8A相似，相關說明可參考圖6B與圖8A的介紹并于此不再贅述。于此實施例中，芯片81B可包含耦接至外部組件電路82之一基頻信號處理電路84、內存裝置85與分析器86。
[0097]圖8C顯示根據本發明的又另一實施例所述的一已校正裝置范例方塊圖。圖8C中的大部分組件與圖6C與圖8A相似，相關說明可參考圖6C圖與圖8A的介紹并于此不再贅述。于此實施例中，芯片81C可包括耦接至外部組件電路82的一基頻信號處理電路84、內存裝置85與可同時分析測試數據的多個分析器86-1、86-2…86-n，其中η為一正整數。
[0098]如上述，只要已校正裝置內所包含的組件已事先完成校正，已校正裝置可以是與待測物相同種類的裝置或產品，或者可以是與待測物類似但具有一些不同的功能的裝置或產品。根據本發明的一實施例，已校正裝置可被實施為一已校正的行動裝置、一已校正的存取點、或者一已校正的測試板等。以下將介紹為上述的測試/校正系統產生一已校正裝置的范例。
[0099]圖9顯示根據本發明的一實施例所述的用以校正一電子裝置以產生一已校正裝置的一校正系統范例。校正系統900可包括一信號產生器950、一未校正裝置960以及一計算裝置970。信號產生器950可產生參考信號，并且將參考信號傳送至未校正裝置960，以進行校正。未校正裝置960可為尚未被校正的電子裝置或可攜式電子裝置，例如一移動電話/平板、一存取點、一測試板(例如，一 FPGA、一 PCI開發卡、網絡卡)等。計算裝置970可為一個人計算機、一膝上型計算機、一平板計算機等。計算裝置970可傳送控制信號至信號產生器950，用以控制校正程序。未校正裝置960可處理接收到的參考信號，以取得原始數據，或者可進一步分析原始資料以取得分析結果。未校正裝置960可將原始數據/分析結果傳送至計算裝置970。接收到原始數據/分析結果后，計算裝置970可進一步分析原始數據以及/或使用分析結果決定目前進行校正程序的一特定組件的校正值，并產生包含此特定組件的校正值相關信息的一回饋控制信號給未校正裝置960。未校正裝置960接著可根據校正值調整一對應的參數，以完成此特定組件的校正程序。值得注意的是，當未校正裝置960內必須被校正的一或多個組件(例如，圖中所示的外部組件電路以及/或芯片)完成校正程序后，未校正裝置960便可成為上述的一已校正裝置。此外，值得注意的是，于本發明實施例中，已校正裝置是已被校正至具有可執行產品測試的足夠精準的水平的裝置。
[0100]舉例而言，當校正未校正裝置960的傳送功率時，計算裝置970可分析自未校正裝置960接收到的原始數據，以決定需調整的功率差值，并且產生包含此功率差值相關信息的一回饋控制信號給未校正裝置960。未校正裝置960接著可根據功率差值調整與傳送功率相關組件的參數，以完成此傳送功率的校正程序。
[0101]如上述，傳統的方法中，需要一個專屬的測試儀器來測試一個實施專屬規格或技術的電子產品，例如，行動通訊技術、GPS技術、WiFi技術等。由于專屬的測試儀器通常會被過度設計，因此十分昂貴。特別是，當電子產品可支持多種不同規格或技術時，測試成本將因為需要多臺不同的測試儀器(每臺測試儀器各支持其中一種規格或技術)而巨幅增加。
[0102]然而，于本發明所提出的測試/校正系統中，使用一種低成本的已校正裝置取代昂貴的測試儀器。已校正裝置可以是低成本的裝置，由于它僅需事先被良好地校正過，而不需要被過度設計。于本發明的一些實施例中，已校正裝置可以是與待測物相同種類的裝置或產品。于本發明的一些實施例中，已校正裝置可以是與待測物類似但具有一些不同的功能的裝置或產品。
[0103]此外，如同待測物，已校正裝置亦可被實施為支持多種規格或技術。如此一來，僅需要一個已校正裝置，即可測試多種規格或技術，并且與傳統方式相比，可大幅降低測試成本。此外，已校正裝置以及/或待測物也可包括一或多個分析器，用以分析測試資料。此夕卜，校正裝置以及/或待測物也可產生控制信號，用以起始并控制測試流程。于本發明的實施例中，由于可避免頻繁的通訊，例如于計算裝置與已校正裝置、于計算裝置與待測物、或于已校正裝置與待測物之間的控制信號傳送等，執行產品測試所需的時間也可被大幅縮短。此外，當已校正裝置以及/或待測物包含多個分析器時，分析器可平行運作，以同時分析不同測試項目的測試數據。如此一來，測試速度可被大幅提升，并且執行產品測試所需的時間也可被大幅縮短。此外，相較于使用昂貴的測試儀器，使用已校正裝置的維護與更新也相對簡單且低成本，因其僅需要使用另一個支持新規格的已校正裝置取代原先的校正裝置即可。此外，對于已校正裝置執行自測試也比昂貴儀器執行自測試來的簡單。
[0104]雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發明，任何熟悉此項技藝者，在不脫離本發明之精神和范圍內，當可做些許更動與潤飾，因此本發明的保護范圍當視所附的申請專利范圍所界定者為準。
【主權項】
1.一種已校正裝置，因應一測試項目傳送或接收一測試信號至或自一待測物，用以測試、測量或校正該待測物的一內部組件的運作或效能，包括: 一芯片，包括: 一模擬信號處理電路與一基頻信號處理電路的至少一者；以及 一內存裝置，耦接至該模擬信號處理電路與該基頻信號處理電路的至少一者；以及 至少一外部組件，配置于該芯片外部，處理該接收到的測試信號并且傳送該處理過的信號至該芯片以作為產生測試結果之用，或自該芯片接收一信號并且處理該信號以產生即將被傳送至該待測物的該測試信號， 其中該外部組件以及/或該芯片已被校正過。2.如權利要求1所述的已校正裝置，更包括: 一分析器，分析測試數據以取得該測試項目的測試結果，其中該測試數據取得自該外部組件、該模擬信號處理電路或該基頻信號處理電路。3.如權利要求1所述的已校正裝置，更包括: 多個分析器，可同時分析測試數據， 其中該測試數據取得自該外部組件、該模擬信號處理電路或該基頻信號處理電路。4.如權利要求1所述的已校正裝置，更包括: 多個分析器，各分析器分析一測試項目的測試數據以取得該測試項目的一測試結果， 其中該等分析器可同時分析不同測試項目的該測試數據，并且其中該測試數據取得自該外部組件、該模擬信號處理電路或該基頻信號處理電路。5.如權利要求1所述的已校正裝置，被實施為一已校正的行動裝置、一已校正的存取點、或者一已校正的測試板。6.一種系統，包括: 一待測物；以及 一已校正裝置，耦接至該待測物，因應一測試項目的一控制信號傳送或接收一測試信號至或自該待測物，以測試、測量或校正該待測物的一內部組件的運作或效能。7.如權利要求6所述的系統，更包括: 一計算裝置，耦接至該待測物以及該已校正裝置，并且傳送該控制信號以控制該測試項目的一測試流程。8.如權利要求6所述的系統，其中該控制信號由該已校正裝置產生，以控制該測試項目的一測試流程。9.如權利要求6所述的系統，其中該控制信號由該待測物產生，以控制該測試項目的一測試流程。10.如權利要求7所述的系統，其中該已校正裝置更處理該接收到的測試信號，以取得該測試項目的測試數據，并且該計算裝置更自該已校正裝置接收該測試數據，并且分析該測試數據，以取得該測試項目的一測試結果。11.如權利要求6所述的系統，其中該已校正裝置更處理該接收到的測試信號，以取得該測試項目的測試數據，并且分析該測試資料，以取得該測試項目的一測試結果。12.如權利要求7所述的系統，其中該待測物更處理該接收到的測試信號，以取得該測試項目的測試數據，并且該計算裝置更自該待測物接收該測試數據，并且分析該測試資料，以取得該測試項目的一測試結果。13.如權利要求6所述的系統，其中該待測物更處理該接收到的測試信號，以取得該測試項目的測試數據，并且分析該測試資料，以取得該測試項目的一測試結果。14.如權利要求6所述的系統，其中該已校正裝置包括: 一芯片，包括: 一模擬信號處理電路以及一基頻信號處理電路的至少一者；以及 一內存裝置，耦接至該模擬信號處理電路與該基頻信號處理電路的至少一者；以及 至少一外部組件，配置于該芯片外部，處理該接收到的測試信號并且傳送該處理過的信號至該芯片以作為產生測試結果之用，或自該芯片接收一信號并且處理該信號以產生即將被傳送至該待測物的該測試信號， 其中該外部組件以及/或該芯片已被校正過。15.如專利要求14所述的系統，其中該已校正裝置更包括:一分析器，分析測試數據以取得該測試項目的該測試結果。16.如專利要求14所述的系統，其中該已校正裝置更包括:多個分析器，可同時分析測試數據。17.如專利要求14所述的系統，其中該已校正裝置更包括:多個分析器，各分析器分析一測試項目的測試數據以取得該測試項目的該測試結果， 其中該多個分析器可同時分析不同測試項目的該測試數據。18.如權利要求6所述的系統，其中該已校正裝置被實施為一已校正的行動裝置、一已校正的存取點、或者一已校正的測試板。
【專利摘要】一種系統，包括一待測物以及一已校正裝置。已校正裝置，耦接至待測物，因應一測試項目的一控制信號傳送或接收一測試信號至或自待測物，以測試、測量或校正待測物的一內部組件的運作或效能。
【IPC分類】G01R31/00
【公開號】CN105652109
【申請號】
【發明人】劉人仰, 蔡易成, 邱學偉, 鐘元暉, 彭俊賢
【申請人】聯發科技股份有限公司
【公開日】2016年6月8日
【申請日】2015年12月1日