激光掃描單元和包括其的彩色成像裝置的制造方法

本發明構思涉及激光掃描單元和采用該激光掃描單元的彩色成像裝置。

背景技術：
激光掃描單元是在諸如激光打印機的成像裝置中通過將激光束掃描到的感光鼓上而形成靜電潛像的裝置。黑白激光打印機僅采用激光掃描單元和一個有機光電導單元（OPC）鼓，因為僅黑色墨被轉移到打印介質上。相反，彩色激光打印機使用四個激光掃描單元和四個OPC鼓，因為四種顏色的墨，即，黑色（K）、洋紅（M）、黃色（Y）和青色（C）的墨分別被轉移到打印介質上。然而，激光掃描單元導致彩色激光打印機的最大制造成本。因此，降低彩色成像裝置的制造成本的方法是最小化激光掃描單元的數目。此外，對于四個激光掃描單元，周期振動和由主軸馬達（spindlemotor）產生的抖動可能彼此不同，該主軸馬達對于每種顏色旋轉多面旋轉鏡。因此，當在介質上打印一行時，四個顏色打印在不同的行上，由此降級了圖像質量。所以，為了降低彩色成像裝置的制造成本并且為了改善圖像質量，僅一個激光掃描單元用來形成彩色圖像。然而，在每個感光鼓上成像的掃描線可能是彎曲的。當形成彩色圖像時，重要的是糾正每個單色的掃描線的曲率（curvature）；然而，每個掃描線結合在一起時所產生的掃描線曲率的相對誤差會在形成彩色圖像時引起嚴重的問題。因此，已經提出了關于每種顏色糾正掃描線曲率的方法和構造，以便在相同的方向上具有彼此相同的曲率值。

技術實現要素：
本總發明構思提供了激光掃描單元，其能夠通過在傾斜入射掃描光學器件中形成在相同方向上的光學路徑的掃描曲線來降低掃描曲線之間的相對誤差。本發明構思還提供了形成良好圖像質量的彩色圖像的彩色成像裝置。本總發明構思的附加特征和應用將在隨后的描述中部分地闡述，并且部分地由該描述而明顯，或可以由實踐本總發明構思而習之。本總發明構思的示范實施例提供了一種激光掃描單元，包括∶第一光源、第二光源、第三光源和第四光源；偏轉器，用于偏轉第一光束、第二光束、第三光束和第四光束，該第一、第二、第三第四光束從第一至第四光源以關于副掃描方向的一角度入射到該偏轉器上；至少一個光路改變構件，改變被偏轉器反射的第一至第四光束的第一至第四光路；以及1-1f-θ透鏡、1-2f-θ透鏡、1-3f-θ透鏡和1-4f-θ透鏡，將已經經過至少一個光路改變構件的第一至第四光束分別聚焦到相應的掃描靶面上，其中第一至第四光束以關于相應的1-1f-θ透鏡至1-4f-θ透鏡的中心部分在副掃描方向上沿相同方向偏離的狀態穿過1-1f-θ透鏡至1-4f-θ透鏡。入射到偏轉器上的第一至第四光束的每個可以關于光軸在副掃描方向上傾斜2°至4°范圍的角度。1-1f-θ透鏡至1-4f-θ透鏡可以具有在主掃描方向上連續變化的非球面形狀。1-1f-θ透鏡至1-4f-θ透鏡在副掃描方向上可以具有非球面形狀。第一至第四光束的每個可以以關于主掃描方向的90°角入射到偏轉器上。第一至第四光源可以設置在一個電路板上。激光掃描單元可以還包括：第二f-θ透鏡，在偏轉器與至少一個光路改變構件之間的第一至第四光路的每個上。第二f-θ透鏡在副掃描方向上可以沒有折射能力。兩個第一光路改變構件可以設置在從偏轉器反射到沿第一方向的下部的光束的第一光路上，兩個第二光路改變構件可以設置在從偏轉器反射到沿第二方向的上部的光束的第二光路上，一個第三光路改變構件可以設置在從偏轉器反射到沿第一方向的上部的光束的第三光路上，一個第四光路改變構件可以設置在從偏轉器反射到沿第二方向的下部的光束的第四光路上。光路改變構件可以不設置在1-1f-θ透鏡至1-4f-θ透鏡中每個與每個相應的掃描靶面之間。本發明構思的示范實施例還提供了一種激光掃描單元，包括：多個光源；偏轉器，可旋轉以偏轉多個光束，該多個光束從多個光源以關于副掃描方向的一角度入射到偏轉器上；至少一個光路改變構件，用于改變被偏轉器反射的每個光束的光路；以及第一f-θ透鏡，將已經經過至少一個光路改變構件的光束聚焦到相應的掃描靶面上，其中光束以關于第一f-θ透鏡的中心在相同副掃描方向上偏離的狀態穿過第一f-θ透鏡。本發明構思的示范實施例還提供了一種彩色成像裝置，包括∶激光掃描單元；感光物質，光束從激光掃描單元掃描到該感光物質上以形成靜電潛像；以及顯影單元，用于顯影靜電潛像；其中激光掃描單元包括第一光源、第二光源、第三光源和第四光源；偏轉器，用于偏轉第一光束、第二光束、第三光束和第四光束，該第一、第二、第三和第四光束從第一至第四光源以關于副掃描方向的一角度入射到偏轉器；至少一個光路改變構件，用于改變被偏轉器反射的第一至第四光束的第一至第四光路；以及1-1f-θ透鏡、1-2f-θ透鏡、1-3f-θ透鏡和1-4f-θ透鏡，用于將已經經過至少一個光路改變構件的第一至第四光束聚焦到相應的掃描靶面上，其中第一至第四光束以關于相應的1-1f-θ透鏡至1-4f-θ透鏡的中心部分在副掃描方向上沿相同方向偏離的狀態穿過1-1f-θ透鏡至1-4f-θ透鏡。本發明構思的示范實施例還提供了一種彩色成像裝置，包括∶激光掃描單元；感光物質，光束從激光掃描單元掃描到該感光物質上以形成靜電潛像；以及顯影單元，用于顯影靜電潛像；其中激光掃描單元包括：多個光源；偏轉器，可旋轉以偏轉多個光束，該多個光束從多個光源以關于副掃描方向的一角度入射到偏轉器上；至少一個光路改變構件，用于改變被偏轉器反射的每個光束的光路；以及第一f-θ透鏡，將已經經過至少一個光路改變構件的光束聚焦到相應的掃描靶面上，其中光束以關于第一f-θ透鏡的中心在相同副掃描方向上偏離的狀態穿過第一f-θ透鏡。本發明構思的示范實施例還提供了一種激光掃描單元，包括：偏轉器，偏轉多個光束，該多個光束具有關于副掃描方向的預定角度；至少一個光路改變構件，與多個光束的每個關聯以改變被偏轉器反射的各光束的光路；以及f-θ透鏡，相應于多個偏離的光束的每個，從而將偏轉的光束聚焦到各掃描靶面上，每個f-θ透鏡從各自的至少一個光路改變構件接收偏轉的光束，該偏轉的光束關于各f-θ透鏡的中心部分在副掃描方向上具有相同的偏離量和相同的偏離方向。在實施例中，與至少一個光束關聯的光路改變構件的數目不同于與其余光束關聯的光路改變構件的數目。在實施例中，與一些光束關聯的光路改變構件的數目是與其余光束關聯的光路改變構件的數目的兩倍。附圖說明通過下文結合附圖對實施例的描述，本總發明構思的這些和/或其他特征和應用變得更明顯且更易于理解，附圖中：圖1是根據本發明構思的實施例的激光掃描單元在主掃描方向上的俯視圖；圖2是根據本發明構思實施例的在光路被展開的狀態下激光掃描單元在副掃描方向上的側視圖；圖3是根據本發明構思實施例的在光路被折疊的狀態下激光掃描單元在副掃描方向上的側視圖；圖4A和圖4B是顯示形成在根據本發明構思實施例的激光掃描單元中的掃描曲線的圖形；以及圖5是根據本發明構思實施例的包括激光掃描單元的彩色成像裝置的示意圖。具體實施方式現在將參考附圖更充分地描述本發明構思，在附圖中示出發明的示范實施例。然而，發明構思可以以許多不同的形式實現且不應理解為限于在此闡述的實施例；而是，提供這些實施例使得此公開將徹底和完整，這些實施例將向本領域技術人員充分地傳達發明構思。在附圖中，為了清晰夸大了層和區域的厚度。還將理解的是，當層被稱為在另一層或基板“上”時，它可以直接在另一層或基板上，或者也可以存在中間層。當諸如“...的至少一個”的表述在一串元件之前時，修飾整個串的元件而不修飾該串元件中的單個元件。圖1是根據本發明構思的實施例的激光掃描單元100的局部平面圖。激光掃描單元100包括多個光源、偏轉器150和光學系統，該偏轉器150使得從多個光源入射的光束偏振，該光學系統將光束聚焦到掃描靶面上。多個光源可包括在上下方向上設置的第一光源111和第二光源112、以及分別平行于第一光源111和第二光源112設置的第三光源113和第四光源114。然而，光源的數目和光源的布置形式不限于此。多個光源可以設置在一個電路板上。第一至第四光源111、112、113和114可包括分別輻照第一至第四光束L1、L2、L3和L4的激光二極管。第一至第四光束L1、L2、L3和L4分別從第一至第四光源111、112、113和114發射，并且可以以關于副掃描方向的一角度入射到偏轉器150上。在下文，第一至第四光束L1、L2、L3和L4的第一至第四光路由與第一至第四光束L1、L2、L3和L4相同的附圖標記來表示。為了便于描述，圖2是在光路被展開的狀態下激光掃描單元100的側視圖。從第一光源111輻照的第一光束L1以關于副掃描方向（x軸方向）的一角度入射到偏轉器150上。從第二至第四光源112至114輻照的第二至第四光束L2至L4分別以關于副掃描方向（x軸方向）的一角度入射到偏轉器150上。例如，第一光束L1至第四光束L4的每個可以以關于光軸C的角α入射到偏轉器150上。該角α可以在2°至4°°的范圍。通過使用傾斜光學系統，可以減小光掃描單元100的尺寸。減小偏轉器150的厚度可以是減小激光掃描單元100的尺寸的因素之一。在此，由于光束以一角度入射到偏轉器150上，偏轉器150的光束入射到其上的有效表面的厚度可以減小，由此減小偏轉器150的尺寸。另一方面，第一光束L1至第四光束L4可以以大約90°的主掃描入射角入射到偏轉器150上。主掃描入射角是入射到偏轉器150上的光束與掃描靶面的垂直線之間的角度（參考圖1的β）。在本實施例中，偏轉器150可以被第一至第四光源111至114共同使用。偏轉器150可包括被馬達（未示出）旋轉的多面旋轉鏡。偏轉器150可包括例如六個或更多鏡面。第一準直透鏡121設置在第一光源111與偏轉器150之間，第二準直透鏡122設置在第二光源112與偏轉器150之間。另外，第三準直透鏡123可以設置在第三光源113與偏轉器150之間，第四準直透鏡124可以設置在第四光源114與偏轉器150之間。第一柱面透鏡141可以設置在第一準直透鏡121與偏轉器150之間以及在第二準直透鏡122與偏轉器150之間。第一柱面透鏡141可以被第一光束L1和第二光束L2共同使用。另外，第二柱面透鏡143可以設置在第三準直透鏡123與偏轉器150之間以及在第四準直透鏡124與偏轉器150之間。第二柱面透鏡143可以被第三光束L3和第四光束L4共同使用。然而，可以關于第一光束L1至第四光束L4分別設置單獨的柱面透鏡。第一準直透鏡121至第四準直透鏡124使得分別從第一至第四光源111、112、113和114發射的光束成為平行光束，第一柱面透鏡141和第二柱面透鏡143可將平行光束會聚到偏轉器150上。另外，第一孔徑光闌131和第二孔徑光闌（aperturediaphragm）132可以分別設置在準直透鏡121與第一柱面透鏡141之間以及在第二準直透鏡122與第一柱面透鏡141之間。另外，第三孔徑光闌133和第四孔徑光闌134可以分別設置在第三準直透鏡123與第二柱面透鏡143之間以及在第四準直透鏡124與第二柱面透鏡143之間。第一光束L1至第四光束L4的直徑可以分別被第一孔徑光闌131至第四孔徑光闌134改變。將通過偏轉器150偏轉的每個光束聚焦到掃描靶面的光學系統可包括至少一個f-θ透鏡。例如，1-1f-θ透鏡171可以設置在偏轉器150與第一掃描靶面181之間，1-2f-θ透鏡172可以設置在偏轉器150與第二掃描靶面182之間。另外，1-3f-θ透鏡173可以設置在偏轉器150與第三掃描靶面183之間，1-4f-θ透鏡174可以設置在偏轉器150與第四掃描靶面184之間。當第一光束L1穿過1-1f-θ透鏡171時，第一光束L1從1-1f-θ透鏡171的第一中心軸C1偏離，當第二光束L2穿過1-2f-θ透鏡172時，第二光束L2從1-2f-θ透鏡172的第二中心軸C2偏離。可以設置1-1f-θ透鏡171和1-2f-θ透鏡172，使得各光束L1和L2從偏轉器150的中心軸C偏離d距離。例如，在本實施例中，從偏轉器150的中心軸C到1-1f-θ透鏡171的第一中心軸C1的距離d（在下文，被稱為偏心量）為大約4.7mm。然而，偏心量d不限于此，可根據激光掃描單元100的光路而具有1<d<10mm的范圍。從偏轉器150的中心軸C到1-2f-θ透鏡172的第二中心軸C2的距離d可具有與以上所述相同的范圍。另外，當第三光束L3穿過1-3f-θ透鏡173時，第三光束L3從1-3f-θ透鏡173的第三中心軸C3偏離，當第四光束L4穿過1-4f-θ透鏡174時，第四光束L4從1-4f-θ透鏡174的第四中心軸C4偏離。可以設置1-3f-θ透鏡173和1-4f-θ透鏡174，使得各光束L3和L4從偏轉器150的中心軸C偏離d距離。例如，在本實施例中，從偏轉器150的中心軸C到1-3f-θ透鏡173的第三中心軸C3的距離（偏心量）d為大約4.7mm。然而，偏心量d不限于此，可根據激光掃描單元100的光路而具有1<d<10mm的范圍。從偏轉器150的中心軸C到1-4f-θ透鏡174的第四中心軸C4的距離d可具有與以上所述相同的范圍。1-1、1-2、1-3和1-4f-θ透鏡171至174可具有關于主掃描方向連續變化的非球面形狀。另外，1-1、1-2、1-3和1-4f-θ透鏡171至174透鏡可具有關于副掃描方向連續變化的非球面形狀。另一方面，2-1f-θ透鏡161可以進一步設置在偏轉器150與1-1f-θ透鏡171和1-2f-θ透鏡172之間。2-1f-θ透鏡161可以被第一光束L1和第二光束L2共同使用。然而，本實施例不限于此，可以關于第一光束L1和第二光束L2的每個設置2-1f-θ透鏡161。另外，2-2f-θ透鏡162可以進一步設置在偏轉器150與1-3f-θ透鏡173和1-4f-θ透鏡174之間。2-2f-θ透鏡162可以被第三光束L3和第四光束L4共同使用。然而，本實施例不限于此，可以關于第三光束L3和第四光束L4的每個分別設置2-2f-θ透鏡162。2-1f-θ透鏡161和2-2f-θ透鏡162可在副掃描方向上無折射能力。另一方面，2-1f-θ透鏡161和2-2f-θ透鏡162在主掃描方向上可具有折射能力。圖3是在光路被折疊的狀態下激光掃描單元100的側視圖，而圖2顯示了光路被展開的狀態。在圖3中，感光物質，例如，感光鼓，用作掃描靶面。如圖3所示，至少一個光路改變構件可以設置在偏轉器150與1-1f-θ透鏡至1-4f-θ透鏡的每個之間的每條光路上。至少一個光路改變構件可以是反光鏡。例如，參考圖3，至少一個第一光路改變構件設置在被偏轉器150反射到一下側方向（在圖3中的右下部）的光束的第一路徑L1上，至少一個第二光路改變構件可以設置在被偏轉器150反射到一上側方向（在圖3中的右上部）的光束的第二路徑L2上。另外，至少一個第三光路改變構件設置在被偏轉器150反射到另一下側方向（在圖3中的左下部）的光束的第三路徑L3上，至少一個第四光路改變構件可以設置在從偏轉器150反射到另一上側方向（在圖3中的左上部）的光束的第四路徑L4上。第一光路改變構件的數目與第四光路改變構件的數目彼此相同，即，是n，第二光路改變構件的數目與第三光路改變構件的數目彼此相同，即，是m。在此，n與m之間的差可以是1。例如，可以包括兩個第一光路改變構件和兩個第四光路改變構件，并且可以包括一個第二光路改變構件和一個第三光路改變構件。第一光路改變構件可包括1-1光路改變構件191a和1-2光路改變構件191b，第四光路改變構件可包括4-1光路改變構件194a和4-2光路改變構件194b。另外，第二光路改變構件可以是由附圖標記192表示的一個構件，第三光路改變構件可以是由附圖標記193表示的一個構件。備選地，三個第一光路改變構件和三個第四光路改變構件可以沿著第一路徑和第四路徑設置，兩個第二光路改變構件和兩個第三光路改變構件可以沿著第二路徑和第三路徑設置。然后，將描述根據圖3所示的光路改變構件的布置在第一至第四掃描靶面181、182、183和184上形成處于相同方向的掃描曲線的操作。參考圖4A，在經過各自的光路改變構件之前，通過在偏轉器150中偏轉第一光束L1形成的第一掃描曲線LB1和通過在偏轉器150中偏轉第二光束L2形成的第二掃描曲線LB2以彼此相反的方向形成，該第一光束L1從第一光源111發射，該第二光束L2從第二光源112發射。另外，在經過各自的光路改變構件之前，通過在偏轉器150中偏轉第三光束L3形成的第三掃描曲線LB3和通過在偏轉器150中偏轉第四光束L4形成的第四掃描曲線LB4以彼此相反的方向形成，該第三光束L3從第三光源113發射，該第四光束L4從第四光源114發射。參考圖4B，在第一光束L1被1-1光路改變構件191a和1-2光路改變構件191b反射時，第一光束L1聚焦在第一掃描靶面181上而沒有改變第一掃描曲線LB1的方向。在第二光束L2被第二光路改變構件192反射之后，第二光束L2聚焦在第二掃描靶面182上同時第二掃描曲線LB2改變為處于相反方向。在第三光束L3被第三光路改變構件193反射之后，第三光束L3聚焦在第三掃描靶面183上同時第三掃描曲線LB3改變為處于相反方向。當第四光束L4被4-1光路改變構件194a和4-2光路改變構件194b反射時，第四光束L4聚焦在第四掃描靶面184上而沒有改變第四掃描曲線LB4的方向。因此，第一至第四掃描曲線LB1至LB4全部在相同的方向上形成。如上所述，在本實施例中，設置在每個光路上的光路改變構件的數目可以改變，以便使得掃描曲線的方向彼此相同，由此減少掃描曲線的相對誤差。在本實施例的激光掃描單元100中，如圖1所示，從第一光源111至第四光源114到偏轉器150的第一光路L1至第四光路L4可以在主掃描方向上關于偏轉器150的中心線對稱。另一方面，如圖3所示，從偏轉器150到1-1f-θ透鏡171至1-4f-θ透鏡174的第一光路L1至第四光路L4可以在主掃描方向上關于偏轉器150的中心線不對稱。如上所述，當第一光路L1至第四光路L4在經過偏轉器150之后彼此不對稱時，彩色配準可變得良好。另外，通過控制設置在第一光路L1和第四光路L4上的光路改變構件的數目以及設置在第二光路L2和第三光路L3上的光路改變構件的數目，在掃描靶面上形成的掃描曲線的方向可以變為彼此相同。圖4顯示了在其中掃描曲線在相同的方向上形成的示例。當設置在第一光路L1和第四光路L4上的光路改變構件的數目n與設置在第二光路L2和第三光路L3上的光路改變構件的數目m之間的差為一時，掃描曲線可以以相同方向形成。如上所述，當掃描曲線以相同方向形成時，掃描曲線之間的相對誤差可以減小。因此，可以改善彩色配準。另一方面，在本實施例的激光掃描單元100中，第一f-θ透鏡可以設置在每個光路上的光路改變構件與掃描靶面之間。例如，1-1f-θ透鏡171設置在1-2光路改變構件191b與第一掃描靶面181之間，1-2f-θ透鏡172可以設置在第二光路改變構件192與第二掃描靶面182之間。另外，1-3f-θ透鏡173可以設置在第三光路改變構件193與第三掃描靶面183之間，1-4f-θ透鏡174可以設置在4-2光路改變構件194b與第四掃描靶面184之間。如上所述，1-1f-θ透鏡171至1-4f-θ透鏡174靠近第一掃描靶面181至第四掃描靶面184設置，由此可以獲得高的聚焦效應。另外，第一光束L1至第四光束L4可以分別關于1-1f-θ透鏡171的第一中心線C1至1-4f-θ透鏡174的第四中心線C4在相同方向上偏離，然后可穿過1-1f-θ透鏡171至1-4f-θ透鏡174。因此，可以降低在掃描靶面上形成的掃描曲線之間的相對誤差。另外，可以減小第一f-θ透鏡的有效表面的尺寸。下面的表1示出了根據本發明構思實施例的激光掃描單元100的詳細配置。【表1】在表1中，最大有效視角（θmax）是通過被偏轉器150反射到掃描靶面的最外面部分的光束與掃描靶面的垂直線形成的角，如圖所示1。有效掃描寬度W表示在掃描靶面上的掃描線的整個寬度。另外，參考圖2描述傾斜的入射角α。另一方面，2-1f-θ透鏡161和2-2f-θ透鏡162以及1-1f-θ透鏡171至1-4f-θ透鏡174可以是非球面透鏡。第一f-θ透鏡和第二f-θ透鏡的入射表面和出射表面的非球面形狀可以由下列方程式表示：其中，當假定光軸方向是z軸，副掃描方向是x軸，以及主掃描方向是y軸時，z表示在光軸方向上距離透鏡的頂點的距離，x表示在副掃描方向上距離透鏡的頂點的距離，y表示在主掃描方向上距離透鏡的頂點的距離，C1表示在主掃描方向上的曲率，C2表示在副掃描方向上的曲率。另外，An和Emn表示變形項（deformationterms）。下面的表2顯示第一f-θ透鏡和第二f-θ透鏡在主掃描方向上的變形項。在表2中，光源側表示靠近光源的一側，反光源側表示遠離光源的一側。當透鏡基于在主掃描方向上的頂點被分成兩個部分時，靠近光源的一部分的形狀根據光源側的變形項而確定，遠離光源的另一部分的形狀根據反光源側的變形項而確定。即，位于表2的左邊部分上的非球面數據對應于2-1f-θ透鏡161和2-2f-θ透鏡162，位于表2的右邊部分上的非球面數據和表3的非球面數據對應于1-1f-θ透鏡171至1-4f-θ透鏡174。【表2】以下的表3顯示第一f-θ透鏡在副掃描方向上的變形項。【表3】如上所述，2-1f-θ透鏡161和2-2f-θ透鏡162以及1-1f-θ透鏡171至1-4f-θ透鏡174可以形成為非球面透鏡。2-1f-θ透鏡161和2-2f-θ透鏡162可在副掃描方向上無折射能力。圖5是包括本發明構思實施例的激光掃描單元100以形成彩色圖像的彩色成像裝置的示意圖。上文參考圖1至圖3描述激光掃描單元100，在此將不再重復關于激光掃描單元100的詳細說明。在圖5的彩色成像裝置中，激光掃描單元100通過偏轉器150將光束掃描到第一至第四掃描靶面上，例如，掃描到第一至第四感光物質271、272、273和274上，以形成靜電潛像。這里，在感光物質271、272、273和274上形成的掃描線通過設置在光路上的光路改變構件而在相同方向上彎曲。因此，掃描曲線之間的相對誤差可以降低。顯影劑從分別與第一感光物質271、第二感光物質272、第三感光物質273和第四感光物質274相應的第一顯影器281、第二顯影器282、第三顯影器283和第四顯影器284提供，從而顯影靜電潛像。彩色的顯影的靜電潛像被轉移到轉移介質290以形成彩色圖像。即，從第一感光物質271轉移到轉移介質290上的第一掃描線、從第二感光物質272轉移到轉移介質290上的第二掃描線、從第三感光物質273轉移的第三掃描線、以及從第四感光物質274轉移的第四掃描線順序地彼此交疊以形成彩色圖像，然后該彩色圖像被定影到轉移介質290上。在彩色圖像中，掃描曲線以相同方向形成，由此，掃描曲線之間的相對誤差可以降低并且可以提供高圖像質量的彩色圖像。此外，當被激光掃描單元的偏轉器反射的第一至第四光束透射通過相應的第一f-θ透鏡時，第一至第四光束關于第一f-θ透鏡的中心線在相同方向上偏離，因此，可以降低掃描曲線之間的相對誤差。雖然已經顯示和描述了本總發明構思的一些示范實施方式，但本領域技術人員將理解，可以對這些實施例進行改變而沒有脫離總發明構思的原理和精神，總發明構思的范圍在權利要求書及其等價物中定義。本申請要求于2011年12月5日向韓國知識產權局提交的韓國專利申請No.10-2011-0129161的優先權，其全部內容通過引用結合在此。