專利名稱：：一種像素陣列的檢測方法及檢測裝置的制作方法一種像素陣列的檢測方法及檢測裝置
技術領域：
：本發明是有關于一種液晶面板的檢測方法及檢測裝置，特別是有關于一種液晶面板的像素陣列的檢測方法及檢測裝置。
背景技術：
：在液晶面板制造過程中，各階段都需要經過檢測，以確保最終產品的良率。其中在制作設有像素陣列的基板時，基板必須通過陣列檢查設備檢測基板上的每個像素電極(pixelpattern)是否有缺陷(defect)。現有技術中，在檢測像素電極缺陷時，陣列檢查設備的探針(probe)會先對像素陣列的像素電極充電，再對檢測每一像素電極的亮度值，接著再計算每一特定區域內的像素電極的亮度平均值。檢查設備再計算每一像素電極亮度值與亮度平均值之間的比值，并將所述比值與所述陣列檢查設備原先設定的亮度閾值進行比較。當一像素電極的亮度比值小于所述亮度閾值時，檢查設備即判斷此像素電極有缺陷。然而，所述探針輸入的電壓會因為導線的阻抗而逐漸衰退(decay)，即位于導線輸出端的像素電極所接收的電壓將會小于探針輸入端的電壓。現有技術中，所述陣列檢查設備僅設定一種亮度閾值做為缺陷判定的基準，但相同的亮度閾值并不完全適用在不同的電壓下進行像素缺陷的檢測，往往在檢測過程中，有誤判或是缺陷無法被檢查出的情況發生。故，有必要提供一種像素陣列的檢測方法，以解決現有技術所存在的問題。
發明內容有鑒于現有技術的缺點，本發明的主要目的在于提供一種像素陣列的檢測方法，其通過收集同一像素缺陷在不同電壓下的亮度值來建置適當亮度閾值的對照表，可減少缺陷的誤判，進而增加檢測的準確性。為達成本發明的前述目的，本發明提供一種像素陣列的檢測方法，包含下列步驟S10:以不同測試電壓對包含瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域進行充電；根據各像素單元的亮度值建立并存儲一亮度閾值的對照表；以及S20:對待測想去區域充電，并根據當前待測像素區域的電壓值及亮度值自對照表中選定對應的亮度閾值以檢測所述待測像素區域。在本發明的一實施例中，所述步驟SlO包括步驟Sll選取不同的電壓值的測試電壓來對包含有瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域進行充電；步驟S12檢測不同測試電壓下所述樣本像素區域內的每個像素單元的亮度，以得到瑕疵像素單元以及正常像素單元的亮度值；步驟S13計算不同測試電壓下所述樣本像素區域內的所有像素單元的亮度平均值；以及步驟S14計算所述樣本像素區域內的瑕疵像素的亮度值與前述亮度平均值的比值，再根據得到的比值建立不同測試電壓下適當的亮度閾值，進而建立一亮度閾值的對照表并儲存。在本發明的一實施例中，所述步驟S20包括步驟S21對待測的像素陣列施加電壓；步驟S22檢測各像素單元的亮度值；步驟S23計算各個像素區域內的像素單元的亮度的平均值；步驟SM計算各個像素單元的亮度與亮度平均值之間的比值；步驟S25檢測各個待測像素區域對應的電壓值；步驟S26各個待測像素區域的電壓值在存儲模塊存儲的對照表中查找該電壓值對應的亮度閾值；以及步驟S27比較步驟SM得到的比值與步驟S^得到的亮度閾值之間的大小。在本發明的一實施例中，所述亮度閾值大于瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值。在本發明的一實施例中，若比值小于亮度閾值，則該比值對應的像素單元為瑕疵像素單元。在本發明的一實施例中，亮度閾值小于瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值。在本發明的一實施例中，若比值大于亮度閾值，則該比值對應的像素單元為瑕疵像素單元。本發明另提供一種像素陣列的檢測裝置，包含一充電模塊，用于向一已知存在瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域施加一測試電壓并存儲該測試電壓值，該充電模塊也用于向一像素陣列的各待測像素區域施加一電壓；一第一檢測模塊，用于檢測以測試電壓充電后的所述樣本像素區域的各像素單元的亮度值，該第一檢測模塊也用于檢測所述像素陣列的各待測像素區域的像素單元的亮度值；一第一計算模塊，與所述第一檢測模塊連接，用于接收第一檢測模塊檢測得到的各像素單元的亮度值，并計算所述樣本像素區域內或各待測像素區域的像素單元的亮度值的平均值；一第二計算模塊，與所述充電模塊、第一檢測模塊及第一計算模塊均連接，用于接收第一檢測模塊檢測得到的瑕疵像素單元的亮度值、第一計算模塊計算得到的所述樣本像素區域內的像素單元的亮度值的平均值及充電模塊的測試電壓值，并計算瑕疵像素單元的亮度值與第一計算模塊計算得到的該樣本像素區域的像素單元的亮度值的平均值之間的比值，并根據該比值與該樣本像素區域對應的測試電壓值建立不同測試電壓下適當的亮度閾值，進而建立一亮度閾值對照表；一存儲模塊，與所述第二計算模塊連接，用于存儲第二計算模塊建立的亮度閾值對照表；一第二檢測模塊，與所述像素陣列連接，該第二檢測模塊用于檢測所述充電模塊施加于所述各待測像素區域的電壓值；一第三計算模塊，與所述第一檢測模塊及所述第一計算模塊連接，該第三計算模塊用于接收第一檢測模塊檢測得到的各待測像素區域內的像素單元的亮度值以及第一計算模塊計算得到的各待測像素區域內的像素單元的亮度值的平均值，并計算各像素單元的亮度值與平均值之間的比值；一查找模塊，與所述第二檢測模塊及存儲模塊連接，該查找模塊用于接收該第二檢測模塊檢測得到的各待測像素區域的電壓值，并根據各待測像素區域的電壓值在該存儲模塊存儲的亮度閾值對照表中查找該電壓下對應的亮度閾值；及一比較模塊，與所述第三計算模塊及所述查找模塊連接，所述比較模塊用于接收第三計算模塊計算得到的各待測像素區域內的像素單元與亮度平均值的比值，及接收查找模塊查找的各電壓下對應的亮度閾值，并比較各待測像素區域內的像素單元與亮度平均值的比值與對應的亮度閾值之間的大小，進而判斷各像素單元是否為瑕疵像素單元。在本發明的一實施例中，所述第二計算模塊計算的亮度閾值大于瑕疵像素的亮度值與亮度平均值的比值；所述比較模塊用于比較比值與該亮度閾值，若比值小于亮度閾值，則該比值對應的像素單元為瑕疵像素單元。在本發明的一實施例中，所述第二計算模塊計算的亮度閾值小于瑕疵像素的亮度值與亮度平均值的比值；所述比較模塊用于比較比值與該亮度閾值，若比值R大于亮度閾值，則該比值對應的像素單元為瑕疵像素單元。本發明主要是根據不同測試電壓下一樣本像素區域的正常像素單元與瑕疵像素單元的亮度建立亮度閾值的對照表，藉此提供在不同電壓下適當的像素缺陷判定的基準，可減少誤判缺陷，而增加檢測的準確度。圖1是一接受本發明像素陣列的檢測裝置檢測的基板的示意圖。圖2是本發明像素陣列的檢測裝置的結構示意圖。圖3是本發明像素陣列的檢測方法的第一實施例的流程圖。圖4是圖3中步驟SlO的流程圖。圖5是圖3中步驟S20的流程圖。圖6是本發明像素陣列的檢測方法的第一實施例的對照表。圖7是輸入電壓15V下的像素區域的亮度值列表。圖8是輸入電壓12V下的像素區域的亮度值列表。圖9是輸入電壓IlV下的像素區域的亮度值列表。圖10是本發明像素陣列的檢測方法的第二實施例的建立并存儲亮度閾值對照表的流程圖。圖11是本發明像素陣列的檢測方法的第二實施例的檢測待測像素區域的流程圖。具體實施方式為讓本發明上述目的、特征及優點更明顯易懂，下文特舉本發明較佳實施例，并配合附圖，作詳細說明如下。再者，本發明所提到的方向用語，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「內」、「外」、「側面」等，僅是參考附加圖式的方向。因此，使用的方向用語是用以說明及理解本發明，而非用以限制本發明。本發明主要可應用于液晶面板制程的陣列檢查設備，針對基板上的像素陣列進行缺陷的檢測。請參考圖1，其為接受本發明像素陣列的檢測裝置檢測的基板的示意圖，其中基板2上形成有像素陣列1，所述像素陣列1包括若干個像素區域11，每一像素區域11則包括若干個像素單元111。請參考圖2，是本發明像素陣列1的檢測裝置100的結構示意圖，所述檢測裝置100包括充電模塊110、第一檢測模塊120、第一計算模塊130、第二檢測模塊140、第二計算模塊150、存儲模塊160、第三計算模塊170、查找模塊180及比較模塊190。所述充電模塊110用于與所述待檢測的像素陣列1電性連接，并向該像素陣列1的各待測像素區域11施加一電壓。該充電模塊110也用于向一已知存在瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域施加一測試電壓并存儲該測試電壓值，該測試電壓值落在連接所述樣本像素區域的導線所傳輸的電壓值范圍內。所述第一檢測模塊120用于檢測由充電模塊110充電后的待檢測像素陣列1的各待測像素區域11的像素單元111的亮度值。該第一檢測模塊120也用于檢測以測試電壓充電后的所述樣本像素區域的各像素單元的亮度值。所述第一計算模塊130與所述第一檢測模塊120連接，用于接收第一檢測模塊120檢測得到的各像素單元的亮度值，并計算各像素區域內的像素單元的亮度值的平均值。該第一計算模塊130適用于計算所述待測像素區域11和所述樣本像素區域的像素單元的亮度值的平均值。所述第二檢測模塊140與所述像素陣列1連接，用于檢測所述充電模塊110施加于所述各待測像素區域11的電壓值。所述第二計算模塊150與所述充電模塊110、第一檢測模塊120及第一計算模塊130均連接，用于接收第一檢測模塊120檢測得到的瑕疵像素單元的亮度值、第一計算模塊130計算得到的各像素區域內的像素單元的亮度值的平均值及充電模塊110的測試電壓值。該第二計算模塊150計算瑕疵像素單元的亮度值與第一計算模塊130計算得到的該樣本像素區域的像素單元的亮度值的平均值之間的比值，并根據該比值與該樣本像素區域對應的測試電壓值建立不同測試電壓下適當的亮度閾值(threshold)，進而建立一亮度閾值對照表(lookuptable)。在樣本像素區域的缺陷為暗點缺陷時，該亮度閾值略大于該瑕疵像素的亮度值與亮度平均值的比值；優選的，通過對不同樣本像素區域施加相同的測試電壓，得出多個瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值，以稍大于多個比值中的最大值作為亮度閾值。在樣本像素區域的缺陷為亮點缺陷時，該亮度閾值略小于該瑕疵像素的亮度值與亮度平均值的比值；優選的，通過對不同樣本像素區域施加相同的測試電壓，得出多個瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值，以稍小于多個比值中的最小值作為亮度閾值。所述存儲模塊160與所述第二計算模塊150連接，用于存儲所述第二計算模塊150建立的亮度閾值對照表。所述第三計算模塊170與所述第一檢測模塊120及所述第一計算模塊130連接，該第三計算模塊170用于接收第一檢測模塊120檢測得到的各待測像素區域11內的像素單元111的亮度值以及第一計算模塊130計算得到的各待測像素區域11內的像素單元111的亮度值的平均值，并計算各待測像素區域11內的各像素單元111的亮度值與平均值之間的比值R。所述查找模塊180與所述第二檢測模塊140及存儲模塊160連接。所述查找模塊180接收第二檢測模塊140檢測得到的各待測像素區域11的電壓值，并根據各待測像素區域11的電壓值在存儲模塊160存儲的亮度閾值對照表中查找該電壓下對應的亮度閾值。所述比較模塊190與第三計算模塊170及查找模塊180連接，用于接收第三計算模塊170計算得到的各待測像素區域11內的像素單元111與亮度平均值的比值R，以及接收查找模塊180查找的各電壓下對應的亮度閾值，并比較各待測像素區域11內的像素單元111與亮度平均值的比值R與對應的亮度閾值之間的大小，進而判斷各像素單元111是否為瑕疵像素單元。當像素陣列中存在暗點缺陷時，比值R小于亮度閾值的像素單元即為瑕疵像素單元；當像素陣列中存在亮點缺陷時，比值R大于亮度閾值的像素單元即為瑕疵像素單元。請參考圖3并結合圖1、圖2、圖4至圖9，其中，圖3為本發明像素陣列的檢測方法第一實施例的流程圖，本實施例為像素陣列中存在暗點的缺陷的檢測方法，其包含有下列步驟步驟SlO以不同測試電壓對包含瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域進行充電；根據各像素單元的亮度值建立并存儲一亮度閾值的對照表。步驟S20對待測像素區域充電，并根據待測像素區域的電壓值及亮度值自對照表中選定對應的亮度閾值以檢測所述待測像素區域。更詳細地，如圖4所示，步驟SlO包括以下步驟步驟Sl1由充電模塊110選取不同的電壓值的測試電壓來對包含有瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域進行充電，其中所述測試電壓落在連接樣本像素區域的導線所傳輸的電壓值范圍內。更詳細地，先測量連接所述樣本像素區域所在陣列基板的導線的輸入端的輸入電壓Vl及輸出端的輸出電壓V2，其中，根據不同的陣列基板尺寸，在相同輸入電壓Vl下得出不同的輸出電壓V2。所述充電模塊110根據所測得的輸入電壓Vl以及不同輸出電壓V2確定測試電壓Vt的選取范圍。較佳的是選擇最小值的輸出電壓V2做為測試電壓的最小值Vmin，亦即Vmin彡Vt彡VI，再于Vmin與Vl之間選取多個電壓值做為測試電壓。其中，所述測試電壓的選取數量可根據基板的大小或Vmin與Vl之間的差值大小來決定，例如液晶面板尺寸越大(亦即Vmin與Vl之間的差值越大)，則測試電壓的選取數量越多。步驟S12由第一檢測模塊120在不同測試電壓下檢測所述樣本像素區域內的每個像素單元的亮度，以得到瑕疵像素單元以及正常像素單元的亮度值。步驟S13由第一計算模塊130計算不同測試電壓下所述樣本像素區域內的所有像素單元的亮度平均值。步驟S14:由第二計算模塊150計算所述樣本像素區域內的不同測試電壓下瑕疵像素單元的亮度值與前述亮度平均值的比值，并根據施加到該樣本像素區域的測試電壓值及瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值建立不同測試電壓下適當的亮度閾值S(threshold)，進而建立一亮度閾值(threshold)的對照表(lookuptable)。優選的，該亮度閾值S略大于瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值。更優選的，通過對不同樣本像素區域施加相同的測試電壓，得出多個瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值，以稍大于多個比值中的最大值作為亮度閾值S。參考圖6所示，圖6即是本發明像素陣列的檢測方法的第一實施例的對照表，其中，對應測試電壓15V13V的亮度閾值為0.6；對應測試電壓12V的亮度閾值為0.7；以及對應測試電壓IlV的亮度閾值為0.8。所述亮度閾值的對照表是由所述存儲模塊160存儲。更詳細地，如圖5所示，步驟S20包括以下步驟步驟S21由充電模塊110對待測的像素陣列1施加電壓，使像素陣列1的各個待測像素區域11的像素單元111發光。步驟S22由第一檢測模塊120檢測各像素單元111的亮度值L。如圖7，其為第一檢測模塊120檢測得到的其中一個待測像素區域11在輸入電壓15V下的各像素單元111的亮度值列表。步驟S23由第一計算模塊130計算各個待測像素區域11內的像素單元111的亮度的平均值Lao如圖7，該第一計算模塊130根據該待測像素區域11的各個像素單元111的亮度值所計算的亮度平均值La為80。步驟S24由第三計算模塊170計算各個像素單元111的亮度L與亮度平均值La之間的比值R。步驟S25由第二檢測模塊140檢測各個待測像素區域11對應的電壓值V。步驟S26由查找模塊180根據各個待測像素區域11的電壓值V在存儲模塊160存儲的對照表中查找該電壓值V對應的亮度閾值S。步驟S27由比較模塊190比較步驟SM得到的比值R與步驟S^得到的閾值S之間的大小。若比值R小于亮度閾值S，則該比值R對應的像素單元為瑕疵像素單元。請參考圖7至圖9所示，分別是輸入電壓15V、12V及IlV下的像素區域的亮度值列表。以輸入電壓15V的像素區域11而言，對應圖6的對照表，查找模塊180選用閾值S為0.6做為判定所述像素區域11中每一像素單元111是否具有缺陷的基準。同理，以圖9所示的輸入電壓IlV的像素區域11而言，查找模塊180則選用亮度閾值S為0.8，第一計算模塊130計算像素單元111的亮度平均值La為41.6875，當第三計算模塊170計算出其中一像素單元111的亮度值L與亮度平均值La的比值R為30/41.6875=0.7196，此像素單元111即可通過比較模塊190被檢測出為瑕疵像素單元。由于本發明在輸入電壓從15V下降至IlV時，對應將亮度閾值S從0.6提升到0.8，以提高判定的基準，在輸入電壓變小而導致像素單元111之間亮度差距不大的情形下仍能判定每一像素單元111是否具有缺陷。請參考圖10及圖11，其為本發明像素陣列的檢測方法的第二實施例的流程圖，本實施例為像素陣列中存在亮點的缺陷的檢測方法，本實施例的步驟S31至步驟33及步驟S41至步驟S46與第一實施例的步驟Sll至步驟S13及步驟S21至步驟S^對應相同，本實施例與第一實施例的不同之處在于在步驟S34中，該亮度閾值S略小于瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值，更優選的，通過對不同樣本像素區域施加相同的測試電壓，得出多個瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值，以稍小于多個比值中的最小值作為亮度閾值S。在步驟S47中，比較模塊190比較步驟S44得到的比值R與步驟S46得到的閾值S之間的大小，若比值R大于閾值S,則該比值R對應的像素單元為瑕疵像素。由上述說明可知，相較于現有像素陣列的檢測方法僅設定一種閾值做為缺陷判定的基準，而導致在檢測過程中有誤判或是缺陷無法被檢查出的情況發生，本發明通過建立對照表的方式，對應不同電壓選用不同的亮度閾值做為缺陷判定的基準，進而可減少誤判缺陷，而增加檢測的準確度，減少非必要的檢修時間，有助于增加產能。本發明已由上述相關實施例加以描述，然而上述實施例僅為實施本發明的范例。必需指出的是，已公開的實施例并未限制本發明的范圍。相反地，包含于權利要求書的精神及范圍的修改及均等設置均包括于本發明的范圍內。權利要求1.一種像素陣列的檢測方法，其特征在于所述像素陣列的檢測方法包含下列步驟SlO以不同測試電壓對包含瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域進行充電；根據各像素單元的亮度值建立并存儲一亮度閾值的對照表；以及S20:對待測像素區域充電，并根據待測像素區域的電壓值及亮度值自對照表中選定對應的亮度閾值以檢測所述待測像素區域。2.如權利要求1所述的像素陣列的檢測方法，其特征在于所述步驟SlO包括步驟Sll選取不同的電壓值的測試電壓來對包含有瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域進行充電；步驟S12檢測不同測試電壓下所述樣本像素區域內的每個像素單元的亮度，以得到瑕疵像素單元以及正常像素單元的亮度值；步驟S13計算不同測試電壓下所述樣本像素區域內的所有像素單元的亮度平均值;以及步驟S14:計算所述樣本像素區域內的瑕疵像素的亮度值與前述亮度平均值的比值，再根據得到的比值建立不同測試電壓下適當的亮度閾值，進而建立一亮度閾值的對照表并儲存。3.如權利要求2所述的像素陣列的檢測方法，其特征在于所述步驟S20包括步驟S21對待測的像素陣列施加電壓；步驟S22檢測各像素單元的亮度值；步驟S23計算各個像素區域內的像素單元的亮度的平均值；步驟S24計算各個像素單元的亮度與亮度平均值之間的比值；步驟S25檢測各個待測像素區域對應的電壓值；步驟S26根據各個待測像素區域的電壓值在存儲模塊存儲的對照表中查找該電壓值對應的亮度閾值；以及步驟S27比較步驟SM得到的比值與步驟S^得到的亮度閾值之間的大小。4.如權利要求3所述的像素陣列的檢測方法，其特征在于在步驟S14中所述亮度閾值大于瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值。5.如權利要求4所述的像素陣列的檢測方法，其特征在于在步驟S27中，若比值小于亮度閾值，則該比值對應的像素單元為瑕疵像素單元。6.如權利要求3所述的像素陣列的檢測方法，其特征在于在步驟S14中所述亮度閾值小于瑕疵像素單元的亮度值與亮度平均值的比值。7.如權利要求6所述的像素陣列的檢測方法，其特征在于在步驟S27中，若比值大于亮度閾值，則該比值對應的像素單元為瑕疵像素單元。8.一種像素陣列的檢測裝置，其特征在于所述像素陣列的檢測裝置包括一充電模塊，用于向一已知存在瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域施加一測試電壓并存儲該測試電壓值，該充電模塊也用于向一像素陣列的各待測像素區域施加一電壓；一第一檢測模塊，用于檢測以測試電壓充電后的所述樣本像素區域的各像素單元的亮度值，該第一檢測模塊也用于檢測所述像素陣列的各待測像素區域的像素單元的亮度值；一第一計算模塊，與所述第一檢測模塊連接，用于接收第一檢測模塊檢測得到的各像素單元的亮度值，并計算所述樣本像素區域內或各待測像素區域的像素單元的亮度值的平均值；一第二計算模塊，與所述充電模塊、第一檢測模塊及第一計算模塊均連接，用于接收第一檢測模塊檢測得到的瑕疵像素單元的亮度值、第一計算模塊計算得到的所述樣本像素區域內的像素單元的亮度值的平均值及充電模塊的測試電壓值，并計算瑕疵像素單元的亮度值與第一計算模塊計算得到的該樣本像素區域的像素單元的亮度值的平均值之間的比值，并根據該比值與該樣本像素區域對應的測試電壓值建立不同測試電壓下適當的亮度閾值，進而建立一亮度閾值對照表；一存儲模塊，與所述第二計算模塊連接，用于存儲第二計算模塊建立的亮度閾值對照表；一第二檢測模塊，與所述像素陣列連接，該第二檢測模塊用于檢測所述充電模塊施加于所述各待測像素區域的電壓值；一第三計算模塊，與所述第一檢測模塊及所述第一計算模塊連接，該第三計算模塊用于接收第一檢測模塊檢測得到的各待測像素區域內的像素單元的亮度值以及第一計算模塊計算得到的各待測像素區域內的像素單元的亮度值的平均值，并計算各像素單元的亮度值與平均值之間的比值；一查找模塊，與所述第二檢測模塊及存儲模塊連接，該查找模塊用于接收該第二檢測模塊檢測得到的各待測像素區域的電壓值，并根據各待測像素區域的電壓值在該存儲模塊存儲的亮度閾值對照表中查找該電壓下對應的亮度閾值；及一比較模塊，與所述第三計算模塊及所述查找模塊連接，所述比較模塊用于接收第三計算模塊計算得到的各待測像素區域內的像素單元與亮度平均值的比值，及接收查找模塊查找的各電壓下對應的亮度閾值，并比較各待測像素區域內的像素單元與亮度平均值的比值與對應的亮度閾值之間的大小，進而判斷各像素單元是否為瑕疵像素單元。9.如權利要求8所述的像素陣列的檢測裝置，其特征在于所述第二計算模塊計算的亮度閾值大于瑕疵像素的亮度值與亮度平均值的比值；所述比較模塊用于比較比值與該亮度閾值，若比值小于亮度閾值，則該比值對應的像素單元為瑕疵像素單元。10.如權利要求8所述的像素陣列的檢測裝置，其特征在于所述第二計算模塊計算的亮度閾值小于瑕疵像素的亮度值與亮度平均值的比值；所述比較模塊用于比較比值與該亮度閾值，若比值大于亮度閾值，則該比值對應的像素單元為瑕疵像素單元。全文摘要本發明公開一種像素陣列的檢測方法及檢測裝置。所述檢測方法先以不同的測試電壓對一包含瑕疵像素單元與正常像素單元的樣本像素區域進行充電，再根據不同測試電壓下各像素單元的亮度值建立一亮度閾值對照表；在檢測一待測像素區域時，對待測像素區域充電，根據其電壓值及亮度值自所述亮度閾值對照表中選用適合的亮度閾值，再根據此亮度閾值檢測所述待測像素區域的像素單元是否具有缺陷。因此，本發明可減少缺陷的誤判，進而增加檢測的準確性。文檔編號G02F1/13GK102221753SQ201110149500公開日2011年10月19日申請日期2011年6月6日優先權日2011年6月6日發明者鄭文達申請人:深圳市華星光電技術有限公司