技術總結
本實用新型適用于三維測量技術領域，提供了一種顯微三維測量裝置及系統，所述裝置包括：結構光生成裝置、光路轉向組件、成像透鏡組和CCD；所述結構光生成裝置用于產生結構光；所述光路轉向組件用于將結構光引導至待測量物上，并在經過待測量物后，將攜帶有物體圖像信息的光線引導至所述成像透鏡組；所述成像透鏡組包括主透鏡、微透鏡陣列即光場相機，用于透射所述光線；所述CCD用于記錄從微透鏡陣列中相鄰的微透鏡透射的光線，得到記錄的圖像。本實用新型提供的顯微三維測量裝置及系統解決了結構光三維測量中存在的陰影遮擋的問題；同時，將光場相機和結構光三維測量相結合，極大的提高了光場相機的像素利用率，具有更高的精確度。
技術研發人員：吳慶陽;曾增;李玲;張佰春;李景鎮
受保護的技術使用者：深圳大學
文檔號碼：201621310833
技術研發日：2016.11.29
技術公布日：2017.10.10