微粉粒度檢測系統的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種微粉粒度檢測系統，解決了為粒度分析計數儀的正常工作提供穩定電壓，并且不會產生影響粒度分析計數儀測量結果的外部電磁干擾的技術問題。它包括電源、穩壓器、粒度分析計數儀、計算機，其中電源與穩壓器的輸入端連接，穩壓器的輸出端分別與粒度分析計數儀和計算機連接，計算機與粒度分析計數儀的控制端口相連接，粒度分析計數儀接地。本實用新型微粉粒度檢測系統能夠為粒度分析計數儀的正常工作提供穩定電壓，使粒度分析計數儀穩定、正常工作，避免因電壓不穩定或外界電磁干擾造成粒度分析計數儀測量結果出現較大誤差，保證微粉粒度檢測結果的準確性。
【專利說明】微粉粒度檢測系統
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種粒度檢測系統，具體涉及一種微粉粒度檢測系統。
【背景技術】
[0002]目前對于微粉粒度的檢測常會用到電阻法，采用電阻法顆粒計數器原理的粒度分析計數儀在檢測微粉粒度過程中具有分辨率高、測量速度快的優點。但是，在實際使用中必須保證外接電源供應與粒度分析計數儀電力要求的電壓和頻率一致，如果供應的電源中含有高次諧波或者電壓過高、過低不穩定時，就會造成粒度分析計數儀中脈沖不穩定現象，同時還會對攪拌電機的轉速等造成影響，進而使檢測結果出現誤差。另外，粒度分析計數儀在工作過程中易受到電源和外部磁場輻射來的電磁干擾，從而可能導致測量結果出現錯誤。
【發明內容】
[0003]本實用新型要解決的技術問題是提供一種微粉粒度檢測系統，這種微粉粒度檢測系統能夠為粒度分析計數儀的正常工作提供穩定電壓，并且不會產生影響粒度分析計數儀測量結果的外部電磁干擾。
[0004]為解決上述技術問題，本實用新型采用如下技術方案:設計一種微粉粒度檢測系統，包括電源、穩壓器、粒度分析計數儀、計算機，其中，電源與穩壓器的輸入端連接，穩壓器的輸出端分別與粒度分析計數儀和計算機連接；計算機與粒度分析計數儀的控制端口相連接；粒度分析計數儀的接地端口接地。
[0005]采用上述微粉粒度檢測系統的有益效果在于:電源通過穩壓器與粒度分析計數儀和計算機連接，能夠為粒度分析計數儀的正常工作提供穩定電壓，使粒度分析計數儀穩定、正常工作，避免因外部電源中含有高次諧波或者電壓過高、過低不穩定造成粒度分析計數儀測量結果出現較大誤差。
[0006]在上述技術方案中，優選的電源為UPS電源(不間斷電源)，能夠進一步在電壓過高或過低時提供保護，為粒度分析計數儀和計算機提供不間斷的、穩定的電力供應。優選的穩壓器為磁飽和式交流穩壓器，在穩定電壓的同時不會產生影響粒度分析計數儀測量結果的外部電磁干擾，保證粒度分析計數儀檢測結果的準確性。進一步優選的粒度分析計數儀為Multisizer3庫爾特粒度分析計數儀,其具有分辨精度高、易于操作的優點。
[0007]對于本實用新型的具體結構及其作用與效果，將在下面結合附圖作出進一步詳細的說明。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0008]圖1為本實用新型微粉粒度檢測系統的結構示意圖。
[0009]圖2為本實用新型微粉粒度檢測系統中粒度分析計數儀的檢測裝置結構示意圖。
[0010]其中I為樣品臺；2為樣品杯；3為攪拌棒；4為小孔管；5為電極。【具體實施方式】
[0011]本實用新型微粉粒度檢測系統的結構如圖1所示，包括電源、穩壓器、粒度分析計數儀、計算機，其中，電源與穩壓器的輸入端連接，穩壓器的輸出端分別與粒度分析計數儀和計算機連接；計算機與所述粒度分析計數儀的控制端口相連接；粒度分析計數儀的接地端口接地。采用上述微粉粒度檢測系統，能夠為粒度分析計數儀的正常工作提供穩定電壓，使粒度分析計數儀穩定、正常工作，避免因外部電源中含有高次諧波或者電壓過高、過低不穩定造成粒度分析計數儀測量結果出現較大誤差。本實用新型微粉粒度檢測系統中粒度分析計數儀的檢測裝置結構如圖2所示，包括樣品臺1、樣品杯2、攪拌棒3、小孔管4和電極5。
[0012]在上述技術方案中，優選的電源為UPS電源(不間斷電源)，能夠進一步對電壓過大和電壓太低提供保護，為粒度分析計數儀和計算機提供不間斷的、穩定的電力供應。優選的穩壓器為磁飽和式交流穩壓器，在穩定電壓的同時不會產生影響粒度分析計數儀測量結果的外部電磁干擾，保證粒度分析計數儀檢測結果的準確性。進一步優選的粒度分析計數儀為Multisizer3庫爾特粒度分析計數儀,其具有分辨精度高、易于操作的優點。
[0013]下面以碳化硅微粉的粒度檢測為例來說明本實用新型的【具體實施方式】及工作過程。
[0014]預設Multisizer3庫爾特粒度分析計數儀的各項參數:Kd值:125±1 ;設備噪聲水平檢測值O ;自動檢測時間:20s±10s ;Particles值:1600 ;檢測吸料孔孔徑:50μπι、100 μ m、200 μ m、400 μ mD
[0015]準備樣品:取碳化硅微粉樣品與水比例為1:30到1:50之間，其中水為去離子后電導小于2 μ s/cm ;取樣微粉顆粒總數:10000個至30000個；攪拌轉速設置為400轉/min到600轉/min ;取NaCl與水比例為0.9:100的檢測溶液，其中水為去離子后電導小于2 μ s/cm, NaCl ^ 99.5%的分析純;`制備取樣樣品與檢測溶液比例在1:10到1:20之間的待測樣
品O
[0016]檢測程序:依次開啟UPS電源、穩壓器、計算機、Multisizer3庫爾特粒度分析計數儀。連接Multisizer3主機,選中檢查框connect to multisizer3,點擊OK來運行控制程序，一旦連接完成，一系列的狀態會成Ready。待Multisizer3主機預熱15分鐘后,在狀態面板中點擊Preview，加入適量分析樣品到樣品杯2中，將樣品杯2放置在樣品臺I上。當攪拌轉速達到預設值時，取攪拌漩渦上下高度中間和漩渦圓心到周邊中間交叉處樣品料衆，濃度控制在5%~?Ο%左右，待濃度顯示條上出現0Κ，點擊Start開始分析。待樣品分析完成后，點擊主菜單中的Stats選項，分析報告將會按照預先的設定的值來顯示所測碳化硅微粉的粒度。打開樣品閥門，取出樣品杯2并清洗，把小孔管4、電極5及攪拌棒3清洗干凈，依次循環檢測下一個樣品。關機時點擊RUN—Disconnect from Multisizer3,使計算機與Multisizer3斷開連接,再關閉庫爾特運行程序。
[0017]上面結合附圖和實施例對本實用新型的實施方式做了詳細說明，但是本實用新型并不限于上述實施方式，在本領域普通技術人員所具備的知識范圍內，還可以在不脫離本實用新型宗旨的前提下進行變更或改變。
【權利要求】
1.一種微粉粒度檢測系統，包括電源、穩壓器、粒度分析計數儀、計算機，其特征在于:所述電源與所述穩壓器的輸入端連接，所述穩壓器的輸出端分別與所述粒度分析計數儀和所述計算機連接；所述計算機與所述粒度分析計數儀的控制端口相連接；所述粒度分析計數儀接地。
2.根據權利要求1所述的微粉粒度檢測系統，其特征在于:所述電源為UPS電源。
3.根據權利要求1所述的微粉粒度檢測系統，其特征在于:所述穩壓器為磁飽和式交流穩壓器。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的微粉粒度檢測系統，其特征在于:所述粒度分析計數儀為Multisizer3庫爾特粒度分析計數儀。
【文檔編號】G01N15/02GK203385640SQ201320495345
【公開日】2014年1月8日 申請日期:2013年8月14日 優先權日:2013年8月14日
【發明者】張海峰, 朱明杰, 黨娟, 翟路鵬 申請人:開封萬盛新材料有限公司