一種光纖缺陷檢測裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種光纖缺陷檢測裝置，光纖缺陷檢測裝置包括：數據處理器、脈沖激光器、時間數據轉換器和光探測器；脈沖激光器，用于在數據處理器的控制下，向被測試光纖發出激光脈沖信號；光探測器，用于檢測被測試光纖在傳輸激光脈沖信號過程中是否有產生反射光信號，當光探測器檢測到反射光信號時，向時間數據轉換器發送觸發信號；時間數據轉換器，用于記錄脈沖激光器發出激光脈沖信號的第一時間，以及接收到觸發信號的第二時間，并將第一時間和第二時間發送至數據處理器；數據處理器，用于根據第一時間和第二時間的時間差及光傳播速度，計算得出被測試光纖的缺陷位置。使用該光纖缺陷檢測裝置，可實現對光纖缺陷的便捷、快速檢測。
【專利說明】
一種光纖缺陷檢測裝置
技術領域
[0001]本實用新型涉及檢測技術領域，具體的，涉及一種光纖缺陷檢測裝置。
【背景技術】
[0002]隨著光纖通道(Fibre Channel，FC)網絡技術在航空、航天、兵器、艦船等國防及工業應用領域的快速推廣應用，短距離光纖線束已經成為光纖通道網絡設備的主要連接介質。由于短距離集束光纖線束中使用的光纖具有短距離長度(通常長度小于150米)、物理連接點多等特點，怎樣實現短距離光纖連接缺陷快速檢查和維護，已成為光纖通道網絡應用過程中的一個技術問題。目前，主要使用光時域反射儀(Opt i ca I Time DomainReflectometer’OTDR)對光纖缺陷進行檢測，這種檢測方式存在測量盲區大、檢測精度差(一般在米量級以上)的缺點。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型的目的在于提供一種光纖缺陷檢測裝置，以改善現有技術中光纖缺陷檢測測量盲區大、檢測精度差的問題。
[0004]本實用新型的實施例是這樣實現的:
[0005]第一方面，本實用新型實施例提供了一種光纖缺陷檢測裝置，包括:數據處理器、脈沖激光器、時間數據轉換器和光探測器；
[0006]所述脈沖激光器，用于在所述數據處理器的控制下，向被測試光纖發出激光脈沖信號；
[0007]所述光探測器，用于檢測所述被測試光纖在傳輸所述激光脈沖信號過程中是否有產生反射光信號，當所述光探測器檢測到反射光信號時，向所述時間數據轉換器發送觸發信號；
[0008]所述時間數據轉換器，用于記錄所述脈沖激光器發出所述激光脈沖信號的第一時間，以及接收到所述觸發信號的第二時間，并將所述第一時間和第二時間發送至所述數據處理器；
[0009]所述數據處理器，用于根據所述第一時間和第二時間的時間差及光傳播速度，計算得出所述被測試光纖的缺陷位置。
[0010]進一步地，所述光纖缺陷檢測裝置還包括光衰減器，所述光衰減器的輸入端與所述脈沖激光器和數據處理器相連、輸出端與所述被測試光纖相連；
[0011]所述光衰減器，用于接收所述數據處理器的控制指令，并在所述控制指令下對所述脈沖激光器向所述被測試光纖發出的激光脈沖信號進行功率衰減處理。
[0012]進一步地，所述光纖缺陷檢測裝置還包括環形器，所述環形器連接于所述光衰減器與所述被測試光纖之間，所述環形器還與光探測器相連；
[0013]所述環形器，用于將進行功率衰減處理之后的激光脈沖信號傳輸至所述被測試光纖，并在所述被測試光纖傳輸所述激光脈沖信號過程中產生反射光信號時，將所述反射光信號傳輸至所述光探測器。
[0014]進一步地，所述光衰減器與所述數據處理器之間還連接有第二驅動器。
[0015]進一步地，所述光纖缺陷檢測裝置還包括放大組件，所述放大組件與所述數據處理器和時間數據轉換器相連。
[0016]進一步地，所述放大組件包括前置放大器和可變增益放大器；
[0017]所述前置放大器的輸入端與所述光探測器相連、輸出端與所述可變增益放大器相連，所述可變增益放大器的輸出端與所述時間數據轉換器相連，所述數據處理器與所述可變增益放大器相連；
[0018]所述前置放大器用于放大所述光探測器傳遞的電流脈沖信號，所述電流脈沖信號由所述光探測器將所述反射光信號進行轉換得到；
[0019]所述可變增益放大器用于根據所述數據處理器發出的控制指令對已被所述前置放大器放大的電流脈沖信號進行再次放大，并將再次放大的電流脈沖信號作為所述觸發信號發送至所述時間數據轉換器。
[0020]進一步地，所述數據處理器與所述可變增益放大器之間還連接有第一驅動器，所述數據處理器通過所述第一驅動器向所述可變增益放大器發出控制指令。
[0021]進一步地，所述可變增益放大器與所述時間數據轉換器之間連接有比較器；
[0022]所述比較器用于將再次放大的電流脈沖信號轉換為電平脈沖信號，將所述電平脈沖信號作為所述觸發信號發送至所述時間數據轉換器。
[0023]進一步地，所述脈沖激光器為能夠發出多種強度的激光脈沖信號的脈沖激光器。
[0024]進一步地，所述被測試光纖包括短距離光纖線束。
[0025]本實用新型實施例提供的光纖缺陷檢測裝置，基于在光纖存在缺陷時會對所傳遞的激光脈沖信號進行反射的特性，通過對數據處理器、脈沖激光器、時間數據轉換器、光探測器等的巧妙集成，使得時間數據轉換器能夠對脈沖激光器發出激光脈沖信號的時間和光探測器檢測到光纖反射的反射光信號的時間進行記錄，進而使得數據處理器能夠根據光傳播速度、脈沖激光器發出激光脈沖信號的時間和光探測器檢測到光纖反射的反射光信號的時間計算得出被測試光纖的缺陷位置。本實用新型實施例中的光纖缺陷檢測方式實現方便，能夠快速、準確地進行光纖缺陷檢測，性價比較高。
【附圖說明】
[0026]為了更清楚地說明本實用新型實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本實用新型的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。
[0027]圖1為本實用新型實施例提供的一種光纖缺陷檢測裝置的系統框圖。
【具體實施方式】
[0028]為使本實用新型實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本實用新型實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設計。
[0029]因此，以下對在附圖中提供的本實用新型的實施例的詳細描述并非旨在限制要求保護的本實用新型的范圍，而是僅僅表示本實用新型的選定實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0030]為了改善現有技術中光纖缺陷檢測測量盲區大、檢測精度差的問題，本實用新型實施例基于光纖缺陷位置200會對所傳遞的激光脈沖信號進行反射的特點，提供了一種能夠記錄光纖接收到激光脈沖信號的時間點和光纖缺陷位置200反射回反射光信號的時間點，并根據光傳播速度、光纖接收到激光脈沖信號的時間點和光纖缺陷位置200反射回反射光信號的時間點計算得出光纖缺陷位置200的實現方案。
[0031]本實用新型實施例中的光纖缺陷檢測方案適用于如圖1所示的光纖缺陷檢測裝置
10。所述光纖缺陷檢測裝置10包括數據處理器108、脈沖激光器101、時間數據轉換器109和光探測器104。
[0032]其中，所述脈沖激光器101用于在所述數據處理器108的控制下，向被測試光纖100發出激光脈沖信號。
[0033]需說明的是，在實際應用中，數據處理器108可以向脈沖激光器101發送控制指令，使得脈沖激光器101在控制指令下向被測試光纖100發出激光脈沖信號。根據實際需求，該控制指令可以僅用于觸發脈沖激光器101發出固定的激光脈沖信號。控制指令也可以用于觸發脈沖激光器101發出特定的激光脈沖信號，例如:脈沖激光器101可以發出不同強度的激光脈沖信號，根據數據處理器108所發送控制指令的不同，脈沖激光器101可以發出特定強度的激光脈沖信號。
[0034]所述光探測器104用于檢測所述被測試光纖100在傳輸所述激光脈沖信號過程中是否有產生反射光信號，當所述光探測器104檢測到反射光信號時，向所述時間數據轉換器109發送觸發信號。
[0035]需說明的是，當被測試光纖100在傳輸所述激光脈沖信號過程中未產生反射光信號時，說明激光脈沖信號已被可靠傳遞，被測試光纖100不存在缺陷。當被測試光纖100在傳輸所述激光脈沖信號過程中產生反射光信號時，說明激光脈沖信號未能被可靠傳遞，被測試光纖100中存在缺陷，激光脈沖信號傳遞至被測試光纖100的缺陷位置200時被反射，產生了反射光信號。由光探測器104在檢測到反射光信號時向時間數據轉換器109發送觸發信號。
[0036]所述時間數據轉換器109用于記錄所述脈沖激光器101發出所述激光脈沖信號的第一時間tl，以及接收到所述觸發信號的第二時間t2，并將所述第一時間tl和第二時間t2發送至所述數據處理器108。
[0037]需說明的是，為了盡可能減少時間數據轉換器109記錄的時間的誤差，時間數據轉換器109可以直接與脈沖激光器101相連，時間數據轉換器109將脈沖激光器101向被測試光纖100發出激光脈沖信號的時間記錄為第一時間tl。在實施時，時間數據轉換器109可以將時間“成對”發送至數據處理器108。例如:將第一時間tl和第二時間t2成對發送至數據處理器108，若僅有第一時間tl而沒有第二時間t2，則不進行時間發送。在實施時，時間數據轉換器109也可以將記錄的每個時間即時發送至數據處理器108，由數據處理器108選擇有效的“成對”時間進行后續處理。
[0038]所述數據處理器108用于根據所述第一時間tl和第二時間t2的時間差及光傳播速度，計算得出所述被測試光纖100的缺陷位置200。
[0039]本實施例中，優選所述數據處理器108根據公式L = 30000000000*(t2-tl)/2得出所述被測試光纖100的缺陷位置200。所述缺陷位置200為所述被測試光纖100上、距所述被測試光纖100與所述脈沖激光器101相鄰一端L厘米距離的位置。
[0040]可選地，所述光纖缺陷檢測裝置10還包括光衰減器102和環形器103，所述光衰減器102的輸入端與所述脈沖激光器101和數據處理器108相連、輸出端與所述環形器103相連，所述環形器103與所述被測試光纖100和光探測器104相連。
[0041]其中，所述光衰減器102用于接收所述數據處理器108的控制指令，并在所述控制指令下對所述脈沖激光器101向所述被測試光纖100發出的激光脈沖信號進行功率衰減處理。
[0042]需說明的是，在實際應用中，數據處理器108可以向光衰減器102發送控制指令，使得光衰減器102在控制指令下對激光脈沖信號進行衰減處理。根據實際需求，該控制指令可以僅用于對激光脈沖信號進行定量衰減處理。控制指令也可以對光衰減器102進行特定量的衰減處理，例如:光衰減器102可以對激光脈沖信號進行不同程度的衰減，根據數據處理器108所發送控制指令的不同，光衰減器102可以對激光脈沖信號進行不同程度的衰減，以使通過環形器103進入被測試光纖100的激光脈沖信號強度不同。
[0043]所述環形器103用于將進行功率衰減處理之后的激光脈沖信號傳輸至所述被測試光纖100，并在所述被測試光纖100傳輸所述激光脈沖信號過程中產生反射光信號時，將所述反射光信號傳輸至所述光探測器104。
[0044]環形器103是一種能夠使激光脈沖信號單向環形傳輸的器件。使用環形器103進行信號傳輸能夠確保經光衰減器102傳遞的激光脈沖信號準確進入被測試光纖100，經被測試光纖100反射的反射光信號準確傳輸至光探測器104，有效避免測量盲區。經驗證，環形器103能夠提高檢測精度至分米量級，有效提高了短距離光纖物理介質中存在的光纖連接缺陷點的定位距離精度。
[0045]可選地，所述光纖缺陷檢測裝置10還包括前置放大器105、可變增益放大器106和第一驅動器110。所述前置放大器105的輸入端與所述光探測器104相連、輸出端與所述可變增益放大器106相連，所述可變增益放大器106的輸出端與所述時間數據轉換器109相連，所述第一驅動器110連接于所述數據處理器108與所述可變增益放大器106之間。如此設置后，所述前置放大器105用于將所述光探測器104傳遞的電流脈沖信號進行放大，所述電流脈沖信號由所述光探測器104將所述反射光信號進行轉換得到。所述可變增益放大器106用于根據所述數據處理器108通過所述第一驅動器110所發出的控制指令對已被所述前置放大器105放大的電流脈沖信號進行再次放大，并將再次放大的電流脈沖信號作為所述觸發信號發送至所述時間數據轉換器109。通過兩次放大，能夠將較弱的反射光信號放大為較強的電流脈沖信號對時間數據轉換器109進行觸發，從而確保了發射光信號檢測的準確性，確保了本光纖缺陷檢測裝置10能夠檢測出被測試光纖100中較小的缺陷位置200。
[0046]需說明的是，在實際應用中，數據處理器108通過第一驅動器110對可變增益放大器106的放大參數進行設置，使得可變增益放大器106按照放大參數對已被所述前置放大器105放大的電流脈沖信號進行再次放大。該種設置方式，能夠靈活調整可變增益放大器106的放大參數，以滿足不同需求。
[0047]可選地，所述可變增益放大器106與所述時間數據轉換器109之間連接有比較器107，所述比較器107用于將再次放大的電流脈沖信號轉換為電平脈沖信號，將所述電平脈沖信號作為所述觸發信號發送至所述時間數據轉換器109。
[0048]其中，比較器107可以將再次放大的電流脈沖信號轉換為TTL電平脈沖信號，將TTL電平脈沖信號作為所述觸發信號發送至所述時間數據轉換器109，使得時間數據轉換器109記錄接收到TTL電平脈沖信號的時間。
[0049]通過上述設置，脈沖激光器101在數據處理器108的控制下，發出檢測激光脈沖信號。激光脈沖信號進入光衰減器102，光衰減器102按照數據處理器108通過第二驅動器111設定的參數對激光脈沖信號進行特定的功率衰減處理，激光脈沖信號同時進入時間數據轉換器109，以記錄發出檢測激光脈沖信號的時間信息。經功率衰減的激光脈沖信號進入環形器103，由環形器103傳輸至被測試光纖100。當被測試光纖100中無缺陷位置200時，激光脈沖信號直接進行傳輸，當被測試光纖100中存在缺陷位置200時，由于缺陷位置200的不規則折射，激光脈沖信號在缺陷位置200處被反射，形成反射光信號。一般來說，光纖缺陷位置200的斷裂越嚴重，反射光信號的強度值越大。反射光信號通過環形器103進入光探測器104轉換為電流脈沖信號，電流脈沖信號進入前置放大器105放大，放大后的電流脈沖信號進入可變增益放大器106按照數據處理器108通過第一驅動器110設置的參數進行再次放大，經二次放大后的電流脈沖信號進入比較器107，被轉換為TTL電平脈沖信號。TTL電平脈沖信號進入時間數據轉換器109被記錄，通過與已記錄的發出信號的時間信息進行差值計算得到檢測激光脈沖信號及反射光信號的傳輸時間T(秒)。數據處理器108根據公式30000000000*T/2 = L(厘米)，即可以計算出光纖缺陷位置200的位置數據。
[0050]在上述基礎上，本實用新型實施例還提供了一種基于上述光纖缺陷檢測裝置10，在應用中只需進行簡單的功能擴展便可實現的光纖缺陷檢測方法，所述光纖缺陷檢測裝置10包括數據處理器108、脈沖激光器101、時間數據轉換器109和光探測器104。所述方法包括。
[0051]所述脈沖激光器101在所述數據處理器108的控制下，向被測試光纖100發出第一激光脈沖信號。
[0052]其中，根據實際需求，該控制指令可以僅用于觸發脈沖激光器101發出固定的激光脈沖信號。控制指令也可以用于觸發脈沖激光器101發出特定的激光脈沖信號，例如:脈沖激光器101可以發出不同強度的激光脈沖信號，根據數據處理器108所發送控制指令的不同，脈沖激光器101可以發出特定強度的激光脈沖信號。
[0053]可選地，根據被測試光纖100型號的不同，數據處理器108可以選擇發送不同的控制指令，以使脈沖激光器101發出不同強度的激光脈沖信號。
[0054]所述光探測器104檢測所述被測試光纖100在傳輸所述第一激光脈沖信號過程中是否有產生第一反射光信號，當所述光探測器104檢測到第一反射光信號時，向所述時間數據轉換器109發送觸發信號。
[0055]其中，當被測試光纖100在傳輸所述激光脈沖信號過程中未產生反射光信號時，說明激光脈沖信號已被可靠傳遞，被測試光纖1 O不存在缺陷。當被測試光纖1 O在傳輸所述激光脈沖信號過程中產生反射光信號時，說明激光脈沖信號未能被可靠傳遞，被測試光纖100中存在缺陷，激光脈沖信號傳遞至被測試光纖100的缺陷位置200時被反射，產生了反射光信號。由光探測器104在檢測到反射光信號時向時間數據轉換器109發送觸發信號。
[0056]所述時間數據轉換器109記錄所述脈沖激光器101發出所述第一激光脈沖信號的第一時間，以及接收到所述觸發信號的第二時間，并將所述第一時間和第二時間發送至所述數據處理器108。
[0057]在實施時，時間數據轉換器109可以將時間“成對”發送至數據處理器108。例如:將第一時間tl和第二時間t2成對發送至數據處理器108，若僅有第一時間tl而沒有第二時間t2，則不進行時間發送。在實施時，時間數據轉換器109也可以將記錄的每個時間即時發送至數據處理器108，由數據處理器108選擇有效的“成對”時間進行后續處理。
[0058]所述數據處理器108根據所述第一時間和第二時間的時間差及光傳播速度，計算得出所述被測試光纖100的缺陷位置200。
[0059]本實施例中，優選所述數據處理器108根據公式L = 30000000000*(t2-tl)/2得出所述被測試光纖100的缺陷位置200。所述缺陷位置200為所述被測試光纖100上、距所述被測試光纖100與所述脈沖激光器101相鄰一端L厘米距離的位置。
[0060]通過上述方式，即可便捷、快速地實現對光纖缺陷的檢測。既可以檢測出被測試光纖100是否存在缺陷，又可以根據時間差對缺陷位置200進行定位，避免了對人為經驗因素的依賴，顯著簡化了光纖缺陷識別、分析、維護的復雜性，能夠為光纖通道網絡的推廣應用提供可靠的技術保障。
[0061]本實用新型實施例提供的光纖缺陷檢測裝置，基于在光纖存在缺陷時會對所傳遞的激光脈沖信號進行反射的思路，采用激光功率掃描和時間數據測量，完成對光纖回波損耗和光纖缺陷反射點的快速測量與精確定位，實現了對短距離光纖連接缺陷快速檢查，有效地解決了針對短距離光纖物理介質中存在的光纖連接缺陷的快速檢查與高精度定位技術問題。該技術是光纖應用領域的創新檢測控制技術，具有快速、簡單、可靠，精度高，實現成本低的特點。可以有效解決短距離光纖物理介質中存在的光纖連接缺陷的快速檢查與高精度定位技術問題，簡化短距離光纖連接缺陷的診斷和維護操作，大大提高短距離光纖連接缺陷的診斷和維護效率。同時，短距離光纖連接缺陷快速檢查裝置，可以在航空、航天、兵器、艦船等國防及工業應用領域推廣使用。
[0062]應注意到:相似的標號和字母在下面的附圖中表示類似項，因此，一旦某一項在一個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進行進一步定義和解釋。
[0063]以上所述僅為本實用新型的優選實施例而已，并不用于限制本實用新型，對于本領域的技術人員來說，本實用新型可以有各種更改和變化。凡在本實用新型的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。應注意至IJ:相似的標號和字母在下面的附圖中表示類似項，因此，一旦某一項在一個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進行進一步定義和解釋。
[0064]以上所述，僅為本實用新型的【具體實施方式】，但本實用新型的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本實用新型揭露的技術范圍內，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內。因此，本實用新型的保護范圍應以所述權利要求的保護范圍為準。
【主權項】
1.一種光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，包括:數據處理器、脈沖激光器、時間數據轉換器和光探測器； 所述脈沖激光器，用于在所述數據處理器的控制下，向被測試光纖發出激光脈沖信號； 所述光探測器，用于檢測所述被測試光纖在傳輸所述激光脈沖信號過程中是否有產生反射光信號，當所述光探測器檢測到反射光信號時，向所述時間數據轉換器發送觸發信號； 所述時間數據轉換器，用于記錄所述脈沖激光器發出所述激光脈沖信號的第一時間，以及接收到所述觸發信號的第二時間，并將所述第一時間和第二時間發送至所述數據處理器； 所述數據處理器，用于根據所述第一時間和第二時間的時間差及光傳播速度，計算得出所述被測試光纖的缺陷位置。2.根據權利要求1所述的光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，所述光纖缺陷檢測裝置還包括光衰減器，所述光衰減器的輸入端與所述脈沖激光器和數據處理器相連、輸出端與所述被測試光纖相連； 所述光衰減器，用于接收所述數據處理器的控制指令，并在所述控制指令下對所述脈沖激光器向所述被測試光纖發出的激光脈沖信號進行功率衰減處理。3.根據權利要求2所述的光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，所述光纖缺陷檢測裝置還包括環形器，所述環形器連接于所述光衰減器與所述被測試光纖之間，所述環形器還與光探測器相連； 所述環形器，用于將進行功率衰減處理之后的激光脈沖信號傳輸至所述被測試光纖，并在所述被測試光纖傳輸所述激光脈沖信號過程中產生反射光信號時，將所述反射光信號傳輸至所述光探測器。4.根據權利要求2所述的光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，所述光衰減器與所述數據處理器之間還連接有第二驅動器。5.根據權利要求1所述的光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，所述光纖缺陷檢測裝置還包括放大組件，所述放大組件與所述數據處理器和時間數據轉換器相連。6.根據權利要求5所述的光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，所述放大組件包括前置放大器和可變增益放大器； 所述前置放大器的輸入端與所述光探測器相連、輸出端與所述可變增益放大器相連，所述可變增益放大器的輸出端與所述時間數據轉換器相連，所述數據處理器與所述可變增益放大器相連； 所述前置放大器用于放大所述光探測器傳遞的電流脈沖信號，所述電流脈沖信號由所述光探測器將所述反射光信號進行轉換得到； 所述可變增益放大器用于根據所述數據處理器發出的控制指令對已被所述前置放大器放大的電流脈沖信號進行再次放大，并將再次放大的電流脈沖信號作為所述觸發信號發送至所述時間數據轉換器。7.根據權利要求6所述的光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，所述數據處理器與所述可變增益放大器之間還連接有第一驅動器，所述數據處理器通過所述第一驅動器向所述可變增益放大器發出控制指令。8.根據權利要求7所述的光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，所述可變增益放大器與所述時間數據轉換器之間連接有比較器； 所述比較器用于將再次放大的電流脈沖信號轉換為電平脈沖信號，將所述電平脈沖信號作為所述觸發信號發送至所述時間數據轉換器。9.根據權利要求1所述的光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，所述脈沖激光器為能夠發出多種強度的激光脈沖信號的脈沖激光器。10.根據權利要求1所述的光纖缺陷檢測裝置，其特征在于，所述被測試光纖包括短距離光纖線束。
【文檔編號】G01M11/00GK205691316SQ201620485220
【公開日】2016年11月16日
【申請日】2016年5月25日 公開號201620485220.2, CN 201620485220, CN 205691316 U, CN 205691316U, CN-U-205691316, CN201620485220, CN201620485220.2, CN205691316 U, CN205691316U
【發明人】樓英
【申請人】成都英鑫光電科技有限公司