1.一種光纖的衰減熔接方法，其特征在于，使用光纖熔接機進行光纖衰減熔接，包括：
步驟1：通過熔接機的兩路專用顯微鏡把光纖成像在CMOS傳感器上，兩路CMOS傳感器上的光纖圖像分別存儲在兩片FIFO存儲器中；
步驟2：兩路光纖圖像經過現場可編程門陣列處理和拼接后通過CPU送往液晶顯示器進行顯示，CPU對圖像信號進行分析處理，產生提示信息和控制信號，提示信息與實時光纖圖像同時在液晶顯示器上顯示；
步驟3：控制信號通過驅動電路驅動兩個軸向推進馬達和兩個徑向對準馬達來調整光纖，使兩根光纖靠近完成端面間隙設置和對準設置；
步驟4：光纖熔接機中的CPU讀取用戶通過菜單設置的目標衰減值x，CPU控制模塊調用目標衰減值x與光纖徑向偏軸量y對應函數y＝f(x)，在CPU中計算得到目標衰減值為x時光纖熔接機所需的光纖徑向偏軸量y；
步驟5：根據當前的光纖徑向偏軸量y，CPU通過驅動光纖熔接機的兩個徑向對準馬達來調整左右兩根光纖徑向偏軸量，使光纖徑向偏軸量為y；
步驟6：進行放電熔接兩根光纖。
2.根據權利要求1所述的一種光纖的衰減熔接方法，其特征在于，所述函數y＝f(x)的獲取方法為：
步驟1：根據需要的衰減范圍和精度的要求，確定目標衰減值測試點的個數；
步驟2：在各個目標衰減值測試點，控制熔接機的徑向對準馬達使兩根光纖產生一定的徑向偏軸量，完成熔接后，查看光纖實際熔接損耗，如果實際熔接損耗小于此測試點目標衰減值則加大徑向偏軸量，否則減小徑向偏軸量；
步驟3：重復步驟2，重新進行光纖熔接，直到光纖實際熔接損耗達到此測試點目標衰減值，記錄此時的光纖徑向偏軸量，多次測試取該目標衰減值測試點的光纖徑向偏軸量的平均值作為這個測試點的光纖徑向偏軸量；
步驟4：使用多臺光纖熔接機得到不同目標衰減值測試點下的光纖徑向偏軸量，利用Matlab軟件對得到的光纖徑向偏軸量數據進行曲線擬合，獲得目標衰減值與光纖徑向偏軸量對應函數y＝f(x)。