌恒壓高電平信號VGH，奇數數據測試焊盤CT2與偶數數據測試焊盤CT3外灌數據信號DATA，成盒測試電路的測試晶體管TFT處在打開工作狀態;在成盒測試電路工作之后，奇數數據測試信號線(CTDO)與偶數數據測試信號線(CTDE)為浮置(Floating)狀態。在IC工作狀態，使能信號測試焊盤CTl連接FPC接收恒壓低電平信號VGL，測試晶體管(TFT)為關閉狀態，并且像素顯示區12內奇數行與偶數行數據線分別通過測試晶體管連接在一起；由于測試晶體管的漏電不可能完全為0，奇數(偶數)行數據信號會通過的測試晶體管耦合，在測試晶體管漏電比較大時，或測試晶體管的柵極電壓有浮動時，會導致面板顯示異常，串擾(H-Crosstalk)和閃爍顯著增加。
[0005]因此，需要對現有的成盒測試電路進行改善，以解決現有的成盒測試電路的測試晶體管在關閉下存在漏電流導致面板顯示異常，串擾和閃爍顯著增加的問題。
【發明內容】
[0006]本發明的目的在于，提供一種成盒測試電路以及液晶顯示基板，以對現有的成盒測試電路進行改善，解決現有的成盒測試電路的測試晶體管在關閉下存在漏電流導致面板顯示異常，串擾和閃爍顯著增加的問題。
[0007]為實現上述目的，本發明提供了一種成盒測試電路，用于液晶顯示面板測試，所述液晶顯示面板包括集成電路、柔性印刷電路、以及多條按列方向延伸并間隔設置的奇數數據線與偶數數據線，所述成盒測試電路包括:一使能信號測試焊盤，所述使能信號測試焊盤分別電性連接成盒測試使能信號線以及所述柔性印刷電路;一奇數數據測試焊盤，所述奇數數據測試焊盤分別電性連接奇數數據測試信號線以及所述集成電路;一偶數數據測試焊盤，所述偶數數據測試焊盤分別電性連接偶數數據測試信號線以及所述集成電路;至少一奇數數據測試晶體管，所述奇數數據測試晶體管的第一端口電性連接所述成盒測試使能信號線，第二端口電性連接所述奇數數據測試信號線，第三端口電性連接所述奇數數據線；以及至少一偶數數據測試晶體管，所述偶數數據測試晶體管的第一端口電性連接所述成盒測試使能信號線，第二端口電性連接所述偶數數據測試信號線，第三端口電性連接所述偶數數據線。
[0008]為實現上述目的，本發明還提供了一種液晶顯示基板，包括至少一個液晶顯示面板，所述液晶顯示面板上設有本發明所述的成盒測試電路。
[0009]本發明的優點在于，本發明提供成盒測試電路，在現有成盒測試電路的基礎上，增加奇數數據測試焊盤和偶數數據測試焊盤與集成電路的連線。在集成電路工作時，通過集成電路給奇數數據測試信號線和偶數數據測試信號線提供信號，降低奇數數據測試信號線與偶數數據測試信號線為浮置狀態所引起的成盒測試電路測試晶體管漏電流，改善面板的顯示不均及因測試晶體管漏電引起的串擾及閃爍問題，并且能改善面板的顯示效果，提高產品的競爭力。
【附圖說明】
[00?0]圖1，液晶顯示面板組成示意圖；
[0011]圖2，現有小尺寸面板的成盒測試電路連接示意圖；
[0012]圖3，本發明所述的成盒測試電路第一實施例所示的電路連接示意圖；
[0013]圖4為圖3所示電路的工作示意圖；
[0014]圖5，本發明所述的成盒測試電路中的測試晶體管的工作原理示意圖；
[0015]圖6，本發明所述的成盒測試電路第二實施例所示的電路連接示意圖；
[0016]圖7為圖6所示電路的工作示意圖。
【具體實施方式】
[0017]下面結合附圖對本發明提供的成盒測試電路以及液晶顯示基板作詳細說明。
[0018]參考圖3，本發明所述的成盒測試電路第一實施例所示的電路連接示意圖。本發明所述的成盒測試電路用于液晶顯示面板測試，所述的液晶顯示面板包括集成電路1C、柔性印刷電路FPC、以及多條按列方向延伸并間隔設置的奇數數據線ODL與偶數數據線EDL。其中，成盒測試電路設置在液晶顯示面板的成盒測試區35，集成電路IC設置在液晶顯示面板的集成電路區37，柔性印刷電路FPC設置在液晶顯示面板的柔性印刷電路區38，多條奇數數據線ODL與多條偶數數據線EDL按列方向延伸并間隔設置在液晶顯示面板的像素顯示區32。其中，成盒測試區35有兩個，兩個成盒測試區35對稱設置在液晶顯示面板上集成電路區37的兩側，每個成盒測試區3 5設置有一本發明所述的成盒測試電路。
[0019]所述成盒測試電路包括:一使能信號測試焊盤CT1、一奇數數據測試焊盤CT2、一偶數數據測試焊盤CT3、至少一奇數數據測試晶體管ODT以及至少一偶數數據測試晶體管EDT。使能信號測試焊盤CTl分別電性連接成盒測試使能信號線CTEN以及柔性印刷電路FPC。所述奇數數據測試焊盤CT2分別電性連接奇數數據測試信號線CTDO以及集成電路IC;偶數數據測試焊盤CT3分別電性連接偶數數據測試信號線CTDE以及集成電路IC;奇數數據測試晶體管0DT的第一端口電性連接成盒測試使能信號線CTEN，第二端口電性連接奇數數據測試信號線CTDO，第三端口電性連接奇數數據線ODL;偶數數據測試晶體管EDT的第一端口電性連接成盒測試使能信號線CTEN，第二端口電性連接偶數數據測試信號線CTDE，第三端口電性連接偶數數據線H)L。
[0020]在成盒測試電路工作狀態，使能信號測試焊盤CTl通過成盒測試使能信號線CTEN輸出恒壓高電平信號VGH，奇數數據測試焊盤CT2與偶數數據測試焊盤CT3分別通過奇數數據測試信號線CTDO與偶數數據測試信號線CTDE輸出數據信號。在集成電路工作狀態，使能信號測試焊盤CTl接收柔性印刷電路FPC提供的恒壓低電平信號VGL，奇數數據測試焊盤CT2與偶數數據測試焊盤CT3分別接收集成電路IC提供的測試信號。也即，本發明在現有成盒測試電路的基礎上，增加奇數數據測試焊盤CT2和偶數數據測試焊盤CT3與集成電路IC的連線，通過集成電路IC對CT2、CT3外灌信號，從而降低在成盒測試電路工作之后，奇數數據測試信號線CTDO與偶數數據測試信號線CTDE為浮置(Floating)狀態所引起的測試晶體管(0DT、EDT)漏電引起的面板顯示異常。
[0021]特別的，在集成電路工作狀態，奇數數據測試焊盤與偶數數據測試焊盤CT2、CT3分別接收集成電路IC提供的不同極性的測試信號。具體的，在集成電路工作的時候，使能信號測試焊盤CTl接收柔性印刷電路FPC提供的恒壓低電平信號VGL，奇數數據測試焊盤CT2與偶數數據測試焊盤CT3分別由集成電路IC提供不同極性的測試信號;CT2、CT3接收到的信號的極性根據數據線的極性改變而改變，使得測試晶體管(ODT、EDT)第二端口與第三端口信號極性相同。
[0022]參考圖4，其為圖3所示電路的工作示意圖。在集成電路工作狀態，奇數數據測試焊盤CT2接收的測試信號(CT_ICD0)的極性隨著奇數數據線ODL的極性改變而改變，使奇數數據測試晶體管ODT的第二端口與第三端口信號極性相同；即奇數數據線ODL上的DATA信號與奇數數據測試信號線CTDO上CT_ICD0信號極性相同，在本實施例中兩信號極性均為正(+ )。偶數數據測試焊盤CT3接收的測試信號(CT_ICDE)的極性隨著偶數數據線EDL的極性改變而改變，使偶數數據測試晶體管EDT的第二端口與第三端口信號極性相同；即偶數數據線EDL上的DATA信號與偶數數據測試信號線CTDE上CT_ICDE信號極性相同，在本實施例中兩信號極性均為負(_)。
[0023]圖5，本發明所述的成盒測試電路中的測試晶體管的工作原理示意圖。測試晶體管(0DT、EDT)的第一端口輸入使能信號CTEN，第二端口輸入測試信號CT_IC(CT_ICD0或CT_I⑶E)，第三端口輸入數據信號DATA，CT_IC與DATA信號極性相同。具體為:當DATA極性為正(+)時，CT_IC極性為正(+);當DATA極性負(-)時，CT_IC極性為負(_)。集成電路IC提供給信號線CTDE與CTDO的測試信號極性根據測試晶體管連接的數據線DATA信號極性而變。測試晶體管的第二端口與第三端口(源極端Source和漏極端Drain)都為同極性的電位，降低奇數數據測試信號線CTDO與偶數數據測試信號線CTDE為浮置(Floating)狀態時測試晶體管的源漏壓差Vds值，從而降低測試晶體管的漏電，改善面板的顯示異常的問題。
[0024]特別的，奇數數據測試晶體管ODT與偶數數據測試晶體管EDT均為薄膜晶體管，奇數數據測試晶體管ODT與偶數數據測試晶體管EDT的第一端口為薄膜晶體管的柵極。
[0025]特別的，在本實施例中，從使能信號測試焊盤CTl底部引出引線電性連接柔性印刷電路FPC，以減少扇出區(Fanout)走線，降低芯片(Chip )的OLB區域。OLB ( OuterLeadBonding，外部引線連接)區域是指液晶顯示面板用來綁定(Bonding) IC和FPC的區域。
[0026]參考圖6-7，其中，圖6為本發明所述的成盒測試電路第二實施例所示的電路連接示意圖；圖7為圖6所示電路的工作示意圖。與圖3所示第一實施例的不同之處在于，在本實施例中，從奇數數據測試焊盤CT2底部引出引線電性連接集成電路IC;從偶數數據測試焊盤CT3底部引出引線電性連接集成電路1C，以進一步減少扇出區(Fanout)走線，降低芯片的OLB區域。
[0027]本發明提供成盒測試電路，在現有成盒測試電路的基礎上，增加奇數數據測試焊盤和偶數數據測試焊盤與集成電路的連線。在集成電路工作時，通過集成電路給奇數數據測試信號線和偶數數據測試信號線提供信號，降低奇數數據測試信號線與偶數數據測試信號線為浮置狀態所引起的成盒測試電路測試晶體管漏電流，降低因正負幀切換引起的漏電流大小不一，改善面板的顯示不均及因測試晶體管漏電引起的串擾及閃爍問題，并且能改善面板的顯示效果，提高產品的競爭力。
[0028]本發明還提供了一種液晶顯示基板，所述的液晶顯示基板包括至少一個液晶顯示面板，所述液晶顯示面板上設有本發明所述的成盒測試電路。采用本發明所述的成盒測試電路的液晶顯示面板，改善了成盒測試電路測試晶體管電性;在集成電路工作時，通過集成電路給奇數數據測試信號線和偶數數據測試信號線提供信號，降低在成盒測試電路測試晶體管關閉下，奇數數據測試信號線與偶數數據測試信號線為浮置狀態所引起的測試晶體管漏電流大小，改善面板的顯示不均及因測試晶體管漏電引起的串擾及閃爍問題，并且能改善面板的顯示效果，提高產品的競爭力。
[0029]以上所述僅是本發明的優選實施方式，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員，在不脫離本發明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發明的保護范圍。
【主權項】
1.一種成盒測試電路，用于液晶顯示面板測試，所述液晶顯示面板包括集成電路、柔性印刷電路、以及多條按列方向延伸并間隔設置的奇數數據線與偶數數據線，其特征在于，所述成盒測試電路包括: 一使能信號測試焊盤，所述使能信號測試焊盤分別電性連接成盒測試使能信號線以及所述柔性印刷電路； 一奇數數據測試焊盤，所述奇數數據測試焊盤分別電性連接奇數數據測試信號線以及所述集成電路； 一偶數數據測試焊盤，所述偶數數據測試焊盤分別電性連接偶數數據測試信號線以及所述集成電路； 至少一奇數數據測試晶體管，所述奇數數據測試晶體管的第一端口電性連接所述成盒測試使能信號線，第二端口電性連接所述奇數數據測試信號線，第三端口電性連接所述奇數數據線；以及 至少一偶數數據測試晶體管，所述偶數數據測試晶體管的第一端口電性連接所述成盒測試使能信號線，第二端口電性連接所述偶數數據測試信號線，第三端口電性連接所述偶數數據線。2.如權利要求1所述的成盒測試電路，其特征在于，在成盒測試電路工作狀態，所述使能信號測試焊盤通過所述成盒測試使能信號線輸出恒壓高電平信號，所述奇數數據測試焊盤與偶數數據測試焊盤分別通過所述奇數數據測試信號線與偶數數據測試信號線輸出數據信號； 在集成電路工作狀態，所述使能信號測試焊盤接收柔性印刷電路提供的恒壓低電平信號，所述奇數數據測試焊盤與偶數數據測試焊盤分別接收集成電路提供的測試信號。3.如權利要求2所述的成盒測試電路，其特征在于，在集成電路工作狀態，所述奇數數據測試焊盤與偶數數據測試焊盤分別接收集成電路提供的不同極性的測試信號。4.如權利要求2所述的成盒測試電路，其特征在于，在集成電路工作狀態，所述奇數數據測試焊盤接收的測試信號的極性隨著所述奇數數據線的極性改變而改變，使所述奇數數據測試晶體管的第二端口與第三端口信號極性相同；所述偶數數據測試焊盤接收的測試信號的極性隨著所述偶數數據線的極性改變而改變，使所述偶數數據測試晶體管的第二端口與第三端口信號極性相同。5.如權利要求1所述的成盒測試電路，其特征在于，所述奇數數據測試晶體管與所述偶數數據測試晶體管均為薄膜晶體管，所述奇數數據測試晶體管與所述偶數數據測試晶體管的第一端口為所述薄膜晶體管的柵極。6.如權利要求1所述的成盒測試電路，其特征在于， 從所述使能信號測試焊盤底部引出引線電性連接所述柔性印刷電路。7.如權利要求1或6所述的成盒測試電路，其特征在于， 從所述奇數數據測試焊盤底部引出引線電性連接所述集成電路； 從所述偶數數據測試焊盤底部引出引線電性連接所述集成電路。8.—種液晶顯示基板，其特征在于，包括至少一個液晶顯示面板，所述液晶顯示面板上設有如權利要求1-5任一項所述的成盒測試電路。9.如權利要求8所述的液晶顯示基板，其特征在于，在成盒測試電路工作狀態，所述使能信號測試焊盤通過所述成盒測試使能信號線輸出恒壓高電平信號，所述奇數數據測試焊盤與偶數數據測試焊盤分別通過所述奇數數據測試信號線與偶數數據測試信號線輸出數據信號； 在集成電路工作狀態，所述使能信號測試焊盤接收柔性印刷電路提供的恒壓低電平信號，所述奇數數據測試焊盤與偶數數據測試焊盤分別接收集成電路提供的測試信號。10.如權利要求9所述的液晶顯示基板，其特征在于，在集成電路工作狀態，所述奇數數據測試焊盤與偶數數據測試焊盤分別接收集成電路提供的不同極性的測試信號。11.如權利要求9所述的液晶顯示基板，其特征在于，在集成電路工作狀態，所述奇數數據測試焊盤接收的測試信號的極性隨著所述奇數數據線的極性改變而改變，使所述奇數數據測試晶體管的第二端口與第三端口信號極性相同；所述偶數數據測試焊盤接收的測試信號的極性隨著所述偶數數據線的極性改變而改變，使所述偶數數據測試晶體管的第二端口與第三端口信號極性相同。12.如權利要求8所述的液晶顯示基板，其特征在于，所述奇數數據測試晶體管與所述偶數數據測試晶體管均為薄膜晶體管，所述奇數數據測試晶體管與所述偶數數據測試晶體管的第一端口為所述薄膜晶體管的柵極。13.如權利要求8所述的液晶顯示基板，其特征在于， 從所述使能信號測試焊盤底部引出引線電性連接所述柔性印刷電路。14.如權利要求8或13所述的液晶顯示基板，其特征在于， 從所述奇數數據測試焊盤底部引出引線電性連接所述集成電路； 從所述偶數數據測試焊盤底部引出引線電性連接所述集成電路。
【文檔編號】G09G3/00GK106057112SQ201610649163
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2016年8月9日 公開號201610649163.1, CN 106057112 A, CN 106057112A, CN 201610649163, CN-A-106057112, CN106057112 A, CN106057112A, CN201610649163, CN201610649163.1
【發明人】馬亮, 趙莽
【申請人】武漢華星光電技術有限公司