專利名稱：覆膜機及覆膜方法
覆膜機及覆膜方法技術領域：
本發明有關于一種覆膜機及覆膜方法，特別有關于針對觸控面板的基板進行覆膜的覆膜機及覆膜方法。背景技術：
由于科技的進步，例如計算機、PDA、智能型手機或平板計算機等具有強大功能的智能型裝置紛紛出爐。許多智能型裝置安裝有觸控面板，以供使用者以觸控方式來操作智能型裝置。
觸控面板的產品中最主要的組件是玻璃，因此在該產品出貨之前(如以雷射切割玻璃之后或在玻璃貼合階段)，需要在玻璃表面上貼覆一層保護膜，以防止玻璃的表面因刮傷或落塵微粒等造成玻璃臟污。這層保護膜貼覆在玻璃上需要達到在覆膜后不能在貼膜與玻璃之間產生氣泡。
習知在覆膜制程中，皆是由操作人員用肉眼的方式來檢查玻璃覆膜前后的質量是否達到標準(即是否有落塵或氣泡)。然而，習知的人為檢查方式容易因為不同操作人員、 不同時間、工作時程過長等因素而造成判斷標準不一致且較不客觀，因此對于覆膜的品質及穩定性而言是一個不利的因素，進而降低玻璃覆膜的良率。
發明內容
本發明提供一種覆膜機及覆膜方法，利用覆膜機的檢測裝置以同一標準來檢測基板在覆膜前的落塵附著在基板的情況，以及檢測基板在覆膜后的氣泡產生的情況，藉此提升覆膜的質量及穩定性以進一步提高基板的覆膜良率。
本發明提供一種覆膜機，包含
—覆膜平臺，用來承載至少一基板以供覆膜；及
一光學檢測器，用來檢測覆膜前后該覆膜平臺上的該基板的品質。
進一步地，根據本發明的覆膜機，其中，該光學檢測器包含復數個光學耦合組件。
進一步地，根據本發明的覆膜機，其中，該覆膜平臺進一步包含
一旋轉機構；及
復數個承載治具，設置于該旋轉機構上，分別用來承載該基板。
進一步地，根據本發明的覆膜機，進一步包含
一載膜平臺；
一卷膜機構，裝載一貼有貼膜的膠帶，并且輸送該貼有貼膜的膠帶至該載膜平臺；
一吸膜治具，用來吸附并剝離該載膜平臺上的貼膜，并將該貼膜貼合于該承載治具上的基板；
一定位傳感器，偵測該吸膜治具所吸附的貼膜的位置；以及
一可程序邏輯控制器，控制該覆膜平臺、該卷膜機構及該吸膜治具的運作，并且進一步根據該定位傳感器的偵測結果來控制該吸膜治具進行一定位程序；以及根據該光學檢 測器的檢測結果來產生一提示訊息。
進一步地，根據本發明的覆膜機，其中，該卷膜機構包含
一出膜料盤，裝載并卷動出該貼有貼膜的膠帶；
至少一滾筒，設置于該出膜料盤下游，用來支撐及輸送該貼有貼膜的膠帶；以及
一回收料盤，卷動回收該已剝離貼膜的膠帶。
進一步地，根據本發明的覆膜機，進一步包含
一卷膜機構，用來輸送及承載一貼有貼膜的膠帶；
一滾輪壓頭裝置，用來剝離該卷膜機構上的貼膜，以將該貼膜滾壓貼合至該基 板；
一標頭系統，控制該卷膜機構及該滾輪壓頭裝置的移動；
—定位傳感器，偵測該卷膜機構上的該貼有貼膜的膠帶的位置；以及
一可程序邏輯控制器，控制該覆膜平臺及該標頭系統的運作，并且進一步根據該 定位傳感器的偵測結果來控制該標頭系統進行一定位程序；以及根據該光學檢測器的檢測 結果來產生一提不訊息。
進一步地，根據本發明的覆膜機，其中，該卷膜機構包含
一出膜料盤，裝載并卷動出該貼有貼膜的膠帶；
至少一滾筒，設置于該出膜料盤下游，用來輸送及承載該貼有貼膜的膠帶；以及
一回收料盤，卷動回收該已剝離貼膜的膠帶。
本發明提供一種覆膜方法，應用于一覆膜機覆膜一基板，該覆膜方法的步驟包 括
執行一入料程序；及
在對該基板進行覆膜之前與后，透過一光學檢測器自動檢測該基板的品質。
進一步地，根據本發明的覆膜方法，其中，該執行入料程序的步驟進一步包含
旋轉一覆膜平臺，以入料該基板，其中該覆膜平臺包含復數個用來承載該基板的 承載治具 '及
卷動一卷膜機構，以入料一貼有貼膜的膠帶。
進一步地，根據本發明的覆膜方法，其中，在執行該入料基板的步驟后，進一步透 過該光學檢測器自動檢測該基板是否有臟污。
進一步地，根據本發明的覆膜方法，進一步包含
吸附并剝離該貼膜；
定位該所吸附的貼膜的位置；及
貼覆該貼膜于該基板。
進一步地，根據本發明的覆膜方法，其中，在貼合該貼膜于該基板之后，進一步透 過該光學檢測器自動檢測該已覆膜的基板是否有氣泡。
進一步地，根據本發明的覆膜方法，其中，該執行入料程序的步驟進一步包含
移動一覆膜平臺，以入料該基板 '及
卷動一卷膜機構，以入料一貼有貼膜的膠帶。
進一步地，根據本發明的覆膜方法，其中，在執行該入料基板的步驟后，進一步透過該光學檢測器自動檢測該基板是否有臟污。
進一步地，根據本發明的覆膜方法，進一步包含
定位該貼有貼膜的膠帶入料后的位置；及
剝離并滾壓貼合該貼膜于該基板。
進一步地，根據本發明的覆膜方法，其中，在貼合該貼膜于該基板之后，進一步透過該光學檢測器自動檢測該已覆膜的基板是否有氣泡。
進一步地，根據本發明的覆膜方法，進一步包含根據該光學檢測器的檢測結果來產生一提示訊息。
圖1為本發明的覆膜機的第一實施例立體圖2為本發明的覆膜機的第一實施例側視圖3為本發明的覆膜機的第一實施例后視圖4為本發明的覆膜機的第一實施例俯視圖5為本發明的覆膜方法的第一實施例流程圖6為本發明的覆膜機的第二實施例立體圖7為本發明的覆膜機的第二實施例側視圖8為本發明的覆膜機的第二實施例后視圖9為本發明的覆膜機的第二實施例俯視圖10為本發明的覆膜方法的第二實施例流程圖。
具體實施方式
參考以下實施例，以說明本發明的覆膜機及覆膜方法的實施態樣。其中，覆膜機大致可分為小尺寸的覆膜機及大尺寸的覆膜機，所謂的小尺寸的覆膜機適用于例如5英時以下的基板的覆膜，大尺寸的覆膜機適用于例如5至15英時的基板的覆膜。此外，所述的基板可例如是采用玻璃、塑料、壓克力等材質，在此并無加以限制。
請參考圖1至圖4，分別為本發明的覆膜機的第一實施例立體圖、側視圖、后視圖及俯視圖。其中，第一實施例是例如用來說明小尺寸的覆膜機的實際實施態樣。
在圖1至圖4中，覆膜機20包含有一覆膜平臺22、一卷膜機構24、一載膜平臺26、 一吸膜治具28、一定位傳感器30、一光學檢測器32及一可程序邏輯控制器34。其中，可程序邏輯控制器34用來控制覆膜平臺22、卷膜機構24及吸膜治具28的運作。
覆膜平臺22包含一旋轉機構23及數個承載治具36 (本實施例為四個承載治具 36)。其中，該等承載治具36設置于旋轉機構23上，分別用來承載一塊基板38。可程序邏輯控制器34控制覆膜平臺22的旋轉機構23以每次旋轉90度的方式進行運作，使得個別置放在每一承載治具36上的基板38得以依序進行檢測或覆膜。
卷膜機構24包含有一出膜料盤40、滾筒42及一回收料盤44。出膜料盤40裝載及卷動出貼有貼膜(例如離型膜)的膠帶至載膜平臺26的位置處。滾筒42設置于出膜料盤40的下游，用來支撐及輸送貼有貼膜的膠帶。回收料盤44卷動回收已剝離貼膜的膠帶。 具體來講，可程序邏輯控制器34控制出膜料盤40卷動出貼有貼膜的膠帶，并經由滾筒42卷動而輸送至載膜平臺26的位置處，并控制回收料盤44經由滾筒42卷動回收已剝離貼膜 的膠帶。其中，當可程序邏輯控制器34判斷出卷膜機構24所裝載的膠帶用完時，可程序邏 輯控制器34將發出一提示訊息(如警示聲音、閃光等)，以通知操作人員進行膠帶的更換。
可程序邏輯控制器34控制吸膜治具28移動至載膜平臺26的位置處，以進一步吸 附并剝離貼膜，然后控制吸膜治具28移動至承載治具36以將貼膜貼合至基板38上。
此外，本實施例所設計的定位傳感器30，其是用來偵測吸膜治具28所吸附的貼膜 的位置。而可程序邏輯控制器34根據定位傳感器30的偵測結果來進一步控制吸膜治具28 進行一定位程序。其中，本實施例的定位傳感器30可例如由一凹槽限位開關及一光纖組 成。
再者，光學檢測器32由數個光學稱合組件(如電荷稱合裝置(Charge Coupled Device，(XD)) 46組成，本實施例舉例是由兩個光學耦合組件46所組成，以由光學檢測器32 的其中一個光學耦合組件46檢測置放在承載治具36上的未覆膜的基板38上的表面刮傷 或落塵微粒等臟污，而由光學檢測器32的另一個光學耦合組件46檢測置放在承載治具36 上的經覆膜的基板38上的氣泡。待任一光學耦合組件46檢測完成之后，可程序邏輯控制 器34即根據光學檢測器32的檢測結果來產生一提示訊息。如此一來，本實施例的可程序 邏輯控制器34便可根據光學檢測器32 (兩個光學耦合組件46)的檢測結果來判斷基板38 在覆膜前與后的狀況。
承上所述的架構，以圖4的俯視圖來進一步舉例說明，本實施例的四個承載治具 36例如是分別置放于旋轉機構23的0° (上)、90° (右)、180° (下)及270° (左)之 位置；而兩個光學耦合組件46則分別是設計在0°及180°的位置的上方。如此一來，假設 旋轉機構23是以順時針方向每次旋轉90度，則操作人員即可固定地在旋轉至90°的位置 的承載治具36上來取出已覆膜的基板38并再置放未覆膜的基板38 ;相對的，位于180°的 位置上方的光學耦合組件46是用來檢測旋轉至180°的位置的承載治具36上的未覆膜的 基板38，而位于0°的位置上方的光學耦合組件46則是用來檢測旋轉至0°的位置的承載 治具36上的已覆膜的基板38 ;而旋轉至270°的位置的承載治具36上的未覆膜的基板38 則是供吸膜治具28進行貼膜。
于是當可程序邏輯控制器34根據檢測結果判斷出基板38在覆膜前或后的質量不 良時(例如基板38覆膜前的表面有大于Imm以上的微粒；或基板38覆膜后產生氣泡)，可 程序邏輯控制器34將發出一提示訊息(如警示聲音、閃光等)。
圖5為本發明的覆膜方法的第一實施例流程圖。在說明圖5的操作流程時，同時 參考圖1至圖4的覆膜機20的各項組件。
首先，可程序邏輯控制器34進行開機初始化的程序，以對可程序邏輯控制器34內 部預設的各項參數進行設定(步驟S50)。若可程序邏輯控制器34無法完成開機初始化，則 可程序邏輯控制器34發出提示訊息(例如發出警示聲音)以通知操作人員(步驟S52)，由 操作人員對可程序邏輯控制器34進行檢查及維修，并于完成后重復執行步驟S50。
在可程序邏輯控制器34完成開機初始化后，可程序邏輯控制器34根據所預設的 參數控制吸膜治具28回到起始位置(步驟S54)。
可程序邏輯控制器34判斷吸膜治具28是否回到起始位置(步驟S58)，若可程序 邏輯控制器34判斷吸膜治具28未回到起始位置，則由操作人員以手動方式來進行控制吸膜治具28 (步驟S56)，并再進行步驟S54及步驟S58。
若可程序邏輯控制器34判斷吸膜治具28回到起始位置，則可程序邏輯控制器34 控制吸膜治具28移動至載膜平臺26的上方(步驟S60)，亦即控制吸膜治具28移動至吸膜 的位置處。另外，可程序邏輯控制器34亦同時控制卷膜機構24的卷動來進行一貼有貼膜 的膠帶的一入料程序，以輸送該貼有貼膜的膠帶至載膜平臺26。
在吸膜治具28移動至載膜平臺26的上方后，可程序邏輯控制器34控制吸膜治具 28朝載膜平臺26下降，使吸膜治具28觸碰膠帶上的貼膜(步驟S62)。進而控制吸膜治具 28以吸真空方式吸附貼膜(步驟S64)。
吸膜治具28吸附貼膜后，可程序邏輯控制器34控制吸膜治具28往承載治具36 方向移動(亦即往覆膜位置方向移動)，并且可程序邏輯控制器34另控制卷膜機構24來卷 動膠帶，一方面可將貼膜剝離，也就是所謂的脫膜流程；另一方面，亦可同時回收已剝離貼 膜的膠帶于回收料盤44(步驟S66)。
附帶說明的是，若可程序邏輯控制器34判斷出膜料盤40所裝載的膠帶已使用 完，則可程序邏輯控制器34將發出提示訊息，并暫停覆膜機20目前的工作，待重新判斷到 出膜料盤40上的膠帶時，恢復覆膜機20的運作。
可程序邏輯控制器34控制吸膜治具28移動至覆膜位置(步驟S68)。在移動期間， 可程序邏輯控制器34預設會控制吸膜治具28經過定位傳感器30，以根據定位傳感器30的 偵測結果來進行一定位程序，如此以確保后續能精確地將貼膜貼覆于基板38。在本實施例 中，定位傳感器30是例如用來偵測吸膜治具28所吸附的貼膜的一定位角，以藉由偵測到定 位角的與否來確認定位是否完成。而當吸膜治具28定位完成，并且移動至覆膜位置時，可 程序邏輯控制器34進一步判斷承載治具36是否到位(步驟S69)。
若步驟S69的判斷結果為否，則表示承載治具36尚未到位，因此重復執行步驟 S69，以等待承載治具36到位。然而，在等待承載治具36到位之前的步驟流程，可例如是執 行一入料基板38的程序。具體來說，由操作人員將未覆膜的基板38置放在承載治具36 (步 驟S70)。進而，可程序邏輯控制器34控制旋轉機構23旋轉90度，將承載有未覆膜的基板 38的承載治具36移動至光學檢測器32的其中一個光學耦合組件46下方(步驟S72)。于 是，可程序邏輯控制器34便控制光學耦合組件46來自動檢測置未覆膜的基板38上的微 粒，并根據光學耦合組件46的檢測結果來判斷未覆膜的基板38上的微粒的大小及數量是 否符合規定(步驟S74)。
若步驟S74的判斷結果為否，則可程序邏輯控制器34發出提示訊息(例如發出警 示聲音)以通知操作人員(步驟S76)，由操作人員將不符合規定的基板38從承載治具36 取出。然后重復進行步驟S70及其爾后的步驟，以再次執行入料基板38的流程。反之，若 步驟S74的判斷結果為是，則可程序邏輯控制器34控制旋轉機構23再次旋轉90度，將置 放有檢測合格的基板38的承載治具36移動至準備覆膜的位置處。此時，可程序邏輯控制 器34在步驟S69的判斷上，即可判斷承載治具36已到位。緊接著，可程序邏輯控制器34 控制吸膜治具28進行覆膜，以將貼膜貼覆于經檢測合格的未覆膜的基板38 (步驟S80)。
接著，可程序邏輯控制器34判斷覆膜是否完成(步驟S82)。若步驟S82的判斷結 果為否，則重復進行步驟S82，以持續進行覆膜。若步驟S82的判斷結果為是，則可程序邏輯 控制器34控制吸膜治具28停止吸附貼膜，并控制吸膜治具28離開已覆膜的基板38 (步驟S84)。
在完成覆膜后，可程序邏輯控制器34除了控制吸膜治具28回到起始位置并重復 執行步驟S60及其爾后的步驟流程之外，亦同步控制旋轉機構23再一次旋轉90度，用以將 置放有已覆膜的基板38的承載治具36移動至光學檢測器32的另一個光學耦合組件46下 方(步驟S86)。進而再控制該另一個光學耦合組件46自動檢測已覆膜的基板38上的氣 泡，以根據該另一個光學耦合組件46的檢測結果來判斷已覆膜的基板38上的氣泡的大小 及數量是否符合規定(步驟S88)。
若步驟S88的判斷結果為否，表示已覆膜的基板38上的氣泡超出規定，于是可程 序邏輯控制器34發出提示訊息(例如發出警示聲音)以通知操作人員(步驟S90)。若步 驟S88的判斷結果為是，或者步驟S90發出提示訊息之后，可程序邏輯控制器34控制旋轉 機構23旋轉90度(步驟S92)，以供操作人員取出已完成覆膜的基板38 (檢測合格或不合 格)。進而再重新執行步驟S70以重新置放另一未覆膜的基板38。
實施上述各項步驟后，以完成本發明的小尺寸的覆膜機20對基板38進行微粒檢 測、覆膜及氣泡檢測等工作。其中，本實施例透過覆膜平臺22搭配吸膜治具28及光學檢測 器32的設計，除了可以達到基板38覆膜前后的自動檢測之外，在重復且持續執行上述各項 步驟時，基板38的入料、覆膜前檢測、覆膜及覆膜后檢測得以同步進行，藉以有效地提升 生產效能。
請參考圖6至圖9，分別為本發明的覆膜機的第二實施例的立體圖、側視圖、后視 圖及俯視圖。其中，第二實施例是例如用來說明大尺寸的覆膜機的實際實施態樣。
在圖6至9中，大尺寸的覆膜機100包含有一覆膜平臺102、一卷膜機構104、一滾 輪壓頭裝置106、一標頭系統108、一定位傳感器110，一光學檢測器112及一可程序邏輯控 制器(未圖示，裝設于覆膜機100的下方)。可程序邏輯控制器用來控制覆膜平臺102及 標頭系統108的運作，其中的覆膜平臺102是用來承載一基板(未圖示)，并可在卷膜機構 104的外側與下方水平地移動。
標頭系統108進一步是透過機構連動的方式來控制卷膜機構104及滾輪壓頭裝置 106的運作。其中，卷膜機構104包含有一出膜料盤114、滾筒116及一回收料盤118。出膜 料盤114裝載并卷動出貼有貼膜(例如離型膜)的膠帶。滾筒116設置于出膜料盤114的 下游，用來輸送及承載貼有貼膜的膠帶至一覆膜位置。回收料盤118卷動回收已剝離貼膜 的膠帶。更具體來講，標頭系統108控制卷膜機構104輸送及承載一貼有貼膜的膠帶至一 覆膜位置處，并且控制滾輪壓頭裝置106移動至一待滾壓貼合的起始位置處，以進一步控 制滾輪壓頭裝置106利用滾壓貼合的方式將卷膜機構104上的貼膜剝離，并將貼膜貼覆至 覆膜平臺102所承載的基板上。
此外，本實施例設計的定位傳感器110，其是用來偵測卷膜機構104上的該貼有貼 膜的膠帶的位置。而可程序邏輯控制器根據定位傳感器110的偵測結果來進一步控制標頭 系統108進行一定位程序，以確保后續覆膜的精確性。其中，定位傳感器110由數個光纖組 成(本實施例是兩個光纖)。
再者，光學檢測器112由數個光學稱合組件(如電荷稱合裝置(Charge Coupled Device，(XD)) 120組成，本實施例是舉例包含兩個光學耦合組件120。光學檢測器112用來 檢測置放在覆膜平臺102上的未覆膜的基板上的表面刮傷或落塵微粒等臟污以及已覆膜的基板上的氣泡。而可程序邏輯控制器根據光學檢測器112的檢測結果來產生一提示訊息 (如警示聲音、閃光等)。
在實際運作上，當可程序邏輯控制器判斷出基板在覆膜前與后的質量不良(例如 基板覆膜前的表面有大于1_以上的微粒或基板覆膜后產生氣泡)時，可程序邏輯控制器 將發出一提示訊息。藉此，以達到覆膜前后時能自動檢測基板狀況的需求。
圖10為本發明的覆膜方法的第二實施例流程圖。在說明圖10的操作流程時，同 時參考圖6至圖9的覆膜機100的各項組件。
首先，可程序邏輯控制器進行開機初始化的程序，以對可程序邏輯控制器內部預 設的各項參數進行設定(步驟S130)。若可程序邏輯控制器無法完成開機初始化，則可程序 邏輯控制器發出提示訊息(例如發出警示聲音)以通知操作人員(步驟S132)，由操作人員 對可程序邏輯控制器進行障礙排除，并于完成后由可程序邏輯控制器重新執行步驟S130。
在可程序邏輯控制器完成開機初始化后，可程序邏輯控制器根據所預設的參數控 制標頭系統108回到起始位置(步驟S134)，其中由于標頭系統108是透過機構連動的方 式控制卷膜機構104及滾輪壓頭裝置106，因此當標頭系統108回到起始位置時，卷膜機構 104及滾輪壓頭裝置106同樣會回到起始位置。
接下來，可程序邏輯控制器判斷標頭系統108是否回到起始位置(步驟S138)，若 步驟S138的判斷結果為否，則重復進行步驟S134，直到標頭系統108回到起始位置。若步 驟S138的判斷結果為是，則可程序邏輯控制器透過標頭系統108來控制卷膜機構104開始 出膜，以進行一貼有貼膜的膠帶的一入料程序(步驟S146)。具體而言，標頭系統108是控 制出膜料盤114卷動出貼有貼膜的膠帶，并控制回收料盤118的卷動來拉動貼有貼膜的膠 帶，使整片貼有貼膜的膠帶藉由滾筒116支撐及卷動而進行輸送。此外，回收料盤118在貼 膜已剝離之后，也就是用來回收已剝離貼膜的膠帶。
附帶說明的是，當標頭系統108控制出膜料盤114卷動出膠帶時，可程序邏輯控制 器可進一步判斷出膜料盤114所裝載的膠帶是否使用完。若膠帶已使用完，則可程序邏輯 控制器將發出提示訊息，并暫停覆膜機100目前的工作。如此一來，操作人員可在更換膠帶 之后進行手動控制標頭系統108 (步驟S136)，以讓標頭系統108執行步驟S134而回到起始位置。
當步驟S146輸送整片貼有貼膜的膠帶時，可程序邏輯控制器進一步是根據定位 傳感器Iio的偵測結果來進行一定位程序(步驟S148)。
本實施例具體的定位程序可利用圖9所示的設置角度及方向來進行以下的運作 說明首先，可程序邏輯控制器透過標頭系統108控制卷膜機構104朝定位傳感器110的方 向(由左至右)移動。其中，本實施例的定位傳感器HO是例如采用兩個位在同一水平線 的光纖來設計，該水平線是平行于覆膜平臺102的右側邊，使得兩個光纖得以用來偵測卷 膜機構104所承載的膠帶上的貼膜的同一側邊。
如此一來，當只有任一光纖偵測到貼膜時，即表示貼膜相對于覆膜平臺102呈歪 斜，此時可程序邏輯控制器透過標頭系統108控制卷膜機構104停止繼續前進并基于垂直 軸來進行水平方向自轉的調整，使得兩個光纖皆能偵測到貼膜；而當兩個光纖皆偵測到貼 膜時，可程序邏輯控制器即透過標頭系統108控制卷膜機構104停止水平自轉的調整并朝 遠離定位傳感器110的方向(由右至左)移動一預設距離；之后，可程序邏輯控制器再透過標頭系統108控制卷膜機構104朝定位傳感器110的方向(由左至右)移動，并在兩個光 纖偵測到卷膜機構104所承載的貼膜時，控制卷膜機構104停止前進。藉此，卷膜機構104 即是輸送貼有貼膜的膠帶至覆膜位置，并且貼膜亦處于精確的位置。
承上所述，在步驟S148完成定位程序之后，可程序邏輯控制器進一步判斷覆膜平 臺102是否到位(步驟S163)。若步驟S163的判斷結果為否，則代表覆膜平臺102尚未到 位，因此重復執行步驟S163，以等待覆膜平臺102到位。然而，在等待覆膜平臺102到位之 前的步驟流程，可例如是執行一入料基板的程序。具體來說，由操作人員將未覆膜的基板置 放在覆膜平臺102 (步驟S156)，本實施例的覆膜平臺102可例如是以吸真空方式來固定基 板。進而，可程序邏輯控制器控制光學檢測器112的數個光學耦合組件120自動檢測置未 覆膜的基板上的微粒，并根據光學檢測器112的檢測結果來判斷未覆膜的基板上的微粒的 大小及數量是否符合規定(步驟S160)。
若步驟S160的判斷結果為否，則可程序邏輯控制器發出提示訊息(例如發出警示 聲音)以通知操作人員(步驟S162)，由操作人員將不符合規定的基板從覆膜平臺102上取 出。然后重復進行步驟S156及其爾后的步驟，以再次執行入料基板的流程。反之，若步驟 S160的判斷結果為是，則可程序邏輯控制器控制覆膜平臺102移動至覆膜位置。此時可程 序邏輯控制器在步驟S163的判斷上，即可判斷覆膜平臺102已到位。緊接著，可程序邏輯 控制器透過標頭系統108來控制滾輪壓頭裝置106將貼膜順勢地滾壓于經檢測合格的未覆 膜的基板(步驟S164)。
接著，可程序邏輯控制器判斷覆膜是否完成(步驟S166)。簡單來說，可程序邏輯 控制器可判斷滾輪壓頭裝置106的滾壓距離是否達到一個基板的長度來判斷是否覆膜完 成。若步驟S166的判斷結果為否，則重復執行步驟S164，以持續進行覆膜。若步驟S166 的判斷結果為是，則可程序邏輯控制器透過標頭系統108控制滾輪壓頭裝置106停止滾壓 貼膜，并控制滾輪壓頭裝置106離開已覆膜的基板(步驟S168)。
在完成覆膜后，可程序邏輯控制器除了重復執行步驟S134來控制標頭系統108回 到起始位置并進而執行步驟S134爾后的步驟流程之外，亦同步控制覆膜平臺102移出覆 膜位置，亦即將已覆膜的基板移動至光學檢測器112的數個光學耦合組件120下方(步驟 S170)。進而可程序邏輯控制器再控制該等光學耦合組件120自動檢測已覆膜的基板上的 氣泡，以根據光學檢測器112的檢測結果來判斷已覆膜的基板上的氣泡的大小及數量是否 符合規定(步驟S172)。
若步驟S172的判斷結果為否，表示已覆膜的基板上的氣泡超出規定，于是可程序 邏輯控制器發出提示訊息(例如發出警示聲音)以通知操作人員(步驟S176)。若步驟 S172的判斷結果為是，或者步驟S176發出提示訊息之后，則操作人員取出已完成覆膜的基 板(檢測合格或不合格)，并進而使可程序邏輯控制器重新執行步驟S156，以重新入料另一 未覆膜的基板。
實施上述各項步驟后，以完成本發明的大尺寸的覆膜機100對基板進行微粒檢 測、覆膜及氣泡檢測等工作。
本發明的優點提供一種覆膜機及覆膜方法，利用覆膜機的光學檢測器來檢測基板 在覆膜前的落塵附著在基板的情況，以及檢測基板在覆膜后的氣泡產生的情況，及時發現 覆膜不良的基板，以達到提高基板覆膜的總體良率的效果，并且覆膜機實現基板覆膜的精度高、速度快、無氣泡，同時達到操作簡單、便于管理及實用強等特點。
雖然本發明已參照較佳具體例及舉例性附圖敘述如上，惟其應不被視為限制性 者。熟悉本技藝者對其形態及具體例的內容做各種修改、省略及變化，均不離開本發明的 申請專利范圍所主張的范圍。
權利要求
1.一種覆膜機,包含一覆膜平臺，用來承載至少一基板以供覆膜 '及一光學檢測器，用來檢測覆膜前后該覆膜平臺上的該基板的品質。
2.如權利要求1所述的覆膜機，其特征在于，所述的光學檢測器包含復數個光學耦合組件。
3.如權利要求1所述的覆膜機，其特征在于，所述的覆膜平臺進一步包含一旋轉機構；及復數個承載治具，設置于該旋轉機構上，分別用來承載該基板。
4.如權利要求3所述的覆膜機，其特征在于，進一步包含一載膜平臺；一卷膜機構，裝載一貼有貼膜的膠帶，并且輸送該貼有貼膜的膠帶至該載膜平臺；一吸膜治具，用來吸附并剝離該載膜平臺上的貼膜，并將該貼膜貼合于該承載治具上的基板；一定位傳感器，偵測該吸膜治具所吸附的貼膜的位置；以及一可程序邏輯控制器，控制該覆膜平臺、該卷膜機構及該吸膜治具的運作，并且進一步根據該定位傳感器的偵測結果來控制該吸膜治具進行一定位程序，以及根據該光學檢測器的檢測結果來產生一提示訊息。
5.如權利要求4所述的覆膜機，其特征在于，所述的卷膜機構包含一出膜料盤，裝載并卷動出該貼有貼膜的膠帶；至少一滾筒，設置于該出膜料盤下游，用來支撐及輸送該貼有貼膜的膠帶；以及一回收料盤，卷動回收該已剝離貼膜的膠帶。
6.如權利要求1所述的覆膜機，其特征在于，進一步包含一卷膜機構，用來輸送及承載一貼有貼膜的膠帶；一滾輪壓頭裝置，用來剝離該卷膜機構上的貼膜，以將該貼膜滾壓貼合至該基板； 一標頭系統，控制該卷膜機構及該滾輪壓頭裝置的移動；一定位傳感器，偵測該卷膜機構上的該貼有貼膜的膠帶的位置；以及一可程序邏輯控制器，控制該覆膜平臺及該標頭系統的運作，并且進一步根據該定位傳感器的偵測結果來控制該標頭系統進行一定位程序，以及根據該光學檢測器的檢測結果來產生一提不訊息。
7.如權利要求6所述的覆膜機，其特征在于，所述的卷膜機構包含一出膜料盤，裝載并卷動出該貼有貼膜的膠帶；至少一滾筒，設置于該出膜料盤下游，用來輸送及承載該貼有貼膜的膠帶；以及一回收料盤，卷動回收該已剝離貼膜的膠帶。
8.一種覆膜方法，其特征在于，步驟包括執行一入料程序 '及在對一基板進行覆膜之前與后，透過一光學檢測器自動檢測該基板的品質。
9.如權利要求8所述的覆膜方法，其特征在于，該執行入料程序的步驟進一步包含 旋轉一覆膜平臺，以入料該基板，其中該覆膜平臺包含復數個用來承載該基板的承載治具；及卷動一卷膜機構，以入料一貼有貼膜的膠帶。
10.如權利要求9所述的覆膜方法，其特征在于，在執行該入料基板的步驟后，進一步透過該光學檢測器自動檢測該基板是否有臟污。
11.如權利要求9所述的覆膜方法，其特征在于，進一步包含吸附并剝離該貼膜；定位該所吸附的貼膜的位置；及貼覆該貼膜于該基板。
12.如權利要求11所述的覆膜方法，其特征在于，在貼合該貼膜于該基板之后，進一步透過該光學檢測器自動檢測該已覆膜的基板是否有氣泡。
13.如權利要求8所述的覆膜方法，其特征在于，所述的執行入料程序的步驟進一步包含移動一覆膜平臺，以入料該基板 '及卷動一卷膜機構，以入料一貼有貼膜的膠帶。
14.如權利要求13所述的覆膜方法，其特征在于，在執行該入料基板的步驟后，進一步透過該光學檢測器自動檢測該基板是否有臟污。
15.如權利要求13所述的覆膜方法，其特征在于，進一步包含定位該貼有貼膜的膠帶入料后的位置；及剝離并滾壓貼合該貼膜于該基板。
16.如權利要求15所述的覆膜方法，其特征在于，在貼合該貼膜于該基板之后，進一步透過該光學檢測器自動檢測該已覆膜的基板是否有氣泡。
17.如權利要求8所述的覆膜方法，其特征在于，進一步包含根據該光學檢測器的檢測結果來產生一提示訊息。
全文摘要
一種覆膜機及覆膜方法，其用以對基板進行覆膜，其特征在于覆膜機包含一光學檢測器，在對基板進行覆膜之前與后，分別由光學檢測器檢測基板上的微粒及經覆膜后的基板上的氣泡。利用光學檢測器來檢測基板在覆膜前的落塵附著在基板的情況，以及檢測基板在覆膜后的氣泡產生的情況，可及時發現覆膜不良的基板，以達到提高基板覆膜的總體良率的效果。
文檔編號B65B33/02GK102991750SQ201110289590
公開日2013年3月27日 申請日期2011年9月18日 優先權日2011年9月18日
發明者林坤榮, 劉曉冬 申請人:瑞世達科技(廈門)有限公司