一種用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置的制作方法

本發明屬于光譜儀檢測儀器領域，尤其涉及一種用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置。

背景技術：

光譜儀需要測量數十個元素的特征譜線；而單獨一塊晶體只能檢測有限數量的特征譜線，只有通過晶體切換裝置將多個晶體逐個切換，才能實現全部譜線的測量；光譜儀是精密測量儀器，工業現場使用頻率高；這就要求晶體切換裝置切換定位精度高，動作可靠，使用壽命長；實際工作中還要求滿足真空條件下的工作需要，因此迫切需要尋找一種能夠解決此問題的晶體切換結構。

技術實現要素：

有鑒于此，需要克服現有技術中的上述缺陷中的至少一個，本發明提供了一種用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置。

所述一種用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置包括分度機構，傳動機構，晶體支撐部件，支撐框架，定位機構； 所述分度機構通過所述傳動機構與所述晶體支撐部件相聯；所述分度機構包括分度從動部件和分度主動部件，所述分度主動部件與所述分度從動部件轉動聯接；所述傳動機構包括傳動主部件和傳動從部件；所述分度從動部件和所述傳動機構以及所述晶體支撐部件均安裝在所述支撐框架上；所述分度機構的分度數量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數量相同；所述定位機構安裝在所述支撐框架上，所述定位機構包括定位基座，定位模塊以及回彈機構；所述定位基座中心軸安裝在所述支撐框架上且具有基座定位結構，所述定位模塊一端聯接在所述支撐框架上，另一端具有模塊定位結構，所述基座定位結構與所述模塊定位結構緊密配合，所述回彈機構一端固定聯接在所述支撐框架上，另一端與所述定位模塊相聯；所述定位基座為圓盤結構，所述基座定位結構為定位孔，所述模塊定位結構為定位柱,所述定位柱沿所述定位基座圓周方向彈性安裝；所述基座定位結構和所述模塊定位結構精密配合且所述基座定位結構數量為大于等于1的自然數；所述定位機構中的所述定位基座的中軸和所述晶體支撐部件的中軸固定聯結且與所述支撐框架轉動聯結；所述定位基座上的所述基座定位結構與所述晶體支撐部件上的所述晶體裝配結構精確定位裝配且一一對應。

根據本專利背景技術中對現有技術所述，在光譜儀測量元素的特征譜線時，由于有幾十種元素，而單個晶體只能測量有限數量的特征譜線，因此只能通過晶體切換裝置將多個晶體逐漸切換，而對于切換前后晶體的位置總是存在較大的誤差；而本發明公開的一種用于光譜檢測的晶體切換裝置，通過采用分度機構、晶體支撐部件和定位機構的結合，在完成切換晶體的同時還保證了晶體的定位精度，且動作過程可靠，即使在工業現場頻繁使用下，檢測裝置的壽命都有顯著提高，因此具有明顯的優點。

另外，根據本發明公開的用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置還具有如下附加技術特征：

進一步地，所述晶體切換裝置還包括分度機構支撐部和動力源，所述分度主動部件安裝在所述動力源輸出軸上且與所述動力源一同安裝在所述分度機構支撐部上，所述分度從動部件安裝在所述支撐框架上：

所述分度機構水平放置，所述傳動主部件和所述分度從動部件相聯且安裝在所述支撐框架上，所述傳動主部件為端面齒輪，所述傳動從部件為直齒輪，所述端面齒輪與所述直齒輪嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉動聯接；

或

所述分度機構豎直放置，所述傳動主部件和所述分度從動部件相聯且安裝在所述支撐框架上，所述傳動主部件為主動直齒輪，所述傳動從部件為直齒輪，所述主動直齒輪端面與所述直齒輪端面處于平行面或同一平面上且嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉動聯接。

進一步地，所述晶體支撐部件為柱型，包括n個晶體裝配結構，所述晶體裝配結構均勻分布在所述晶體支撐部件的外側面。

更進一步地，所述晶體裝配結構包括開口背離所述晶體支撐部件中心方向的第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于所述第二凹槽下方，所述第二凹槽頂部具有凸起，所述第二凹槽側面及所述凸起內側面為與晶體表面相配合的平面。

優選地，所述晶體支撐部件中空，且具有中軸。

更進一步地，所述晶體裝配結構的內表面安裝有具有向外彈出部件的彈性裝置，所述向外彈出部件的頂端高于所述第一凹槽的深度。

可選地，所述彈性裝置下端具有橫片，下部形成“L”型結構。

更進一步地，所述晶體裝配結構中形成所述第一凹槽和所述第二凹槽的兩側支板上表面為平面且具有第三凹槽。

進一步地，所述支撐框架為立體四邊結構，包括上支撐邊，下支撐邊，左支撐邊，右支撐邊，所述上支撐邊上具有與通過所述晶體支撐部件中軸線的中軸相聯的轉動部件，所述定位基座安裝在所述晶體支撐部件的下方且與所述晶體支撐部件精確固定。

進一步地，所述晶體切換裝置還包括動力源，所述動力源與所述分度主動部件相聯。

進一步地，所述分度從動部件為分度盤。

進一步地，所述分度主動部件為兩端安裝有轉動件的桿件結構。

進一步地，所述支撐框架為包括上邊、下邊、左邊和右邊構成的四邊結構，所述定位基座中心軸轉動安裝在通過所述支撐框架的所述上邊和所述下邊的中心軸上，所述支撐框架一體成型。

進一步地，所述基座定位結構數量為2、4、6、8個。

進一步地，所述定位柱具有滑動面。

優選地，所述滑動面為斜面或帶弧度的面。

進一步地，所述定位柱具有錐形頭或圓頭。

進一步地，所述支撐框架還包括齒輪，所述齒輪轉動安裝在所述支撐架上且與所述定位基座同軸并固定聯結。

外部傳動部件將轉動通過齒輪傳遞所述裝置，所述裝置進行轉動，從而定位機構能夠使得晶體支撐部件上的晶體裝配結構精確定位。

進一步地，所述晶體支撐部件還包括T型部件，所述T型部件裝入所述第三凹槽中，起到保護所述晶體支撐部件的作用，減少檢測光對所述晶體支撐部件的所述支板表面的影響。

本發明附加的方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發明的實踐了解到。

附圖說明

本發明的上述和/或附加的方面和優點從下面結合附圖對實施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置整體示意圖；

圖2去除晶體支撐裝置及定位機構等部件的用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置示意圖；

圖3分度機構示意圖；

圖4晶體切換裝置示意圖；

圖5是已裝載了晶體的晶體支撐部件示意圖；

圖6是晶體支撐部件的T型部件；

圖7晶體支撐部件的某方向的示意圖；

圖8是定位機構的示意圖；

圖9是圖8具有內部虛線示意圖；

圖中，100支撐框架，20定位機構，201回彈機構，202定位基座，2021基座定位結構，203定位模塊，2031模塊定位結構，301齒輪，400晶體，401晶體支撐部件，4011晶體裝配結構，4012晶體支撐部件中軸，4013第二凹槽，4014第一凹槽，4015支板，4016第三凹槽，4017凸起，4018彈性裝置，4019T型部件，50分度機構，501分度主動部件和502分度從動部件，60傳動機構，601傳動主部件和602傳動從部件，701分度機構支撐部和702動力源。

具體實施方式

下面詳細描述本發明的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，僅用于解釋本發明，而不能解釋為對本發明的限制。

在本發明的描述中，需要理解的是，術語 “上”、“下”、“底”、“頂”、“前”、“后”、“內”、“外”、“橫”、“豎”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本發明的限制。

在本發明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規定和限定，術語“連接”、“連通”、“相連”、“連接”、“配合”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，一體地連接，也可以是可拆卸連接；可以是兩個元件內部的連通；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連；“配合”可以是面與面的配合，也可以是點與面或線與面的配合，也包括孔軸的配合，對于本領域的普通技術人員而言，可以具體情況理解上述術語在本發明中的具體含義。

本發明的構思如下，通過采用分度機構、晶體支撐部件和定位機構的結合，在完成切換晶體的同時還保證了晶體的定位精度，且動作過程可靠，即使在工業現場頻繁使用下，檢測裝置的壽命都有顯著提高，因此具有明顯的優點。

下面將參照附圖來描述本發明，其中圖1用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置整體示意圖；圖2去除晶體支撐裝置及定位機構等部件的用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置示意圖；圖3分度機構示意圖；圖4晶體切換裝置示意圖；圖5是已裝載了晶體的晶體支撐部件示意圖；圖6是晶體支撐部件的T型部件；圖7晶體支撐部件的某方向的示意圖；圖8是定位機構的示意圖。

如圖1-9所示，根據本發明的實施例，所述用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置包括分度機構50，傳動機構60，晶體支撐部件401，支撐框架100，定位機構20； 所述分度機構50通過所述傳動機構60與所述晶體支撐部件401相聯；所述分度機構50包括分度從動部件502和分度主動部件501，所述分度主動部件501與所述分度從動部件502轉動聯接；所述傳動機構60包括傳動主部件601和傳動從部件602；所述分度從動部件502和所述傳動機構60以及所述晶體支撐部件401均安裝在所述支撐框架100上；所述分度機構60的分度數量與所述晶體支撐部件401安裝的晶體數量相同；所述定位機構20安裝在所述支撐框架100上，所述定位機構20包括定位基座202，定位模塊203以及回彈機構201；所述定位基座202中心軸安裝在所述支撐框架100上且具有基座定位結構2021，所述定位模塊203一端聯接在所述支撐框架100上，另一端具有模塊定位結構2031，所述基座定位結構2021與所述模塊定位結構2031緊密配合，所述回彈機構201一端固定聯接在所述支撐框架100上，另一端與所述定位模塊203相聯；所述定位基座202為圓盤結構，所述基座定位結構2021為定位孔，所述模塊定位結構2031為定位柱,所述定位柱沿所述定位基座202圓周方向彈性安裝；所述基座定位結構2021和所述模塊定位結構2031精密配合且所述基座定位結構2021數量為大于等于1的自然數；所述定位機構20中的所述定位基座202的中軸和所述晶體支撐部件100的中軸固定聯結且與所述支撐框架100轉動聯結，所述定位基座202上的所述基座定位結構2021與所述晶體支撐部件401上的所述晶體裝配結構4011精確定位裝配且一一對應。

根據本專利背景技術中對現有技術所述，在光譜儀測量元素的特征譜線時，由于有幾十種元素，而單個晶體只能測量有限數量的特征譜線，因此只能通過晶體切換裝置將多個晶體逐漸切換，而對于切換前后晶體的位置總是存在較大的誤差；而本發明公開的一種用于光譜檢測的晶體切換裝置，通過采用分度機構、晶體支撐部件和定位機構的結合，在完成切換晶體的同時還保證了晶體的定位精度，且動作過程可靠，即使在工業現場頻繁使用下，檢測裝置的壽命都有顯著提高，因此具有明顯的優點。

另外，根據本發明公開的用于光譜儀具有分度模組的晶體切換裝置還具有如下附加技術特征：

根據本發明的一些實施例，所述晶體切換裝置還包括分度機構支撐部701和動力源702，所述分度主動部件501安裝在所述動力源702輸出軸上且與所述動力源702一同安裝在所述分度機構支撐部701上，所述分度從動部件502安裝在所述支撐框架100上：

所述分度機構50水平放置，所述傳動主部件601和所述分度從動部件502相聯且安裝在所述支撐框架100上，所述傳動主部件601為端面齒輪，所述傳動從部件602為直齒輪，所述端面齒輪與所述直齒輪嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件401轉動聯接，如圖1所示；

或

所述分度機構50豎直放置，所述傳動主部件601和所述分度從動部件502相聯且安裝在所述支撐框架100上，所述傳動主部件601為主動直齒輪，所述傳動從部件602為直齒輪，所述主動直齒輪端面與所述直齒輪端面處于平行面或同一平面上且嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉動401聯接。

根據本發明的一些實施例，所述晶體支撐部件401為柱型，包括n個晶體裝配結構4011，所述晶體裝配結構4011均勻分布在所述晶體支撐部件401的外側面。

進一步地，所述晶體裝配結構4011包括開口背離所述晶體支撐部件401中心方向的第一凹槽4014和第二凹槽4013，所述第一凹槽4014位于所述第二凹槽4013下方，所述第二凹槽4013頂部具有凸起4017，所述第二凹槽4013側面及所述凸起4017內側面為與晶體表面相配合的平面。

優選地，所述晶體支撐部件401中空，且具有中軸4012。

進一步地，所述晶體裝配結構4011的內表面安裝有具有向外彈出部件的彈性裝置4018，所述向外彈出部件的頂端高于所述第一凹槽4014的深度。

更進一步地，所述彈性裝置4018下端具有橫片，下部形成“L”型結構。

進一步地，所述晶體裝配結構4011中形成所述第一凹槽4014和所述第二凹槽4013的兩側支板4015上表面為平面且具有第三凹槽4016。

根據本發明的一些實施例，所述支撐框架100為立體四邊結構，包括上支撐邊，下支撐邊，左支撐邊，右支撐邊，所述上支撐邊上具有與通過所述晶體支撐部件401中軸線的中軸相聯的轉動部件，所述定位基座202安裝在所述晶體支撐部件401的下方且與所述晶體支撐部件401精確固定。

根據本發明的一些實施例，所述晶體切換裝置還包括動力源702，所述動力源702與所述分度主動部件501相聯。

根據本發明的一些實施例，所述分度從動部件502為分度盤。

根據本發明的一些實施例，所述分度主動部件501為兩端安裝有轉動件的桿件結構。

根據本發明的一些實施例，所述支撐框架100為包括上邊、下邊、左邊和右邊構成的四邊結構，所述定位基座202中心軸轉動安裝在通過所述支撐框架100的所述上邊和所述下邊的中心軸上，所述支撐框架100一體成型。

根據本發明的一些實施例，所述基座定位結構2021數量為2、4、6、8個。

根據本發明的一些實施例，所述定位柱具有滑動面。

優選地，所述滑動面為斜面或帶弧度的面。

根據本發明的一些實施例，所述定位柱具有錐形頭或圓頭。

根據本發明的實施例，所述支撐框架100還包括齒輪301，所述齒輪301轉動安裝在所述支撐架100上且與所述定位基座202同軸并固定聯結。

外部傳動部件將轉動通過齒輪301傳遞所述裝置，所述裝置進行轉動，從而定位機構能夠使得晶體支撐部件401上的晶體裝配結構4011精確定位。

根據本發明的一些實施例，所述晶體支撐部件401還包括T型部件4019，所述T型部件4019裝入所述第三凹槽4016中，起到保護所述晶體支撐部件401的作用，減少檢測光對所述晶體支撐部件401的所述支板4015表面的影響。

任何提及“一個實施例”、“實施例”、“示意性實施例”等意指結合該實施例描述的具體構件、結構或者特點包含于本發明的至少一個實施例中。在本說明書各處的該示意性表述不一定指的是相同的實施例。而且，當結合任何實施例描述具體構件、結構或者特點時，所主張的是，結合其他的實施例實現這樣的構件、結構或者特點均落在本領域技術人員的范圍之內。

盡管參照本發明的多個示意性實施例對本發明的具體實施方式進行了詳細的描述，但是必須理解，本領域技術人員可以設計出多種其他的改進和實施例，這些改進和實施例將落在本發明原理的精神和范圍之內。具體而言，在前述公開、附圖以及權利要求的范圍之內，可以在零部件和/或者從屬組合布局的布置方面作出合理的變型和改進，而不會脫離本發明的精神。除了零部件和/或布局方面的變型和改進，其范圍由所附權利要求及其等同物限定。