基二 醇、環己燒二甲醇、新戊二醇、雙酪S(bisphenol sulfone)的環氧乙燒加成產物、雙酪A的環 氧乙燒加成產物、二甘醇、聚氧化乙締二醇等二醇，其中可優選使用主成分W外的成分。運 些共聚成分可W使用1種或巧巾W上。
[00%]運些共聚成分可W作為單體成分配合、共聚，還可W通過與其它聚醋的醋交換反 應共聚。
[0029] 本發明的聚對苯二甲酸乙二醇醋或聚糞二甲酸乙二醇醋在不損害本發明的目的 的范圍內可W是至少巧巾聚醋的滲混物，或與聚醋W外的熱塑性樹脂的滲混物。運些其它成 分可聚醋膜的重量為基準、在20重量％^下的范圍內使用，更優選為15重量％^下，進一 步優選10重量％^下。聚醋W外的熱塑性樹脂例如可例舉:聚締控類樹脂、聚苯乙締類樹脂、 聚酷亞胺類樹脂等。
[0030] 作為運些聚醋的特性粘度，W鄰氯苯酪為溶劑、在25Γ下測定的特性粘度優選為 0.4dl/g W 上1.5dl/g W下，進一步優選為 0.5dl/g W 上1.2dl/g W下。
[0031] (阻燃成分） 本發明中，作為阻燃成分，W阻燃劑顆粒的形式使用下式（1)所示的次麟酸鹽或下式 (2)所示的雙次麟酸鹽。W下將它們總括稱為次麟酸鹽類。
[0032] [化5]
(式中，Ri、R2為氨、碳原子數1-6的烷基和/或芳基，Μ表示金屬，m表示Μ的價數）
[化6]
試中，R3、R4為氨、碳原子數1-6的烷基和/或芳基，R5為碳原子數1-6的亞烷基或碳原子 數6-10的亞芳基、烷基亞芳基或芳基亞烷基，Μ表示金屬，η表示Μ的價數）。
[0033] 所述次麟酸鹽是也被稱為次麟酸金屬鹽的化合物，Ri、R2可例舉氨、甲基、乙基、正 丙基、異丙基、正下基、叔下基、戊基、己基、苯基。Μ可例舉:侶、儀、巧，價數m為2-4的整數。具 體來說，可舉出：二甲基次麟酸巧、甲基乙基次麟酸巧、二乙基次麟酸巧、苯基次麟酸巧、聯 苯次麟酸巧、二甲基次麟酸儀、甲基乙基次麟酸儀、二乙基次麟酸儀、苯基次麟酸儀、聯苯次 麟酸儀、二甲基次麟酸侶、甲基乙基次麟酸侶、二乙基次麟酸侶、苯基次麟酸侶、聯苯次麟酸 侶。
[0034] 雙次麟酸鹽中，R3、R4可例舉:氨、甲基、乙基、正丙基、異丙基、正下基、叔下基、戊 基、己基、苯基，R5可例舉：亞甲基、亞乙基、亞丙基、亞下基、亞戊基、亞己基、亞苯基。Μ可例 舉:侶、儀、觀價數η為2-4的整數。
[0035] 式（2)所示的雙次麟酸鹽可舉出：乙燒-1,2-雙次麟酸巧等的鏈燒雙次麟酸巧，乙 燒-1，2-雙（甲基次麟酸)巧等的鏈燒雙(烷基次麟酸)巧，鏈燒雙次麟酸儀、鏈燒雙(烷基次 麟酸)儀、鏈燒雙次麟酸侶、鏈燒雙(烷基次麟酸)侶等。
[0036] 運些次麟酸鹽類中，特別優選二乙基次麟酸侶。
[0037] 本發明通過使用所述次麟酸鹽類作為阻燃成分，與W往的憐類阻燃劑相比，對聚 對苯二甲酸乙二醇醋或聚糞二甲酸乙二醇醋運樣的強度高的聚醋的物性降低的影響少，可 W添加大量的阻燃成分到迄今無法添加的程度。因此例如加工為與金屬層層合使用的用途 時，W往的話是金屬層合體的阻燃性與層合金屬層之前的阻燃性聚醋膜相比降低，與此相 對，本發明具有可獲得與阻燃性聚醋膜本身同樣的高阻燃性的特征。
[0038] 所述次麟酸鹽類的含量是W聚醋膜的重量為基準，為0.5重量％^上30重量％W下。 所述次麟酸鹽類的含量的下限值優選為1重量％，更優選4重量％，進一步優選8重量％，特別優 選10重量％。該次麟酸鹽類的含量的上限值優選為25重量％，更優選22重量％，進一步優選20 重量％，特別優選15重量％。次麟酸鹽類的含量若低于下限值，則阻燃性不充分，而次麟酸鹽 類的含量若超過上限值，則膜制膜性和機械強度降低。
[0039] 所述次麟酸鹽類具有顆粒形狀，本發明中稱為阻燃劑顆粒。本發明的阻燃劑顆粒 的平均粒徑為0.上3 .OymW下，該平均粒徑的下限優選為1. ομπι，進一步優選1.5μπι。該 阻燃劑顆粒的平均粒徑的上限優選為2.5μπι。平均粒徑若低于下限，則可能膜制膜時的操作 性降低，或膜中的分散性不充分。而若為超過上限的平均粒徑，則可能膜制膜時容易斷裂， 制膜性降低，或者即使可W制膜，膜的強度也降低。
[0040] 本發明的阻燃性雙軸取向聚醋膜中所含的最大長度lOymW上的粗大顆粒的個數 要求為10個/m2W下，進一步優選為5個/m2W下。認識到:所述阻燃劑顆粒的粒徑的分布非常 廣泛，運些粗大顆粒對于制膜性降低、膜強度降低有影響。即認識到:所述阻燃劑顆粒的粒 徑分布與聚醋膜中通用的顆粒的粒徑分布相比，分布范圍非常廣，因此，在添加阻燃劑顆粒 之前不進行前處理時，超過上述范圍數目的粗大顆粒存在于膜中，因此引起制膜性、膜強度 的降低。
[0041] 為了使粗大顆粒的個數為上述范圍，例如可在制膜工序之前進行將阻燃劑顆粒粉 碎、分級等加工，預先除去運些粗大顆粒，由此獲得高機械強度和優異外觀性的阻燃性雙軸 取向聚醋膜。
[0042] 運里，阻燃劑顆粒的平均粒徑如測定方法一欄所說明的，對于聚醋膜的截面，使用 HIR0X Co.，Ltd.(株式會社口ッ夕ス）數字顯微鏡KH-3000，W3500倍的倍率取樣20個 顆粒，測定各粒徑中的最大長度，從20點中除去最小值和最大值，由18點的平均值求出。
[0043] 粗大顆粒的最大長度可W使用萬能投影儀，通過透射照明放大至20倍來測定顆粒 的最大長度而求出。
[0044] (憐原子濃度） 本發明中的憐原子濃度是W聚醋膜的重量為基準，優選為0.1重量％^上7重量％w下。 所述憐原子濃度的下限值更優選為1.0重量％，進一步優選2.0重量％，特別優選2.5重量％。而 所述憐原子濃度的上限值更優選為6.0重量％，進一步優選5.0重量％。
[0045] 本發明中，通過對聚對苯二甲酸乙二醇醋或聚糞二甲酸乙二醇醋運樣的強度高的 聚醋使用本發明的由次麟酸鹽類形成的特定尺寸的阻燃劑顆粒，與W往的添加型憐類成分 或共聚型憐類成分相比，在無損聚醋的機械特性方面具有特征。
[0046] 另一方面，若將憐原子濃度提高至超過上限值，則所添加的次麟酸鹽類的量過多， 膜的機械強度和制膜性欠缺。在接近于憐原子濃度的下限值的范圍、即，在與W往的憐類成 分含量接近的范圍內，也具有如下特征:與其它憐類成分相比可表現高阻燃性，并在加工為 與金屬層層合使用的用途時也可W再現與阻燃性聚醋膜本身同樣高的阻燃性。即使在憐類 成分的含量少的范圍也可W表現所述效果的原因被認為是由于構成次麟酸鹽類的金屬成 分帶來的自由基捕獲效果。
[0047] (其它添加劑） 本發明的阻燃性雙軸取向聚醋膜中，為了提高膜的操作性，在不損害發明效果的范圍 內可W添加惰性顆粒等。所述惰性顆粒例如可舉出含有元素周期表中第ΠΑ、第IIB、第IVA、 第IVB族元素的無機顆粒(例如高嶺±、氧化侶、氧化鐵、碳酸巧、二氧化娃等），交聯有機娃 樹脂、交聯聚苯乙締、交聯丙締酸樹脂顆粒等由耐熱性高的聚合物形成的顆粒。
[0048] 在使膜中含有惰性顆粒時，惰性顆粒的平均粒徑優選0.001-5μπι的范圍，W聚醋膜 重量為基準，優選在0.01-10重量%的范圍含有，進一步優選為0.05-5重量％，特別優選0.05- 3重量％。
[0049] 本發明的阻燃性雙軸取向聚醋膜中可W進一步根據需要、在不損害本發明的目的 的范圍內配合熱穩定劑、抗氧化劑、紫外線吸收劑、脫模劑、著色劑、抗靜電劑等添加劑。
[0050] (膜厚度） 本發明的聚醋膜的厚度優選為上200ymW下。W往，若通過在聚醋膜中添加憐類 阻燃劑的方法使其阻燃化，則引起聚醋膜的機械特性、耐水解性降低，因此并不是將聚醋膜 本身用憐類阻燃劑阻燃化，而是采取將含有阻燃劑的其它層與聚醋膜層合的方法，與此相 對，本發明具有可對具有所述厚度的聚醋膜本身添加憐類阻燃劑的特征。
[0051] 聚醋膜的厚度可根據用途在上述范圍內調節。例如為扁平電纜用途時，更優選為 2-100μπι，進一步優選5-75μπι，特別優選10-50μπι。為柔性印刷電路基板用途時，更優選為2- 150皿，進一步優選5-100皿，特別優選10-75皿。
[0052] <聚醋膜的表面粗糖度〉 本發明的阻燃性雙軸取向聚醋膜的表面粗糖度Ra(中屯、線平均粗糖度)優選為O.lymW 上且低于2μπι。表面粗糖度Ra的上限更優選低于1.5μπι，進一步優選低于Ι.Ομπι，特別優選低 于0.5μηι。表面粗糖度Ra的下限可W是0.2μηι W上，可進一步為0.3μηι W上。更優選的表面粗 糖度Ra的范圍為0.1皿W上且低于1.5μηι，進一步優選0.1皿W上且低于1 .Ομηι，特別優選0.1 μL?Κ上且低于0.5皿。在本發明的阻燃成分的含量較多的區域可W是0.2皿W上且低于1.化 m、0.3皿W上且低于1.0皿、或0.3皿W上且低于0.5皿。
[0053] 本發明的阻燃性雙軸取向聚醋膜的R