專利名稱：硬盤陣列開關機測試裝置及測試方法
技術領域：
本發明涉及一種硬盤陣列開關機測試裝置及測試方法。
背景技術：
硬盤陣列是一種把多塊獨立的硬盤按不同的方式組合起來形成一個硬盤組的設備。硬盤陣列內可以同時放置12塊到24塊或者更多數量的硬盤，因此可以將硬盤陣列當成一個容量相當大的硬盤，或者可以對其進行硬盤分區以方便使用。為了確保硬盤陣列能順利重新啟動并保證可靠的開關機次數，一般需要對硬盤陣列進行開關機測試。現有的硬盤陣列開關機測試裝置一般包括一臺電源裝置及一臺電腦。所述電源裝置用于為所述硬盤陣列供電以使所述硬盤陣列開機。所述電腦通過RS-232接口連接至所述硬盤陣列，當硬盤陣列開機后，所述電腦通過所述RS-232接口讀取硬盤陣列的開機信號并計數。通過對所述電源裝置進行參數設定來設定其對硬盤陣列的供電及斷電時間。當電源裝置對硬盤陣列供電一定時間后，即自動切斷對該硬盤陣列的供電以使硬盤陣列關機，接著電源裝置對硬盤陣列進行下一次的供電并計數，以此實現對硬盤陣列的開關機控制以及開關機次數的控制。采用上述方法進行硬盤陣列的開關機測試時，電腦對硬盤陣列開關機狀態的測試以及電源裝置對硬盤陣列開關機的控制是相互獨立進行的，在測試過程中，電腦與電源裝置都會計數并顯示計數結果，但由于RS-232信號傳送到電腦的時間與電源裝置本身的時間計算會存在一定的誤差，往往容易造成電腦上顯示的測試次數與電源裝置的測試次數不一致，致使測試人員無法方便獲知準確的測試結果。
發明內容
有鑒于此，有必要提供一種具有較高測試可靠度的硬盤陣列開關機測試裝置。另，還必要提供一種上述硬盤陣列開關機測試裝置的測試方法。—種硬盤陣列開關機測試裝置，用于對硬盤陣列進行開關機測試，所述硬盤陣列開關機測試裝置包括計算機、主機總線適配器、控制芯片、繼電器及外部電源，所述計算機包括計數器，當該硬盤陣列完成一次開關機測試則該計數器計數加一，所述主機總線適配器分別連接至所述計算機及硬盤陣列，所述控制芯片電性連接至所述計算機，所述繼電器分別電性連接至所述控制芯片、外部電源及硬盤陣列，所述計算機通過驅動控制芯片來使繼電器閉合與斷開，實現該外部電源對該硬盤陣列的供電與斷電以對應控制該硬盤陣列的開機與關機；所述主機總線適配器偵測該硬盤陣列的開、關機狀態并返回給所述計算機。一種如上述的硬盤陣列開關機測試裝置的硬盤陣列開關機測試方法，該方法包括如下步驟
設定計數器的計數次數；
計算機通過驅動控制芯片使繼電器閉合，外部電源通過繼電器為硬盤陣列供電以使硬盤陣列開機；計算機通過控制芯片使繼電器斷開，切斷外部電源對該硬盤陣列的供電以使硬盤陣列關機;
計數器計數加一，計算機判斷是否到達計數器的預定計數次數；
若未到達計數器的計數次數，則反復執行上述步驟，直至到達計數器的計數次數。所述的硬盤陣列開關機測試裝置及其測試方法通過所述計算機來驅動所述控制芯片控制繼電器的斷開與閉合，實現對硬盤陣列的開機與關機的控制，并僅由所述計算機的計數器進行開關機次數的計數，實現了僅由計算機來完成對硬盤陣列開關機的控制與測試，能確保得到較高的測試準確度。
圖I為本發明較佳實施方式硬盤陣列開關機測試裝置的功能模塊圖。圖2及圖3為本發明較佳實施方式的硬盤陣列開關機測試方法的測試流程圖。主要元件符號說明
權利要求
1.一種硬盤陣列開關機測試裝置，用于對硬盤陣列進行開關機測試，所述硬盤陣列開關機測試裝置包括計算機，所述計算機包括計數器，當該硬盤陣列完成一次開關機測試則該計數器計數加一，其特征在于所述硬盤陣列開關機測試裝置還包括主機總線適配器、控制芯片、繼電器及外部電源，所述主機總線適配器分別連接至所述計算機及硬盤陣列，所述控制芯片電性連接至所述計算機，所述繼電器分別電性連接至所述控制芯片、外部電源及硬盤陣列，所述計算機通過驅動控制芯片來使繼電器閉合與斷開，實現該外部電源對該硬盤陣列的供電與斷電以對應控制該硬盤陣列的開機與關機；所述主機總線適配器偵測該硬盤陣列的開、關機狀態并返回給所述計算機。
2.如權利要求I所述的硬盤陣列開關機測試裝置，其特征在于所述計算機還包括控制模塊，控制模塊首先發送開機信號開機信號給所述控制芯片以控制繼電器閉合；當該主機總線適配器偵測到該硬盤陣列開機后，該控制模塊則發送關機信號給所述控制芯片以控制繼電器斷開；當該主機總線適配器偵測到該硬盤陣列關機并且該計數器未到達預設計數次數時，該控制模塊發送開機信號給所述控制芯片以控制繼電器閉合。
3.如權利要求2所述的硬盤陣列開關機測試裝置，其特征在于所述計算機還包括開機計時器，所述控制模塊發送開機信號給所述控制芯片后，控制模塊判斷在開機計時器預設的開機時間內是否從主機總線適配器接收到硬盤陣列的開機狀態。
4.如權利要求3所述的硬盤陣列開關機測試裝置，其特征在于所述計算機還包括關機計時器，當所述控制模塊發送關機信號給所述控制芯片后，控制模塊判斷在關機計時器預設的關機時間內是否從主機總線適配器接收到硬盤陣列的關機狀態，并且在計數器未到達預設計數次數時，控制模塊再次發送開機信號給控制芯片以對該硬盤陣列重復進行開關機操作。
5.如權利要求I至4任一項所述的硬盤陣列開關機測試裝置，其特征在于所述計算機通過RS-232電纜與所述控制芯片相連。
6.一種如權利要求I所述的硬盤陣列開關機測試裝置的硬盤陣列開關機測試方法，該方法包括如下步驟 設定計數器的計數次數； 計算機通過驅動控制芯片使繼電器閉合，外部電源通過繼電器為硬盤陣列供電以使硬盤陣列開機； 計算機通過控制芯片使繼電器斷開，切斷外部電源對該硬盤陣列的供電以使硬盤陣列關機; 計數器計數加一，計算機判斷是否到達計數器的預定計數次數； 若未到達計數器的計數次數，則反復執行上述步驟，直至到達計數器的計數次數。
7.如權利要求6所述的硬盤陣列開關機測試方法，其特征在于提供一開機計時器及控制模塊，該開機計時器及控制模塊設置于計算機內，當控制模塊通過控制芯片使繼電器閉合時，開機計時器開始計時；若控制模塊在開機計時器的計時時間內從主機總線適配器接收到硬盤陣列的開機狀態，控制模塊再通過控制芯片使繼電器斷開。
8.如權利要求7所述的硬盤陣列開關機測試方法，其特征在于提供一關機計時器，該關機計時器設置于計算機內，當控制模塊通過控制芯片使繼電器斷開時，關機計時器開始計時；當控制模塊在關機計時器的計時時間內從主機總線適配器接收到硬盤陣列的關機狀態并且計數器未到達預設計數次數，控制模塊再次發送開機信號給控制芯片以對該硬盤陣列重復進行開關機操作。全文摘要
一種硬盤陣列開關機測試裝置，用于對硬盤陣列進行開關機測試，所述硬盤陣列開關機測試裝置包括計算機主機總線適配器、控制芯片、繼電器及外部電源，所述計算機包括計數器，當該硬盤陣列完成一次開關機測試則該計數器計數加一，所述主機總線適配器分別連接至所述計算機及硬盤陣列，所述控制芯片電性連接至所述計算機，所述繼電器分別電性連接至所述控制芯片、外部電源及硬盤陣列，所述計算機通過驅動控制芯片來使繼電器閉合與斷開，實現該外部電源對該硬盤陣列的供電與斷電以對應控制該硬盤陣列的開機與關機；所述主機總線適配器偵測該硬盤陣列的開、關機狀態并返回給所述計算機。本發明還涉及一種硬盤陣列開關機測試方法。
文檔編號G11C29/08GK102737721SQ20111009225
公開日2012年10月17日 申請日期2011年4月13日 優先權日2011年4月13日
發明者陳子健 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司