介質處理裝置、磁數據處理方法以及打印裝置的制造方法

介質處理裝置、磁數據處理方法以及打印裝置的制造方法
【專利摘要】本發明涉及介質處理裝置、磁數據處理方法以及打印裝置。即使在讀取區域殘存讀取對象的磁數據以外的數據的情況下，也能夠正常地進行磁數據的讀取。介質處理裝置(2)具備讀取記錄于介質的磁數據而輸出模擬波形的磁頭(HD)、對磁頭(HD)輸出的模擬波形進行轉換而輸出脈沖波形的脈沖輸出部(111)、以及基于脈沖波形中的周期與基準值的比較對脈沖波形進行二進制而輸出數字數據的磁數據解析部(112)，磁數據解析部(112)檢測脈沖波形中的周期的頻率，并基于檢測出的周期的頻率來決定基準值。
【專利說明】
介質處理裝置、磁數據處理方法以及打印裝置
技術領域
[0001 ]本發明涉及介質處理裝置、磁數據處理方法以及打印裝置。
【背景技術】
[0002]以往，關于磁數據的讀取，已知一種能夠與磁記錄周期的變動對應的磁數據的檢查方法的技術(例如參照專利文獻I)。
[0003]專利文獻I:日本特開2002 — 56349號公報
[0004]此處，關于磁數據的讀取，有時在讀取區域的一部分殘存本來的讀取對象的磁數據以外的數據。例如在磁數據被覆蓋的情況下，有時在讀取區域的一部分殘存覆蓋前的磁數據。在專利文獻I所記載的技術中，這種情況下，有可能無法執行正常的讀取。

【發明內容】

[0005]本發明是鑒于上述的情況而提出的，其目的在于即使在讀取區域中殘存讀取對象的磁數據以外的數據的情況下，也能夠正常進行磁數據的讀取。
[0006]為了實現上述目的，本發明的介質處理裝置的特征在于，具備磁頭，其讀取記錄于介質的磁數據而輸出模擬波形;脈沖輸出部，其對上述磁頭輸出的上述模擬波形進行轉換而輸出脈沖波形(pulse wave)；以及磁數據解析部，其基于上述脈沖波形中的周期與基準值的比較，對上述脈沖波形進行二進制而輸出數字數據，上述磁數據解析部檢測上述周期的頻率，并基于檢測出的上述周期的頻率來決定上述基準值。
[0007]根據本發明的結構，即使在讀取區域殘存讀取對象的磁數據以外的數據的情況下，也能夠正常進行磁數據的讀取。
[0008]另外，本發明的介質處理裝置的特征在于，上述磁數據解析部在檢測出的上述周期中，基于以規定的頻率發生的上述周期來決定上述基準值。
[0009]根據本發明的結構，能夠使決定的基準值成為更準確的值。
[0010]另外，本發明的介質處理裝置的特征在于，上述磁數據解析部在檢測出的上述周期中，基于以最高的頻率發生的上述周期來決定上述基準值。
[0011]根據本發明的結構，能夠使決定的基準值成為更準確的值。
[0012]另外，本發明的介質處理裝置的特征在于，上述磁數據解析部在檢測出的上述周期中，進行實施權重的加權平均，并基于上述加權平均的結果來決定上述基準值，上述權重表示發生的頻率越高的上述周期對計算后的值越造成影響。
[0013]根據本發明的結構，能夠使決定的基準值成為更準確的值。
[0014]另外，本發明的介質處理裝置的特征在于，上述磁數據解析部在檢測出的上述周期中，針對以第一頻率發生的上述周期以及以第二頻率發生的上述周期，進行實施權重的加權平均，并基于加權平均的結果來決定上述基準值，上述權重表示發生的頻率越高的上述周期進行對計算后的值造成影響。
[0015]根據本發明的結構，能夠使決定的基準值成為更準確的值。[ΟΟ??]另外，本發明的介質處理裝置的特征在于，上述磁數據解析部計算決定的上述基準值與上述周期的比，并基于計算出的比來判定與上述周期對應的上述數字數據的值。
[0017]根據本發明的結構，能夠使用基準值更準確地判定數字數據的值。
[0018]另外，為了實現上述目的，本發明的磁數據處理方法的特征在于，對磁頭基于記錄于介質的磁數據的讀取而輸出的模擬波形進行轉換來生成脈沖波形，檢測上述脈沖波形中的周期的頻率，基于檢測出的上述周期的頻率來決定基準值;基于上述周期與上述基準值的比較，對上述脈沖波形進行二進制來生成數字數據。
[0019]根據本發明的結構，即使在讀取區域殘存讀取對象的磁數據以外的數據的情況下，也能夠正常進行磁數據的讀取。
[0020]另外，為了實現上述目的，本發明的打印裝置的特征在于，具備:打印部，其對介質進行打印；磁頭，其讀取記錄于上述介質的磁數據而輸出模擬波形;脈沖輸出部，其對上述磁頭輸出的上述模擬波形進行轉換而輸出脈沖波形；以及磁數據解析部，其基于上述脈沖波形中的周期與基準值的比較，對上述脈沖波形進行二進制而輸出數字數據，上述磁數據解析部檢測上述周期的頻率，并基于檢測出的上述周期的頻率來決定上述基準值。
[0021]根據本發明的結構，即使在讀取區域中殘存讀取對象的磁數據以外的數據的情況下，也能夠正常進行磁數據的讀取。
【附圖說明】
[0022]圖1是表示本實施方式所涉及的介質處理系統的功能結構的框圖。
[0023]圖2是表示由介質處理裝置處理的存折的圖。
[0024]圖3是表示磁數據中的磁排列、模擬波形、脈沖波形的圖。
[0025]圖4是表示磁數據混合的狀態的磁條的圖。
[0026]圖5是表示介質處理裝置的動作的流程圖。
[0027]圖6是表示基于脈沖波形的分析結果的度數分布表、直方圖的圖。
[0028]圖7是表示數據區間長、基準比比例、與數字數據的值的關系的圖。
【具體實施方式】
[0029]以下，參照附圖，對本發明的實施方式進行說明。
[0030]圖1是表示本實施方式所涉及的介質處理系統I的功能結構的框圖。
[0031]如圖1所示，介質處理系統I具備介質處理裝置2(打印裝置)、和與介質處理裝置2進行通信的主機3。
[0032]主機3是對介質處理裝置2發送控制數據來控制介質處理裝置2的裝置。
[0033]介質處理裝置2是具有讀取記錄在包括存折T(圖2(A))的介質的磁條ST(圖2(A))中的磁數據的磁讀取功能、在包括存折T的介質上打印圖像的打印功能的裝置。
[0034]圖2(A)是表示由介質處理裝置2處理的存折T的一個例子的圖。
[0035]圖2(A)所例示的存折T是金融機關發行的中央具有裝訂線的冊子形態的介質。圖2(A)以適合說明合上的狀態的存折T的一個表面的方式進行圖示。
[0036]如圖2(A)所示，在存折T的表面設置磁條ST ο在磁條ST中記錄磁數據JD。
[0037]在磁條ST中能夠在不同的位置記錄不同的2個記錄密度的磁數據JD。具體而言，在磁條ST的位置Tl上能夠記錄210BPI(bit per inch:比特/英寸)的磁數據JDl，另外，在位置T2上能夠記錄75BPI的磁數據JD2。
[0038]圖2(B)是表示按照規定的格式的磁數據JD的數據結構的一個例子的圖。
[0039]如后述，在沿著磁條ST的長邊方向的讀取方向Y上，磁頭HD掃描磁數據JD來進行數據的讀取。
[0040]如圖2(B)所示，在磁數據JD的讀取方向Y上的最上游即磁數據JD的前端設置Erase區域。Erase區域是沒有極性反轉的區域。
[0041]在Erase區域的讀取方向Y的下游設置LO區域。LO區域是連續記錄規定的多個數據“O”的區域。
[0042]在LO區域的讀取方向Y的下游設置SOM區域。SOM區域是以預先決定的順序連續記錄數據“O”以及數據“I”的區域。在本實施方式中，在SOM區域中，以“11010”的順序連續記錄數據“I”、以及數據“O”。
[0043]在SOM區域的讀取方向Y的下游設置Data區域。Data區域是按照實際的信息來連續記錄數據“O”以及數據“I”的區域。
[0044]在Data區域的讀取方向Y的下游設置EOM區域。EOM區域是以預先決定的順序連續記錄數據“O”以及數據“I”的區域。在本實施方式中，在EOM區域中，以“11010”的順序連續記錄數據“I”以及數據“O”。
[0045]在EOM區域的讀取方向Y的下游設置LRC區域。LRC區域是儲存后述的奇偶校驗所使用的奇偶校驗位的區域。
[0046]在LRC區域的讀取方向Y的下游設置TO區域。TO區域是連續記錄規定的多個數據“O”的區域。
[0047 ] 在TO區域的讀取方向Y的下游設置Erase區域。
[0048]如圖1所示，介質處理裝置2具備控制部10、磁讀取部11、打印部12、輸送部13、存儲部14、和通信部15。
[0049]控制部10具備CPU、R0M、RAM、其它外圍電路等，并控制介質處理裝置2。
[0050]磁讀取部11通過磁頭HD讀取磁數據，并基于讀取的磁數據來生成二進制的數字數據，且輸出給控制部10。控制部10基于輸入的數字數據來執行對應的處理。
[0051]磁讀取部11的詳細結構以及執行的處理后述。
[0052]打印部12具備SIDM(Serial Impact DotMatrix:串行擊打點陣)方式的打印頭、輸送打印頭的滑架、與向其它的介質的打印有關的機構，在控制部1的控制下，對介質打印圖像。
[0053]輸送部13在控制部10的控制下，在規定方向上輸送被插入到介質處理裝置2的介質。
[0054]存儲部14具備存儲器，并存儲各種數據。
[0055]通信部15在控制部10的控制下，按照規定的通信標準與主機3進行通信。
[0056]接下來，對磁讀取部11進行詳述。
[0057]如圖1所示，磁讀取部11具備脈沖輸出部111和磁數據解析部112。
[0058]脈沖輸出部111以及磁數據解析部112分別是磁讀取部11具備的CPU讀出規定的程序來執行，另外或磁讀取部11具備的規定的信號處理電路執行信號處理等通過硬件和軟件執行處理的功能模塊。
[0059]也可以是控制部10執行控制脈沖輸出部111以及磁數據解析部112的處理的一部分或者全部的結構。
[0060]以下，按順序對脈沖輸出部111以及磁數據解析部112進行說明。
[0061 ] <脈沖輸出部111的說明>
[0062]首先，對脈沖輸出部111進行說明。
[0063]此處，磁頭HD搭載在未圖示的磁頭滑架上。控制部10能夠驅動未圖示的滑架驅動馬達使磁頭滑架在讀取方向Y上掃描。
[0064]在磁數據JD的讀取時，控制部10驅動磁頭HD，并使磁頭HD在讀取方向Y上掃描來執行磁頭HD對磁數據JD的讀取。
[0065]根據伴隨朝向磁頭HD的讀取方向Y的掃描而發生的對磁數據JD的讀取，磁頭HD將模擬波形(模擬電流的波形)輸出給脈沖輸出部111。
[0066]圖3(A)表不磁數據JD中的磁排列(N極、S極)的一個例子，(B)表不掃描(A)的磁排列的磁數據JD而讀取的情況下磁頭HD輸出的模擬波形。
[0067]如圖3(A)所示，通過使附著在磁條ST的表面上的磁性體的磁極反轉，來在磁條ST記錄磁數據JD。磁頭HD根據伴隨朝向讀取方向Y的掃描而發生的對磁數據JD的讀取來輸出與極性的變化對應的電流。因此，在通過磁頭HD讀取圖3(A)的磁數據JD的情況下，如圖3(B)所示，磁頭HD的輸出與磁數據JD的極性反轉對應地成為脈沖狀的模擬波形。
[0068]脈沖輸出部111對從磁頭HD輸入的模擬波形進行量子化來生成脈沖波形。更詳細而言，脈沖輸出部111檢測模擬波形的峰值，并生成檢測出的峰值成為脈沖的邊緣(脈沖的上升或者脈沖的下降)這樣的脈沖波形。
[0069]圖3(C)表示脈沖輸出部111基于(B)的模擬波形所生成的脈沖波形。
[0070]如圖3(C)所示，脈沖輸出部111生成的脈沖波形根據模擬波形的峰值而具有脈沖上升或者下降的波形。
[0071]在本實施方式中，脈沖從上升到下降的間隔以及脈沖從下降到上升的間隔相當于“周期”。在圖3(C)的例子中，在脈沖波形中，邊緣Al —邊緣A2的間隔、邊緣A2 —邊緣A3的間隔、邊緣A3 —邊緣A4的間隔、邊緣A4 —邊緣A5的間隔、邊緣A5 —邊緣A6的間隔、邊緣A6 —邊緣A7的間隔、邊緣A7—邊緣AS的間隔、邊緣AS—邊緣A9的間隔分別相當于周期。如后述，磁數據解析部112基于脈沖波形中的周期對脈沖波形進行二進制來生成數字數據。
[0072]脈沖輸出部111將生成的脈沖波形輸出給磁數據解析部112。
[0073]<磁數據解析部112的說明>
[0074]接下來，對磁數據解析部112進行說明。
[0075]磁數據解析部112基于從脈沖輸出部111輸入的脈沖波形來生成連續構成數據“I”以及數據“O”的數字數據，并輸出。
[0076]以下，首先，對以往的基于脈沖波形的數字數據的生成方法進行說明。
[0077]在以下的說明中，將相當于磁數據解析部112的以往的功能模塊表現為“舊解析部”。
[0078]此處，在本實施方式中，在脈沖波形中，數據“O”以及數據“I”如以下那樣判別。
[0079]S卩，在脈沖波形中，數據“O”是周期的長度為α值(包括規定的余量。)的脈沖。在圖3(C)的例子中，脈沖Pl?脈沖P4分別是數據“O”的脈沖。
[0080]另外，數據“I”是周期的長度為α值的1/2的β值(包括規定的余量。)的脈沖兩個連續的脈沖串。在圖3 (C)的例子中，脈沖串PPI以及脈沖串ΡΡ2分別是數據T的脈沖串。
[0081]α值根據磁數據JD的記錄密度而具有不同的值。β值也同樣。
[0082]在以下的說明中，將周期的長度表現為“數據區間長”。數據區間長具有將周期的長度換算為規定的單位(在本例子中，為了方便表現為“小時長”。)的時間的情況下的值。
[0083]在生成數字數據時，舊解析部確定與脈沖波形中的數據“O”連續的區域即LO區域相當的區域。如上述，LO區域的讀取方向Y中的上游側的Erase區域是沒有磁性的反轉的區域，另外，LO區域的讀取方向Y中的下游側的SOM區域的前端的數據是數據“I” ο舊解析部利用該數據，并基于與磁性體的磁極的反轉對應的周期的方式來確定脈沖波形中的與LO區域對應的區域。
[0084]接下來，舊解析部獲取LO區域中的各周期的數據區間長。如上述，LO區域是數據“O”連續的區域。因此，舊解析部獲取的數據區間長分別是與數據“O”對應的脈沖的周期的數據區間長。
[0085]接著，舊解析部計算獲取的數據區間長的平均值，并將計算出的平均值設為數據“O”的周期的數據區間長的基準值(α值。以下稱為“第一基準值”。)。接下來，舊解析部將第一基準值的1/2的值設為數據“I”的周期的數據區間長的基準值(β值。以下稱為“第二基準值”。)。
[0086]接下來，舊解析部分析脈沖波形中的周期，并將數據區間長為基準值(包括規定的余量)的脈沖判別為數據“O”，將數據區間長為β值(包括規定的余量)的脈沖兩個連續的脈沖串判別為數據“I”，且基于判別結果來生成數字數據。
[0087]在以上那樣的以往的方法中，存在以下的技術問題。
[0088]S卩，在上述的以往的方法中，為了使第一基準值以及第二基準值為準確的值，在磁數據JD中，LO區域所包含的數據需要是正常的數據。然而，例如在如以下那樣的情況下，在利用其它磁數據JD覆蓋記錄在磁條ST中的磁數據JD的情況，有時LO區域所包含的數據不是正常的數據。以下，將覆蓋前記錄在磁條ST中的磁數據JD稱為“舊磁數據”，將覆蓋后的磁數據JD稱為“新磁數據”。
[0089]S卩，在覆蓋新磁數據時，舊磁數據沒有完全被消除，如圖4所示，在磁條ST(讀取區域)中舊磁數據與新磁數據混合，起因于該混合，存在LO區域中舊磁數據與新磁數據混合的情況。
[0090]對于針對存折T的磁數據JD的覆蓋，基本上，不發生這種情況，但例如在使用規格外的寫入器來覆蓋磁數據JD的情況下等可能發生這種情況。
[0091]LO區域中混合的舊磁數據與新磁數據的記錄密度不同的情況下，利用上述的以往的方法所計算的第一基準值以及第二基準值沒有成為準確的值。另外，即使在LO區域中混合的舊磁數據與新磁數據的記錄密度相同的情況下，在各數據的分界線中，有時脈沖沒有成為正常的波形，計算的第一基準值以及第二基準值沒有成為準確的值。
[0092]此外，不同的磁數據JD的混合不僅起因于磁數據JD的覆蓋，可能因各種原因而發生。
[0093]鑒于以上，本實施方式所涉及的磁數據解析部112執行以下的處理。
[0094]此外，在以下的說明中，將記錄密度為75BPI的數據“O”的周期的數據區間長的目標值設為1490小時長，將構成數據“I”的脈沖串中的規定的周期的數據區間長的目標值設為745.5小時長。以下，對于構成數據“I”的脈沖串中的規定的周期，僅表現為“數據“I”的周期”。該情況下，對于基于75BPI的磁數據JD的讀取的脈沖波形，數據“O”的周期的數據區間長取在1490小時長反映了規定的余量的范圍內的值，數據“I”的周期的數據區間長取在745.5小時長反映了規定的余量的范圍內的值。
[0095]另外，將記錄密度為210BPI的數據“O”的周期的數據區間長的目標值設為532.5小時長，將數據“I”的周期的數據區間長的目標值設為266.25小時長。該情況下，對于基于210BPI的磁數據JD的讀取的脈沖波形，數據“O”的周期的數據區間長取在532.5小時長反映了規定的余量的范圍內的值，數據“I”的周期的數據區間長取在266.25小時長反映了規定的余量的范圍內的值。
[0096]圖5是表示基于脈沖波形來生成數字數據時的磁數據解析部112的動作的流程圖。
[0097]首先，磁數據解析部112分析從脈沖輸出部111輸入的脈沖波形，對脈沖波形所包含的各周期的數據區間長、和每個數據區間長的周期的發生的頻率進行檢測(步驟SA1)。
[0098]此外，在步驟SAl中，針對磁數據解析部112脈沖波形所包含的各周期，以規定的規則使實際的數據區間長進位或者舍去，并作為按照從O小時長至50小時長劃分出的數據區間長(O小時長、50小時長、100小時長、150小時長…)進彳丁檢測。
[0099]圖6(A)是表示通過步驟SAl的處理所檢測的各周期的數據區間長與各數據區間長的周期發生的頻率的關系的度數分布表的一個例子。
[0100]特別是，在圖6(A)中，在75BPI的舊磁數據中，覆蓋210BPI的新磁數據的結果是表示分析基于一部分殘存舊磁數據的狀態(圖4的狀態)的磁條ST的讀取的脈沖波形的結果的度數分布表。
[0101]圖6(B)是基于圖6(A)的度數分布表的直方圖，橫軸表示數據區間長，縱軸表示頻率。
[0102]在以下的說明中，在磁條ST中，將應作為讀取對象的磁數據JD(在進行磁數據JD的覆蓋的情況下，新覆蓋的磁數據JD(新磁數據))表現為“讀取對象磁數據”。另外，將殘存在磁條ST上的讀取對象磁數據以外的磁數據JD(進行磁數據JD的覆蓋的情況下，覆蓋前記錄的磁數據JD(舊磁數據))表現為“殘存磁數據”。
[0103]在圖6的例子中，讀取對象磁數據是210BPI的磁數據JD，殘存磁數據是75BPI的磁數據JD。
[0104]如圖6(B)所示，基于步驟SAl的分析結果的直方圖成為與讀取對象磁數據(本例中，210BPI的磁數據JD)的數據“I”的目標值(本例中，266.25小時長)近似的數據區間長具有頻率的峰值的第一山部M1、和在與數據“O”的目標值(本例中，532.5小時長)近似的數據區間長具有頻率的峰值的第二山部M2的狀態。并且，基于步驟SAl的分析結果的直方圖成為在與第一山部Ml以及第二山部M2分離的位置上具有比第一山部Ml的峰值的頻率以及第二山部M2的峰值的頻率小的頻率的數據區域DR的狀態。
[0105]直方圖成為這樣的狀態的理由如以下。
[0106]S卩，在磁條ST中殘存殘存磁數據的情況下，殘存的殘存磁數據的數據量與讀取對象磁數據的數據量相比較非常小。因此，在脈沖輸出部111輸出的脈沖波形中發生基于殘存磁數據的周期的頻率與發生基于讀取對象磁數據的數據“I”的周期以及數據“O”的周期的頻率相比較，非常少。因此，基于步驟SAl的分析結果的直方圖成為具有基于讀取對象磁數據的數據“I”的周期的第一山部M1、基于讀取對象磁數據的數據“O”的周期的第二山部M2、和基于源于殘存磁數據的周期的數據區域DR的狀態。
[0107]鑒于以上，在緊接著步驟SAl的步驟SA2中，磁數據解析部112執行以下的處理。
[0108]S卩，首先，磁數據解析部112獲取以最高的頻率發生的周期的數據區間長的值(步驟SA2)。在圖6(A)的例子中，磁數據解析部112獲取以最高的頻率(77次)發生的周期的數據區間長即300小時長。
[0109]以最高的頻率發生的周期的數據區間長是基于讀取對象磁數據的數據“O”的周期的數據區間長或基于讀取對象磁數據的數據“I”的周期的數據區間長中的任意一個。
[0110]在接下來的步驟SA3中，磁數據解析部112執行以下的處理。
[0111]S卩，磁數據解析部112比較步驟SA2中所獲取的數據區間長、記錄密度的各個的數據“O”的周期的數據區間長的目標值、以及數據“I”的周期的數據區間長的目標值，來判別與獲取的數據區間長最近似的(也可以相同)目標值(步驟SA3)。
[0112]本例的情況下，磁數據解析部112比較步驟SA2中所獲取的數據區間長即300小時長和以下的4個目標值。是75BPI的數據“O”的周期的數據區間長的目標值(1490小時長)、75BPI的數據“I”的周期的數據區間長的目標值(745.5小時長)、21(^1的數據“0”的周期的數據區間長的目標值(532.5小時長)、以及210BPI的數據“I”的周期的數據區間長的目標值(266.25小時長)。而且，磁數據解析部112判別為210BPI的數據T的周期的數據區間長的目標值(266.25小時長)與步驟SA2中所獲取的數據區間長(300小時長)最近似。
[0113]在接下來的步驟SA4中，磁數據解析部112執行以下的處理。
[0114]S卩，磁數據解析部112將和在步驟SA3中判別為與步驟SA2中所獲取的數據區間長(脈沖波形中以最高的頻率發生的周期的數據區間長)最近似的目標值對應的記錄密度判別為讀取對象磁數據的記錄密度(步驟SA4)。
[0115]本例的情況下，磁數據解析部112在步驟SA3中判別為210BPI的數據“I”的周期的數據區間長的目標值與步驟SA2中所獲取的數據區間長最近似。因此，在步驟SA4中，磁數據解析部112將與目標值對應的210BPI判別為讀取對象磁數據的記錄密度。
[0116]如以上那樣，通過步驟SAl?步驟SA4的處理，磁數據解析部112能夠判別讀取對象磁數據的記錄密度。
[0117]在接下來的步驟SA5中，磁數據解析部112執行以下的處理。
[0118]S卩，磁數據解析部112獲取步驟SA4中判別出的與讀取對象磁數據的記錄密度的數據“O”的目標值近似的數據區間長的周期且發生的頻率最高的周期的數據區間長(步驟SA5)。
[0119]本例的情況下，磁數據解析部112在步驟SA5中獲取與210BPI的磁數據JD的數據“O”的目標值(532.5)近似的數據區間長的周期中的發生的頻率最高的周期的數據區間長即550小時長。
[0120]以下，將在脈沖波形中，步驟SA5中所獲取的數據區間長，S卩，與讀取對象磁數據的記錄密度的數據“O”的目標值近似的數據區間長的周期且發生的頻率最高的周期的數據區間長表現為“代表數據區間長”。代表數據區間長相當于在基于讀取對象磁數據的脈沖波形中，以最高的頻率發生的數據“O”的周期的數據區間長。
[0121]在接下來的步驟SA6中，磁數據解析部112執行以下的處理。
[0122]S卩，磁數據解析部112獲取步驟SA5中所獲取的代表數據區間長的周期的頻率。
[0123]此處獲取的頻率(代表數據區間長的周期的頻率)相當于“第一頻率”。
[0124]并且，磁數據解析部112獲取從代表數據區間長開始規定的范圍(例如，±50小時長)內的數據區間長，并獲取獲取的數據區間長的各個的周期的頻率。
[0125]在本例中，磁數據解析部112獲取作為代表數據區間長的550小時長的周期的頻率(73次)、作為處于從550小時長規定的范圍內的數據區間長的500小時長的周期的頻率(57次)、以及作為處于從550小時長開始規定的范圍內的數據區間長的600小時長的周期的頻率(49次)。
[0126]以下，將處于從代表數據區間長開始規定的范圍內的數據區間長稱為“周邊數據區間長”。
[0127]周邊數據區間長的周期的頻率相當于“第二頻率”。
[0128]在接下來的步驟SA7中，磁數據解析部112執行以下的處理。
[0129]S卩，磁數據解析部112基于代表數據區間長以及代表數據區間長的周期的頻率、和周邊數據區間長以及周邊數據區間長的周期的頻率，通過以下的方法計算第一基準值(步驟SA7)。
[0130]磁數據解析部112針對代表數據區間長以及周邊數據區間長的各個，進行與頻率越高的周期對應的數據區間長，以對計算出的第一基準值造成影響方式進行權重的加權平均，來計算(決定)第一基準值。
[0131]在本例中，磁數據解析部112針對作為代表數據區間長的550小時長、作為周邊數據區間長的500小時長、以及600小時長，進行與頻率對應的權重的加權平均，計算第一基準值。在本例中，磁數據解析部112計算出的第一基準值為529小時長。
[0132]此處，由于第一基準值通過上述的方法來計算，所以脈沖波形中，與數據“O”對應的周期的數據區間長稱為與第一基準值近似的值。因此，第一基準值對于脈沖波形的各周期，能夠作為判定數據“O”時的基準值使用。
[0133]在接下來的步驟SA8中，磁數據解析部112執行以下的處理來生成數字數據。
[0134]S卩，磁數據解析部112將脈沖波形的各周期的實際的數據區間長的各個除以第一基準值來計算各數據區間長在第一基準值所占的比例(以下，稱為“基準比比例”。)。而且，磁數據解析部112基于計算出的基準比比例，針對與各周期對應的脈沖或者脈沖串，判定數據“I”或者數據“O”(步驟SA8)。
[0135]圖7是針對包括LO區域的一部分、SOM區域、和Data區域的一部分的脈沖波形，表示周期的實際的數據區間長、基準比比例、和與各周期對應的脈沖或者脈沖串的數據(數據T或者數據“O”)的關系的一個例子的表。
[0136]在步驟SA8中，磁數據解析部112針對與處于包括基準比比例為“100%”的規定的范圍(例如，85%?115%)的數據區間長的周期對應的脈沖判定為數據“O”。
[0137]另外，磁數據解析部112針對處于包括基準比比例為“50%”的規定的范圍(例如，35%?65%)的數據區間長的周期兩個連續的脈沖串，判定為數據“I”。針對數據“I”這樣判定是因為數據T由數據“O”的數據區間長的1/2的值(包括規定的余量。)的脈沖兩個連續的脈沖串構成。
[0138]在圖7所例示的表中，第一行Gl是表示數據區間長為483小時長的周期的行。該情況下，基準比比例為“92.0%”，磁數據解析部112針對對應的脈沖，判定為數據“O”。同樣地，第二行G2是表示數據區間長為494小時長的周期的行。該情況下，基準比比例為“94.1%”，磁數據解析部112針對對應的脈沖，判定為數據“O”。
[0139]另外，第5行G5是表示數據區間長為295小時長的周期的行。該情況下，基準比比例為“56.2%”。另外，第6行G6是表示數據區間長為290小時長的周期的行。該情況下，基準比比例為“55.2%”。磁數據解析部112針對由與第5行G5的周期對應的脈沖以及與第6行G6的周期對應的脈沖構成的脈沖串，判定為數據“I”。
[0140]如以上那樣，在步驟SA8中，磁數據解析部112基于脈沖波形的各周期的基準比比例，針對脈沖或者脈沖串，按順序判定數據“I”或者數據“O”，并基于判定結果來生成二進制的數字數據。
[0141]如以上那樣，在本實施方式中，磁數據解析部112通過基于脈沖波形中的周期的頻率來計算第一基準值，從而在第一基準值的計算時，源于殘存磁數據的周期的數據區間長不會造成影響。由此，即使在磁條ST的一部分殘存殘存磁數據、由磁頭HD讀取了殘存磁數據的情況下，對于第一基準值，能夠作為沒有讀取的殘存磁數據的影響的準確的值。
[0142]磁數據解析部112將生成的數字數據輸出給控制部10。
[0143 ]控制部1基于輸入的數字數據來執行對應的處理。
[0144]例如，控制部10執行以下的處理。
[0145]控制部10使用儲存在數字數據的LRC區域中的奇偶校驗位來進行數字數據的奇偶校驗，并進行數字數據的錯誤檢測。在檢測出錯誤的情況下，執行錯誤處理等對應的處理。在未檢測出錯誤的情況下，控制部10控制通信部15將數字數據發送給主機3。
[0146]主機3基于接收的數字數據來執行對應的處理。
[0147]例如，主機3在數字數據包括存折T的識別信息的情況下，利用以規定的手段輸入的密碼來進行認證，并在認證成功的情況下，控制介質處理裝置2對存折T進行必要的記賬(打印)。
[0148]如以上說明那樣，本實施方式所涉及的介質處理裝置2具備讀取記錄在存折T(介質)中的磁數據JD并輸出模擬波形的磁頭HD、對磁頭HD輸出的模擬波形進行轉換并輸出脈沖波形的脈沖輸出部111、以及基于脈沖波形中的周期與第一基準值(基準值)的比較對脈沖波形進行二進制并輸出數字數據的磁數據解析部112。磁數據解析部112檢測脈沖波形中的周期的頻率，并基于檢測出的周期的頻率來計算(決定)第一基準值。
[0149]根據該結構，在介質處理裝置2計算第一基準值時，源于殘存磁數據的周期的數據區間長能夠不會造成影響。由此，即使在磁條ST的一部分殘存殘存磁數據、由磁頭HD讀取了殘存磁數據的情況下，對于第一基準值，也能夠為沒有讀取的殘存磁數據的影響的準確的值。而且，通過使第一基準值成為準確的值，能夠正常地進行包括基于脈沖波形的數字數據的生成的磁數據JD的讀取。
[0150]另外，在本實施方式中，磁數據解析部112基于脈沖波形中，與其它頻率相比較以較高的頻率發生的周期來計算第一基準值。
[0151]根據本發明的結構，反映在磁條ST中殘存殘存磁數據的情況下，殘存的殘存磁數據的數據量與讀取對象磁數據的數據量相比較，非常小這種特性，能夠準確地計算第一基準值。
[0152]另外，在本實施方式中，磁數據解析部112針對脈沖波形中，與其它頻率相比較以較高的頻率發生的周期以及其周邊的頻率的周期，實施權重的加權平均，并基于加權平均的結果來計算第一基準值，上述權重表示發生的頻率越高的周期對計算后的值越造成影響。
[0153]根據該結構，在第一基準值的計算時，能夠準確地反映實際檢測出的各周期的數據區間長，并能夠使第一基準值的值成為更準確的值。
[0154]另外，在本實施方式中，磁數據解析部112計算基于計算(決定)出的第一基準值和脈沖波形中的周期的數據區間長的基準比比例(比)，并基于計算出的基準比比例來判定與周期對應的數字數據的值(數據“O”或者數據“I” )。
[0155]根據該結構，能夠使用第一基準值，基于實際檢測出的各周期的數據區間長，更準確地針對脈沖波形的各周期的脈沖或者脈沖串判定數據“O”或者數據“I”。
[0156]此外，上述的實施方式僅是表示本發明的一方式的例子，在本發明的范圍內能夠任意地變形以及應用。
[0157]在上述的實施方式中，具體地對與數據“I”數據“O”對應的周期的方式進行了例示，但這些數據的周期的方式并不限于例示的例子。
[0158]另外，在上述的實施方式中，將可能成為讀取對象的磁數據JD的記錄密度作為75BPI或者210BPI，對介質處理裝置2的處理進行了說明，但記錄密度并不限于例示的例子。
[0159]另外，在上述的實施方式中，例示存折T作為介質的一個例子，但介質并不限于存折。
[0160]另外，使用圖所說明的各功能模塊通過硬件和軟件能夠任意地實現，并不暗示特定的硬件結構。
[0161]附圖標記的說明
[0162]2…介質處理裝置(打印裝置)，3...主機，111…脈沖輸出部，112…磁數據解析部，T…存折(介質)，HD…磁頭。
【主權項】
1.一種介質處理裝置，其特征在于，具備: 磁頭，其讀取記錄于介質的磁數據而輸出模擬波形； 脈沖輸出部，其對上述磁頭輸出的上述模擬波形進行轉換而輸出脈沖波形；以及磁數據解析部，其基于上述脈沖波形中的周期與基準值的比較，對上述脈沖波形進行二進制而輸出數字數據， 上述磁數據解析部檢測上述周期的頻率，并基于檢測出的上述周期的頻率來決定上述基準值。2.根據權利要求1所述的介質處理裝置，其特征在于， 上述磁數據解析部在檢測出的上述周期中，基于以規定的頻率發生的上述周期來決定上述基準值。3.根據權利要求2所述的介質處理裝置，其特征在于， 上述磁數據解析部在檢測出的上述周期中，基于以最高的頻率發生的上述周期來決定上述基準值。4.根據權利要求1所述的介質處理裝置，其特征在于， 上述磁數據解析部在檢測出的上述周期中，進行實施權重的加權平均，并基于上述加權平均的結果來決定上述基準值，上述權重表示發生的頻率越高的上述周期對計算后的值越造成影響。5.根據權利要求4所述的介質處理裝置，其特征在于， 上述磁數據解析部在檢測出的上述周期中，針對以第一頻率發生的上述周期以及以第二頻率發生的上述周期，進行實施權重的加權平均，并基于加權平均的結果來決定上述基準值，上述權重表示發生的頻率越高的上述周期對計算后的值越造成影響。6.根據權利要求1所述的介質處理裝置，其特征在于， 上述磁數據解析部計算決定的上述基準值與上述周期的比，并基于計算出的比來判定與上述周期對應的上述數字數據的值。7.一種磁數據處理方法，其特征在于， 對磁頭基于記錄于介質的磁數據的讀取而輸出的模擬波形進行轉換來生成脈沖波形， 檢測上述脈沖波形中的周期的頻率， 基于檢測出的上述周期的頻率來決定基準值， 基于上述周期與上述基準值的比較，對上述脈沖波形進行二進制而生成數字數據。8.一種打印裝置，其特征在于，具備: 打印部，其對介質進行打印； 磁頭，其讀取記錄于上述介質的磁數據而輸出模擬波形； 脈沖輸出部，其對上述磁頭輸出的上述模擬波形進行轉換而輸出脈沖波形；以及磁數據解析部，其基于上述脈沖波形中的周期與基準值的比較，對上述脈沖波形進行二進制而輸出數字數據， 上述磁數據解析部檢測上述周期的頻率，并基于檢測出的上述周期的頻率來決定上述基準值。
【文檔編號】G06K17/00GK105825873SQ201610024011
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2016年1月14日
【發明人】吉開秀昭
【申請人】精工愛普生株式會社