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用于聲音放出的微孔膜層壓物的制作方法_3

文檔序號:9915724閱讀:來源:國知局
部未粘合區域。
[0054] 進行各種類型的微孔膜層壓物的測試以通過傳輸損耗測試來預測聲學傳輸性能。 還進行頻率響應/插入損耗測試以確定組裝的放出組件的實際聲學傳輸性能。傳輸損耗測 試已經典型地在本領域中用來預測聲學傳輸性能,但是如在此將證實的,對于小型的、不是 標準尺寸的和/或不是由僅PTFE膜或織物制成的最終零件,傳輸損耗測試可能具有較小的 預測價值。 膜層壓物的傳輸損耗
[0055] 該傳輸損耗測試被設計為測量標準尺寸的材料的平片材的聲阻抗,并且典型地用 于預測聲音出口組件的聲學傳輸。在多個微孔膜上進行傳輸損耗測試,其中一些與在此披 露的技術一致地構建。使用ASTM E2611-09建立的測試指南與37mm管中安裝的37mm直徑的 膜樣品。圖8展示了用于PTFE膜和兩個符合在此所披露的技術的膜層壓物在500Hz到5000Hz 頻率范圍內的圖形傳輸損耗數據。樣品5是PTFE膜層壓物,其中支撐稀松布層是具有三線的 超輕、斜織的聚酯支撐稀松布,如由Dodenhoff工業紡織品公司(Dodenhoff Industrial Textiles)(基地位于俄亥俄州韋斯特萊克(based in Westlake,0H)供應的20薄紗(Tulle) (如先前所討論的在圖6和7中描繪的稀松布)。樣品G是PTFE膜層壓物,其中該支撐稀松布是 具有相對密織的高密度聚乙烯(HDPE)以及乙烯乙酸乙烯酯(EVA),諸如來自德星技術公司 (DelStar Technologies)(基地位于特拉華州米德爾敦(based in Middletown, Delaware))的X540NAT-E/EDclncl·?如在圖8中可見的,所測試材料的響應是不規則的,含 有在不同頻率和頻率范圍的尖峰和凸起。尖峰或凸起表明該出口耐受在特定頻率左右的振 動。在這一頻率范圍內,PTFE示出了比其他兩種層壓物更好的性能。
[0056] 以下表1展示了對于每個測試的材料樣品和該樣品的基重的傳輸損耗數據,包括 為了清楚起見從圖8曲線圖省略的樣品。膜#0是對照,該膜是聲等級的僅PTFE的膜。圖9是描 繪了材料的基重與平均傳輸損耗之間的關系的曲線圖。圖9證實了隨著介質基重的增加,傳 輸損耗也憚力π- 表1
[0057]傳輸損耗測試通常是用來預測呈產品形式的聲音出口的聲學傳輸,這些聲音出口 可能遠小于用于傳輸損耗所測試的樣品膜。雖然傳輸損耗測試的結果確實反映了出口材料 的一些一般傾向,但是排除在數據中的凸起和尖峰以預測當轉化成非常小的零件時樣品可 能如何表現。材料小片不具有與大的材料樣品相同的動態聲學響應;相反,其響應遠遠不那 么復雜。單獨使用傳輸損耗測試,人們不能預期PTFE層壓物的聲學性能與僅PTFE結構的一 致。如下所述的頻率響應和插入損耗測試可以用于更精確地確定在產品構型中的聲音出口 的實際聲學性能。 Hl頻率響應和插入損耗說明
[0058] 總體上,頻率響應是系統或裝置響應于刺激的輸出頻譜的定量量度。它是與輸入 相比作為頻率的函數輸出的幅值和相位的量度。在聲音出口的上下文中,頻率響應函數 (FRF)是跨越特定聲學范圍的每個頻率下已穿過聲音出口的聲波的幅值和相位相比這些聲 波在它們穿過該聲音出口之前的量度。
[0059] 不同于以上所討論的傳輸損耗,該頻率響應和插入損耗是與該聲音出口(在其使 用配置中)相關聯的量度,這在該聲音出口是遠小于可以在傳輸損耗測試中測試的標準尺 寸時可能是特別有用的。此外,頻率響應和插入損耗測試可以確定符合可以如何使用該聲 音出口的量度。作為實例,聲音出口可以作為麥克風出口測試以便確定在麥克風應用中的 性能,并且該聲音出口可以作為揚聲器出口測試以便確定在揚聲器應用中的性能。 麥克風出口測試
[0060] 在用于感興趣的聲音出口的Hl頻率響應函數的實驗測試的一個實例中,通過聲學 測試腔室內部的揚聲器產生隨機聲信號如白噪聲。將兩個麥克風安裝在該腔室中以測量聲 信號,一個參比麥克風和一個輸出麥克風。這些麥克風各自具有安裝在該麥克風的有效面 積上方的帽,并且該輸出麥克風的帽具有安裝在該帽上的該感興趣的聲音出口。安裝在該 參比麥克風上方的帽沒有聲音出口。這樣,通過該參比麥克風接收的聲信號(不穿過任何聲 音出口)理解為相當于在穿過該感興趣的聲音出口之前的聲信號,并且相應地被處理軟件 指定為輸入數據,或參比數據。通過該輸出麥克風接收的聲信號(穿過該感興趣的聲音出 口)被指定為輸出數據。然后將來自這兩個麥克風的聲信號通過該軟件進行比較以產生跨 越該頻譜的Hl FRF。
[0061] 圖10描繪了安裝在第一麥克風810上方的示例測試帽800的截面視圖。將0形環布 置在由帽800限定的開口822內,這在該帽800與該第一麥克風810之間產生了密封。雖然未 在當前的圖中描繪,在帽800的后壁824的軸向中心中機加工開口以匹配進行測試的出口的 尺寸和形狀,其中類似于將如何在由電子裝置殼體限定的開口上方安裝該出口來安裝該出 口,如以上關于圖1 -3所述的。總體上,該機加工的開口將匹配該感興趣的聲音出口的未粘 合的內部區域部分的尺寸和形狀,如以上相對于圖1-3描述的,并且與第二麥克風相關聯的 第二測試帽將具有基本上相同的在其內機加工的開口。
[0062] 與上述實驗設置一致,可以使用的一個分析系統是BrUel &KjserSound & Vibration Measurement A/S(位于丹麥的H_serum)的脈沖(PULSE)分析儀平臺。揚聲器由該 脈沖分析儀平臺軟件驅動以產生白噪聲。Brilel &Kjier類型2670麥克風可以與脈沖分析儀 平臺一起使用以進行此測試。該脈沖分析儀平臺軟件記錄麥克風數據持續5秒并且對跨越 頻率范圍的結果進行平均。將來自參比麥克風的聲學數據與來自該輸出麥克風的聲學數據 通過該脈沖分析儀平臺軟件使用Hl FRF(頻率響應函數)計算方法進行比較,該方法提供跨 越頻率范圍的每隔一段距離以分貝(dB)計的輸出值。對于以分貝計的聲音出口的頻率響應 越低,穿過該出口的聲音傳輸越好。
[0063] Hl FRF計算主要證實歸因于聲音出口的聲信號損耗。然而,一小部分的聲信號損 耗是由于這兩個麥克風之間的設備缺陷、它們的定位、以及由揚聲器產生的聲場。這樣,可 能希望的是還進行對照測試以產生Hl FRF對照曲線。此類FRF對照測試具有與上述關于測 試感興趣的聲音出口類似的測試設置,除了與參比麥克風和輸出麥克風相關聯的每個帽沒 有聲音出口。Hl FRF計算結果被歸因于測試設置的缺陷。這樣,在完美測試中,Hl FRF將跨 越頻譜產生OdB。圖11描繪了與使用上述測試設備的示例對照測試相關聯的結果。
[0064] 為了計算插入損耗,對照Hl FRF結果通過以下方程調節測試Hl FRF計算結果: IL(f) =Hl 出口⑴-Hl 綱⑴, 其中IL(f)是插入損耗;Hl出口(f)是用于感興趣的聲音出口的Hl FRF;并且Hbj照(f)是用 于上述對照裝置的Hl FRF。
[0065] 本領域技術人員應了解使用完美的、或接近完美的實驗裝置,該插入損耗將是與 用于感興趣的聲音出口的HlFRF數字上相當的,或接近相當的。但是在實踐中,設備品質可 能變化并且因此常見的是當確定部件對聲信號的影響時使用插入損耗。在這個具體的測試 程序中,該插入損耗是具有和沒有覆蓋該輸出信號麥克風的聲音出口的麥克風之間的FRF 比較。
[0066] 如將了解的,插入損耗結果可能實質上是復雜的。當嘗試比較以相同的方式測試 的兩種不同材料的結果時,可以有用的是計算在感興趣的具體頻率范圍內以dB計的平均插 入損耗。這被稱為平均揷入損耗。用干i文種i+笪的方趕亦下而給出,
其中IL(f)是在給定的頻率f下該插入損耗函數的值,并且頻率范圍是從500Hz到 5000Hz。當在可替代的頻率范圍內的平均插入損耗是所希望的時,計算在該頻率范圍內的 積分并且然后除以在這個范圍內的最大頻率與最小頻率之間的差,如本領域技術人員將了 解的。 麥克風出口組件的插入損耗測試-膜比較
[0067] 對具有不同微孔膜的多個麥克風出口組件測試插入損耗,包括與在此披露的技術 一致地構建的一些麥克風放出組件。在麥克風放出組件中測試的微孔膜是與以上討論的經 受傳輸損耗測試的那些一致的。
[0068] 這些出口組件與在圖12-13中描繪的示例出口組件一致地構建,其中圖13是圖12 中描繪的部件的截面視圖。每個出口組件400具有:PTFE膜或膜層壓物410,其具有橢圓形狀 (具有10.58mm的長度、5.9mm的寬度);以及周邊粘合區域420,該粘合區域具有圍繞內部未 粘合區域460的1.5mm的寬度。將該周邊粘合區域420粘合到在膜410-側上的泡沫層壓物單 面粘合劑430上以及在該膜410的另一相反側上的聚酯膜雙面粘合劑440上。該聚酯膜雙面 粘合劑440是壓敏粘合劑。作為制造的結果,在多個實施例中,聚酯膜雙面粘合劑440的以其 他方式暴露的外粘合劑表面442可以聯接到用于使用時自其移出的連續離型襯層上。此類 連續離型襯層可以還被聯接到多個基本相同的出口組件上。在替代的實施例中,該泡沫層 壓物是雙面粘合劑,其中該泡沫層壓物雙面粘合劑的以其他方式暴露的粘合劑表面被聯接 到離型襯層上。
[0069]兩個測試帽(如以上關于圖10描述的)機加工為限定匹配出口組件400的內部未粘 合內部區域460的尺寸和形狀的開口。壓敏雙面粘合劑440聯接至圍繞該機加工的開口的測 試帽之一使得該內部未粘合區域460與該機加工的開口對齊。
[0070] 出口組件400根據上述頻率響應/插入損耗測試方法進行測試。下表2示出了基重 與在500-5000Hz頻率范圍內的平均插入損耗之間的比較,這在圖14中描繪的圖中繪出。如 通過圖14所證實的,在聲學膜/膜層壓物的基重與其插入損耗之間似乎存在弱的相關性,從 而表明基重并非必然是聲音出口的實際聲學性能的強預示物(predictor)。
表2 麥克風出口組件的插入損耗測試-尺寸比較
[0071] 用于插入損耗測試的出口組件的尺寸對性能有顯著效果。對具有僅PTFE膜和PTFE 膜層壓物(具有聚酯稀松布)的麥克風出口組件進行測試來比較內部未粘合的區域的尺寸 對聲學傳輸的影響。與"5"相關聯的數據是與以上討論的樣品5-致的,并且與膜"0"相關聯 的數據是也在以上討論的對照聲學等級的僅PTFE膜。圖形結果在圖15中描繪,并且與該內 部未粘合區域尺寸的尺寸相比的平均插入損耗的結果報告在以下表3中,其也
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