技術總結
本發明公開一種適用于原子力顯微鏡的樣品制備裝置及方法，該裝置包括：基底、樣品存儲裝置。所述基底設置在所述樣品存儲裝置下，所述樣品存儲裝置置于所述基底上，所述樣品存儲裝置為空心圓柱體，所述空心圓柱體側面高度相同，所述基底和所述樣品存儲裝置依靠轉移至所述樣品存儲裝置中的瀝青粘附性相互連接。采用本裝置可以控制所有樣品膜厚一致，消除膜厚對試驗結果的影響，并保證樣品表面光滑平整。
技術研發人員：張肖寧;楊震;虞將苗
受保護的技術使用者：廣州肖寧道路工程技術研究事務所有限公司
文檔號碼：201611003504
技術研發日：2016.11.15
技術公布日：2017.02.15