個或多個過程諧波。
[0027] 輪胎諧波具有配合輪胎圓周內的整數次數的周期。典型的輪胎諧波可以歸因于胎 面接頭寬度、成型鼓的失圓度、壓力效應和其它效應。過程諧波具有不配合輪胎圓周內的整 數次數的周期。典型的過程諧波可以例如在半成品（例如，胎面帶）的制備過程中由歸因于 擠出機控制系統的厚度變化或由可以使較軟產品的形狀變形的輥導致。
[0028] 過程諧波可以在各種參數方面來表達或識別，所述參數包含但不限于關于輪胎的 尺寸(例如，輪胎圓周、半徑、直徑、在輪胎周圍的數據點的離散數目或類似者）引入的速率 (例如，頻率或周期）。引入的速率還可以表達為諧波數目（例如，1.25、0.8等）。當考慮總數 為P的候選過程效應時，每一過程效應的引入速率可以在其相應諧波數目h P方面界定。
[0029] 可以例如通過將均勻性測量值模型化為一個或多個輪胎諧波項與一個或多個過 程諧波項的總和而從均勻性測量值識別例如過程諧波等諧波分量。可以使用統計分析(例 如，回歸分析或編程分析)來估計與輪胎諧波項和過程諧波項相關聯的系數。可以基于估計 系數確定過程諧波和輪胎諧波的特性。
[0030] 因為過程諧波的周期并不與輪胎圓周一致，所以過程諧波的峰的方位角位置在輪 胎間移位。舉例來說，圖1描繪表示跨越五個不同輪胎體現的過程諧波100的實例均勻性波 形。如圖所示，過程諧波100的峰位于五個輪胎中的每一個的不同方位角位置處。在某些情 況下，過程諧波的峰在均勻取樣模式中可位于等間隔數據點之間。
[0031] 為了更自然地對例如過程諧波等諧波分量進行取樣，本發明的各方面是針對分析 已經使用非均勻取樣模式測得的均勻性測量值。非均勻取樣模式可指定用于以不規則或非 均勻方式獲取均勻性測量值的多個數據點。舉例來說，非均勻取樣模式可指定取樣模式中 的數據點之間的不等間距。如果預期多轉，那么非均勻取樣模式可指定輪胎的每一轉的數 據點的不同模式和/或可指定用于每一轉的均勻性測量值的獲取的不同目標圓周。這可以 確保針對輪胎的每一轉對不同數據點進行取樣。以不規則或非均勻方式指定均勻性測量值 的獲取可導致數據點更可能在過程諧波的峰的實際位置處發生，從而得到過程諧波的較準 確估計。當存在全部同時有效的多個競爭輪胎諧波時這也提供優點。
[0032 ]本發明的特定實例實施方案可針對識別為了估計特定諧波分量(例如特定過程諧 波)而定制的非均勻取樣模式。舉例來說，由非均勻取樣模式指定的數據點的間距可確定為 最佳估計已知或疑似的過程諧波。可以使用例如匹配模式技術或統計搜索技術（例如， lasso搜索技術)等各種分析技術來識別用于特定過程諧波的非均勻取樣模式。在這些實例 實施方案中，非均勻取樣模式可允許當與指定圍繞輪胎的等間隔數據點的取樣模式相比時 在更少的數據點處獲取均勻性測量值。
[0033] 用于改進輪胎的均勻性的實例方法
[0034] 圖2描繪根據本發明的實例實施例的用于改進輪胎的均勻性的實例方法(200)的 流程圖。出于說明和討論的目的，圖2描繪以特定順序進行的步驟。使用本文中提供的公開 內容，所屬領域的一般技術人員將理解，本文中所公開的方法中的任一個的各步驟可以各 種方式省略、調適、擴展和/或重新布置。另外，將參考從使用非均勻取樣模式獲取的均勻性 測量值識別過程諧波來論述圖2。在不脫離本發明的范圍的情況下可以使用本文所揭示的 方法識別其它諧波分量，例如輪胎諧波分量。
[0035] 在(202)處，所述方法包含識別至少一個候選過程諧波。可以指定單個過程諧波或 多個過程諧波作為用于分析的候選過程諧波。可以在各種參數方面來表達或識別所述至少 一個候選過程諧波，所述參數包含但不限于關于輪胎的尺寸引入的頻率或周期。舉例來說， 候選過程諧波可以表達為諧波數目（例如，0.75、1.25等）。
[0036] 所述候選過程諧波可以是基于制造過程的某些已知特征識別的已知過程效應，或 所述候選過程諧波可以是未知的。舉例來說，如果物理過程源是已知的，那么從造過程的某 些方面和/或條件識別候選過程諧波可以是可能的。
[0037] 如果候選過程諧波是未知的，那么可以使用多種搜索技術識別候選過程諧波。一 個實例搜索技術可以涉及在候選過程效應的范圍上以階梯式遞增指定一系列候選過程諧 波(例如，0.2、0.3、0.4-1.5等）。回歸/編程分析可以通過求解與所述范圍中的每一遞增候 選過程諧波相關聯的系數來識別候選過程諧波的范圍內的過程諧波。可以確定與非可忽略 系數相關聯的過程諧波以有助于輪胎的總體均勻性。
[0038] 在不偏離本發明的范圍的情況下，其它合適的技術可以用于識別候選過程諧波。 舉例來說，貝葉斯頻譜分析技術可以應用于所測量均勻性波形以確定選定數目的候選過程 諧波的諧波數目。此類實例識別技術公開于第2013/0098148號美國專利申請公開案中，所 述公開案在使其教示符合本發明的程度上以引用的方式并入本文中。
[0039] 在(204)處，所述方法可包含識別用于獲取輪胎的一轉或多轉的均勻性測量值的 非均勻取樣模式。識別非均勻取樣模式可包含例如根據本文所揭示的實例技術確定特定取 樣模式，或可包含存取例如存儲在存儲器中的先前確定的非均勻取樣模式。非均勻取樣模 式可指定以非均勻或不規則方式獲取輪胎的一轉或多轉的均勻性測量值。現將闡述可以根 據本發明的各方面分析的實例非均勻取樣模式。
[0040] 在一個實例實施例中，非均勻取樣模式可指定用于獲取均勻性測量值的數據點之 間的不等或不規則間距。舉例來說，取樣模式可指定在處于不等間距的128個數據點處獲取 均勻性測量值。在特定實施方案中，非均勻取樣模式可指定數據點之間的隨機間距。舉例來 說，如果將s界定為輪胎圓周/SN數據點的相等間距，那么取樣模式可指定輪胎的每一扇區 的數據點1.0 s、2. Os、3.5s、3.75s、4. Os、4.25s、8.0…數據點之間的間距可共同地針對一組 輪胎隨機化，或者可針對每一個別輪胎隨機化。當使用搜索技術搜索候選過程諧波時數據 點的隨機間距可為合適的。
[0041] 圖3描繪根據本發明的一個實例實施例的指定數據點之間的不等間距的非均勻取 樣模式300的表示。圖3繪制隨圍繞輪胎的方位角位置(Θ)而變的數據點。如圖所示，非均勻 取樣模式300包括多個數據點302。數據點302之間的間距是不等的。
[0042] 在另一實例實施例中，非均勻取樣模式可預期獲取輪胎的多轉的均勻性測量值。 舉例來說，非均勻取樣模式可指定用于輪胎的每一轉的不同取樣模式。此非均勻取樣模式 可允許針對輪胎的每一轉在不同數據點處獲取均勻性測量值，從而增加均勻性參數的取樣 的分辨率。
[0043]圖4描繪根據本發明的一個實例實施例的指定用于輪胎的每一轉的不同取樣模式 的非均勻取樣模式310的表示。圖4繪制隨圍繞輪胎的方位角位置(Θ)而變的數據點。如圖所 示，非均勻取樣模式310可包含用于輪胎的第一轉的數據點的第一模式312。所述非均勻取 樣模式可包含用于輪胎的第一轉的數據點的第二模式314。數據點的第一模式312不同于數 據點的第二模式314。圖4中所描繪的模式312和314中的數據點之間的間距是不等的。然而， 在不脫離本發明的范圍的情況下，個別模式312和314中的每一者中的數據點之間的間距可 為相等的。
[0044]在又另一實例實施例中，非均勻取樣模式可指定用于獲取輪胎的每一轉的數據點 的不同目標圓周。舉例來說，非均勻取樣模式可指定用于在第一轉期間獲取均勻性測量值 的第一目標圓周和用于在第二轉期間獲取均勻性測量值的第二目標圓周。第一目標圓周可 不同于第二目標圓周(例如，第一和第二目標圓周可具有不同的開始點和/或不同的點對點 間距）。目標圓周中的每一者可不等于真實輪胎圓周。此非均勻取樣模式也可允許針對輪胎 的每一轉在不同數據點處獲取均勻性測量值，從而增加均勻性參數的取樣的分辨率。在特 定方面，可基于候選過程諧波的周期選擇目標圓周以使得對過程諧波更準確地進行取樣。 [0045]圖5描繪指定用于獲取輪胎的每一轉的數據點的不同目標圓周的非均勻取樣模式 320的表示。非均勻取樣模式320指定用于輪胎的四個不同轉的四個不同目標圓周322。在不 脫離本發明的范圍的情況下可以指定更多或