一種測試裝置及其制作方法、顯示裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示技術領域，具體涉及一種測試裝置及其制作方法、顯示裝置。
【背景技術】
[0002]在薄膜晶體管液晶顯不器(ActiveMatrix Organic Lighting EmittingDisplay，簡稱TFT-1XD)制造業中，經常會伴有因材料及工藝污染產生的不良；及時準確的分析出不良原因，提出解決方案，對提高產品質量，節約制造成本，增加盈利具有非常重要的意義。
[0003]評價液晶屏污染的主要參數有電壓保持率(Voltage Holding Rat1，簡稱VHR)、離子濃度(1n Density)、殘留直流電壓(RDC)等；其中測試整張液晶屏(Panel)的液晶特性需要對整張液晶屏加直流電壓，而目前技術無法實現對整張液晶屏加直流電壓，其測試方法一種是對整張液晶屏進行部分測試，其測試的數據也并非整張液晶屏的數據，存在一定的誤差；還有一種測試方法是模擬工廠量產條件在實驗室自制小型的液晶測試盒(Minicell)進行測試，但是由于實驗室條件及設備局限性無法得到與工廠相同條件的測試盒，且人為污染較大，使實驗結果缺乏準確性，失去了測試的意義。
【發明內容】
[0004]針對現有技術中的缺陷，本發明提供了一種測試裝置及其制作方法、顯示裝置，以準確的測試出整張液晶屏的特征參數。
[0005]第一方面，本發明提供一種測試裝置，包括第一測試電極和第二測試電極；
[0006]所述第一測試電極與陣列基板的導電金屬層電連接，所述導電金屬層為柵極金屬層或源漏金屬層；
[0007]所述第二測試電極與設置在所述陣列基板上的第一透明導電層電連接，且所述第一透明導電層與彩膜基板上的第二透明導電層電連接。
[0008]可選的，所述第一測試電極通過過孔與導電金屬層電連接。
[0009]可選的，所述第一透明導電層與所述第二透明導電層通過導電介質相連接。
[0010]可選的，所述第一透明導電層和所述第二透明導電層的材質為氧化銦錫。
[0011 ] 可選的，所述導電介質為導電封框膠或導電隔墊物。
[0012]可選的，所述導電封框膠為摻雜有金屬導電物質的封框膠。
[0013]可選的，所述導電金屬層在與所述導電封框膠對應的區域設置為鏤空結構。
[0014]可選的，所述第一測試電極和所述第二測試電極設置在陣列基板的非顯示區域。
[0015]可選的，所述第一測試電極和所述第二測試電極設置在所述陣列基板的邊緣區域。
[0016]可選的，所述第一測試電極和所述第二測試電極與所述第一透明導電層通過同一次構圖工藝形成。
[0017]第二方面，本發明還提供了一種顯示裝置，包括上述所述的測試裝置。
[0018]第三方面，本發明還提供了一種測試裝置的制造方法，包括:
[0019]在陣列基板上形成導電金屬層，所述導電金屬層為柵極金屬層或源漏金屬層，
[0020]形成與所述導電金屬層電連接的第一測試電極，形成與所述陣列基板的第一透明導電層電連接的第二測試電極；
[0021]在將所述陣列基板與彩膜基板對盒時，將所述陣列基板上的第一透明導電層與所述彩膜基板上的第二透明導電層電連接。
[0022]可選的，所述方法還包括:
[0023]在陣列基板上形成過孔，所述第一測試電極通過所述過孔與所述導電金屬層電連接。
[0024]可選的，所述將所述陣列基板上的第一透明導電層與所述彩膜基板上的第二透明導電層電連接包括:
[0025]設置封框膠時設置一部分導電封框膠，從而所述導電封框膠將所述陣列基板上的第一透明導電層與所述彩膜基板上的第二透明導電層電連接；或
[0026]設置隔墊物時設置一部分導電隔墊物，從而所述導電隔墊物將所述陣列基板上的第一透明導電層與所述彩膜基板上的第二透明導電層電連接。
[0027]可選的，所述形成與所述導電金屬層電連接的第一測試電極，形成與所述陣列基板的第一透明導電層電連接的第二測試電極，包括:
[0028]形成第一透明導電材料層后，通過構圖工藝同時形成第一測試電極、第二測試電極和第一透明導電層。
[0029]由上述技術方案可知，本發明提供的一種測試裝置及其制作方法、顯示裝置，通過設置第一測試電極和第二測試電極，可以實現在第一測試電極和第二測試電極上加直流電壓，完成對整張液晶顯示面板的液晶特性參數的測試，相對于實驗室自制的液晶測試盒測試，由于可以在工廠條件下直接完成測試，不需要液晶測試盒等設備，因此其測試結果更加準確，而且測試過程快捷，成本低廉。
【附圖說明】
[0030]圖1為本發明一實施例提供的測試裝置的結構示意圖；
[0031]圖2為本發明一實施了提供的測試裝置中在導電介質處剖開的的截面示意圖；
[0032]圖3為本發明一是實施例提供的測試裝置的制造方法的流程示意圖；
[0033]其中附圖標記說明:
[0034]1、第一測試電極；2、第二測試電極；3、陣列基板；4、過孔；5、導電金屬層；6、彩膜基板；7、第二透明導電層；8、第一透明導電層；9、導電介質；10、封框膠；11、絕緣介質；12、基底。
【具體實施方式】
[0035]下面結合附圖，對發明的【具體實施方式】作進一步描述。以下實施例僅用于更加清楚地說明本發明的技術方案，而不能以此來限制本發明的保護范圍。
[0036]圖1示出了一種示出了本發明實施例提供的測試裝置的結構示意圖，如圖1所示，該測試裝置，包括:設置在陣列基板上的第一測試電極I和第二測試電極2 ;
[0037]所述第一測試電極I與所述陣列基板3的導電金屬層5電連接，所述導電金屬層5具體為柵極金屬層或源漏極金屬層，；所述第二測試電極2與設置在所述陣列基板3上的第一透明導電層8電連接，且所述第一透明導電層8與彩膜基板6上的第二透明導電層7電連接。
[0038]在一個具體的實施中，第一測試電極I與柵極金屬層或源漏金屬層5通過過孔4電連接。
[0039]具體的，所述第一透明導電層與所述第二透明導電層可以通過導電介質9相連接。
[0040]上述測試裝置通過在陣列基板上設置第一測試電極和第二測試電極，通過設置第一測試電極和第二測試電極，可以實現在第一測試電極和第二測試電極上加直流電壓，完成對整張液晶顯示面板的液晶特性參數的測試，相對于實驗室自制的液晶測試盒測試，由于可以在工廠條件下直接完成測試，不需要液晶測試盒等設備，因此其測試結果更加準確，而且測試過程快捷，成本低廉。
[0041]上述第一透明導電層8和第二透明導電層7的材質為氧化銦錫(ITO)。
[0042]上述導電介質9為導電封框膠，為了使陣列基板上的第一透明導電層和彩膜基板上的第二透明導電層更好的連接，故連接第一透明導電層和第二透明導電層的導電封框膠為摻雜有金屬導電物質的封框膠。
[0043]舉例來說，該金屬導電物質可以為金球。
[0044]所述柵極金屬層或源漏極金屬層5在與所述導電封框膠對應的區域設置為鏤空結構，以便于紫外光(UV)照射導電封框膠，使導電封框膠固化。
[0045]在具體應用中，該測試裝置為了不影響陣列基板和測試基板的對盒，以及影響顯示面板的顯示，所述第一測試電極I和所述第二測試電極2設置在陣列基板的非顯示區域。其中，陣列基板的邊緣超出了彩膜基板的邊緣，具體的，所述第一測試電極I和所述第二測試電極2設置在所述陣列基板的邊緣區域，具體該邊緣區域超出所述彩膜基板的邊緣區域。也可以理解為，圖1為彩膜基板與陣列基板疊加后的示意圖，陣列基板邊緣大于彩膜基板邊緣，且在陣列基板超出彩膜基板的邊緣區域設置第一測試電極和第二測試電極，本實施例不再通過其他附圖來解釋說明陣列基板和彩膜基板的位置關系。
[0046]具體的，所述第一測試電極和所述第二測試電極與所述第一透明導電層通過同一次構圖工藝形成。將第一測試電極和第二測試電極與所述第一透明導電層通過同一次構圖工藝形成可以不增加新的電極制作工藝，當然第一測試電極和第二測試電極也可以為另外設置的金屬層。
[0047]如圖1所示的上述測試裝置中，在陣列基板上的第一透明導電層和彩膜基板上的第二透明導電層之間還設置有固定所述陣列基板和所述彩膜基板的封框膠10，該封框膠為不導電的封框膠。
[0048]如圖2