操作元件操作檢測裝置的制作方法

本發明涉及操作元件操作檢測裝置。詳細地，涉及能夠對用于檢測操作元件的操作的信號進行傳遞的操作元件操作檢測裝置。

背景技術：

以往，已知有如下操作元件操作檢測裝置，即在對由于操作者的按壓操作而轉動的操作元件進行操作時，相對于操作元件產生反作用力，同時能夠對檢測操作元件的操作的信號進行傳遞。在操作元件操作檢測裝置中設有使橡膠等彈性部件鼓出的拱起部、和固定側觸點部及可動側觸點部。操作元件操作檢測裝置構成為，拱起部由于被操作元件按壓而變形，相對于操作元件產生變形引起的反作用力。除此以外，操作元件操作檢測裝置構成為，可動側觸點部由于被操作元件按壓而與固定側觸點部接觸，并且能夠對檢測操作元件的操作的信號進行傳遞。例如，如專利文獻1所記載。

在專利文獻1中記載的鍵操作檢測裝置(操作元件操作檢測裝置)中，由固定側觸點部和可動側觸點部構成的多個鍵開關設置在彈性鼓出部(拱起部)的內部。在鍵開關中，與設置在機臺上的固定側觸點部相對地，在彈性鼓出部設有可動側觸點部。在鍵操作檢測裝置中，當操作元件即鍵被按壓時，產生彈性鼓出部的頂部向內側彎折的壓曲現象，可動側觸點部與固定側觸點部接觸。此時，在鍵操作檢測裝置中，彈性鼓出部在鍵的轉動支點的近側和遠側的變形量的比例不同。因此，在鍵操作檢測裝置中，固定側觸點部的接觸面與可動側觸點部的接觸面不均勻接觸，會產生與彈性鼓出部的按壓方向垂直的方向的作用力即按壓力的剪切方向的分力。由此，鍵操作檢測裝置容易產生由于在固定側觸點部的接觸面和可動側觸點部的接觸面之間滑動或浮動而引起的顫動，從而存在觸點的接觸狀態不穩定的問題。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：(日本)特開2007－25576號公報

技術實現要素：

發明所要解決的課題

本發明是鑒于以上情況而完成的，目的在于提供操作元件操作檢測裝置，其能夠抑制由于在固定側觸點和可動側觸點間滑動或浮動而引起的顫動的產生，穩定地維持觸點的接觸狀態。

用于解決課題的手段

即，在本發明中，操作元件操作檢測裝置具備：固定側觸點部，其設置在機臺上，具有固定側接觸面，該機臺轉動自如地支承以轉動支點為中心轉動的操作元件；基部，其直接或間接地設置于所述機臺；拱起部，其從所述基部鼓出；頂部，其設置在所述拱起部的鼓出側前端，被所述操作元件向接近所述固定側觸點部的一側按壓；可動側觸點部，其設置在所述頂部，能夠與所述固定側觸點部接觸；在所述頂部被所述操作元件按壓時所述拱起部彈性變形，所述固定側觸點部與所述可動側觸點部接觸，由此檢測所述操作元件的操作，包含相互鄰接的所述基部和所述拱起部的交線在內的基端側平面和包含相互鄰接的所述拱起部和所述頂部的交線在內的前端側平面在接近所述操作元件的轉動支點的一側相交，所述基端側平面和包含形成于所述固定側觸點部的所述固定側接觸面在內的觸點側平面在接近所述操作元件的轉動支點的一側相交。

另外，在本發明中，在所述固定側觸點部和所述可動側觸點部接觸時相對于所述固定側接觸面平行的可動側接觸面形成于所述可動側觸點部。

另外，在本發明中，所述操作元件以通過所述轉動支點的轉動軸為中心轉動，所述基端側平面和所述前端側平面的交線構成為與所述操作元件的所述轉動軸大致一致。

另外，在本發明中，所述操作元件以通過所述轉動支點的轉動軸為中心轉動，所述觸點側平面和所述基端側平面的交線構成為與所述操作元件的所述轉動軸大致一致。

在本發明中，與所述基端側平面和所述前端側平面的交線平行且相對于所述基端側平面垂直的面上的所述拱起部和所述頂部的截面形狀的長度構成為隨著到所述基端側平面和所述前端側平面的交線的距離變大而增大。

在本發明中，所述拱起部的與所述操作元件的轉動支點相反的一側的側面構成為以所述基端側平面和所述前端側平面的交線為中心的圓弧狀。

另外，本發明的操作元件操作檢測裝置構成為，所述基端側平面與所述前端側平面的交線、和所述基端側平面與所述觸點側平面的交線構成為大致一致。

另外，在本發明中，所述固定側接觸部形成于第二平面，該第二平面形成于所述機臺且與形成于所述機臺的第一平面交叉。

另外，在本發明中，所述操作元件具備按壓所述頂部的接觸面的操作元件按壓面，在檢測到所述操作元件的所述操作時，所述第二平面成為與所述操作元件按壓面大致平行的狀態。

發明效果

根據本發明，通過由被轉動操作的操作元件按壓時的拱起部的變形比例在整周接近均勻，而在與固定側觸點接觸的可動側觸點上施加的按壓力的剪切方向的分力變小。由此，能夠抑制由于在固定側觸點和可動側觸點之間滑動或浮動引起的顫動的產生，并且穩定地維持觸點的接觸狀態。

附圖說明

圖1(a)是對具備本發明的操作元件操作檢測裝置的鍵盤裝置的一個實施方式的結構進行表示的局部俯視圖，(b)是對同一結構進行表示的側視剖視圖。

圖2(a)是本發明的操作元件操作檢測裝置的第一實施方式中的放大俯視圖，(b)是同一部分的放大主視圖，(c)是將同一部分的側面放大的局部剖視圖。

圖3(a)是對本發明的操作元件操作檢測裝置的第一實施方式中的基端側平面與前端側平面的基準交線進行表示的放大立體圖，(b)是對相同部分進行表示的放大側視圖。

圖4(a)是對本發明的操作元件操作檢測裝置的第一實施方式中的觸點側平面與基端側平面的基準交線進行表示的放大立體圖，(b)是對相同部分進行表示的放大側視圖。

圖5(a)是對本發明的操作元件操作檢測裝置的第一實施方式中的未產生壓曲現象的狀態下的拱起部的變形比例及可動觸點部的移動比例進行表示的放大側視圖，(b)是對產生同一壓曲現象的狀態下的拱起部的變形比例進行表示的放大側視圖，(c)是對持續同一壓曲現象的狀態下的可動觸點部的移動比例進行表示的放大側視圖。

圖6(a)是將本發明的操作元件操作檢測裝置的第二實施方式中的側面放大的局部剖視圖，(b)是對同一實施方式中可動側觸點與固定側觸點接觸的狀態進行表示側視剖視圖。

圖7(a)是本發明的操作元件操作檢測裝置的第三實施方式中的放大俯視圖，(b)是同一實施方式中的放大側視圖，(c)是圖7(a)、圖7(b)中的X箭頭方向剖視圖、Y箭頭方向剖視圖、Z箭頭方向剖視圖。

圖8是本發明的操作元件操作檢測裝置的第四實施方式中的放大側視圖。

圖9是在本發明的操作元件操作檢測裝置的第一實施方式至第四實施方式中，對觸點側平面、基端側平面及前端側平面間的基準交線與轉動軸一致的狀態進行表示的側視圖。

圖10(a)是在本發明的操作元件操作檢測裝置的第一實施方式至第四實施方式中，觸點側平面和基端側平面的間隔比基部的下限值小的情況的側視局部剖視圖，(b)是在本發明的操作元件操作檢測裝置的第一實施方式至第四實施方式中，觸點側平面和基端側平面的間隔比基部的上限值大的情況的側視局部剖視圖，(c)是在本發明的操作元件操作檢測裝置的第一實施方式至第四實施方式中，存在觸點側平面和基端側平面的間隔比基部的下限值小的部位及比基部的上限值大的部位的情況的側視局部剖視圖。

具體實施方式

＜第一實施方式＞

以下，利用圖1，對本發明的一個實施方式的鍵盤裝置1進行說明。鍵盤裝置1在本實施方式中是電子鍵盤樂器的鍵盤裝置。

鍵盤裝置1具備：框架(機臺)2、上限擋塊2a、鍵支點部3、鍵4、及操作元件操作檢測裝置即鍵操作檢測裝置5。在鍵盤裝置1中，多個鍵4(白鍵4a和黑鍵4b)相鄰地配置于機臺即框架2。各鍵4的一側經由轉動支點即轉動軸3a轉動自如地支承在設于框架2的鍵支點部3，在鍵4未被操作時，其另一側與設于框架2的上限擋塊2a接觸。而且，在鍵盤裝置1中，以與各鍵4相對的方式設有與各鍵4對應的多個鍵操作檢測裝置5，即在鍵盤裝置1中，鍵4和與鍵4對應的鍵操作檢測裝置5在鍵4的排列方向上分別相鄰地設置于框架2。

鍵盤裝置1構成為，當鍵4被操作者按壓時(參照圖1(b)的涂黑箭頭)，與被操作的鍵4對應的鍵操作檢測裝置5壓縮變形，由此產生相對于鍵4的操作的反作用力，同時傳遞相對于鍵4的操作的信號。

接著，利用圖1及圖2，對本發明的第一實施方式的鍵操作檢測裝置5進行具體說明。鍵操作檢測裝置5是產生相對于操作元件即鍵4的操作的反作用力(以下，僅記作“反作用力”)，同時能夠對檢測鍵4的操作的信號進行傳遞的裝置。如圖2所示，鍵操作檢測裝置5具備：由硅橡膠等彈性部件構成的基部6、拱起部(外側拱起部)7、頂部8、內側拱起部9、及由絕緣體基材構成的基板10。

另外，框架2在其上表面具備第一平面部2b、第二平面部2c、第三平面部2d，其中，該第一平面部2b形成有鍵支點部3，該第二平面部2c形成在自鍵支點部3起比第一平面部2b遠的位置，該第三平面部2d形成在自鍵支點部3起比第二平面部2c遠的位置。在鍵4未被操作的狀態下，第一平面部2b及第三平面部2d為與后述鍵按壓面4c大致平行的狀態，其中，該鍵按壓面4c是鍵4的下表面，用于按壓頂部8的與鍵4的接觸面即接觸面8a。另外，如后述的圖5(b)及(c)所示，在鍵4被操作(按壓)的狀態下，第二平面部2c成為與鍵按壓面4c大致平行的狀態。

基部6用于固定鍵操作檢測裝置5中由彈性部件構成的拱起部7、頂部8及內側拱起部9。基部6形成為板狀。在基部6的一側平面形成有未圖示的多個固定用的突出部。基部6以一側平面與基板10緊密相接的方式通過突出部固定于基板10。在基部6的另一側平面形成有多個拱起部7。即，對于鍵操作檢測裝置5，多個鍵操作檢測裝置5的基部6一體形成。需要說明的是，在本實施方式中，不限于多個鍵操作檢測裝置5的基部6一體構成的結構，也可以是在一個基部6只形成有一個拱起部7的結構。

拱起部7是支承頂部8的部件。拱起部7形成為從基部6的另一側平面朝向鍵盤裝置1的鍵4鼓出的中空拱狀。具體地，如圖2(a)所示，在俯視觀察基部6的另一側時，拱起部7形成為，通過直線將一組分離的圓弧彼此連接而成的長圓狀(長孔狀)的側壁7a從基部6的另一側平面突出。而且，如圖2(b)和圖2(c)所示，在拱起部7的側壁7a的突出側以將由側壁7a包圍的空間覆蓋的方式形成有拱起頂7c。拱起部7的側壁7a和拱起頂7c經由曲面7b平滑地連結并形成為一體。而且，在拱起部7的拱起頂7c的前端還形成有頂部8。即，拱起部7在其鼓出相反側即基端側與基部6鄰接并形成為一體，在鼓出側即前端側與頂部8鄰接并形成為一體。

頂部8是被鍵4按壓的部件。如圖2所示，頂部8從拱起部7的拱起頂7c朝向鍵盤裝置1的鍵4突出而形成。具體地，頂部8形成為，在俯視觀察基部6的另一側時實心長圓狀的臺從拱起部7的拱起頂7c突出。頂部8形成為與拱起部7的拱起頂7c成一體，從而構成拱起部7的拱起頂7c的一部分。另外，頂部8配置成其長度方向中心線與拱起部7的長度方向中心線一致。在頂部8的突出側的前端部分形成有其與鍵4的接觸面8a，在鍵4被操作者按壓時，接觸面8a與鍵4的下表面即鍵按壓面4c接觸。

內側拱起部9是對基板10的電路中檢測鍵4的操作的信號的傳遞狀態(接通狀態或斷開狀態)進行切換的可動側觸點部。內側拱起部9位于拱起部7的內部，形成為從頂部8的基板10側朝向基板10鼓出的中空拱狀。內側拱起部9的基端形成為與頂部8成一體，并且在頂部8形成有將內側拱起部9的中空部分和外部連通的孔。在內側拱起部9的前端沿著拱形狀設有由碳等導電體構成的可動側觸點9a。內側拱起部9構成為通過鍵4對頂部8的按壓而可動側觸點9a與基板10的固定側觸點即固定側接觸面10a接觸。通過內側拱起部9的可動側觸點9a與固定側接觸面10a接觸，而將基板10的電路的信號傳遞狀態從不傳遞信號的狀態(斷開狀態、鍵4未被操作的狀態)切換成傳遞信號的狀態(接通狀態、鍵4被操作的狀態)。由此，能夠基于基板10的信號傳遞狀態來檢測鍵4的操作。需要說明的是，在本實施方式中，不限于將可動側觸點9a設為拱形狀，只要是能夠切換基板10的電路中的傳遞狀態(接通狀態或斷開狀態)的形狀即可。另外，可動側觸點9a的數量也不限于單個。

基板10是構成有將檢測鍵4的操作的信號進行傳遞的電路的固定側觸點部。基板10設置于框架2。另外，在基板10上形成有未圖示的多個固定用的孔。基部6的未圖示的突出部插入孔從而基部6以與基板10緊密相接的方式固定在基板10上。即，在鍵操作檢測裝置5中，基部6、拱起部7、頂部8及內側拱起部9借助基板10設置于框架2。在基板10的電路的一部分設有固定側觸點即固定側接觸面10a。基板10構成為通過鍵4對頂部8的按壓而可動側觸點9a與固定側接觸面10a接觸。在基板10中，通過可動側觸點9a與固定側接觸面10a接觸，而信號的傳遞狀態被切換成傳遞信號的狀態(接通狀態)。需要說明的是，在本實施方式中，固定側接觸面10a的數量不限于單個。

如圖1(a)所示，鍵操作檢測裝置5配置成拱起部7的長圓狀的長度方向中心線相對于鍵4的轉動軸3a垂直。另外，如圖1(b)所示，鍵操作檢測裝置5構成為頂部8的整個接觸面8a與未操作狀態的鍵盤裝置1的鍵4接觸。即，鍵操作檢測裝置5構成為，在鍵4的操作范圍內，頂部8的整個接觸面8a始終與鍵4接觸。

以下，利用圖1、圖3及圖4，對鍵操作檢測裝置5的基部6及拱起部7的形狀進行更具體說明。如圖1(b)和圖3所示，鍵操作檢測裝置5構成為，包含由相互鄰接且形成為一體的基部6和拱起部7的連接部分的交線BL規定的平面在內的假想平面即基端側平面BP、及包含由相互鄰接且形成為一體的拱起部7和頂部8的連接部分的交線TL規定的平面在內的假想平面即前端側平面TP，在鍵4的轉動軸3a側(靠近鍵操作檢測裝置5的轉動軸3a的一側)的任意位置相交。即，在鍵操作檢測裝置5中，基端側平面BP和前端側平面TP在轉動軸3a側相交，基端側平面BP和前端側平面TP構成不平行的位置關系。在本實施方式中，鍵操作檢測裝置5構成為，基端側平面BP和前端側平面TP在與轉動軸3a不同的同一線上(以下，僅記作“基準交線SL”)相交。鍵操作檢測裝置5構成為拱起部7的突出高度與自基準交線SL起的垂直距離呈比例地增加。另外，基部6的厚度構成為與自轉動軸3a起的垂直距離呈比例地減少。

另外，如圖1(b)和圖4所示，鍵操作檢測裝置5構成為，基端側平面BP、和包含由形成于基板10的固定側接觸面10a規定的平面在內的假想平面即觸點側平面CP，在鍵4的轉動軸3a側的任意位置相交。即，在鍵操作檢測裝置5中，基端側平面BP和觸點側平面CP在轉動軸3a側相交，構成不平行的位置關系。在本實施方式中，鍵操作檢測裝置5構成為，基部6的一側平面包含在觸點側平面CP內，其另一側平面包含在基端側平面BP內，基部6的厚度與自基準交線SL起的垂直距離呈比例地增加。另外，鍵操作檢測裝置5構成為觸點側平面CP通過基準交線SL。即，鍵操作檢測裝置5構成為，觸點側平面CP、基端側平面BP和前端側平面TP相交于基準交線SL。需要說明的是，鍵操作檢測裝置5也可以構成為基端側平面BP和前端側平面TP在基準交線SL以外的位置相交。

接著，利用圖2、圖3、圖4及圖5，對關于本發明的第一實施方式的鍵操作檢測裝置5的在操作鍵4時的拱起部7及內側拱起部9的動作方式進行具體說明。如圖2所示，鍵操作檢測裝置5構成為，頂部8的整個接觸面8a始終與鍵盤裝置1的鍵4接觸，因此頂部8追隨鍵4的操作而以與鍵4的轉動角度相同的角度被按壓。即，鍵4的操作產生的鍵操作檢測裝置5的變形量與自轉動軸3a起的垂直距離呈比例地增加。

在鍵盤裝置1的鍵4未被操作的情況下，頂部8的接觸面8a在拱起部7不變形的狀態下與鍵4接觸。即，由于沒有產生鍵4的操作引起的拱起部7的變形，故而鍵操作檢測裝置5不產生反作用力。另外，設于頂部8的內側拱起部9的可動側觸點9a不與基板10的固定側接觸面10a接觸。因此，基板10的電路成為不傳遞信號的狀態(斷開狀態)。

如圖5(a)所示，在鍵盤裝置1的鍵4被操作的情況下，鍵操作檢測裝置5開始追隨鍵4的操作并且頂部8被按壓。由此，在拱起部7主要存在拱起頂7c朝向拱起部7的內部(基部6)的變形、和側壁7a朝向拱起部7的外側的變形。即，在拱起部7中，拱起頂7c和曲面7b沿按壓方向變形，并且側壁7a受到拱起頂7c和曲面7b的變形產生的反作用力而沿相對于按壓方向正交的方向變形。在拱起部7中，隨著鍵4的操作量增加而側壁7a和拱起頂7c和曲面7b的變形例增加。內側拱起部9的可動側觸點9a不與基板10的固定側接觸面10a接觸。因此，基板10的電路為不能傳遞信號的狀態(斷開狀態)。

如圖5(b)所示，在對鍵盤裝置1的鍵4進一步按動操作的情況下，鍵操作檢測裝置5的拱起部7的變形方式轉換成伴隨著大的變形的曲面7b的壓曲現象。具體地，拱起部7的曲面7b沿著向拱起部7的內部折入的方向變形。拱起部7利用面7b的壓曲現象吸收頂部8的大部分按壓量。然后，在拱起部7，拱起部7的曲面7b完全折入拱起部7內部，并且拱起部7的側壁7a沿著向拱起部7的內部折入的方向變形。通過壓曲現象，拱起部7利用側壁7a和曲面7b的壓曲現象吸收頂部8的大部分按壓量。由此，在拱起部7中，側壁7a的變形量和拱起頂7c的變形量減少。在內側拱起部9中，由于拱起部7的變形而可動側觸點9a與基板10的固定側接觸面10a接觸。因此，基板10的電路切換成能夠傳遞信號的狀態(接通狀態)。

這樣，鍵操作檢測裝置5構成為，通過按壓頂部8而拱起部7的拱起頂7c被壓入由側壁7a包圍的中空的內部，并且側壁7a及曲面7b一邊向中空的內部折疊一邊變形。同時，鍵操作檢測裝置5構成為，設于頂部8上的內側拱起部9的可動側觸點9a與基板10的固定側接觸面10a接觸。由此，在鍵操作檢測裝置5中，由于拱起部7的變形而產生相對于頂部8的按壓的反作用力，并且將基板10的電路切換成能夠傳遞信號的狀態(接通狀態)。

鍵操作檢測裝置5構成為，除基板10以外的部分由彈性部件構成，因而由于操作者對鍵4的按壓操作而彈性變形從而產生反作用力，并且由于按壓力的解除而恢復到原來的拱形狀。雖然需要通過按壓操作的解除而使鍵4恢復到初始狀態(鍵4未被操作的狀態)，但可以另外設置用于使鍵4復原的未圖示的彈簧或錘，利用該彈簧或錘的作用使鍵4恢復到初始狀態，也可以利用鍵操縱檢測裝置5自身的復原力使鍵4的位置恢復到初始狀態(鍵4未被操作的狀態)。

如圖3所示，鍵操作檢測裝置5構成為拱起部7的突出高度與自基準交線SL起的垂直距離呈比例地增加，因而雖然頂部8的按壓量與到鍵4的轉動軸3a的垂直距離呈比例地增加，但仍能夠抑制與轉動軸3a相遠側和相近側的拱起部7的變形比例的變動。因此，拱起部7整體上以均勻的比例產生變形。例如，如圖5(a)和圖5(b)所示，在拱起部7中，頂部8的按壓量最大部位即遠離轉動軸3a一側的相對于突出高度H1的變形后的突出高度h1的比例、和頂部8的按壓量最小部位即靠近轉動軸3a一側的相對于突出高度H2的變形后的突出高度h2(壓曲量)的比例近似。

在以往的鍵操作檢測裝置中，基端側平面BP與前端側平面TP構成為平行，故而拱起部7的與轉動軸3a相近側和相遠側的變形的比例不同。即，對于拱起部7，在與轉動軸3a相近側和相遠側，在產生壓曲現象期間產生偏差，壓曲量的比例的差異大。因此，在以往的鍵操作檢測裝置中，由于拱起部7不均勻比例的變形而容易產生施加于可動側觸點9a的按壓力的剪切方向的分力。

另一方面，在鍵操作檢測裝置5中，即使鍵盤裝置1的鍵4的操作引起的頂部8的按壓量與到轉動軸3a的垂直距離呈比例地增加，也能夠使拱起部7的變形量的比例在整周接近均勻。即，對于拱起部7，在與轉動軸3a相近側和相遠側，在產生壓曲現象期間難產生偏差，在與轉動軸3a相近側和相遠側的壓曲量的比例近似。因此，在鍵操作檢測裝置5中，由于拱起部7在整周均勻地變形而難以產生施加于可動側觸點9a的按壓力的剪切方向的分力(參照圖5(b)中涂黑的箭頭)。

進一步地，如圖4所示，鍵操作檢測裝置5構成為基部6的厚度與自基準交線SL起的垂直距離呈比例地增加，故而雖然頂部8的按壓量與到鍵4的轉動軸3a的垂直距離呈比例地增加，但仍能夠抑制內側拱起部9在與轉動軸3a相遠側或相近側的移動量的比例的變動。因此，內側拱起部9在整體上以均勻的比例移動。例如，如圖5(a)和圖5(c)所示，在內側拱起部9中，頂部8的按壓量最大部位即遠離轉動軸3a一側的相對于到固定側接觸面10a的距離S1的移動后的距離s1的比例、和頂部8的按壓量最小部位即靠近轉動軸3a一側的相對于到固定側接觸面10a的距離S2的移動后的距離s2的比例近似。

在以往的鍵操作檢測裝置中，觸點側平面CP和基端側平面BP構成為平行，故而可動側觸點9a相對于內側拱起部9的與轉動軸3a相近側和遠離側到固定側接觸面10a的距離的移動比例不同。即，在與轉動軸3a相近側和相遠側，內側拱起部9在與固定側接觸面10a接觸期間產生偏差。因此，在以往的鍵操作檢測裝置，在內側拱起部9施加有不均勻的按壓力，容易產生施加于可動側觸點9a的按壓力的剪切方向的分力。

另一方面，在鍵操作檢測裝置5中，即使鍵盤裝置1的鍵4的操作引起的頂部8的按壓量與到轉動軸3a的垂直距離呈比例地增加，可動側觸點9a相對于內側拱起部9的與轉動軸3a相近側和相遠側到固定側接觸面10a的距離的移動比例也接近均勻。即，在內側拱起部9的與轉動軸3a相近側和相遠側，內側拱起部9在可動側觸點9a與固定側接觸面10a接觸期間難以產生偏差。因此，在鍵操作檢測裝置5中，在內側拱起部9施加有均勻的按壓力，難以產生施加于可動側觸點9a的按壓力的剪切方向的分力(參照圖5(c)中涂黑箭頭)。

這樣，在鍵操作檢測裝置5中，拱起部7變形的比例和內側拱起部9的移動比例接近均勻，從而難以產生施加于可動側觸點9a的按壓力的剪切方向的分力。由此，鍵操作檢測裝置5能夠抑制由于在固定側接觸面10a和可動側觸點9a之間滑動或浮動引起的顫動的產生，并且穩定地維持觸點的接觸狀態。

＜第二實施方式＞

接著，利用圖6，對本發明的操作元件操作檢測裝置的第二實施方式即鍵操作檢測裝置11進行說明。需要說明的是，本實施方式的鍵操作檢測裝置11為在圖1所示的鍵盤裝置1中替換鍵操作檢測裝置5而適用的裝置，通過使用圖1、圖2及其說明中使用的名稱、附圖編號、附圖標記而對相同部分進行表示，在以下的實施方式中，對與已說明的實施方式相同的點省略其具體說明，以差異部分為中心進行說明。鍵操作檢測裝置11是產生相對于操作元件即鍵4的操作的反作用力，并且傳遞相對于鍵4的操作的信號的裝置，具備：由硅橡膠等彈性部件構成的基部6、拱起部7、頂部8、內側拱起部12、及由絕緣體基材構成的基板10。

如圖6(a)所示，內側拱起部12是對檢測鍵4的操作的信號改變基板10的電路中信號傳遞狀態(接通狀態或斷開狀態)的部件。在可動側觸點部即內側拱起部12的前端形成有與基板10的固定側接觸面10a相對的平面，并設有其表面由碳等導電體覆蓋的可動側觸點即可動側接觸面12a。如圖6(b)所示，可動側接觸面12以其與固定側接觸面10a接觸時平行于固定側接觸面10a的方式形成在內側拱起部12。內側拱起部12的可動側接觸面12a與固定側接觸面10a接觸，從而將基板10的電路的信號傳遞狀態切換成傳遞信號的狀態(接通狀態)。

鍵操作檢測裝置11構成為固定側接觸面10a和可動側接觸面12a以平行的狀態接觸，故而雖然頂部8的按壓量與到鍵4的轉動軸3a的垂直距離呈比例地增加，但整個可動側接觸面12a也幾乎與固定側接觸面10a同時接觸。

在以往的鍵操作檢測裝置中，構成為固定側接觸面10a和可動側接觸面12a以傾斜的狀態接觸，故而在可動側接觸面12a的與轉動軸3a相近側和相遠側，在與固定側接觸面10a接觸期間容易產生偏差。因此，在以往的鍵操作檢測裝置中，在可動側接觸面12a與固定側接觸面10a接觸時，在內部拱起部12施加有不均勻的按壓力，容易產生施加于可動側接觸面12a的按壓力的剪切方向的分力。

另一方面，在鍵操作檢測裝置11中，在可動側接觸面12a的與轉動軸3a相近側和相遠側，在與固定側接觸面10a接觸期間難以產生偏差。因此，在鍵操作檢測裝置11中，在內側拱起部12施加有均勻的按壓力，難以產生施加于可動側接觸面12a的按壓力的剪切方向的分力。

這樣構成的鍵操作檢測裝置11的可動側接觸面12a的移動比例接近均勻，從而難以產生施加于可動側接觸面12a的按壓力的剪切方向的分力。由此，鍵操作檢測裝置11能夠抑制由于在固定側接觸面10a和可動側接觸面12a之間滑動或浮動引起的顫動的產生，并且穩定地維持觸點的接觸狀態。

＜第三實施方式＞

接著，利用圖7，對本發明的操作元件操作檢測裝置的第三實施方式即鍵操作檢測裝置13進行說明。需要說明的是，本實施方式的鍵操作檢測裝置13為在圖1所示的鍵盤裝置1中替換鍵操作檢測裝置13或鍵操作檢測裝置11而適用的裝置，使用圖1、圖2及其說明中所使用的名稱、附圖編號、附圖標記。鍵操作檢測裝置13是產生相對于操作元件即鍵4的操作的反作用力，并且傳遞相對于鍵4的操作的信號的裝置，具備：由硅橡膠等彈性部件構成的基部6、內側拱起部9、基板10、拱起部14、頂部15及由絕緣體基材構成的基板10。

如圖7所示，拱起部14形成為從基部6的另一側平面朝向鍵盤裝置1的鍵4方向鼓出的中空的拱狀。具體地，拱起部14形成為，俯視觀察基部6的另一側時，利用直線將一組分離的直徑不同的圓弧彼此連接而成的長圓狀(長孔狀)的側壁14a從另一側平面突出。而且，在拱起部14的側壁14a的突出側以將由側壁14a包圍的空間覆蓋的方式形成有拱起頂14c。拱起部14的側壁14a和拱起頂14c經由曲面14b平滑地連結并形成為一體。

頂部15形成為從拱起部14的拱起頂14c朝向鍵盤裝置1的鍵4方向突出的實心的塊狀。具體地，頂部15形成為，俯視觀察基部6的另一側時，利用直線將一組分離的直徑不同的圓弧彼此連接而成的長圓狀的臺從拱起部14的拱起頂14c突出。另外，頂部15配置成小徑側朝向拱起部14的小徑側并且長度方向中心線與拱起部14的長度方向中心線一致。

與圖1相同地，俯視觀察基部6的另一側時形成為長圓狀的鍵操作檢測裝置13的拱起部14配置為使小徑側朝向基準交線SL側(鍵4的轉動軸3a側，參照圖1)并且長度方向中心線相對于基準交線SL垂直。另外，鍵操作檢測裝置13構成為，與基準交線SL平行(參照圖7(a))且相對于基端側平面BP(基部6的另一側平面)垂直的面(參照圖7(b))上的拱起部14的截面形狀(拱起部14的截面形狀的長度(寬度)或高度)隨著到基準交線SL的垂直距離變大而擴大(參照圖7(c))。

即，關于拱起部14的截面形狀(截面形狀的長度(寬度)或高度)，以從任意規定的基準位置(例如，圖7中的Y－Y截面位置)的截面形狀推定的拱起部14的形狀為基準，隨著從基準交線SL到截面位置的垂直距離自基準交線SL到基準位置的垂直距離起變小而拱起部14的截面形狀縮小(參照圖7(c)Z－Z剖視圖)。同樣地，隨著從基準交線SL到截面位置的垂直距離自從基準交線SL到基準位置的垂直距離起變大而拱起部14的截面形狀擴大(參照圖7(c)X－X剖視圖)。

具體地，如圖7(a)和圖7(b)所示，拱起部14構成為側壁14a的突出高度與到基準交線SL的垂直距離呈比例地增加，并且與基準交線SL平行的方向(拱起部14的短邊方向)的側壁14a的間距及曲面14b的曲率半徑與到基準交線SL的垂直距離呈比例地增加。另外，頂部15構成為與基準交線SL平行的方向(頂部15的短邊方向)的寬度與到基準交線SL的垂直距離呈比例地增加。

這樣構成的鍵操作檢測裝置13構成為，根據與到鍵4的轉動軸3a的垂直距離呈比例地增加的頂部15的按壓量，而拱起部14和頂部15的形狀變大。即，拱起部14和頂部15的形狀與到基準交線SL(轉動軸3a)的垂直距離呈比例地變大，因而即使鍵盤裝置1的鍵4的操作引起的頂部8的按壓量與到轉動軸3a的垂直距離呈比例地增加，拱起部14的變形量的比例也在整周進一步接近均勻。因此，在與轉動軸3a相近側和相遠側，拱起部14在產生壓曲現象期間難以產生偏差，壓曲量的比例近似。因此，在鍵操作檢測裝置13中，由于遍及拱起部14整周的均勻的變形而難以產生施加于可動側觸點9a的按壓力的剪切方向的分力。由此，鍵操作檢測裝置13能夠抑制由于在固定側接觸面10a和可動側觸點9a之間滑動或浮動引起的顫動的產生，并且穩定地維持觸點的接觸狀態。

＜第四實施方式＞

接著，利用圖8，對本發明的操作元件操作檢測裝置的第四實施方式即鍵操作檢測裝置16進行說明。

需要說明的是，本實施方式的鍵操作檢測裝置16在俯視觀察(俯視觀察基部6的另一側)時，與第一實施方式的形狀、第二實施方式或第三實施方式的形狀相同；在側視觀察時，如圖8所示，產生相對于操作元件即鍵4的操作的反作用力，并且傳遞相對于鍵4的操作的信號；具備：由硅橡膠等彈性部件構成的基部6、頂部8、內側拱起部9、拱起部17、及由絕緣體基材構成的基板10。

拱起部17形成為從基部6的另一側平面朝向鍵盤裝置1的鍵4的方向鼓出的中空的拱狀。具體地，在拱起部17中，側壁17a中的與基準交線SL相反的一側的側壁17a、即長度方向側的側壁17a中遠離鍵4的轉動軸3a(參照圖1)的一個側壁，以成為以基準交線SL為圓弧中心的半徑R的圓弧狀的方式從基部6突出。需要說明的是，在本實施方式中，鍵操作檢測裝置16不限于如下結構，即與基準交線SL相反的一側的側壁17a呈以基準交線SL為中心的圓弧狀突出的結構，也可以是基準交線SL側的側壁17a也呈以基準交線SL為中心的圓弧狀突出的結構。

這樣構成的鍵操作檢測裝置16構成為，拱起部17的長度方向側的側面與鍵4的轉動軌跡類似。即，鍵操作檢測裝置16構成為，即使頂部8追隨鍵4的操作而被按壓，頂部8和側壁17a鍵的距離也不會增加。因此，鍵操作檢測裝置16的拱起部17在整周以均勻的比例變形，由此難以產生施加于可動側觸點9a的按壓力的剪切方向的分力。由此，鍵操作檢測裝置16能夠抑制由于在固定側接觸面10a和可動側觸點9a之間滑動或浮動引起的顫動的產生，并且穩定地維持觸點的接觸狀態。

＜其他實施方式＞

需要說明的是，雖然對本發明的鍵操作檢測裝置5、11、13、16適用于電子鍵盤樂器的鍵盤裝置的實施方式進行了說明，但不限于此，只要是具備被操作的操作元件的裝置即可。另外，作為從第一實施方式至第四實施方式的鍵操作檢測裝置5、11、13、16的其他實施方式，也可以構成為基準交線SL與鍵4的轉動軸3a的軸心相一致。

例如，如圖9所示，在第一實施方式的鍵操作檢測裝置5中，通過構成為基準交線SL與鍵4的轉動軸3a的軸線一致，而頂部7的側壁7a的突出高度相對于鍵4的操作引起的頂部8的按壓量的比例在整個拱起部7上均勻。即，拱起部7的由鍵4的操作引起的變形的比例在整體上均勻。因此，同基準交線SL與鍵4的轉動軸3a的軸線不一致的情況相比，拱起部7中的變形量或變形方式更接近均勻。進一步地，基部6的厚度相對于鍵4的操作引起的頂部8的按壓量的比例在整體上均勻。因此，在內側拱起部9中，鍵4的操作引起的可動側觸點9a相對于可動側觸點9a到固定側接觸面10a的距離的移動比例均勻。即，同基準交線SL與鍵4的轉動軸3a的軸線不一致的情況相比，可動側觸點9a與固定側接觸面10a接觸的方式更接近均勻。由此，鍵操作檢測裝置5能夠抑制由于在可動側觸點9a和固定側接觸面10a之間滑動或浮動引起的顫動的產生，并且穩定地維持觸點的接觸狀態。

另外，本發明的鍵操作檢測裝置5、11、13、16設為，基部6的一側平面包含在觸點側平面CP內，基部6的另一側平面包含在基端側平面BP內，但不限于此。在觸點側平面CP和基端側平面BP間的間隔超過基部6厚度的允許范圍的情況下，作為鍵操作檢測裝置5、11、13、16的變形例，也可以僅使基部6的交線BL的周圍部分包含在基端側平面BP內，將其他的部分設為適當的厚度。

具體地，在觸點側平面CP和基端側平面BP間的間隔比基部6的厚度的下限值(例如，若更薄則基部容易撕裂或強度不能保證這樣的最薄值)小的情況下，如圖10(a)所示，鍵操作檢測裝置5構成為，通過以只有交線BL的周圍部分包含在基端側平面BP內的方式形成凹部6a，將其他的部分形成為適當的厚度，從而使基部6的厚度在整體上處于適當的范圍內。另外，如圖10(b)所示，在觸點側平面CP和基端側平面BP間的間隔比基部6厚度的上限值(例如，若更厚則由于其與其他部件的平衡而無法在空間上收納這樣的最厚值)大的情況下，鍵操作檢測裝置5可以構成為，通過以只有交線BL的周圍部分包含在基端側平面BP內的方式形成凸部6b，將其他的部分形成為適當的厚度，從而使基部6的厚度在整體上處于適當的范圍內。另外，如圖10(c)所示，在鍵操作檢測裝置5中，若將基準交線SL設定在鍵操作檢測裝置5附近，則有可能觸點側平面CP和基端側平面BP間的間隔在基準交線SL側的基部6小于基部6厚度的下限值，在與基準交線SL相反的一側的基部6大于基部6厚度的上限值。在該情況下，鍵操作檢測裝置5可以構成為，通過以只有小于該厚度下限值的部分的交線BL的周圍部分包含在基端側平面BP內的方式形成凹部6a，以只有大于該厚度上限值的部分的交線BL的周圍部分包含在基端側平面BP內的方式形成凸部6b，從而使基部6的厚度在整體上處于適當的范圍內。

另外，在鍵操作檢測裝置5中，俯視觀察基部6的另一側時的拱起部7的形狀為長圓狀，但不限于此。例如，在鍵操作檢測裝置5中，也可以將基部6構成為俯視觀察另一側時呈圓形狀或橢圓狀。另外，在鍵操作檢測裝置5中，不僅是拱起部7的形狀，也可以通過對拱起部7的側壁7a、曲面7b及拱起頂7c的厚度進行調整，而調整拱起部7的變形方式。由此，鍵操作檢測裝置5能夠抑制由于在固定側接觸面10a和可動側觸點9a之間滑動或浮動引起的顫動的產生，并且穩定地維持觸點的接觸狀態。

需要說明的是，在各實施方式中，鍵操作檢測裝置5、11、13、16的頂部8、15不限于實心，也可以從拱起部7、14、17的拱起頂7c、14c、17c的周緣呈筒狀地突出。

雖然示出了從第一實施方式至第四實施方式的鍵操作檢測裝置5、11、13、16的頂部8、15的接觸面和鍵4始終相接的例子，但也可以使鍵4從操作行程的中途開始相接。或者也可以形成為，即使鍵4處于未被操作的狀態下，也使拱起部7稍稍變形。

在各實施方式中，作為操作元件(鍵4)的轉動支點示出了軸狀的例子，但也可以適用于如下類型的操作元件，即通過在操作元件的轉動端側設置薄板狀的鉸鏈部，并且該鉸鏈部撓曲，從而轉動自如地支承操作元件。此時鉸鏈部相當于轉動支點。

作為將鍵操作檢測裝置5、11、13、16的基部6固定于基板10的方法，示出了在基部6的一側面形成固定用突出部來固定于基板10的例子，但也可以是在基部10設置固定用突出部并插入形成于基部6的孔來進行固定的方法、通過粘接固定于基板10的方法，或者使用其他的方法，只要能夠固定于基板10即可。

附圖標記說明

3a：轉動軸；4：鍵；5：鍵操作檢測裝置；6：基部；7：拱起部；8：頂部；9：內側拱起部；10：基板；10a：固定側接觸面；CP：觸點側平面；BP：基端側平面；TP：前端側平面。