專利名稱：探針量測卡的制作方法
技術領域：
本實用新型有關于一種探針量測卡，特別有關于一種用于量測面板電性的探針量測卡。
背景技術：
參照圖1a，其顯示已知的探針量測卡10，包括一本體11以及多數個探針12。本體11具有一第一表面(下表面)13。該等探針12即設于該第一表面13之上。
參照圖1b，其顯示應用已知的探針量測卡10偵測基板1上的電路2的情形。電路2具有多數個電極3。該探針量測卡10的該等探針12從該等電極3的上方分別接觸該等電極3，以檢測電極3的電性(例如，電阻值)。由于基板1的尺寸較大，電極3的數量較多，因此該探針量測卡10在一第一位置(圖1b所顯示的位置)檢測完畢之后，會再移動至一第二位置(如圖1c所顯示的位置)，以依序將基板1上的所有電極3的電性完整檢查一次。
然而，如圖2所顯示的，由于機構上的精度誤差，探針量測卡10在檢測時可能會發生探針12與電極3對位不準的情況。此對位不準的情況會得到錯誤的電性檢測結果，其可能會增加重新檢測所需要的金錢與時間，也可能會錯誤的報廢品質良好的產品，造成成本的浪費。
發明內容
本實用新型的目的在于提供一種探針量測卡，可隨時監控探針與電極3之間的對位情況，避免因為精度誤差而造成的對位不準的情況，以降低錯誤檢測的機會。
本實用新型的目的是這樣實現的，一種探針量測卡，其特征在于包括一本體，呈平板狀，包括一第一表面、一第一側面以及平行該第一側面的一第二側面；多數個探針，設于該第一表面之上，其中，該等探針沿一基準線排列，該基準線為一直線，該等探針彼此之間具有一探針間距；一第一缺口，形成于該第一側面之上；一第二缺口，形成于該第二側面之上，其中，該第一缺口與最鄰近該第一缺口的該探針的距離為該探針間距的倍數。
其中，該第一缺口為三角形，該第一缺口的重心與最鄰近該第一缺口的該探針的距離為該探針間距的倍數。
其中，該第一側面與最鄰近該第一缺口的該探針的距離為該探針間距的倍數。
圖1a顯示已知探針量測卡的立體圖；圖1b顯示以已知探針量測卡于第一位置檢測電極的情形；圖1c顯示以已知探針量測卡于第二位置檢測電極的情形；圖2顯示探針與電極對位不準的情形；圖3顯示本實用新型的探針量測卡的立體圖；圖4a顯示本實用新型的探針量測卡對準電極的情形；圖4b顯示本實用新型的探針量測卡未對準電極的情形；圖4c顯示本實用新型的探針量測卡未對準電極的另一種情形；圖5顯示本實用新型的探針量測卡的變形例；
圖6a顯示以本實用新型的探針量測卡于初始位置檢測電極的情形；圖6b顯示以本實用新型的探針量測卡于第一位置檢測電極的情形；圖6c顯示以本實用新型的探針量測卡于第二位置檢測電極的情形。
附圖標號1～基板 2～電路3～電極 4～定位記號10～探針量測卡 11～本體12～探針13～第一表面100～探針量測卡 101～第一表面110～第一側面 111～第一缺口120～第二側面 121～第二缺口130～第三側面 131～第三缺口140～第四側面 141～第四缺口150～本體 151～基準線160～探針具體實施方式
參照圖3，其顯示本實用新型的探針量測卡100，包括一本體150以及多數個探針160。本體150呈平板狀，包括一第一表面101、一第一側面110以及平行該第一側面的一第二側面120。該等探針160設于該第一表面101之上，并沿一基準線151排列。基準線151為一直線，并位于該第一表面101的中央。該等探針160之間彼此具有一探針間距d1。該第一側面110上形成有一第一缺口111。該第二側面120上形成有一第二缺口121。該第一缺口111以及第二缺口120也均形成于該基準線151之上。其中，該第一缺111與最鄰近的探針160之間的距離d2等于該探針間距d1的倍數。該第二缺口121與最鄰近的探針160之間的距離d3等于該探針間距d1的倍數。
該第一缺口111與最鄰近的探針160之間的距離d2可等于該探針間距d1，或者為該探針間距d1的兩倍距離。該第二缺口121與最鄰近的探針160之間的距離d3可等于該探針間距d1，或者為該探針間距d1的兩倍距離。
由于該第一缺口111與最鄰近的探針160之間的距離d2等于該探針間距d1的倍數，該第二缺口121與最鄰近的探針160之間的距離d3等于該探針間距d1的倍數。因此，參照圖4a，當應用本實用新型的探針量測卡100檢測基板1上的電路2的電極3時，在探針160對準電極3的情況下，第一缺口111以及第二缺口121也會對準電極3。因此操作者可穿過第一缺口111以及第二缺口121對稱的觀察到電極3，由此可知道此時探針160對準電極3。
參照圖4b，當探針160未對準電極3時，第一缺口111以及第二缺口121也不會對準電極3。因此此時操作者無法穿過第一缺口111或第二缺口121觀察到電極3，或者從第一缺口111以及第二缺口121所觀察的電極3會有位置不對稱的的情形(參照圖4c)。由此可得知探針160未對準電極3。
應用本實用新型的探針量測卡100，可隨時監控探針160與電極3之間的對位情況，因此可避免因為精度誤差而造成的對位不準的情況。并因此降低錯誤檢測的機會。
上述的探針量測卡100可為一彈簧式探針量測卡。
上述的第一缺口111以及第二缺口121可為三角形、矩形或其它形狀。
在上述實施例中，利用第一缺口111以及第二缺口121與其鄰近的探針160之間的距離關系進行對位。而在本實用新型的精神之下，其也可以通過其它的距離關系進行對位。例如，當第一缺口111為正三角形時，可通過正三角形的重心與鄰近探針之間的距離進行對位。或可直接通過第一側面以及第二側面與其鄰近的探針之間的距離關系進行對位。
參照圖5，本體150更包括鄰接于該第一側面110及第二側面120的一第三側面130以及一第四側面140。該第三側面130平行于該第四側面140。該第三側面130垂直于該第一側面110。第三側面130上形成有第三缺口131。第四側面140上形成有第四缺口141。其中，第一缺口111以及第二缺口121用以檢測(調整)探針160相對于電極3于第一方向x上的相對位置。第三缺口131以及第四缺口141用以檢測(調整)探針160兩最終端相對于電極3于第二方向y上的相對位置。第一方向x垂直第二方向y。
以下說明本實用新型的探針量測卡100的檢測方法，參照圖6a，首先，探針量測卡100位于一初始位置，此時該第一缺口111對準該基板1上的一定位記號4，接著探針量測卡100下降以對電極3進行檢測。
在初始位置檢測完成之后，再參照圖6b，探針量測卡100升起并移動至一第一位置，此時第一缺口111以及第二缺口121均對準電極3，接著探針量測卡100下降以對電極3進行檢測。
在第一位置檢測完成之后，再參照圖6c，探針量測卡100升起并移動至一第二位置，此時第一缺口111以及第二缺口121均對準電極3，接著探針量測卡100下降以對電極3進行檢測。
在反復進行上述動作之后，可依序將所有的電極3檢測完畢。
雖然本實用新型已以具體實施例揭示，但其并非用以限定本實用新型，任何本領域的技術人員，在不脫離本實用新型的構思和范圍的前提下所作出的等同組件的置換，或依本實用新型專利保護范圍所作的等同變化與修飾，皆應仍屬本專利涵蓋之范疇。
權利要求1.一種探針量測卡，其特征在于包括一本體，呈平板狀，包括一第一表面、一第一側面以及平行該第一側面的一第二側面；多數個探針，設于該第一表面之上，其中，該等探針沿一基準線排列，該基準線為一直線，該等探針彼此之間具有一探針間距；一第一缺口，形成于該第一側面之上；一第二缺口，形成于該第二側面之上，其中，該第一缺口與最鄰近該第一缺口的該探針的距離為該探針間距的倍數。
2.如權利要求1所述的探針量測卡，其特征在于該第一缺口與該第二缺口均位于該基準線之上。
3.如權利要求1所述的探針量測卡，其特征在于該第二缺口與最鄰近該第二缺口的該探針的距離為該探針間距的倍數。
4.如權利要求3所述的探針量測卡，其特征在于該第二缺口與最鄰近該第二缺口的該探針的距離等于該探針間距。
5.如權利要求3所述的探針量測卡，其特征在于該第二缺口與最鄰近該第二缺口的該探針的距離等于該探針間距的二倍。
6.如權利要求1所述的探針量測卡，其特征在于該第一缺口與最鄰近該第一缺口的該探針的距離等于該探針間距。
7.如權利要求1所述的探針量測卡，其特征在于該第一缺口與最鄰近該第一缺口的該探針的距離等于該探針間距的二倍。
8.如權利要求1所述的探針量測卡，其特征在于該第一缺口以及該第二缺口呈三角形。
9.一種探針量測卡，其特征在于包括一本體，呈平板狀，包括一第一表面、一第一側面以及平行該第一側面的一第二側面；多數個探針，設于該第一表面之上，其中，該等探針沿一基準線排列，該基準線為一直線，該等探針彼此之間具有一探針間距；一第一缺口，形成于該第一側面之上；一第二缺口，形成于該第二側面之上，其中，該第一缺口為三角形，該第一缺口的重心與最鄰近該第一缺口的該探針的距離為該探針間距的倍數。
10.一種探針量測卡，其特征在于包括一本體，呈平板狀，包括一第一表面、一第一側面以及平行該第一側面的一第二側面；多數個探針，設于該第一表面之上，其中，該等探針沿一基準線排列，該基準線為一直線，該等探針彼此之間具有一探針間距；一第一缺口，形成于該第一側面之上；一第二缺口，形成于該第二側面之上，其中，該第一側面與最鄰近該第一缺口的該探針的距離為該探針間距的倍數。
專利摘要一種探針量測卡，該探針量測卡包括一本體、多數個探針、一第一缺口以及一第二缺口。本體呈平板狀，包括一第一表面、一第一側面以及平行該第一側面的一第二側面。探針設于該第一表面之上，其中，該等探針沿一基準線排列，該基準線為一直線，該等探針彼此之間具有一探針間距。第一缺口形成于該第一側面之上。第二缺口形成于該第二側面之上。其中，該第一缺口與最鄰近該第一缺口的探針的距離為該探針間距的倍數。
文檔編號G01R31/00GK2833602SQ200520127490
公開日2006年11月1日 申請日期2005年10月14日 優先權日2005年10月14日
發明者陳建安 申請人:廣輝電子股份有限公司