部分以及胎面部分以形成輪胎 峰塊、將綠色輪胎定位在硫化機中，以及硫化成品綠色輪胎等。此類相應的過程元件表示為 圖8中的602a，602b，……，602η并且組合以形成實例輪胎600。應了解，可以通過各種過程 602a到602η的一次迭代構造一批多個輪胎。
[0071]仍參考圖8,提供測量機器604以獲得輪胎600的均勻性測量值。均勻性測量機器 604可以經配置以測量輪胎600的徑向偏心和其它均勻性參數(例如，徑向力變化、橫向力變 化、切向力變化）。一般來說，此均勻性測量機器604可包含傳感器(例如，激光傳感器）以通 過相對于輪胎600的接觸、非接觸或近接觸定位而操作，以便在輪胎圍繞中心線旋轉時根據 非均勻取樣模式確定輪胎表面在多個數據點處的相對位置。均勻性測量機器604還可以包 含用于裝載輪胎以在輪胎600旋轉時獲得力測量值的行走輪。根據本發明的方面，均勻性測 量機器604可經配置以改變施加于輪胎600的轉速和/或負載以根據非均勻取樣模式獲得均 勻性測量值。
[0072]盡管出于說明的簡單和清楚目的，圖8中僅展示一個計算機和處理器，但可將由測 量機器604獲得的測量值中繼，使得其在一個或多個可分別含有一個或多個處理器608的計 算裝置606處被接收。處理器608可以經配置以接收來自輸入裝置614的輸入數據或存儲在 存儲器612中的數據。處理器608隨后可以根據所公開的方法分析這類測量結果，并且通過 輸出裝置616向用戶提供可使用的輸出（如數據)或者向過程控制器618提供信號。均勻性分 析可以替代地通過一個或多個服務器610或在多個計算以及處理裝置上實施。
[0073]可提供各種存儲器/媒體元件612a、612b、612c(總稱為"612"）作為一個或多個種 類的非暫時性計算機可讀媒體的單個或多個部分，包括(但不限于)RAM、R0M、硬盤驅動器、 閃存驅動器、光學媒體、磁性媒體或其它存儲器裝置。圖8的計算/處理裝置可以適合于充當 專用機器，所述專用機器通過存取存儲在存儲器/媒體元件中的一個或多個中的以計算機 可讀形式呈現的軟件指令來提供所需功能性。當使用軟件時，任何適合的編程、腳本或其它 類型的語言或語言的組合可以用于實施本文中包含的教示。
[0074] 在一個實施方案中，處理器608可以執行存儲于存儲器元件612a、612b和612c中的 計算機可讀指令以使得處理器執行操作。所述操作可包含從根據非均勻取樣模式獲取的均 勻性測量值估計一個或多個諧波分量。
[0075] 工業結果
[0076]針對一組98個輪胎獲得徑向力變化的均勻性測量值。在兩個連續輪胎轉中每輪胎 轉針對4096個等間隔數據點獲得均勻性測量值。評估均勻性測量值以研究非均勻取樣模式 在估計輪胎和過程諧波上的表現。研究四個不同方法，包含：（1)數據點之間的規則間距； (2)數據點之間的隨機間距；（3)使用匹配技術識別的數據點；以及(4)使用LASSO搜索技術 識別的經優化非均勻取樣模式。
[0077]規則間距方法表示每旋轉以128個均勻間隔的數據點對輪胎的取樣。隨機間距方 法從可用的4096個點隨機選擇128個點的單個集合且將此應用于每個輪胎。匹配方法識別 形成余弦空間中的規則間距的21個點。LASSO搜索方法識別最佳控制估計中的偏差和方差 的數據點的稀疏集合。
[0078] 在每一方法的評估中，獲得與0.752的諧波數目相關聯的第一輪胎諧波和過程諧 波的估計系數的標準差。全部方法都減少存儲每一輪胎的均勻性測量值所必要的存儲器的 量。
[0079] 下表1中提供由不同方法產生的方差的概述：
[0080] 衷 1
[0082] 如所展示，使用非均勻取樣計劃的方法可提供輪胎諧波和過程諧波兩者的估計中 減少的方差。此減少的方差由于以下事實可帶來較大的均勻性產量:較少輪胎將具有超過 分揀限制的均勻性值(例如，徑向力變化的第一諧波）。確切產量將取決于特定生產批次和 分揀限制，但應用于此實例的典型值集合在以下表2中展示產量改進：
[0083] 表 2
[0085]盡管已關于本發明的具體示例性實施例和其方法詳細地描述本發明，但是應了 解，在獲得對前述內容的理解之后所屬領域的技術人員可以容易地產生對此類實施例的改 變、變體及等效物。因此，本發明的范圍是作為舉例而非作為限制，并且本發明并不排除包 含所屬領域的技術人員使用本文所揭示的教示將容易明白的對本發明的此類修改、變化 和/或添加。
【主權項】
1. 一種改進輪胎的均勻性的方法，其包括： 識別用于測量一個或多個輪胎的均勻性參數的非均勻取樣模式，所述非均勻取樣模式 具有多個數據點； 獲得所述一個或多個輪胎的多個均勻性測量值，所述多個均勻性測量值是根據所述非 均勻取樣模式而獲取； 使用所述多個均勻性測量值估計所述均勻性參數的諧波分量；以及 至少部分地基于所述諧波分量修改輪胎的制造。2. 根據權利要求1所述的方法，其中所述非均勻取樣模式指定所述多個數據點之間的 不等間距。3. 根據權利要求2所述的方法，其中所述非均勻取樣模式指定所述數據點之間的隨機 間距。4. 根據權利要求2所述的方法，其中所述多個均勻性測量值是根據所述取樣模式使用 輪胎的變化轉速而獲取。5. 根據權利要求1所述的方法，其中所述均勻性測量值是針對所述一個或多個輪胎的 多轉而獲得，所述多轉包括第一轉和第二轉。6. 根據權利要求5所述的方法，其中所述非均勻取樣模式指定所述第一轉的數據點的 第一模式以及所述第二轉的數據點的第二模式，所述數據點的第一模式具有不同于所述數 據點的第二模式的在數據點之間的間距。7. 根據權利要求5所述的方法，其中所述非均勻取樣模式指定所述第一轉的第一目標 圓周和所述第二轉的第二目標圓周，所述第一目標圓周不同于所述第二目標圓周。8. 根據權利要求1所述的方法，其中所述諧波分量包括過程諧波。9. 根據權利要求8所述的方法，其中至少部分地基于候選過程諧波識別所述非均勻取 樣模式。10. 根據權利要求9所述的方法，其中至少部分地基于所述候選過程諧波通過識別在所 述候選過程諧波的量值中提供相等間距的數據點而識別所述非均勻取樣模式。11. 根據權利要求10所述的方法，其中識別在所述候選過程諧波的量值中提供相等間 距的數據點包括識別在與所述候選過程諧波相關聯的余弦空間中等間隔隔開的數據點。12. 根據權利要求10所述的方法，其中針對所述候選過程諧波優化所述非均勻取樣模 式。13. 根據權利要求12所述的方法，其中識別所述非均勻取樣模式包括： 識別多個候選子集； 針對所述多個候選子集中的每一者確定估計所述候選過程諧波中的誤差；以及 至少部分地基于所述多個候選子集中的每一者的所述誤差識別所述非均勻取樣模式。14. 一種用于改進輪胎的均勻性的系統，所述系統包括： 均勻性測量機器，其經配置以根據用于輪胎的一轉或多轉的非均勻取樣模式獲得所述 輪胎的均勻性測量值，所述非均勻取樣模式具有多個數據點；以及 一個或多個計算裝置，其耦合到所述測量機器，所述一個或多個計算裝置包括一個或 多個處理器和至少一個存儲器，所述至少一個存儲器存儲計算機可讀指令，所述計算機可 讀指令當由所述一個或多個處理器執行時致使所述一個或多個處理器執行操作，所述操作 包括使用所述多個均勻性測量值估計所述均勻性參數的諧波分量； 其中所述非均勻取樣模式指定所述多個數據點之間的不等間距。
【專利摘要】本發明提供用于通過識別例如過程諧波等均勻性屬性來改進輪胎均勻性的方法和系統。更確切地說，可以獲得且分析根據非均勻取樣模式獲取的均勻性測量值以估計一個或多個過程諧波(例如，過程諧波的量值)。所述非均勻取樣模式可指定圍繞輪胎的一轉或多轉以變化或不規則方式獲取均勻性測量值。舉例來說，所述非均勻取樣模式可指定數據點之間的隨機間距。從所述均勻性測量值估計的均勻性屬性可用以修改輪胎的制造以改進輪胎均勻性。
【IPC分類】B29D30/06
【公開號】CN105682909
【申請號】
【發明人】W·D·馬夫布伊, R·孔茲
【申請人】米其林集團總公司, 米其林研究和技術股份有限公司
【公開日】2016年6月15日
【申請日】2013年11月8日