帶構件,轉印裝置,圖像形成裝置及帶構件評價方法

專利名稱：：帶構件,轉印裝置,圖像形成裝置及帶構件評價方法
技術領域：
：本發明涉及用于打印機，傳真機，復印機等圖像形成裝置的帶構件，轉印裝置，圖像形成裝置以及帶構件評價方法。
背景技術：
：已知有如下這種圖像形成裝置，特別是彩色圖像形成裝置。g卩，使得中間轉印帶的帶外周面與像載置體相對接觸，利用由施加轉印偏壓手段形成的轉印電場，將在像載置體上形成的調色劑像一次轉印到中間轉印帶的帶外周面上。然后，該一次轉印在中間轉印帶的帶外周面的調色劑像再二次轉印在沿著帶外周面輸送的轉印材料上，在轉印材料上形成圖像。作為這樣的圖像形成裝置的中間轉印帶，多采用體積電阻率為中等電阻的材料。這種中等電阻的中間轉印帶通常不須設置用于消除殘留在中間轉印帶上電荷的消電手段，所以能夠謀求成本的降低。.艮P，在使用這樣的中等電阻的中間轉印帶形成圖像場合，通過一次轉印像載置體上的調色劑像時所施加的轉印偏壓，使中間轉印帶的帶外周面帶電，在帶外周面上保持所定的帶電電位。然后，形成電位的電荷不久通過作為經過中間轉印帶的帶內周面接觸的張緊手段的張緊輥等從中間轉印帶流出，中間轉印帶的帶電電位接近OV。這樣，由于中等電阻的中間轉印帶不引起電荷殘留，因此，可以抑制因殘留電荷所產生的殘像等。在使用高電阻的中間轉印帶的場合，與使用上述中等電阻的中間轉印帶的情況不同，在上述調色劑像一次轉印時帶電、并殘留在中間轉印帶外周面上的殘留電荷會一直保留到下一個調色劑像的一次轉印時。因此，在使用高電阻的中間轉印帶的場合，在下一個調色劑像的一次轉印工序時，由于上述殘留電荷的影響，難以形成所希望的轉印電場，在下一個調色劑像的一次轉印工序時，至少難以形成如同前一個調色劑像的一次轉印時的轉印電場。因此，在使用這樣的高電阻中間轉印帶的場合，必須配置用于消除上述的殘留電荷的帶消電手段，由此導致成本上升。但是，在中等電阻的中間轉印帶上，由于上述中間轉印帶的帶電電位接近0V，中間轉印帶上沒有調色劑像的未載置部位的帶電電位與中間轉印帶上被一次轉印上去的調色劑圖象的帶電電位之間產生了很大的電位差。因此，在中間轉印帶上被一次轉印上去的調色劑像的表面調色劑，尤其是多種顏色的調色劑像重合在一起時，表面調色劑的表面電位升高，因上述電位差而帶電的調色劑像被吸引到接近的中間轉印帶的帶外周面上。其結果，造成一部分調色劑飛散至中間轉印帶的帶外周面上，該飛散的調色劑變成轉印色斑，影響圖像的質量。這種現象在形成彩色圖像時特別明顯，成為圖像背景污跡或文字滲印等圖像質量低下的原因之一。又，在使用中等電阻的中間轉印帶的場合，由于中間轉印帶的耐電壓能力低，由二次轉印夾持部將調色劑從中間轉印帶上轉印至轉印材料上時，在二次轉印夾持部間隙中發生點狀放電，在被轉印至轉印材料上的調色劑像上會產生脫色(白點)。尤其是在低濕度的環境下，背表面復印等紙的電阻高，由于提高了二次轉印電壓，因而在二次轉印夾持部中發生點狀放電，形成脫色(白點)。記載在專利文獻l中的圖像形成裝置，是由多層構造的多層帶構成，該多層構造具有形成載置調色劑像側的帶外周面的高電阻表面層，以及形成施加轉印偏壓的轉印帶的帶內周面的中等電阻的基層。這樣，因表面層電阻高而提高表面層的電荷保持性能，就可減小中間轉印帶的表面電位與吸附在該帶外周面上的調色劑的帶電電位之間的電位差。由此，使得上述那種轉印色斑的產生得以抑制，可以防止顯影時圖像質量的低下。而且，因提高了表面層電阻，耐電壓能力提高，可以抑制二次轉印夾持部點狀放電的發生，抑制白點圖像的產生。特開平ll_282277號公報然而，在中等電阻的基層上設置高電阻的表面層雖然能得到可抑制轉印色斑的發生程度的電荷保持性能，但不能得到為抑制上述點狀放電的發生所需要的充分的耐電壓能力，有時發生不能抑制白點圖像發生的問題。一般來說，在中等電阻的基層上設置了高電阻表面層的層合帶的制造有公差。該公差的上下限不僅取決于質量，大多情況下是考慮了制造性(量產能力，生產效率)等來確定的。因此，即使在公差范圍內，由于帶質量會產生偏差，所以通常都通過檢測帶的特性值作最終的判定。但是，由于在評價層合帶的表面層特性時，是在基層與表面層合并在一起的狀態下作特性評價，所以，大多數情況下不能僅對層合帶的表面層作出正確的評價。例如，雖然一般說來，帶的表面電阻是以一定時間(如io秒鐘)的電阻來管理(控制)的，但如圖17所示，即使是層合帶具有同等的10秒鐘表面電阻率，也存在表面電阻完全不同的帶。S卩，如圖17所示的帶A具有與帶K同等的IO秒鐘電阻率，但經過一段時間后表面電阻率穩定下來，對于電阻率大體上一定的帶A而言，帶K的電阻隨著時間升高。這樣，以往由于不能恰當地評價層合帶的表面層特性，所以，帶質量產生波動，即使在中等電阻的基層上設置高電阻的表面層能得到可抑制轉印色斑(污點)的發生程度的電荷保持性能，但不能得到用于抑制上述點狀放電的發生所需要的充分的耐電壓能力，產生了有時不能抑制白點圖像產生的情況。
發明內容本發明就是為解決上述先有技術所存在的問題而提出來的，本發明的第一個目的是，提供一種能抑制轉印色斑或白點圖像發生的帶構件、裝備有該帶構件的轉印裝置及圖像形成裝置。本發明的第二個目的是，提供一種帶構件的評價方法，該方法可以對能抑制轉印色斑或白點圖像產生的帶構件進行評價。為了實現上述本發明第一目的，本發明提出以下技術方案(1)一種帶構件，所述帶構件系用于圖像形成裝置的多層構造環狀帶構件，它具有載置調色劑像的高電阻表面層，其特征在于體積電阻率以常用對數值logQcm表示，為8.0以上、ll.O以下；作為環外側表面的外表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即外表面電阻率變化量，比作為環內側表面的背表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即背表面電阻率變化量大。在本說明書中，所述"8.0以上"包含8.0，所述"11.0以下"包含ll.O。在以下說明中，皆如此。(2)在上述(l)所述的帶構件中，其特征在于以常用對數值logQ/口表示，所述外表面電阻率變化量比所述背表面電阻率變化量大O.05以上。(3)在上述(1)或(2)所述的帶構件中，其特征在于上述外表面電阻率變化量與上述背表面電阻率變化量之差以常用對數值logQ/口表示為1.0以下。(4)在上述(1)或(2)所述的帶構件中，其特征在于當構件用作圖像形成裝置的中間轉印體，通過所設定方法形成圖像時，上述表面電阻率變化量之差至少為在圖像上不能辨認出白帶的值以下。(5)在上述(1)-(4)任一項所述的帶構件中，其特征在于在10V和100V時體積電阻的電壓依存性以常用對數值logQcm表示為1.5以上。(6)在上述(1)-(5)任一項所述的帶構件中，其特征在于該帶構件由聚酰亞胺或聚酰胺酰亞胺構成。(7)—種轉印裝置，設有中間轉印體，用于暫時轉印潛像載置體上的調色劑像，其特征在于.-使用上述(1)-(6)中任一項所述的帶構件,作為該中間轉印體。(8)—種圖像形成裝置，包括載置潛像的潛像載置體；將該潛像顯影成調色劑像的顯影手段；轉印手段，設有中間轉印帶，用于暫時轉印該潛像載置體上的調色劑像;其特征在于使用上述(7)所述的轉印裝置，作為所述轉印手段。(9)在上述(8)所述的圖像形成裝置中，其特征在于上述轉印手段具有外側輥和內側輥，在外側輥與上述中間轉印帶的外表面之間夾入記錄介質，內側輥與外側輥對置，使該中間轉印帶介于其間，所述外側輥為單層結構。(10)在上述(9)所述的圖像形成裝置中，其特征在于上述內側輥的電阻大于上述外側輥的電阻。(11)在上述(10)所述的圖像形成裝置中，其特征在于上述內側輥的電阻與上述外側輥的電阻相比，以常用對數值logQ表示，大1.0以上。為了實現上述本發明第二目的，本發明提出以下技術方案(12)—種帶構件評價方法，所述帶構件系用于圖像形成裝置，具有載置調色劑像的高電阻表面層的多層構造的環狀帶構件，其特征在于將作為環外側表面的外表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即外表面電阻率變化量，與作為環內側表面的背表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即背表面電阻率變化量之差，以及該帶構件的體積電阻率用于該帶構件的評價。在上述技術方案(l)-(ll)中，在用于圖像形成裝置的具有高電阻表面層的多層構造的環狀帶構件中，其體積電阻率以常用對數值(logQ，cm)表示，為0.8以上、ll.O以下，以常用對數值(logQ/口)表示，外表面電阻率變化量比背表面電阻率變化量大0.05以上，如同在下述試驗中己經明確的那樣，這樣的構件具有能抑制轉印色斑或圖像白點產生的優異效果。在上述技術方案(12)中，通過采用外表面電阻率變化量與背表面電阻率變化量之差，以及帶構件的體積電阻率評價帶構件，如同在下述試驗中已經明確的那樣，這樣的方法具有可以評價能抑制轉印色斑或圖像白點產生的帶構件的優異效果。圖l是本實施形態涉及的圖像形成裝置的概略構成圖。圖2是圖像形成部的概略構成圖。圖3是二次轉印部的概略構成圖。8圖4(a)是層合帶的模式圖，(b)是雙層帶的模式圖，(C)是不分層帶的模式圖。圖5是不同體積電阻率的中間轉印帶的電位衰減曲線圖。圖6是帶電電位衰減測定裝置的概略構成圖。圖7是表示衰減時間為1秒鐘的電位與體積電阻率的關系曲線圖。圖8是表示表面電阻率變化量的曲線圖。圖9是表示兩種帶的表面電阻變化的曲線圖。圖IO是表示測定電壓與表面電阻變化的曲線圖。圖ll是表示表面電阻率外表面與背表面變化量的曲線圖。圖12是表示各種條件下表面電阻率變化量外表面與背表面之差的曲線圖。圖13是表示表面電阻率變化量外表面與背表面之差值與圖像評價結果的曲線圖。圖14是輥電阻的測定方法的說明圖。圖15是輥通電耐久性測定方法的說明圖。圖16是表示施加在輥芯軸上的不同極性引起的電阻變動的曲線圖。圖17是表示兩種帶的表面電阻變化的曲線圖。具體實施形態下面，參照附圖詳細說明本發明實施形態，在以下實施形態中，雖然對構成要素，種類，組合，形狀，相對配置等作了各種限定，但是，這些僅僅是例舉，本發明并不局限于此。圖l是本實施形態涉及的圖像形成裝置的概略構成圖。該實施形態所示的圖像形成裝置采用串列型的間接轉印方式，它將多個圖像形成部101Y，101M，101C，101K沿著作為中間轉印體的中間轉印帶201并行設置構成。在該圖像形成裝置的中央設置有裝備了環狀中間轉印帶201的轉印裝置200。中間轉印帶201架設在多個支承輥上，可作圖中所示的順時針方向囪轉輸送。在本實施形態中，在多個支承輥之中，在第1支承輥202的圖示左側設有用于除去圖像轉印后殘留在中間轉印帶201上的調色劑的中間轉印帶清潔裝置210。張架在第1支承輥202與第2支承輥203之間的中間轉印帶201上配置有沿著其輸送方向橫向排列的黃(Y)，品紅(M)，青(C)，黑(K)各色用的四個圖像形成部101Y，IOIM，IOIC，IOIK，這些圖像形成部101Y，IOIM，IOIC，IOIK構成了串列型的圖像形成部。該串列型圖像形成部的各個圖像形成部101Y，IOIM，IOIC，IOIK的構造是相同的，例如，圖2所示的那樣構成。圖2舉出黑色(K)用的圖像形成部101K作為例子，在該圖像形成部101K設置有作為像載置體的鼓狀感光體102K，以及構成為用于在感光體102K上形成調色劑像的圖像形成手段的充電裝置103K，曝光裝置110K，顯影裝置104K。這里，充電裝置103K例如采用施加有直流電壓的充電刷，使感光體102K均勻帶電的裝置，除了充電刷之外還可以采用充電輥、帶電充電器等。在圖示例子中，曝光裝置110K是由配置在102K軸向(主掃描方向)的發光二極管(LED)陣列和透鏡陣列構成的LED寫入方式的曝光裝置，根據圖像信號使LED發光在感光體上形成靜電潛像的裝置，除此之外，還可以采用由激光光源和光偏轉器(回轉多面鏡等)、成像掃描光學系統構成的激光掃描方式的曝光裝置。顯影裝置104K由載置顯影劑回轉的顯影輥，以及攪拌、輸送顯影劑供給顯影輥(圖中未示)的攪拌、輸送構件構成，利用顯影劑的調色劑使在感光體102K上形成的靜電潛像顯影，成為可視像。作為顯影劑，可以采用僅由調色劑構成的單組分顯影劑，或者使用由調色劑與磁性載體構成的雙組分顯影劑。又，因為圖2是黑色(K)用的圖像形成部101K的例子，調色劑采用黑色的調色劑，而圖1所示的其他色的圖像形成部101Y，IOIM，IOIC中分別采用黃(Y)，品紅(M)，青(C)各色的調色劑。通過上述充電裝置103K，曝光裝置110K以及顯影裝置104K在感光體102K上形成的調色劑像在一次轉印部被轉印至中間轉印帶201上，在與感光體102K對置的位置上配置作為一次轉印手段的轉印刷105K，它夾住一次轉印部的中間轉印帶201，在該轉印刷105K上施加由直流電源供給的轉印偏壓。另外，沿著感光體102K的回轉方向，在一次轉印部的下游側設置為去除圖像轉印后殘留在感光體102K上的殘余調色劑的感光體清潔裝置106K。雖然以上舉出黑色(K)用的圖像形成部101K為例進行說明，其他黃(Y)，品紅(M)，青(C)各色的圖像形成部101Y，IOIM，101C的構造都是同樣的。圖l中對同樣構造的構件賦與同樣的標號，各標號的后面賦予Y，M，C，K的記號以區別顏色。在以上說明的串列型圖像形成部中，在形成彩色圖像時，在黃(Y)，品紅(M)，青(C)，黑(K)各色的圖像形成部101Y，IOIM，101C，101K中，在各自的感光體102Y，102M，102C，102K上形成黃(Y)，品紅(M)，青(C)，黑(K)各色的調色劑像，疊加轉印至中間轉印帶201上，形成彩色圖像。在形成黑白圖像時，僅利用黑色用的圖像形成部101K形成圖像，再轉印至中間轉印帶201上。另一方面，夾著中間轉印帶201，在串列型圖像形成裝置的相反側，設置二次轉印部。該二次轉印部由作為外部輥的二次轉印輥308，清潔刮板305，和消電針307構成。作為外部輥的二次轉印輥308的配置方式為，通過中間轉印帶201與作為內部輥的第3個支承輥304壓接，將中間轉印帶201上的調色劑像轉印至紙等記錄介質上。沿著記錄介質輸送方向，在二次轉印部的上游側，設置由供紙盒151和供紙滾152構成的供紙部、具有供紙輥153的供紙通道155以及定位輥154。沿記錄介質輸送方向，在二次轉印部的下游側設置用于輸送轉印有圖像的記錄介質的輸送單元156、將記錄介質上的轉印圖像定影的定影裝置107、及將定影之后的記錄介質排出至排紙部的排紙輥108。下面，對利用上述構造的圖像形成裝置形成圖像作更詳細的說明。若按壓按圖中未示的操作部分的啟動開關，通過圖中未示的馬達驅動支承輥202，203，304中的一個轉動，同時，其他兩個支承輥作從動轉動，中間轉印帶201被回轉輸送。與此同時，各色的圖像形成部101Y，IOIM，IOIC，101K的感光體102Y，102M，102C，102K轉動，在各感光體102Y,102M，102C，102K上分別形成黃，品紅，青，黑的單色圖像。然后，在中間轉印帶201輸送的同時，這些單色圖像在一次轉印部被順序疊加轉印至中間轉印帶201上，在中間轉印帶201上形成合成彩色圖像。又，若按壓前述的啟動開關，供紙滾152轉動，紙等片狀記錄介質從供紙盒151中送出，被導入紙通道155之后，與定位輥154碰接停止。然后，與中間轉印帶201上的合成彩色圖像時間一致，定位輥154回轉，記錄介質被送入中間轉印帶201與二次轉印部的二次轉印輥308的中間。通過二次轉印輥308的轉印，彩色圖像轉印至記錄介質上。通常，二次轉印輥308可使用單層發泡彈性體或層合彈性體。由于單層發泡彈性體沒有獨自的清潔機構，通過非成像時施加偏壓使附著的調色劑返回到中間轉印帶201上，即進行所謂的偏壓清潔處理。輥本身的成本低，而且又沒有清潔機構，所以多被采用。但是，要用傳感器讀取在中間轉印帶201上形成的圖像控制用圖案，根據檢測到的結果進行圖像控制，對于這種圖像形成裝置來說，控制用圖案對圖案大小、圖案形成時間、清潔時間、實行清潔處理時間等有很大的制約，會影響到圖像形成裝置規格等。另一方面，由于能夠經常去除附著的調色劑，搭載具有如圖3所示的清潔刮板305的清潔裝置的圖像形成裝置中設置的層合二次轉印輥308不產生轉印材料背表面積垢的問題，沒有將圖像控制用圖案形成在中間轉印帶201上的制約。因為無需設定轉印輥清潔處理時間，所以，不需化費不起作用的后轉、前轉等時間。通過設置清潔裝置，大多用于高速機。層合二次轉印輥308由金屬制的圓筒狀芯軸、形成于該芯軸外周面上的彈性層，和形成于該彈性層外周面上的樹脂層(表層)構成。構成芯軸的金屬并無特別限定，可以采用例如不銹鋼、鋁等金屬材料。在芯軸上形成的彈性層一般采用橡膠材料形成橡膠層。要求用于確保二次轉印夾持部的彈性功能，較好的是，為JIS-A70°以下。但是，作為層合二次轉印輥308的處理手段，由于如果使用刮板清潔處理，彈性層太柔軟的話，清潔刮板的尖頭會沉到彈性層中去，這樣清潔刮板會巻進去，或者接觸狀態不穩定，造成清潔角度不適當，因此，彈性層的硬度希望高于JIS-A40°。又因橡膠材料必須賦予導電性能，所以，采用例如JIS-A50°的環氧氯丙烷橡膠形成彈性層。作為賦予導電性能的橡膠材料，也可以使用分散碳的EPDM或硅橡膠，或者使用具有離子導電性能的NKR，聚氨酯橡膠等。用于進行刮板清潔處理所必須的表層，可以往聚氨酯樹脂中添加賦予潤滑效果的氟樹脂和調整電阻用的電阻控制材料，形成膜厚530nm。用清潔刮板將調色劑從層合二次轉印輥308的表面去除時，或者用紙粉/滑石多的轉印紙(轉印材料)'時，紙粉/滑石會被清潔刮板夾住，容易造成清潔處理不良或者輥表面形成膜，成為背表面積垢的原因，所以，多在清潔刮板之前設置毛皮刷等去除構件。中間轉印帶201的制造方法并無限定，可以采用浸漬成型法，離心成型法，擠出成型法，充氣成型法，流涂法，噴涂法等所有的制法制造。作為層合帶薄層的表層，可以采用噴涂法，浸漬成型法，或者流涂法等制造。雙層帶根據制造方法有所不同，但可以利用離心成型法成型上層，干燥后形成基層，經千燥，再進行固化處理。作為基層材料，可單獨或合并使用聚酰亞胺樹脂，聚酰胺酰亞胺樹脂，聚碳酸酯樹脂，聚苯硫醚樹脂，聚氨酯樹脂，聚對苯二甲酸丁二醇酯，聚偏氟乙烯樹脂，聚砜樹脂，聚醚砜樹脂，聚甲基戊烯樹脂等。從強度角度考慮，聚酰亞胺樹脂，聚酰胺酰亞胺樹脂是合乎理想的，通過添加導電性炭黑控制電阻。以下，就按照離心成型法的聚酰亞胺樹脂進行說明。通常，聚酰亞胺通過芳香族多元羧酸酐或者其衍生物與芳香族二胺的縮合反應得到。但是，因其具有剛性的主鏈結構具有不溶解，不融熔的性質，因此，首先由酸酑和芳香族二胺在有機溶劑中合成可溶性的聚酰胺基酸(或者聚酰胺酸聚酰亞胺前體)，在這個階段采用各種方法進行成型加工，然后，加熱或者用化學方法脫水環化(酰亞胺化)得到聚酰亞胺。例如，芳香族多元羧酸酐具體地可舉出乙烯四甲酸二酐，環戊四酸二酐，苯均四酸二酐，3，3，4，4，-二苯甲酮四酸二酐，3，3，4，4，-二苯四酸二酐等。這些可以單獨使用或兩種以上混合使用。能夠混合起來使用的芳香族二胺，例如可以舉出間苯二胺，鄰苯二胺，對苯二胺，間氨基芐胺，對氨基芐胺，4，4'-二氨基二苯醚，3，3'-二氨基二苯醚，3，4，-二氨基二苯醚等。這些可以單獨使用或者兩種以上混合起來使用。當然并不限于上述材料。可將這些芳香族多元羧酸酐成分與二胺成分大致等摩爾地在有機極性溶劑中進行聚合反應，得到聚酰亞胺前體(聚酰胺基酸)。聚酰胺基酸聚合反應所使用的有機極性溶劑，只要能溶解聚酰胺基酸并無特別限定，但N，N-二甲基乙酰胺，N-甲基-2-吡咯烷酮是特別理想的。這些聚酰胺基酸組合物雖然可容易地合成，但為方便起見，可直接購得市售產品，如聚酰胺基酸組合物溶解在有機溶劑中的聚酰亞胺清漆。代表性的例子可以舉出TORAYNEECE(Toray公司制)，U-VARNISH(宇部興產公司制)，RIKACOAT(新日本理化公司制)，0PT0MER(JSR公司制)，SE812(日産化學公司制)，CRC8000(住友Bakelite公司制)等。上述例舉都是商品名。在調節電阻值的電阻控制劑中，作為電子電導率電阻控制劑可以舉出，例如炭黑，石墨；或者如銅，錫，鋁，銦等金屬；如氧化錫，氧化鋅，氧化鈦，氧化銦，氧化銻，氧化鉍，摻雜銻的氧化錫，摻雜錫的氧化銦等的金屬氧化物粉末等。作為離子電導率電阻控制劑可以舉出，四垸基銨鹽，三垸基芐酯，銨鹽，烷基磺酸鹽，垸基苯磺酸鹽，烷基硫酸鹽，脂肪酸甘油酯，脫水山梨糖醇脂肪酸酯，聚氧乙烯垸基胺，聚氧乙烯脂肪醇酯，烷基甜菜堿，高氯酸鋰等。但本發明并不限定這些例示的化合物。在這些電阻控制劑中，本發明的聚酰亞胺能令人滿意地使用炭黑。這樣得到的聚酰胺基酸被加熱到20035(TC轉化成聚酰亞胺，用這樣的方法能夠得到聚酰亞胺樹脂。另一方面，用于熱熔融擠出成型的熱塑性樹脂并無特別限制，有聚乙烯，聚丙烯，聚苯乙烯，PKT(聚對苯二甲酸丁二醇酯).，PET(聚對苯二甲酸乙二醇酯)，PC(聚碳酸酯)，ETFE(乙烯-四氟乙烯改性共聚物)，PVdF(聚偏氟乙烯)等。關于熱熔融成型方法并無特別限定，例如可以釆用熟知的連續熔融擠出成型法，注射成型法，吹塑成型法，或者充氣成型法等，作為無縫帶的理想成型方法有連續熔融擠出成型法。導電劑多用炭黑，利用混煉將炭黑分散，高壓下擠出，使用高分散導電劑的離心成型法有電阻波動變大的傾向。作為中間轉印帶201的表層材料并無特別限制，但要減小調色劑對轉印帶的帶外周面的付著力，則要求二次轉印性能高的材料。例如，可以采用聚14氨酯，聚酯，聚酰胺等的樹脂材料構成。用這些樹脂材料構成的涂層，通過異氰酸酯，三聚氰胺，硅烷偶聯劑，碳二亞胺等固化劑得到樹脂涂膜。通過填充PTFE(聚四氟乙烯)，二氧化硅，二硫化鉬，炭黑等脫模性的填料，能夠提高涂層表面的脫模性能，改善清潔性能，抑制放電產物的蓄積。涂層也可含有調整電阻用的導電性炭黑，氧化錫，氧化鋅等的導電性填料(導電劑)。為了將這些填料均勻地混合分散在涂層中，涂層中還可含有氟系，硅系，非離子系的表面活性劑。可以使用聚氨酯，聚酯，環氧樹脂等一種或兩種以上降低表面能、提高潤滑性能的材料，例如將一種或兩種以上或者顆粒直徑不同的氟樹脂，氟化合物，氟化炭素材料，二氧化鈦，碳化硅等粉體或顆粒材料分散后使用。還可以使用如同氟橡膠那樣的材料，通過熱處理使帶外周面上形成氟的滲出層，降低表面能。可以用炭黑控制電阻。所謂多層帶是如圖4所示的在厚度方向上具有不同的電阻的構造模式。圖中(O)表示導電劑(炭黑)，導電劑多的部分表示電阻低。圖4(a)層合帶的表層添加了導電劑，但未示出。圖4(b)雙層帶中央的粗線表示不同電阻層的分界線。圖4(c)不分段層的帶是單層帶，但是，表面層側的導電劑少，電阻高。在本實施例中，用作為芳香族多元羧酸酐的3，3'，4，4'-二苯四酸二酐，作為芳香族二胺的對苯二胺，作為有機溶劑的N-甲基-2-吡咯烷酮，令發生聚合反應，得到聚酰胺基酸溶液。添加對于固形份濃度17%的乙炔黑，用Aquamizer(細川MICRON公司制)混合攪拌，最終得到固形份濃度為18%的作為聚酰亞胺樹脂前體的聚酰胺基酸。用離心成型法將這樣得到的聚酰胺基酸在環形體上成型。直徑為250毫米的金屬圓筒鑄模以100rpm的速度回轉，用給料器將固形份濃度為19%的聚酰胺基酸均勻地供給鑄模的內面。接著，以1000rpm回轉5分鐘進行均涂。再將回轉速度降低至300rpm，緩慢升溫至13(TC，干燥40分鐘，進行固化。固化后圓筒鑄模在停止狀態下加熱至35crc，進行二酰亞胺的閉環反應，得到酰亞胺化完成了的聚酰亞胺薄膜。冷卻至室溫，從圓筒形鑄模上取下薄膜，得到兩端部切成250毫米寬，80um膜厚的作為基層的無縫中間轉印帶。電阻通過導電劑(炭黑)的添加量加以調整。接著，將上述80um膜厚的作為基層的無縫中間轉印帶蒙在直徑為248毫米的圓筒鑄模上，兩端用帶子堵縫密封。將用于表層的聚氨酯預聚物(100重量份)，固化劑:異氰酸酯(3重量份)，PTFE微粉(50重量份)，分散劑(4重量份)，MEK(500重量份)均勻分散。聚酰亞胺樹脂浸漬形成的圓筒形鑄模，以30毫米/秒的速度上提，自然干燥。干燥反復進行，形成均勻分散5umPTFE的聚氨酯表層。室溫下干燥后，在130"C交聯2小時，得到樹脂層為80tim、表層為5um的雙層結構的中間轉印帶201。表層的膜厚通過反復的次數和固形份濃度調整。表層電阻隨導電劑的添加量等變化。又，雙層帶用離心成型法形成。本實施形態中，中間轉印帶201的表面電阻測定方法，采用Hiresta-UP(三菱化學株式會社)在以下條件下進行測定機Hiresta-UP(三菱化學株式會社)URS測頭REGI工作臺絕緣測定電壓:500V測定時間IO秒值加壓力2kgf又，在本實施形態中，體積電阻率以及表面電阻率以常用對數值表示。體積電阻率log(Qcm)表面電阻率1og(Q/口)在本實施例中，研究中間轉印帶201的電位衰減，該單層中間轉印帶201由通過離心成型法得到的80ym聚酰亞胺構成，通過改變炭黑的添加量使其電阻變化。圖5顯示體積電阻率不同的中間轉印帶201的電位衰減。體積電阻率采用Hiresta-UP(三菱化學株式會社)在以下條件下測定。[體積電阻測定方法]測定機Hiresta-UP(三菱化學株式會社)URS測頭REGI工作臺附帶l毫米厚導電橡膠測定電壓100V測定時間10秒值加壓力2kgf圖5顯示采用如圖6所示的帶電位帶電電位衰減測定裝置，按照下述方法施加300V，IO秒鐘的衰減特性。[電位衰減測定法]先將帶置于REGI工作臺(金屬板上設置有l毫米厚的導電橡膠)上。接著，給巾10的金屬電極加上2kg的載荷。然后，在REGI工作臺與金屬電極之間通過高壓電源(Trek610C)施加一定的電壓10秒鐘，在施加電壓的狀態下，通過切斷圖中的切換開關測定衰減特性。金屬電極與測定電位用的金屬板連接在一起，根據帶的電位在測定電位用的金屬板上感應出電壓。然后用表面電位計(Trek344型)測定金屬板的電位，測定衰減特性。金屬板與表面電位計測頭間的距離設定為約l毫米。表面電位輸出根據記錄儀(GraphtecLinearcorderWR3101)輸出的衰減曲線測定衰減的速度。也可以將表面電位輸出輸入到計算機中進行衰減特性的測定。這樣的測定方法更加適宜，本實施例就是將表面電位輸出輸入到計算機中測定電位衰減。圖5所示的帶電位衰減曲線是用對數表示衰減時間。因為在對數軸上初期電位不可以取"O秒鐘值"，所以，為方便起見，把0.001秒作為初始帶電位。圖7顯示衰減時間為1秒鐘的電位與體積電阻率的關系。由圖7可知，衰減時間1秒鐘的電位減半(施加電壓300V—半的電壓，即變成150V)時的體積電阻率是ll.O，若低于ll.O，則未發現因為殘留電荷而產生殘像問題。又，若體積電阻率低于8.0，則辱如紙電阻升高，施加電壓升高，中間轉印帶201的耐電壓能力不足，就不能得到必要的轉印電場，會形成轉印不足的圖像。又，本實施例是用使體積電阻率變化的單層中間轉印帶評價電位衰減，但在層合帶也有同等的衰減特性。表l顯示由高電阻的表層和中等電阻的基層形成的層合構造中間轉印帶201的表層材料電阻，不同厚度的中間轉印帶201的外表面、背表面電阻率變化量之差(外表面與背表面之差)。用電子顯微鏡拍攝表層膜厚截面測定表層膜的厚度。如表1所示，由單層聚酰亞胺形成的中間轉印帶201的厚度是80nm，表面電阻率是ll.O，體積電阻率是9.5。表l表層和表面電阻的外表面、背表面之差表層材料電阻率表層薄膜厚度Om)PVA(表里Ps)14以上2.410.61.412.81.89.70.31實12.84.59,80.96施12.86.310.31.2例11.91.89.50.03111.94.69.60.1711.96.29.60.18無(單層)09.50表層材料的電阻用體積電阻管理。在厚度2毫米的金屬平板上刮涂表層材料，室溫下干燥后，13(TC下交聯2小時，形成厚度510um的表層。膜厚用測微計測定，體積電阻采用Hiresta-UP(三菱化學株式會社)在以下的條件下求得。由于是薄層，耐電壓能力低，測定電壓隨著電阻的變化而變化。測定機Hiresta-UP(三菱化學株式會社)URS測頭測定電壓10V測定時間IO秒值加壓力2kgf說明外表面與背表面的表面電阻率變化量之差。首先，圖8顯示表面電阻率的變化量。橫坐標表示表面電阻率的測定時間，縱坐標表示為表面電阻率，以常用對數表示。設定表面電阻率的ioo秒鐘測定值一表面電阻率的i秒鐘測定值=表面電阻率的變化量。但是，當1秒鐘100秒鐘之間有表面電阻率比ioa秒鐘測定值高的時候，將最高值變成100秒鐘測定值，以最大值與l秒鐘測定值之差作為變化量。圖9顯示兩種(帶A，帶B)帶表面電阻變化的差異。圖10顯示測定電壓與表面電阻變化的關系。圖ll顯示外表面與背表面的表面電阻率之差的變化量。它顯示的是相對于外表面與背表面各l秒鐘的測定值而言的變化量。由曲線可知，將70，80秒鐘的測定值作為表面電阻的變圖12顯示的是將表1所示的各種條件下外表面與背表面的表面電阻率變化量之差作成的圖。由單層聚酰亞胺形成的中間轉印帶201有極優異的電阻穩定性，幾乎見不到外表面與背表面的表面電阻率變化量差異。與此相反，可以看到，由基層和表面層形成的層合結構中間轉印帶201的表層膜厚與外表面與背表面的表面電阻率變化量之差相關，它解釋了即使表層材料的電阻或表層的膜厚很分散，表層特性仍然可以高精度地測定。又，體積電阻也會隨著表層材料電阻或表層膜厚而變化，但是，不能判斷該變化是由于表層材料電阻或表層膜厚發生，還是起因于基層，所以，它不能成為適當的表層特性值。表2和圖13顯示了外、背表面的表面電阻率變化量之差值與圖像評價的結果。預先設定白點和橫白帶共同作為圖像評價的基準，根據該基準，以等級進行評價。等級5是良好的圖像，隨著等級下降，圖像質量變差，許可限度設定為等級4。19表2表面電阻率變化量夕卜、背表面之差值圖像<table>tableseeoriginaldocumentpage20</column></row><table>該圖像評價是在具有圖1所示的圖像形成裝置的轉印裝置200上搭載表2所示的各實施例及各比較例的中間轉印帶201進行。橫白帶是在1(TC和15Q/QRH環境下，通過100張白紙復印后，按照感光體102與轉印帶201接觸狀態放置8小時后，利用K半色調(halftone)圖像進行判定。由表2和圖13可知，表面電阻率變化量的外、背表面之差Aps小于0.05時，產生不能容許程度的白點，表面電阻率變化量的外、背表面之差Aps大于1.0時，產生不能容許程度的橫白帶。因此，可以知道中間轉印帶201的表面電阻率變化量外、背表面之差Aps大于0.05小于1.0時，即使表層材料的電阻或表層膜厚有偏差，也可能抑制白點或橫白帶的產生。由于表面層采用高電阻的構件，所以能提高電荷的保持性能，可以抑制轉印色斑產生。在此，若表面電阻率變化量外、背表面之差(表背差)Aps大于1.0時，在殘留電荷殘留于整個帶面上的狀態下，由于感光體102與中間轉印帶201的接觸，感光體102疲勞產生橫白條，此外，還會發生因殘留電荷引起的殘像。在形成有調色劑像的中間轉印帶201上，通過施加二次轉印電壓，調色劑像表面及中間轉印帶背景部(無調色劑像的表面部分)均勻帶電。二次轉印后帶表面的帶電電位分布，發生對應于調色劑像的電位不勻。即，在調色劑像部分，電位低，在帶背景部，電位高，發生對應于調色劑像的電位不勻。成為與這樣的電位不勻相對應的轉印電場不勻，因調色劑像引起殘像。因此，通過使得表面電阻率變化量外、背表面之差APS為1.0以下，不僅抑制不能容許程度的橫白帶的發生，還可以抑制由于殘留電荷引起的殘像的發生。由上所述，在本實施形態中，對于具有高電阻表面層的多層結構的中間轉印帶201，通過評價體積電阻率的常用對數值(logQ，cm)是否為8.0以上，11.0以下，以及表面電阻率變化量外、背表面之差APs是否為0.05以上，1.0以下，能夠得到可抑制轉印色斑，白點以及橫白帶產生的中間轉印帶201。二次轉印由于轉印介質(例如紙)的電阻變動大，所以，在本實施形態中用恒定電流控制電場，S卩，當紙或輥等的電阻變得高時，提高所施加的電壓進行控制。在將如本實施形態那樣的中間轉印帶201上的帶負電的調色劑轉印至轉印材料上時，在二次轉印部所發生的二次轉印電場，其電場方向為，對作為外側輥的二次轉印輥308的芯軸施加正極性，對作為內側輥的支承輥304的芯軸施加負極性。然后，通過這樣的通電，支承輥304的電阻上升量比二次轉印輥308的小。由于二次轉印電壓對于支承輥304與二次轉印輥308的合成電阻的貢獻大，而電阻高的一方的輥電阻上升會減小，由此可以降低二次轉印電壓的升高，提高防止二次轉印部的放電等異常現象發生的效果。因此，重要的是，提高芯軸上被施加負電壓的支承輥304的電阻，降低芯軸上被施加正電壓的二次轉印輥308的電阻，又，即使二次轉印輥308的電阻升高，也可減小對于支承輥304和二次轉印輥308的合成電阻的影響。艮P，由于二次轉印輥308的電阻升高減小了對于合成電阻的影響，所以，為了減小二次轉印輥308的電阻升高對于合成電阻的影響，有必要設計二次轉印輥308的電阻，使得即使二次轉印輥308的電阻升高，其升高時的電阻也要比支承輥304的電阻小。為此，二次轉印輥308的電阻升高量要設計成在一位數之內，而且，二次轉印輥308的電阻要設計成比支承輥304的電阻低一位數以上，這樣，即使二次轉印輥308的電阻升高，也能夠減小對于支承輥304和二次轉印輥308的合成電阻的影響。例如，在表3中，假定外側輥(二次轉印輥308)的電阻和內側輥(支承輥304)的電阻的電阻升高量分別為5倍和2倍，表3給出在記錄電阻差時的合成電阻值。由表3可以明確，外側輥的電阻越是低于內側輥的電阻，外側輥電阻和內側輥電阻的合成電阻的升高量就越小。表3內側輥外側輥合成電阻2倍變化5倍變化指數表示常用對數值1.OE+0.71,OE+0.52.1E+0.77.311.OE+0.71.OE+0.62.5E+0.77.401.OE+0.71.OE+0,77.OE+0.77.851.OE+0.61.OE+0.75.2E+0.77.722.OE+0.55.OE+0.75.OE+0.77.70圖14顯示輥電阻的測定方法。對置金屬輥由4)30的不銹鋼制成，軸承固定。測定電阻的輥以50gf/cm向對置金屬輥加壓。用高壓電源(Trek6100D)向對置金屬輥和輥軸之間施加設定的電壓，用電流計(Kelthley6514)測定流經的電流求取電阻值。所用的高壓電源和電流計并無限定，更理想的是通過計算機自動收集和處理測量數據的自動計測手段。本實施形態采用自動計測手段進行。電阻測量在22。C和5596RH環境下進行。圖15顯示輥通電耐久性的測定方法。施加設定的電壓60秒鐘，接地IO秒鐘消除靜電作為一個循環，經過必要的反復循環次數進行通電耐久性的評價。用各反復循環10秒鐘的電阻值變化量評價通電耐久性能。圖16顯示向輥的芯軸施加不同極性的電壓時電阻的變動。可以確認，往芯軸施加正極性的電壓時電阻的升高量比向芯軸施加負極性的電壓時電阻的升高量大。該變化特性隨著彈性材料、導電劑等不同會有所變化，但其傾向是，施加正電壓與施加負電壓相比，電阻升高大。[實施例3]二次轉印輥308使用NBR發泡離子導電輥，外徑4>16，芯軸4>8，Asker-C硬度45度。支承輥304使用環氧氯丙垸橡膠和NBR實心離子導電輥，外徑4>24，Asker-A硬度52度。輥耐久性采用與轉印裝置200同等的單體機耐久性評價試驗設備，在同等的電壓施加條件下連續試驗10天，進行輥電阻升高的試驗，大致連續地在圖像形成裝置上進行圖像的評價。下述的體積電阻率對于電壓的依存性為100V下測定的電阻值與10V下測定的電阻值之差。除外側輥的電阻設為5.5以外，其他條件同實施例3。[實施例5]中間轉印帶201為聚酰亞胺雙層帶。上層體積電阻率為10.9，基層的體積電阻率為9.5，上層及基層各厚40um。外側輥的電阻和內側輥的電阻與實施例4同樣。中間轉印帶201的材質為聚酰胺酰亞胺，表層膜厚2.6um。制法等與聚酰胺的同樣。外側輥的電阻和內側輥的電阻與實施例4同樣。[比較例l]除外側輥電阻為7.2，內側輥電阻為6.5之外，其他條件同實施例3。[比較例2]除外側輥電阻為6.5之外，其他條件同比較例l。[比較例3]將采用離子型導電劑的PVdF通過充氣吹脹成型法制得中間轉印帶201。外側輥電阻為5.5，內側輥電阻為7.2。結果如表4所示。表4<table>tableseeoriginaldocumentpage24</column></row><table>在實施例3中，聚酰亞胺環狀體表層的Ps變化量外、背表面之差為0.31，電壓依存性為1.7，相對于內側輥電阻的初始值7.2，外側輥電阻比它低一位數，為6.2。IO天的連續耐久性評價結果，內側輥電阻為7.5，升高0.3位，外側輥308電阻為6.9，升高0.7位，轉印電壓升高2.27倍，比起比較例l的4.44倍或比較例2的3.84倍，升高量約為一半。初始2kV左右的電壓可以被抑制到5kV以下，可以防止電壓升高引起的放電，對于上限電壓規定的電壓界限尚有余量，可以防止轉印不足的產生，得到白點等級4.75和良好的圖像。,在比較例1中，外側輥的電阻比內側輥高，所以，如通電耐久性評價結果所示，電壓變化率大至4.44倍。因此，初始2kV左右的轉印電壓會升高至9kV，由于上限電壓規定的電壓界限，就會變成轉印不足的粗糙(coarse)圖像。在比較例2中，外側輥的電阻比內側輥高，所以，如通電耐久性評價結果所示，電壓變化率大至3.84倍。因此，初始2kV左右的轉印電壓會升高至7kV，由于上限電壓規定的電壓界限，就會變成轉印不足的粗糙圖像。在比較例3中，電壓依存性小，未產生白點，但是在高濕環境下電阻下降很多，轉印電場低下，所以產生了粗糙圖像。以上，根據本實施形態，作為用于圖像形成裝置、具有高電阻表面層的多層結構環狀帶構件的中間轉印帶201，其體積電阻率的常用對數值(logQ，cm)為0.8以上、ll.O以下，環外側的表面，即外面的表面電阻率的IOO秒測定值與I秒測定值之差，即，外表面電阻率的變化量要比環內側的表面(背表面)電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即背表面電阻率的變化量的常用對數值(logQ/口)大0.05以上，通過上述試驗可知，由此，可以抑制轉印色斑或白點圖像的產生。又，根據本實施形態，上述外表面電阻率的變化量與背表面電阻率的變化量之差的常用對數值(logQ/口)在1.0以下時，通過上述試驗可知，可以抑制橫白帶的產生。又，根據本實施形態，中間轉印帶201的10V和100V時體積電阻的電壓依存性為常甩對數值(logQ，cm)在1.5以上時，長時間，在不同環境條件下有優異的靜電穩定性，可以抑制文字污點或白點的產生。又，根據本實施形態，中間轉印帶201由聚酰亞胺或聚酰胺酰亞胺形成時，長時間在不同環境條件下有優異的靜電穩定性，耐久性高，可以抑制文字污點或白點的產生。又，根據本實施形態，轉印裝置200具有作為中間轉印體的中間轉印帶201的轉印手段，可以暫時轉印感光體102上的調色劑像，通過采用本發明的帶構件作為中間轉印帶201，可以抑制圖像產生白點或橫白帶。又，根據本實施形態，圖像形成裝置具備有作為載置潛像的潛像載置體的感光體102，以及作為將該潛像顯影成調色劑像的顯影手段的顯影裝置104，以及具有使得感光體上的調色劑像暫時轉印在中間轉印帶201上的轉印手段，作為上述轉印手段，通過采用具有本發明的帶構件的轉印裝置200，可以抑制圖像上產生白點或橫白帶。又，根據本實施形態，轉印裝置200具有在與中間轉印帶201的上述外表面之間夾入記錄介質的二次轉印輥308，以及使中間轉印帶201介于中間，與二次轉印輥308對置的支承輥304，二次轉印輥308為單層結構。即使采用低成本的、無需單獨清潔處理機構的單層結構的二次轉印輥308，由于合適的電荷保持性能和耐靜電電壓，改善污點或白點等，可以提供能防止因在基層與表面層的界面上過剩電荷的積累所引起的感光體疲勞的圖像形成裝置。又，.根據本實施形態，支承輥304的電阻比二次轉印輥的電阻高，所以，即使如上述那樣的二次轉印輥308的電阻升高，也能減少合成電阻的升高，可以抑制因白點發生少的施加電壓升高而引起的異常放電，或因電壓限界控制引起的轉印性能低下等不適合情況的產生。又，根據本實施形態，因支承輥304的電阻比二次轉印輥308的電阻以常用對數值(logQ)表示大l.O以上，可以少產生白點，減少由于二次轉印輥308電阻的升高所引起的合成電阻的升高，可以抑制因施加電壓的升高而引起的異常放電，或因電壓限界控制而引起的轉印性能低下等不適合情況的產生。又，根據本實施形態，在為決定用于圖像形成裝置的、具有高電阻表面層的多層結構環狀帶構件的中間轉印帶201的規格所使用的帶構件使用決定評價方法中，將作為環外側的表面的外面的表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即外表面電阻率的變化量，和作為環內側的表面的背表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即背表面電阻率的變化量之差，以及中間轉印帶201的體積電阻用于中間轉印帶201的評價，由此，能進行可以抑制轉印色斑或白點圖像產生的中間轉印帶201的判斷。上面參照了本發明的實施例，但本發明并不局限于上述實施例。在本發明技術思想范圍內可以作種種變更，它們都屬于本發明的保護范圍。權利要求1.一種帶構件，所述帶構件系用于圖像形成裝置的多層構造環狀帶構件，它具有載置調色劑像的高電阻表面層，其特征在于體積電阻率以常用對數值logΩ·cm表示，為8.0以上、11.0以下；作為環外側表面的外表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即外表面電阻率變化量，比作為環內側表面的背表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即背表面電阻率變化量大。2.如權利要求l所述的帶構件，其特征在于以常用對數值logQ/口表示，所述外表面電阻率變化量比所述背表面電阻率變化量大O.05以上。3.如權利要求1或2所述的帶構件，其特征在于上述外表面電阻率變化量與上述背表面電阻率變化量之差以常用對數值logQ/口表示為1.0以下。4.如權利要求1或2所述的帶構件，其特征在于當構件用作圖像形成裝置的中間轉印體，通過所設定方法形成圖像時，上述表面電阻率變化量之差至少為在圖像上不能辨認出白帶的值以下。5.如權利要求l-4中任一項所述的帶構件，其特征在于在10V和100V時體積電阻的電壓依存性以常用對數值logQcm表示為1.5以上。6.如權利要求1-5中任一項所述的帶構件，其特征在于該帶構件由聚酰亞胺或聚酰胺酰亞胺構成。7.—種轉印裝置，設有中間轉印體，用于暫時轉印潛像載置體上的調色劑像，其特征在于使用權利要求l-6中任一項所述的帶構件，作為該中間轉印體。8.—種圖像形成裝置，包括載置潛像的潛像載置體；將該潛像顯影成調色劑像的顯影手段；轉印手段，設有中間轉印帶，用于暫時轉印該潛像載置體上的調色劑像;其特征在于使用權利要求7所述的轉印裝置，作為所述轉印手段。9.如權利要求書8所述的圖像形成裝置，其特征在于上述轉印手段具有外側輥和內側輥，在外側輥與上述中間轉印帶的外表面之間夾入記錄介質，內側輥與外側輥對置,使該中間轉印帶介于其間，所述外側輥為單層結構。10.如權利要求9所述的圖像形成裝置，其特征在于.-上述內側輥的電阻大于上述外側輥的電阻。11.如權利要求10所述的圖像形成裝置，其特征在于上述內側輥的電阻與上述外側輥的電阻相比，以常用對數值logQ表示，大1.0以上。12.—種帶構件評價方法，所述帶構件系用于圖像形成裝置，具有載置調色劑像的高電阻表面層的多層構造的環狀帶構件，其特征在于將作為環外側表面的外表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即外表面電阻率變化量，與作為環內側表面的背表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即背表面電阻率變化量之差，以及該帶構件的體積電阻率用于該帶構件的評價。全文摘要本發明提供一種可抑制轉印色斑或白點圖像產生的帶構件，設有該帶構件的轉印裝置以及圖像形成裝置。本發明還提供一種判斷可抑制轉印色斑或白點圖像產生的帶構件的帶構件評價方法。在用于圖像形成裝置、具有高電阻表面層的多層結構環狀帶構件的中間轉印帶(201)中，體積電阻率以常用對數值(logΩ·cm)表示為0.8以上、11.0以下。以常用對數值(logΩ/□)表示，作為環外側表面的外表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即外表面電阻率變化量，比作為環內側表面的背表面電阻率的100秒測定值與1秒測定值之差，即背表面電阻率變化量大0.05以上。文檔編號G03G15/00GK101452238SQ20081018485公開日2009年6月10日申請日期2008年12月5日優先權日2007年12月6日發明者澤井雄次申請人:株式會社理光