<listing id="vjp15"></listing><menuitem id="vjp15"></menuitem><var id="vjp15"></var><cite id="vjp15"></cite>
<var id="vjp15"></var><cite id="vjp15"><video id="vjp15"><menuitem id="vjp15"></menuitem></video></cite>
<cite id="vjp15"></cite>
<var id="vjp15"><strike id="vjp15"><listing id="vjp15"></listing></strike></var>
<var id="vjp15"><strike id="vjp15"><listing id="vjp15"></listing></strike></var>
<menuitem id="vjp15"><strike id="vjp15"></strike></menuitem>
<cite id="vjp15"></cite>
<var id="vjp15"><strike id="vjp15"></strike></var>
<var id="vjp15"></var>
<var id="vjp15"></var>
<var id="vjp15"><video id="vjp15"><thead id="vjp15"></thead></video></var>
<menuitem id="vjp15"></menuitem><cite id="vjp15"><video id="vjp15"></video></cite>
<var id="vjp15"></var><cite id="vjp15"><video id="vjp15"><thead id="vjp15"></thead></video></cite>
<var id="vjp15"></var>
<var id="vjp15"></var>
<menuitem id="vjp15"><span id="vjp15"><thead id="vjp15"></thead></span></menuitem>
<cite id="vjp15"><video id="vjp15"></video></cite>
<menuitem id="vjp15"></menuitem>

一種測試儀繼電器控制位檢測裝置及方法

文檔序號:6188033閱讀:449來源:國知局
一種測試儀繼電器控制位檢測裝置及方法
【專利摘要】本發明的目的是提供一種測試儀繼電器控制位檢測裝置及方法,以解決現有技術中測試儀繼電器控制位檢測方法費時費力、效率低的問題,該檢測裝置,包括測試儀繼電器控制位、控制位接口、連接線,還包括檢測板、所述檢測板上設有檢測單元,所述檢測單元由與測試儀繼電器控制位相對應的繼電器、LED燈組、電阻構成,LED燈組一端與繼電器連接,LED燈組另一端與電阻串聯;該檢測方法,將檢測板上的繼電器、LED燈組通過連接線連接到控制位接口,通過控制位接口連接測試儀繼電器控制位,通過LED燈組的不同顏色燈亮,檢測人員可以直觀快速的判斷測試儀繼電器控制位是否失效,大地降低檢測人員的檢測時間,節約了人力和時間成本。
【專利說明】—種測試儀繼電器控制位檢測裝置及方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及半導體測試設備領域,具體涉及一種測試儀繼電器控制位檢測裝置及方法。
【背景技術】
[0002]電子產品的測試儀器硬件部分由測量單元和繼電器控制位等組成,在IC的測試過程中會頻繁的使用繼電器控制位來控制DUT板的繼電器動作來進行IC各項SPEC的測試,受繼電器控制位的質量和壽命影響,繼電器控制位很容易失效,屬于易損壞器件,當測試儀繼電器控制位失效,那么在測試儀使用中會導致測試失效,因此異常可能造成嚴重的質量后果,而傳統的繼電器控制位檢測方法就是閉合測試儀的控制位,然后通過萬用表進行檢測判斷該控制位是否損壞失效,花費檢測人員的大量時間和精力。

【發明內容】

[0003]本發明的目的是提供一種測試儀繼電器控制位檢測裝置。
[0004]本發明的另一個目的是提供一種測試儀繼電器控制位檢測方法,以解決現有技術中測試儀繼電器控制位檢測方法費時費力、效率低的問題。
[0005]一種測試儀繼電器控制位檢測裝置,包括測試儀繼電器控制位、控制位接口、連接線,還包括檢測板、所述檢測板上設有檢測單元,所述檢測單元由與測試儀繼電器控制位CBIT相對應的繼電器K、LED燈組、電阻R構成,LED燈組一端與繼電器K連接,LED燈組另一端與電阻R串聯。
[0006]所述檢測單元并列設有多個。
[0007]所述LED燈組包括LED紅燈和LED綠燈。
[0008]一種測試儀繼電器控制位檢測方法,包括如下步驟:
A、將檢測板通過連接線連接到控制位接口J,通過控制位接口 J連接測試儀繼電器控制位CBIT ;
B、測試儀繼電器控制位CBIT斷開或閉合檢測:接通測試儀繼電器控制位CBIT對應的檢測單元4,LED綠燈亮,則LED綠燈對應的測試儀繼電器控制位CBIT正常,LED紅燈亮,則LED紅燈對應的測試儀繼電器控制位CBIT異常。
[0009]進一步地,步驟B中將所有測試儀繼電器控制位CBIT閉合或斷開進行檢測,與繼電器K串聯的LED燈組的LED綠燈亮,則LED綠燈對應的測試儀繼電器控制位CBIT正常,LED紅燈LI亮,則LED紅燈LI對應的測試儀繼電器控制位CBIT異常。
[0010]進一步地,步驟B中將所有奇數位測試儀繼電器控制位CBIT斷開或閉合,偶數位測試儀繼電器控制位CBIT閉合或斷開檢測,所有奇數位LED綠燈亮,如果某個奇數位LED紅燈亮,則LED紅燈對應的測試儀繼電器控制位CBIT異常,所有偶數位LED綠燈亮,如果某個偶數位LED紅燈亮,則LED紅燈LI對應的測試儀繼電器控制位CBIT異常。
[0011]進一步地,步驟B中依次逐個將奇數位測試儀繼電器控制位CBIT斷開或閉合,與繼電器K串聯的LED燈組的LED綠燈亮,則LED綠燈對應的測試儀繼電器控制位CBIT正常,LED紅燈亮,則LED紅燈對應的測試儀繼電器控制位CBIT異常。
[0012]本發明的優點是:將測試儀所有的控制位定義到固定控制位接口上,由控制位接口上的繼電器控制位與檢測板上的繼電器對應,每個繼電器的常開和常閉狀態各對應一種定義好的LED燈組顏色,通過LED燈組的不同顏色燈亮,檢測人員可以直觀快速的判斷測試儀繼電器控制位是否失效,從而指導維修人員對失效的測試儀繼電器進行快速修復,大地降低檢測人員的檢測時間,節約了人力和時間成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1是本發明一種測試儀繼電器控制位檢測裝置結構示意圖;
圖2是本發明的局部電路示意圖。
【具體實施方式】
[0014]下面的實施例可以進一步說明本發明,但不以任何方式限制本發明。
[0015]如圖1所示,一種測試儀繼電器控制位檢測裝置,包括測試儀繼電器控制位CBIT、控制位接口 J、連接線3,還包括檢測板2、檢測板2上設有檢測單元4,檢測單元4由與測試儀繼電器控制位CBIT相對應的繼電器K、LED燈組、電阻R構成,LED燈組一端與繼電器K連接,LED燈組另一端與電阻R串聯,檢測單元4并列設有多個,LED燈組包括LED紅燈LI和LED綠燈L2。
[0016]本測試儀繼電器控制位檢測方法是:
A、將檢測板2通過連接線3連接到控制位接口J,通過控制位接口 J連接測試儀繼電器控制位CBIT ;
B、測試儀繼電器控制位CBIT斷開或閉合檢測:接通測試儀繼電器控制位CBIT對應的檢測單元4,LED綠燈L2亮,則LED綠燈L2對應的測試儀繼電器控制位CBIT正常,LED紅燈LI亮,則LED紅燈LI對應的測試儀繼電器控制位CBIT異常。
[0017]實施例1
步驟I將檢測板2通過連接線3連接到控制位接口 J,通過控制位接口 J連接測試儀繼電器控制位CBIT。
[0018]步驟2將所有測試儀繼電器控制位CBIT閉合或斷開進行檢測,與繼電器K串聯的LED燈組的LED綠燈L2亮,則LED綠燈L2對應的測試儀繼電器控制位CBIT好,LED紅燈LI亮,則LED紅燈LI對應的測試儀繼電器控制位CBIT壞。
[0019]實施例2 步驟I同實施例1。
[0020]步驟2將所有奇數位測試儀繼電器控制位CBIT斷開或閉合,偶數位測試儀繼電器控制位CBIT閉合或斷開檢測,所有奇數位LED綠燈L2亮,如果某個奇數位LED紅燈LI亮,則LED紅燈LI對應的測試儀繼電器控制位CBIT異常,所有偶數位LED綠燈L2亮,如果某個偶數位LED紅燈LI亮,則LED紅燈LI對應的測試儀繼電器控制位CBIT異常。
[0021]實施例3 步驟I同實施例1。[0022]步驟2依次逐個將奇數位測試儀繼電器控制位CBIT斷開或閉合,與繼電器K串聯的LED燈組的LED綠燈L2亮,則LED綠燈L2對應的測試儀繼電器控制位CBIT正常,LED紅燈LI亮,則LED紅燈LI對應的測試儀繼電器控制位CBIT異常。
【權利要求】
1.一種測試儀繼電器控制位檢測裝置,包括測試儀繼電器控制位、控制位接口、連接線,其特征在于:還包括檢測板(2)、所述檢測板(2)上設有檢測單元(4),所述檢測單元(4)由與測試儀繼電器控制位(CBIT)相對應的繼電器(K)、LED燈組、電阻(R)構成,所述LED燈組一端與繼電器(K)連接,所述LED燈組另一端與電阻(R)串聯。
2.根據權利要求1所述的一種測試儀繼電器控制位檢測裝置,其特征在于:所述檢測單元(4)并列設有多個。
3.根據權利要求1或2所述的一種測試儀繼電器控制位檢測裝置,其特征在于:所述LED燈組包括LED紅燈(LI)和LED綠燈(L2)。
4.一種測試儀繼電器控制位檢測方法,其特征在于:包括如下步驟: A、將檢測板(2)通過連接線(3)連接到控制位接口(J),通過控制位接口(J)連接測試儀繼電器控制位(CBIT); B、測試儀繼電器控制位(CBIT)斷開或閉合檢測:接通測試儀繼電器控制位(CBIT)對應的檢測單元(4),LED綠燈(L2)亮,則LED綠燈(L2)對應的測試儀繼電器控制位(CBIT)正常,LED紅燈(LI)亮,則LED紅燈(LI)對應的測試儀繼電器控制位(CBIT)異常。
5.根據權利要求4所述的一種測試儀繼電器控制位檢測方法,其特征在于:所述步驟B中將所有測試儀繼電器控制位(CBIT)閉合或斷開進行檢測,與繼電器(K)串聯的LED燈組的LED綠燈(L2)亮,則LED綠燈(L2)對應的測試儀繼電器控制位(CBIT)正常,LED紅燈(LI)亮,則LED紅燈(LI)對應的測試儀繼電器控制位(CBIT)異常。
6.根據權利要求4所述的一種測試儀繼電器控制位檢測方法,其特征在于:所述步驟B中將所有奇數位測試儀繼電器控制位(CBIT)斷開或閉合,偶數位測試儀繼電器控制位(CBIT)閉合或斷開檢測,所有奇數位LED綠燈(L2)亮,如果某個奇數位LED紅燈(LI)亮,則LED紅燈(LI)對應的測試儀繼電器控制位(CBIT)異常,所有偶數位LED綠燈(L2)亮,如果某個偶數位LED紅燈(LI)亮,則LED紅燈(LI)對應的測試儀繼電器控制位(CBIT)異常。
7.根據權利要求4所述的一種測試儀繼電器控制位檢測方法,其特征在于:所述步驟B中依次逐個將奇數位測試儀繼電器控制位(CBIT)斷開或閉合,與繼電器(K)串聯的LED燈組的LED綠燈(L2)亮,則LED綠燈(L2)對應的測試儀繼電器控制位(CBIT)正常,LED紅燈(LI)亮,則LED紅燈(LI)對應的測試儀繼電器控制位(CBIT)異常。
【文檔編號】G01R31/327GK103675664SQ201310680288
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月15日 優先權日:2013年12月15日
【發明者】李會峰, 霍軍軍, 張云超 申請人:天水華天科技股份有限公司
網友詢問留言 已有0條留言
  • 還沒有人留言評論。精彩留言會獲得點贊!
1
韩国伦理电影