鋁型材1-19與第一鋁型材1-19通過第一三角形連接架1-18固定連接，所述第一鋁型材1-19與第一上頂板1-1通過螺栓和螺母固定連接，所述第一鋁型材1-19與第一下底板1-17通過螺栓、螺母和第一三角形連接架1-18固定連接;如圖8所示，本實施例中，所述第二支柱由多根連接成框架結構的第二鋁型材2-20制成，所述第二鋁型材2-20與第二鋁型材2-20通過第二三角形連接架2-19固定連接，所述第二鋁型材2-20與第二上頂板2-7通過螺栓和螺母固定連接，所述第二鋁型材2-20與第二下底板2-21通過螺栓、螺母和第二三角形連接架2-19固定連接。
[0054]如圖3所示，本實施例中，所述第一吸附臺下蓋1-13-1與第一吸附臺上蓋1-13-2之間設置有第一密封墊1-13-4，所述第一吸附臺下蓋1-13-1、第一密封墊1-13-4和第一吸附臺上蓋1-13-2通過第一吸附臺連接螺栓1-13-5固定連接，所述第一吸附臺下蓋1-13-1的側面設置有第一螺紋孔1-13-6，所述第一真空管1-31通過第一氣動接頭1-33與第一螺紋孔1-13-6連接;所述第一吸附臺上蓋1-13-2的上表面上設置有多條第一水平向凹槽和多條第一豎直向凹槽，多條所述第一水平向凹槽和多條所述第一豎直向凹槽相互交叉形成了多個第一凸塊1-13-7，所述第一吸附孔1-13-3的數量為多個，多個第一吸附孔1-13-3分布在多個第一凸塊1-13-7上;所述第一吸附臺上蓋1-13-2上表面的形狀為矩形，所述第一吸附臺上蓋1-13-2上表面的四個腳上均刻有第一參考定位線1-13-8。通過設置第一密封墊1-13-4，能夠避免第一吸附臺下蓋1-13-1與第一吸附臺上蓋1-13-2之間的間隙漏氣，影響所述第一真空腔所需真空度的快速形成和保持;通過設置第一參考定位線1-13-8，方便了對大陣列電阻式應變片膜片14進行精確定位。
[0055]如圖9所示，本實施例中，所述第二吸附臺下蓋2-33-1與第二吸附臺上蓋2-33-2之間設置有第二密封墊2-33-4，所述第二吸附臺下蓋2-33-1、第二密封墊2_33_4和第二吸附臺上蓋2-33-2通過第二吸附臺連接螺栓2-33-5固定連接，所述第二吸附臺下蓋2-33-1的側面設置有第二螺紋孔2-33-6，所述第二真空管2-12通過第二氣動接頭2-48與第二螺紋孔2-33-6連接;所述第二吸附臺上蓋2-33-2的上表面上設置有多條第二水平向凹槽和多條第二豎直向凹槽，多條所述第二水平向凹槽和多條所述第二豎直向凹槽相互交叉形成了多個第二凸塊2-33-7，多個所述第二吸附孔2-33-3分布在多個第二凸塊2-33-7上;所述第二吸附臺上蓋2-33-2上表面的形狀為矩形，所述第二吸附臺上蓋2-33-2上表面的四個腳上均刻有第二參考定位線2-33-8。通過設置第二密封墊2-33-4，能夠避免第二吸附臺下蓋2-33-1與第二吸附臺上蓋2-33-2之間的間隙漏氣，影響所述第二真空腔所需真空度的快速形成和保持;通過設置第二參考定位線2-33-8，方便了對大陣列電阻式應變片膜片14進行精確定位。
[0056]如圖4所示，本實施例中，所述第一氣缸滑臺1-2為無桿氣缸滑臺，所述檢測電路板
1-8的數量為兩塊，兩塊所述檢測電路板1-8—上一下通過銅螺柱1-7和螺釘1-34固定連接，所述彈簧探針陣列1-9與上部的檢測電路板1-8焊接并穿透下部的檢測電路板1-8后再向下穿出探針盒1-6。
[0057]如圖4和圖7所示，本實施例中，所述彈簧探針陣列1-9由多組彈簧探針組構成，每組彈簧探針組均由用于在測量時與一個電阻應變片的四個測量點對應接觸的四根彈簧探針組成;每路應變片電阻電壓檢測電路1-40均包括型號均為ADG84的芯片S1、芯片S2和芯片S3，所述信號輸出接口 1-39為具有四個引腳的接線端口 Pl;所述芯片SI的第I引腳與供電電源的輸出端VCC相接，且通過電容CI接地，所述芯片SI的第4引腳和第8引腳連接且為應變片電阻電壓檢測電路1-40的第一控制信號輸入端INl，所述芯片SI的第5引腳與所述電阻應變片的第一個測量點連接，所述芯片SI的第6引腳接地，所述芯片SI的第7引腳與所述電阻應變片的第二個測量點連接;所述芯片S2的第I引腳與供電電源的輸出端VCC相接，且通過電容C2接地，所述芯片S2的第4引腳和第8引腳連接且為應變片電阻電壓檢測電路1-40的第二控制信號輸入端IN2，所述芯片S2的第5引腳與所述電阻應變片的第三個測量點連接，所述芯片S2的第6引腳接地，所述芯片S2的第7引腳與所述電阻應變片的第四個測量點連接;所述芯片S3的第I引腳與供電電源的輸出端VCC相接，且通過電容C3接地，所述芯片S3的第4弓丨腳和第8引腳連接且為應變片電阻電壓檢測電路1-40的第三控制信號輸入端IN3，所述芯片S3的第5引腳與所述電阻應變片的第一個測量點連接，所述芯片S3的第6引腳接地，所述芯片S3的第7引腳與所述電阻應變片的第二個測量點連接;所述應變片電阻電壓檢測電路1-40的第一控制信號輸入端IN1、第二控制信號輸入端IN2和第三控制信號輸入端IN3均與數據采集板卡10的信號輸出端連接，所述芯片SI的第3引腳為應變片電阻電壓檢測電路1-40的第一信號輸出端Dl，所述芯片SI的第9引腳為應變片電阻電壓檢測電路1-40的第二信號輸出端D2，所述芯片S2的第3引腳和所述芯片S3的第3引腳相接且為應變片電阻電壓檢測電路1-40的第三信號輸出端D3，所述芯片S2的第9引腳和所述芯片S3的第9引腳相接且為應變片電阻電壓檢測電路1-40的第四信號輸出端D4，每路應變片電阻電壓檢測電路1-40的第一信號輸出端Dl均與所述接線端口Pl的第I引腳連接，每路應變片電阻電壓檢測電路1-40的第二信號輸出端D2均與所述接線端口 Pl的第2引腳連接，每路應變片電阻電壓檢測電路1-40的第三信號輸出端D3均與所述接線端口 Pl的第3引腳連接，每路應變片電阻電壓檢測電路1-40的第四信號輸出端D4均與所述接線端口 Pl的第4引腳連接。
[0058]本實施例中，所述臺式數字萬用表37為吉時利2000型臺式數字萬用表37，所述接線端口 PI的第I引腳與所述吉時利2000型臺式數字萬用表37的INPUT HI接口連接，所述接線端口 PI的第2引腳與所述吉時利2000型臺式數字萬用表37的INPUT LO接口連接，所述接線端口Pl的第3引腳與所述吉時利2000型臺式數字萬用表37的SENSE Q4WIRE HI接口連接，所述接線端口Pl的第4引腳與所述吉時利2000型臺式數字萬用表37的SENSE Q4WIRE LO接口連接。
[0059]具體而言，如圖7所示，將所述電阻應變片等效為電阻橋Rl，所述電阻橋Rl的一條對角線上的兩個連接端分別為與所述電阻應變片的第一個測量點對應的測量端ISlB和與所述電阻應變片的第二個測量點對應的測量端1S2B，所述電阻橋Rl的另一條對角線上的兩個連接端分別為與所述電阻應變片的第三個測量點對應的測量端2S1B和與所述電阻應變片的第四個測量點對應的測量端2S2B。
[0060]本實施例中，芯片S1、芯片S2和芯片S3均為內部含兩個獨立的單刀雙擲開關的開關器件，該器件具有超低的導通電阻，在整個溫度范圍內小于0.4 Ω。
[0061]具體使用時，計算機4分時對多路應變片電阻電壓檢測電路1-40連接的各個電阻應變片的第一測量點和第二測量點之間的電阻，以及各個電阻應變片的第三測量點和第四測量點之間的零點電壓進行測量，對此時不是正在進行測量的電阻應變片連接的應變片電阻電壓檢測電路1-40，輸出“I”邏輯高電平給應變片電阻電壓檢測電路1-40的第一控制信號輸入端INl、第二控制信號輸入端IN2和第三控制信號輸入端IN3;對此時正在進行測量電阻的電阻應變片連接的應變片電阻電壓檢測電路1-40，輸出“O”邏輯低電平、“I”邏輯高電平、“O”邏輯低電平分別給應變片電阻電壓檢測電路1-40的第一控制信號輸入端IN1、第二控制信號輸入端IN2和第三控制信號輸入端IN3;對此時正在進行測量電壓的電阻應變片連接的應變片電阻電壓檢測電路1-40，輸出“O”邏輯低電平、“O”邏輯低電平、“I”邏輯高電平分別給應變片電阻電壓檢測電路1-40的第一控制信號輸入端IN1、第二控制信號輸入端IN2和第三控制信號輸入端IN3。
[0062]當第一控制信號輸入端INl為“O”邏輯低電平、第二控制信號輸入端IN2為“I”邏輯高電平且第三控制信號輸入端IN3為“O”邏輯低電平時，所述芯片SI的SlB管腳和S2B管腳導通，即所述芯片SI的第5引腳和第7引腳導通，所述芯片S2的SlA管腳和S2A管腳導通，即所述芯片S2的第2引腳和第10引腳導通，所述芯片S3的SlB管腳和S2B管腳導通，即所述芯片S3的第5引腳和第7引腳導通，所述應變片電阻電壓檢測電路1-40的第一信號輸出端Dl與所述電阻橋Rl的測量端ISlB接通，所述應變片電阻電壓檢測電路1-40的第二信號輸出端D2與所述電阻橋Rl的測量端1S2B接通，所述應變片電阻電壓檢測電路1-40的第三信號輸出端D3與所述電阻橋Rl的測量端ISlB接通，所述應變片電阻電壓檢測電路1-40的第四信號輸出端D2與所述電阻橋Rl的測量端1S2B接通，此時，計算機4輸出四線電阻測量指令，能夠測量出所述電阻橋Rl的測量端ISlB和測量端1S2B兩端之間的電阻，即測量出了電阻應變片的第一測量點和第二測量點之間的電阻。
[0063]當第一控制信號輸入端INl為“O”邏輯低電平、第二控制信號輸入端IN2為“O”邏輯低電平且第三控制信號輸入端IN3為“I”邏輯高電平時，所述芯片SI的SlB管腳和S2B管腳導通，即所述芯片SI的第5引腳和第7引腳導通，所述芯片S2的SlB管腳和S2B管腳導通，即所述芯片S2的第5引腳和第7引腳導通，所述芯片S3的SlA管腳和S2A管腳導通，即所述芯片S3的第2引腳和第10引腳導通，所述應變片電阻電壓檢測電路1-40的第一信號輸出端Dl與所述電阻橋Rl的測量端ISlB接通，所述應變片電阻電壓檢測電路1-40的第二信號輸出端D2與所述電阻橋Rl的測量端1S2B接通，所述應變片電阻電壓檢測電路1-40的第三信號輸出端D3與所述電阻橋Rl的測量端2S1B接通，所述應變片電阻電壓檢測電路1-40的第四信號輸出端D2與所述電阻橋Rl的測量端2S2B接通，此時，計算機4輸出四線電阻測量指令，所述吉時利2000型臺式數字萬用表37向所述電阻橋Rl的測量端I SlB和測量端IS2B輸出ImA的電流，所述吉時利2000型臺式數字萬用表37能夠測量出所述電阻橋Rl的測量端2S1B和測量端2S2B兩端之間的零點電壓，即測量出了電阻應變片的第三測量點和第四測量點之間的零點電壓。
[0064]如圖8所示，本實施例中，所述直線擺動組合氣缸2-9通過法蘭安裝件2-8和螺栓固定連接在第二上頂板2-7頂部;如圖11所示，所述刀架2-5通過法蘭螺母2-14和螺栓固定連接在直線擺動組合氣缸2-9的活塞桿上;所述刀架2-5上設置有氣缸滑臺連接板2-6，所述第三氣缸滑臺2-3通過與氣缸滑臺連接板2-6固定連接的方式安裝在刀架2-5上;所述圓刀片
2-24為超薄鎢鋼圓刀片，所述圓刀片2-24通過刀片連接頭2-25固定連接在直流電機2-23的輸出軸上。
[0065]本實施例中，所述數據采集板卡10的型號為NIPCI6509，所述輸出放大板11的型號為 HSF16M。
[0066]本實用新型的工作過程為:
[0067]步驟一、大陣列電阻式應變片自動檢測，具體過程為:
[0068]步驟101、操作工人手動將大陣列電阻式應變片膜片14放置在第一真空吸附臺1-13上后，啟動第一真空栗1-30，數據采集板卡10通過輸出放大板11輸出信號驅動第一真空電磁閥1-25打開，第一真空栗1-30抽真空使所述第一真空腔內產生負壓，將大陣列電阻式應變片膜片14吸附固定在第一吸附臺上蓋1-13-2的上表面上；
[0069]步驟102、首先，數據采集板卡10通過輸出放大板11輸出信號驅動第一氣動電磁閥
1-26打開，第一氣缸滑臺1-2通過氣缸滑臺安裝板