一種電子元器件側邊針測試治具的制作方法

本實用新型涉及電子元器件側邊針測試治具，特別是一種電子元器件側邊針測試治具。

背景技術：

隨著電子科技的發展，電子元器件越來越傾向于小體積、多功能、高精度的趨勢發展，這些變化趨勢對電子元器件測試技術也提出了更高的要求，特別是小體積的電子元器件的測試，測試探針能否準確的對上測試點，將會影響測試的效果和測試的速率。比如在作石英晶體振蕩器的水晶特性的分析時，由于水晶封裝在振蕩器內部，且產品本身封裝尺寸較小，僅在基座側面預留兩個微型測試點，如何準確對接測試點，并且完好的和測試分析儀器匹配完好，成為行內一大難題，大大阻礙了石英晶體振蕩器水晶特性的研究分析，同時，如缺少對石英晶體振蕩器內部水晶特性的分析，將會對產品的可靠性產生影響。

技術實現要素：

針對現有技術的不足，本實用新型提一種電子元器件側邊針測試治具。

為實現上述目的，本實用新型通過下述技術方案予以實現：一種電子元器件側邊針測試治具，包括底座、模具臺、模具、滑動裝置和測試托板，模具臺和滑動裝置對應安裝在底座兩端；模具臺設置有和模具配合的模具槽，模具固定安裝在模具臺的模具槽內；滑動裝置包括底板，底板上對應設有固定塊和滑動塊，固定塊固定設置在底板一端，滑動塊活動安裝在底板另一端，固定塊和滑動塊之間均勻連接有2條以上的彈簧；

測試托板固定在滑動塊上，測試托板上設有測試板槽，測試探針一端外露設于測試板槽內，且與測試托板的測試點相對應，另一端穿過測試托板的側邊且能活動伸入至模具的探針槽內，模具上設有和產品相配合的產品槽和測試探針配合的探針槽，將產品放入產品槽中，產品的測試點正好落在探針槽的槽口內。

所述滑動裝置的底板上設有螺桿和通過螺桿能上下升降的擋塊，所述擋塊的升降可以通過擋塊上的齒條和螺桿內部的齒輪配合實現，所述擋塊為梯形擋塊，常態下，擋塊突出底板表面，阻擋滑動塊向模具臺方向運動，此時彈簧處于壓縮狀態，調節螺桿，可使擋塊逐漸向下運動至擋塊上表面與底板表面相平，或者擋塊上表面低于底板表面，此時，滑動塊在彈簧力的作用下向模具臺的方向運動。

所述滑動裝置接近模具臺的一端還設置有限位調節器，所述限位調節器為在擋板上垂直設置調節桿的結構，調節桿可以沿著滑動塊運動的方向作橫向運動，當測試托板隨著滑動塊在彈簧的作用下向模具臺運動時，可以通過調節桿限制滑動塊和測試托板的運動，達到微調的目的。

進一步地，所述模具臺上設有定位針，模具上設置有和定位針配合的定位孔，通過定位孔和定位針的配合能夠實現模具在模具臺上的準確安裝，從而保證測試針和產品測試點的精確定位。

進一步地，所述底座1上設置有限位凹槽，模具臺和滑動裝置的兩側邊分別嵌入到

限位凹槽內，從而提高安裝精度，所述滑動裝置的底板設置有滑行軌道，滑動塊底部形狀與滑行軌道相互配合，使滑塊活動安裝在滑行軌道上。

更進一步地，所述模具在產品槽兩側設置有產品取放槽，可方便取放測試產品。

本實用新型的有益效果為：

1、通過彈簧的作用、擋塊和螺桿的配合，能夠方便地控制測試探針和產品的接觸；

2、通過限位調節器的微調作用，不僅可以適應不同尺寸產品的測試，還能保證測試探針能以較好的力度接觸產品的測試點，保證測試的準確度；

3、通過模具臺和模具的定位針和定位孔的配合，滑動裝置的滑行軌道和滑動塊的配合，以及底座限位臺階的限位作用，使測試探針的位置精度控制在0.01mm范圍內，實現了高精度的電子元器件的測試功能；

4、產品取放槽的設置，可方便取放測試產品。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖，

其中，1-底座，2-模具臺，3-模具，4-滑動裝置，5-測試托板，6-底板，7-固定塊，8-滑動塊，9-測試探針，10-限位調節器。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型的具體實施方式作進一步說明：

如圖1所示，一種電子元器件側邊針測試治具，包括底座1、模具臺2、模具3、滑動裝置4和測試托板5，模具臺2和滑動裝置4對應安裝在底座1兩端；模具臺2設置有和模具3配合的模具槽，模具3固定安裝在模具臺2的模具槽內；滑動裝置4包括底板6，底板6上對應設有固定塊7和滑動塊8，固定塊7固定設置在底板6一端，滑動塊8活動安裝在底板6另一端，固定塊7和滑動塊8之間均勻連接有2條以上的彈簧；

測試托板5固定在滑動塊8上，測試托板5上設有測試板槽，測試探針9一端外露設于測試板槽內，且與測試托板的測試點相對應，另一端穿過測試托板5的側邊且能活動伸入至模具3的探針槽內，模具3上設有和產品相配合的產品槽和測試探針9配合的探針槽，將產品放入產品槽中，產品的測試點正好落在探針槽的槽口內。

所述滑動裝置4的底板6上設有螺桿和通過螺桿能上下升降的擋塊，所述擋塊的升降可以通過擋塊上的齒條和螺桿內部的齒輪配合實現，所述擋塊為梯形擋塊，常態下，擋塊突出底板6表面，阻擋滑動塊向模具臺2方向運動，此時彈簧處于壓縮狀態，調節螺桿，可使擋塊逐漸向下運動至擋塊上表面與底板6表面相平，或者擋塊上表面低于底板6表面，此時，滑動塊8在彈簧力的作用下向模具臺2的方向運動。

所述滑動裝置4接近模具臺2的一端還設置有限位調節器10，所述限位調節器10為在擋板上垂直設置調節桿的結構，調節桿可以沿著滑動塊8運動的方向作橫向運動，當測試托板5隨著滑動塊8在彈簧的作用下向模具臺2運動時，可以通過調節桿限制滑動塊8和測試托板5的運動，達到微調的目的。

進一步地，所述模具臺2上設有定位針，模具3上設置有和定位針配合的定位孔，通過定位孔和定位針的配合能夠實現模具3在模具臺2上的準確安裝，從而保證測試針和產品測試點的精確定位。

進一步地，所述底座1上設置有限位凹槽，模具臺2和滑動裝置4的兩側邊分別嵌入到

限位凹槽內，從而提高安裝精度，所述滑動裝置4的底板6設置有滑行軌道，滑動塊8底部形狀與滑行軌道相互配合，使滑塊活動安裝在滑行軌道上。

更進一步地，所述模具3在產品槽兩側設置有產品取放槽，可方便取放測試產品。

具體實施時，根據測試產品的規格型號，選定好對應的模具3和測試托板，將待測產品置于產品槽內，產品的測試點正好對準探針槽，將測試托板放置在測試板槽內，測試托板上的測試點與測試槽內相應的測試探針9接觸，調節螺桿，使擋塊下降，滑動塊8載著測試托板5和測試托板在彈簧的作用下，沿著滑行軌道向模具臺2方向運動，適當調節限位調節器10的調節桿，使滑動塊8運動到限定的位置時停止運動，測試探針9接觸產品對應的測試點，達到測試的效果。

本實用新型通過彈簧的作用、擋塊和螺桿的配合，能夠方便地控制測試探針9和產品的接觸；通過限位調節器10的微調作用，不僅可以適應不同尺寸產品的測試，還能保證測試探針9能以較好的力度接觸產品的測試點，保證測試的準確度；通過模具臺2和模具3的定位針和定位孔的配合，滑動裝置4的滑行軌道和滑動塊8的配合，以及底座1上限位臺階的限位作用，使測試探針9的位置精度控制在0.01mm范圍內，實現了高精度的電子元器件的測試功能。

上述實施例和說明書中描述的只是說明本實用新型的原理和最佳實施例，在不脫離本實用新型精神和范圍的前提下，本實用新型還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本實用新型范圍內。